專利名稱：一種探針框架的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及液晶顯示器領域，尤其涉及一種探針框架。
背景技術：
薄膜晶體管(TFT，Thin Film Transistor)液晶面板由陣列基板，彩膜基板以及位 于這兩個基板中間的液晶組成。在制造液晶面板的過程中，形成有陣列的玻璃基板和形成 有彩膜的玻璃基板經(jīng)過對盒工序后，再經(jīng)過切割工序，得到若干個液晶面板。形成陣列基板 后，需要對陣列基板上的TFT的特性進行相關測試，以獲得TFT的特性參數(shù)及技術數(shù)據(jù)，對 TFT液晶面板進行設計驗證和質(zhì)量驗證，并為查找不良原因、優(yōu)化陣列基板的設計和印刷電 路板(PCB)信號設計提供參考和數(shù)據(jù)支持。以19寬英寸液晶面板為例，如圖1和圖2所示，固定尺寸的玻璃基板對應制造12 張液晶面板，各面板邊緣均印制有長方形金屬薄膜塊，長方形金屬薄膜塊通過印制在面板 邊緣的金屬引線與面板內(nèi)部的信號線相連。進行測試時，將形成有陣列的固定尺寸的玻璃 基板放置于探針框架下，其中，探針框架為一個設置有探針的框架，相當于信號源與面板之 間的導線，探針框架上設置的探針將與位于玻璃基板邊緣的金屬薄膜塊相接觸，即圖1中 的虛線框II內(nèi)的金屬薄膜塊，從而為待測試的面板施加測試信號。由于進行測試時，僅使用玻璃基板邊緣的金屬薄膜塊，而一張玻璃基板分布有多 個面板，因此就會導致面板之間的信號引線長度不同，而造成測試誤差，降低了測試結(jié)果的 準確性。舉例說明，如圖2所示，面板A位于玻璃基板邊緣，面板B位于玻璃基板的內(nèi)部，信 號源通過面板A上方的金屬薄膜塊分別為面板A和面板B施加測試信號，因此，相對于面板 A，面板B的測試信號所經(jīng)過的金屬引線將較長，它的輸入電阻就會大一些。金屬引線存在 的差異，導致面板A和面板B的輸入電阻發(fā)生變化，這樣面板A和面板B的測試結(jié)果將存在 差異，影響了測試結(jié)果的準確性。

實用新型內(nèi)容本實用新型實施例的主要目的在于，提供一種探針框架，能夠有效減小測試誤差， 提高測試結(jié)果的準確性。為達到上述目的，本實用新型的實施例采用如下技術方案一種探針框架，包括框架，所述框架上設置有至少一個探針，其中，所述探針中的 至少一個探針連接有用于調(diào)節(jié)輸入電阻的電阻補償裝置，使用時，連接有所述電阻補償裝 置的探針通過所述電阻補償裝置與信號源相連接。采用上述技術方案后，本實用新型實施例提供的探針框架，對不同的產(chǎn)品進行測 試，能夠通過電阻補償裝置對輸入電阻進行補償，以保證輸入電阻的統(tǒng)一，因此，能夠有效 減小測試誤差，提高測試結(jié)果的準確性。
為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例 或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅 是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提 下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為現(xiàn)有技術中19寬英寸液晶面板的形成陣列的玻璃基板的結(jié)構示意圖；圖2為圖1中虛線框I內(nèi)結(jié)構的放大示意圖；圖3為本實用新型實施例的探針框架的結(jié)構示意圖；圖4為圖1中虛線框I內(nèi)結(jié)構的放大示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行 清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的 實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├?，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下 所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。如圖3所示，本實施例提供的探針框架，包括框架10，框架10上設置有至少一個探 針20，所有探針20中的至少一個探針20連接有電阻補償裝置30，具體的，探針框架上的每 一個探針20均連接有電阻補償裝置30，或者，探針框架上的部分探針20連接有電阻補償裝 置30，探針20和電阻補償裝置30通過引線相連接(圖中未顯示)；其中，電阻補償裝置30用于調(diào)節(jié)輸入電阻，本實施例的探針框架使用時，連接有 電阻補償裝置30的探針20通過電阻補償裝置30與提供信號的信號源相連接。本實施例中，如圖3所示，電阻補償裝置30設置在探針框架的邊緣區(qū)域的支撐架 31上，當然，也可以設置在探針20的上方區(qū)域等其他區(qū)域，本實施例對此不做限定；以使用本實施例的探針框架分別對圖2所示的面板A和面板B進行測試為例，如 背景技術中所述，相對于面板A，面板B的測試信號所經(jīng)過的金屬引線將較長，它的輸入電 阻就會大一些。因此，對面板A進行測試時，通過探針框架的電阻補償裝置30，增加輸入電 阻，使面板A的輸入電阻與面板B的輸入電阻相同或近似相同，因此，有效保證了面板A和 面板B的測試信號的統(tǒng)一，有效減小測試誤差，提高了測試結(jié)果的準確性。另外，通常來講，提供測量信號的信號源設置于固定位置，因此，探針框架上各探 針20與信號源之間的距離不同，即各探針20與信號源之間的信號線長度不同，各探針20 與信號源之間的電阻不同。而電阻補償裝置30還可對信號線長度不同而導致輸入電阻誤 差進行調(diào)節(jié)，因此，能夠有效減小測試誤差，提高測試結(jié)果的準確性。具體的，電阻補償裝置30中包括變阻器，電阻補償裝置30對于輸入電阻的調(diào)節(jié)是通 過所述變阻器的阻值的改變而進行的。其中，所述變阻器可為滑動變阻器、變阻箱等可調(diào)電阻。其中，電阻補償裝置30提供的電阻值可以是連續(xù)可調(diào)的，例如電阻補償裝置30通 過滑動變阻器實現(xiàn)電阻值的連續(xù)可調(diào)。電阻補償裝置30提供的電阻值還可以是離散可調(diào) 的，例如，電阻補償裝置30包括至少兩個電阻檔，每個電阻檔對應特定的電阻值。使用時， 根據(jù)電阻補償裝置30所需提供的電阻值，將電阻補償裝置30調(diào)至與所需提供的電阻值相 同或最接近的電阻檔上。[0022]可以理解的是，對于TFT液晶面板使用的探針框架而言，由于TFT液晶面板的測試 精度較高，因此，需要電阻補償裝置30提供的電阻值的變化精度較高，優(yōu)選的，電阻值的最 小可改變量小于等于0. 01歐姆。另外，本實施例的探針框架，連接有電阻補償裝置30的探針20與電阻補償裝置30 可以是一一對應的，也就是，各探針20均連接與其唯一對應的電阻補償裝置30。當然，連接 有電阻補償裝置30的探針20與電阻補償裝置30不限于一一對應的，部分探針20可連接 同一電阻補償裝置，即至少兩個探針20連接的電阻補償裝置30為同一電阻補償裝置。進一步的，作為本實施例的一種改進，本實施例的探針框架中，電阻補償裝置30 還包括測量器，用于測量連接有電阻補償裝置30的探針20所對應的第一輸入電阻和第二 輸入電阻，以確定電阻補償裝置30提供的電阻值，其中，電阻補償裝置30提供的電阻值為 第一輸入電阻和第二輸入電阻之差。具體的，測量器為能夠測量電阻值的裝置，例如萬用表等。同樣以使用本實施例的探針框架分別對圖2所示的面板A和面板B進行測試為 例，相對于面板A，面板B的測試信號所經(jīng)過的金屬引線將較長，它的輸入電阻就會大一些。 對面板A和面板B進行測試之前，首先玻璃基板放置在本實施例的探針框架上，使探針20 與面板A上方的金屬薄膜塊良好接觸。將測試信號所經(jīng)過的探針20連接的電阻補償裝置 30提供的電阻值調(diào)至0歐姆。然后，以測試信號所經(jīng)過的探針20所接觸的金屬薄膜塊或者電阻補償裝置30作 為第一參考位置，如圖4所示，對于面板A，以信號進入面板A前的Ain處作為第二參考位 置，使用測量器測量第一參考位置和第二參考位置間的輸入電阻，即面板A對應的輸入電 阻(第一輸入電阻)；對于面板B，以信號進入面板B前的Bin處作為第三參考位置，使用測 量器測量第一參考位置和第三參考位置間的輸入電阻，即面板B對應的輸入電阻(第二輸 入電阻)，計算第一輸入電阻和第二輸入電阻的差值，該差值即為對面板A進行測試時，測 試信號所經(jīng)過的探針20連接的電阻補償裝置30提供的電阻值，對于面板B進行測試時，測 試信號所經(jīng)過的探針20連接的電阻補償裝置30提供的電阻值為0。因此，使面板A的輸入 電阻與面板B的輸入電阻相同或近似相同，因此，有效保證了面板A和面板B的測試信號的 統(tǒng)一，有效減小測試誤差，提高了測試結(jié)果的準確性。另外，還可以使用測量器測量第一參考位置和第三參考位置間的輸入電阻，即面 板B對應的輸入電阻(第二輸入電阻)；然后，使用測量器測量第一參考位置和第三參考位 置間的輸入電阻，即面板A對應的輸入電阻(第一輸入電阻)，同時，調(diào)節(jié)測試信號所經(jīng)過的 探針20連接的電阻補償裝置30提供的電阻值，通過測量器的測量，使第一輸入電阻與第二 輸入電阻阻值相等，因此，使面板A的輸入電阻與面板B的輸入電阻相同或近似相同，因此， 有效保證了面板A和面板B的測試信號的統(tǒng)一，有效減小測試誤差，提高了測試結(jié)果的準確 性。需要說明的是，通常來講，TFT液晶面板的尺寸與探針框架為一一對應的，即不同 尺寸的TFT液晶面板，采用不同的探針框架。而對于特定尺寸的TFT液晶面板而言，各玻璃 基板上各面板之間輸入電阻的差別相同或近似相同，因此，只需在初始測量通過測量器的 測量確定對于玻璃基板上的不同面板，電阻補償裝置30所提供的電阻值，之后的每次測量 時，就可不需測量直接采用對應的電阻值即可，為進一步保證測量結(jié)果的準確性，可在定期檢查并調(diào)節(jié)電阻補償裝置30所提供的電阻值，進行檢查調(diào)節(jié)的時間可以設定為兩個月或 三個月確認一次。 以上所述，僅為本實用新型的具體實施方式
，但本實用新型的保護范圍并不局限 于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本實用新型揭露的技術范圍內(nèi)，可輕易想到變化 或替換，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。因此，本實用新型的保護范圍應所述以權 利要求的保護范圍為準。
權利要求1.一種探針框架，包括框架，所述框架上設置有至少一個探針，其特征在于，所述探針 中的至少一個探針連接有用于調(diào)節(jié)輸入電阻的電阻補償裝置，使用時，連接有所述電阻補 償裝置的探針通過所述電阻補償裝置與信號源相連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的探針框架，其特征在于，所述電阻補償裝置包括變阻器。
3.根據(jù)權利要求1所述的探針框架，其特征在于，所述電阻補償裝置還包括測量器，用 于測量連接有所述電阻補償裝置的探針所對應的第一輸入電阻和第二輸入電阻，以確定所 述電阻補償裝置提供的電阻值。
4.根據(jù)權利要求1所述的探針框架，其特征在于，所述電阻補償裝置提供的電阻值是 連續(xù)可調(diào)的。
5.根據(jù)權利要求1所述的探針框架，其特征在于，所述電阻補償裝置包括至少兩個對 應特定電阻值的電阻檔，使用時，將所述電阻補償裝置調(diào)至與所述電阻補償裝置所需提供 的電阻值對應的所述電阻檔。
6.根據(jù)權利要求1所述的探針框架，其特征在于，連接有電阻補償裝置的探針與所述 電阻補償裝置一一對應。
7.根據(jù)權利要求1所述的探針框架，其特征在于，在所述連接有電阻補償裝置的探針 中，至少兩個所述探針連接的電阻補償裝置為同一電阻補償裝置。
專利摘要本實用新型公開了一種探針框架，涉及液晶顯示器領域，為有效減小測試誤差，提高測試結(jié)果的準確性而設計。所述探針框架，包括框架，所述框架上設置有至少一個探針，所述探針中的至少一個探針連接有用于調(diào)節(jié)輸入電阻的電阻補償裝置，使用時，連接有所述電阻補償裝置的探針通過所述電阻補償裝置與信號源相連接。本實用新型的探針框架可用于對TFT陣列基板進行測試。
文檔編號G02F1/13GK201886233SQ201020681670
公開日2011年6月29日 申請日期2010年12月16日 優(yōu)先權日2010年12月16日
發(fā)明者白國曉, 蔡金沐, 趙海生 申請人:北京京東方光電科技有限公司