專(zhuān)利名稱(chēng)：光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)方法、光學(xué)特性檢測(cè)裝置、以及光學(xué)特 性檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
就現(xiàn)有的含光纖的光纖設(shè)備而言，在對(duì)其進(jìn)行光纖之間的光軸調(diào)整工序、功 能部件與光纖及/或其他功能部件之間的光軸調(diào)整工序、或容納光纖i殳備用外殼的 組裝工序之后，還需要檢測(cè)所述光纖設(shè)備的光學(xué)特性從而確認(rèn)其性能。尤其是， 光透射光纖設(shè)備時(shí)的損失測(cè)量與光入射到光纖設(shè)備時(shí)的反射損耗測(cè)量，是制造光 纖設(shè)備后進(jìn)行的常見(jiàn)且必不可少的光學(xué)特性檢測(cè)項(xiàng)目。
因而，在光纖設(shè)備中，為確認(rèn)其性能而進(jìn)行的光學(xué)特性檢測(cè)中，特別是，光 透射光纖設(shè)備時(shí)的損失測(cè)量、以及光入射到光纖設(shè)備時(shí)的反射損耗測(cè)量是必不可 少的。
具體地說(shuō)，用于測(cè)量損失的;^測(cè)裝置如圖3所示，在應(yīng)該進(jìn)行特性檢測(cè)的光 纖設(shè)備ll的入射側(cè)光纖lla上連接了作為檢測(cè)光光源的激光光源12,以及在發(fā) 射側(cè)光纖llb上連接了光接收器(功率測(cè)量計(jì))13。而且，在求出從激光光源12 入射到光纖設(shè)備ll中的入射光量Pl[dBm]的同時(shí)，再測(cè)量透射光纖設(shè)備ll并通 過(guò)光接收器13接收的發(fā)射光量P2[dBm]，從而計(jì)算其差值Pl-P2[dBm]。而該差 值Pl-P2[dBm]即是光透射光纖設(shè)備11時(shí)的損失。
另一方面，用于測(cè)量反射損耗的檢測(cè)裝置如圖4所示，在應(yīng)該進(jìn)行特性檢測(cè) 的光纖設(shè)備11的入射側(cè)光纖lla上連接了反射測(cè)量用模塊14，而該反射測(cè)量用 模塊14中容納有作為反射損耗測(cè)量用光源的激光光源與光接收器(功率測(cè)量計(jì))。
而且，在求出從反射測(cè)量用模塊14入射到光纖設(shè)備11中的入射光量Pl[dBm]的 同時(shí)，再測(cè)量被該光纖設(shè)備11反射的通過(guò)光接收器14接收的反射光量P3[dBm]， 從而計(jì)算其差值pi- P3[dBm]。該差值Pl- P3[dBm]即是反射損耗量。
另外，在圖3、 4中示出的檢測(cè)裝置，具有把單芯的光纖設(shè)備11作為檢測(cè)對(duì) 象的常見(jiàn)的測(cè)量裝置。在該檢測(cè)裝置上連接光纖設(shè)備ll時(shí)，若該光纖設(shè)備ll構(gòu) 成為具有連接器的結(jié)構(gòu)(如參照專(zhuān)利文獻(xiàn)l),則可以將連接器直接連接到激光光 源12、光接收器13、以及反射測(cè)量用模塊14等的各個(gè)零部件上。相反地，若該 光纖設(shè)備11未構(gòu)成為具有連接器的結(jié)構(gòu)，則要考慮是否要把套圈分別臨時(shí)安裝到 光纖設(shè)備ll的光纖lla、 llb的各端部上(如參照專(zhuān)利文獻(xiàn)2)、或是否要通過(guò)棵 光纖用適配器連接到各個(gè)部件上、再或者是否要通過(guò)直接融合方式把光纖lla、 llb的各端部連接到各零部件連接部上，等情況。
如圖4所示，當(dāng)把單芯的光纖設(shè)備ll連接到反射損耗測(cè)量裝置上時(shí)，雖然入 射側(cè)光纖lla上連接有反射測(cè)量用模塊14，但是發(fā)射側(cè)光纖llb上卻沒(méi)有連接任 何部件。尤其是，當(dāng)把最常見(jiàn)、廉價(jià)的用于接收來(lái)自光纖設(shè)備ll的全反射光的測(cè) 量裝置作為反射測(cè)量用模塊14使用時(shí)，需要對(duì)沒(méi)有連接任何部件的發(fā)射側(cè)光纖 llb的端部進(jìn)行終端處理，以此防止在發(fā)射側(cè)光纖llb端面上發(fā)生反射。常見(jiàn)的 終端處理有，把發(fā)射側(cè)光纖lib的端面浸入到折射率與該發(fā)射側(cè)光纖lib大致相 同的匹配油中的方法、或者4巴發(fā)射側(cè)光纖llb巻繞在小徑桿上的方法等。為了測(cè) 量反射損耗，這些終端處理是必不可少的工序。
而且，在光纖設(shè)備ll的光學(xué)特性檢測(cè)中，要求簡(jiǎn)化測(cè)量工序的同時(shí)，還希望 能通過(guò)1臺(tái)檢測(cè)裝置輕易轉(zhuǎn)換并迅速地進(jìn)行多個(gè)檢測(cè)。然而，如上所述，進(jìn)行反 射損耗的測(cè)量時(shí)還需要進(jìn)行發(fā)射側(cè)光纖llb的終端處理，因而很難輕易轉(zhuǎn)換并迅 速進(jìn)行損失測(cè)量與反射損耗測(cè)量。
有鑒于此，提供一種無(wú)需進(jìn)行光纖的終端處理，能輕易轉(zhuǎn)換并迅速地進(jìn)行損 失測(cè)量與反射損耗測(cè)量的光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)方法、光學(xué)特性檢測(cè)裝置以及 光學(xué)特性檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)為必要。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明提供的一種光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)方法，其包括有把作為檢測(cè)
上的步驟；及把端面被切割成斜面的所述光纖設(shè)備的發(fā)射側(cè)光纖連接到透射光接 收器上的步驟，并選擇性地進(jìn)行利用所述透射光接收器接收從所述檢測(cè)單元通 過(guò)其入射側(cè)光纖入射到所述光纖設(shè)備中的檢測(cè)光中透過(guò)該光纖設(shè)備及其發(fā)射側(cè)光 纖的透射光的步驟；以及通過(guò)所述入射側(cè)光纖并利用所述反射光接收器接收從所 述檢測(cè)單元通過(guò)其入射側(cè)光纖入射到所述光纖設(shè)備中的檢測(cè)光中被該光纖設(shè)備反 射的反射光的步驟。
根據(jù)此方法，可以在不必重新連接光纖的情況下完成透射光的接收與反射光 的接收。而且，接收反射光時(shí)也不必對(duì)發(fā)射側(cè)光纖的端面進(jìn)行終端處理。從而， 與在接收透射光與接收反射光時(shí)分別使用不同檢測(cè)裝置，并在接收反射時(shí)對(duì)發(fā)射 側(cè)光纖的端面進(jìn)行終端處理的情況相比較，此方法可以大幅度提高工作效率。
檢測(cè)單元構(gòu)成為具備所述光源及所述反射光接收器的反射測(cè)量用模塊與另一 光源連接到光開(kāi)關(guān)上的結(jié)構(gòu)，而通過(guò)該光開(kāi)關(guān)的切換，可以選擇性地進(jìn)行利用所 述透射光接收器來(lái)接收所述透射光的步驟與利用所述反射光接收器來(lái)4妻收所述反 射光的步驟。由此，只通過(guò)光開(kāi)關(guān)的切換操作即可輕易地進(jìn)行如所述的接收透射 光與接收反射光之間的轉(zhuǎn)換。
而且，可以根據(jù)利用透射光接收器接收透射光的步驟來(lái)測(cè)量光纖設(shè)備造成的 損失，也可以根據(jù)利用反射光接收器接收反射光的步驟來(lái)測(cè)量光纖設(shè)備造成的反 射損耗。從而能容易檢測(cè)光纖設(shè)備的重要的光學(xué)特性。
對(duì)于光纖設(shè)備的發(fā)射側(cè)光纖的端面，最好是以8度以上的角度切割其垂直于 長(zhǎng)度方向的面。
其次，根據(jù)本發(fā)明提供的一種光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)裝置，其包括具有檢 測(cè)光光源及反射光接收器的檢測(cè)單元、及透射光接收器，其中，所述檢測(cè)單元可 以連接作為檢測(cè)對(duì)象的光纖設(shè)備的入射側(cè)光纖，而所述透射光接收器可以連接所 述光纖設(shè)備中端面被斜切的發(fā)射側(cè)光纖。
所述檢測(cè)單元可以組成為反射測(cè)量用模塊與另一光源連接到光開(kāi)關(guān)上的結(jié) 構(gòu)，其中該反射測(cè)量用模塊具備上述光源及反射光接收器。
所述透射光接收器是通過(guò)接收透射光而測(cè)量光纖設(shè)備造成的損失的設(shè)備即
可；而所述反射光接收器是通過(guò)接收反射光而測(cè)量由所述光纖設(shè)備造成的反射損 耗的設(shè)備即可。
為了連接所述光纖設(shè)備發(fā)射側(cè)光纖的在垂直于其長(zhǎng)度方向的面上以8度以上 的角度被切割的端面，最好在所述透射光接收器上設(shè)置一適配器。
再者，根據(jù)本發(fā)明提供的一種光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)系統(tǒng)，其包括具有所 述任意一種結(jié)構(gòu)的光纖設(shè)備的光纖特性檢測(cè)裝置、以及具有入射側(cè)光纖與端面被 斜切的發(fā)射側(cè)光纖的光纖設(shè)備。
與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明在一臺(tái)檢測(cè)裝置上安裝了光纖設(shè)備并在不改變連 接的狀態(tài)下，就能進(jìn)行透射光纖設(shè)備的透射光接收動(dòng)作與被光纖設(shè)備反射的反射 光接收動(dòng)作，因而可以簡(jiǎn)化檢測(cè)所需的工序，提高工作效率。而且，由于光纖設(shè) 備的發(fā)射側(cè)光纖的端面被斜向切割，因此可以避免被該端面反射的光再次傳播到 光纖中的現(xiàn)象。從而，無(wú)需再進(jìn)行針對(duì)該端面的終端處理，進(jìn)而提升工作效率的 同時(shí)，在進(jìn)行反射光接收動(dòng)作之后也可以迅速轉(zhuǎn)換進(jìn)行透射光的接收動(dòng)作。


圖1是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例所述的光學(xué)特性檢測(cè)裝置的概略圖。 圖2是作為圖1所示光學(xué)特性檢測(cè)裝置的檢測(cè)對(duì)象的光纖設(shè)備之光纖端面的 放大圖。
圖3是現(xiàn)有技術(shù)所述的光學(xué)特性檢測(cè)裝置的概略圖。
圖4是現(xiàn)有技術(shù)中的一個(gè)實(shí)施例所述的光學(xué)特性檢測(cè)裝置的概略圖。
具體實(shí)施例方式
下面，參照附圖具體說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例。
圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)裝置。本實(shí)施例提
供的檢測(cè)裝置由檢測(cè)單元1及光接收器(功率測(cè)量計(jì))2組成。其中，檢測(cè)裝置1
構(gòu)成為作為光源的激光光源2與反射測(cè)量用模塊4連接到光開(kāi)關(guān)5上的結(jié)構(gòu)，且 該反射測(cè)量用模塊4中容納有如激光光源等在測(cè)量反射損耗時(shí)使用的光源及另一 個(gè)光接收器(功率測(cè)量計(jì))。
在進(jìn)行光學(xué)特性檢測(cè)時(shí)，把作為檢測(cè)對(duì)象的單芯光纖設(shè)備6的入射側(cè)光纖6a 連接到檢測(cè)單元1的光開(kāi)關(guān)5上的同時(shí)，也把發(fā)射側(cè)光纖6b連接到光接收器2 上。此時(shí)，將發(fā)射側(cè)光纖6b的端面斜切后再連接到光接收器2上。具體地說(shuō)，使 用常用的切割刀(圖未示)，以如圖2所示的8度角度切割光纖6b的端面，并將 其通過(guò)未在圖中表示的適配器連接在光接收器2上。另外，所使用的適配器是現(xiàn) 有技術(shù)中公知的棵光纖用適配器，故在此省略其說(shuō)明。
如上所述將光纖設(shè)備6布設(shè)在檢測(cè)裝置上并進(jìn)行其光學(xué)特性的檢測(cè)時(shí)，首先 通過(guò)手動(dòng)、或外部器械的控制來(lái)選定所要進(jìn)行的測(cè)量，即損失測(cè)量與反射損耗測(cè) 量。其中，在進(jìn)行損失的測(cè)量時(shí)，激光光源3則通過(guò)光開(kāi)關(guān)5連接到入射側(cè)光纖 6a的端面上。而且，從激光光源3照射出檢測(cè)光后，該檢測(cè)光通過(guò)入射側(cè)光纖6a 進(jìn)入光纖設(shè)備6中。這些光透過(guò)光纖設(shè)備6后，再通過(guò)發(fā)射側(cè)光纖6b入射到光接 收器2中。此時(shí)，求出從激光光源3入射到光纖設(shè)備6中的入射光量Pl[dBm]、 以及通過(guò)光接收器2接收的發(fā)射光量P2[犯m]，從而計(jì)算出其差值Pl- P2[dBm]， 即損失量。由此可以測(cè)量出損失。
另一方面，在進(jìn)行反射損耗的測(cè)量時(shí)，反射測(cè)量用模塊4則通過(guò)光開(kāi)關(guān)5連 接到入射側(cè)光纖6a的端面上。而且，從反射測(cè)量用模塊4中的激光光源照射出檢 測(cè)光后，該檢測(cè)光通過(guò)入射側(cè)光纖6a進(jìn)入光纖設(shè)備6中。被該光纖設(shè)備6反射的 反射光，通過(guò)發(fā)射側(cè)光纖6b入射到反射測(cè)量用模塊4中。此時(shí)，求出從反射測(cè)量 用模塊4中的激光光源入射到光纖設(shè)備6中的入射光量Pl[dBm]、以及通過(guò)反射 測(cè)量用模塊4中的光接收器接收的發(fā)射光量P3[dBm]，從而計(jì)算出其差值Pl-P2[dBm]，即反射損耗量。由此可以測(cè)量出反射損耗。
在反射損耗的測(cè)量中，若所述反射光量P3中包含著發(fā)射側(cè)光纖6b端面上的 反射光，則可以正確地測(cè)量出光纖設(shè)備6自身造成的反射損耗。因而，在現(xiàn)有技
術(shù)中，通過(guò)實(shí)施對(duì)發(fā)射側(cè)光纖6b端面的終端處理，防止了該發(fā)射側(cè)光纖6b的端 面引起的反射。然而在這樣的情況下，進(jìn)行終端處理比較麻煩，而且其採(cǎi)作性較 差，因此很難進(jìn)行實(shí)施了終端處理后的發(fā)射側(cè)光纖6b按原樣連接到光接收器2 上并測(cè)量其損失的操作。即，為了測(cè)量反射損耗而對(duì)發(fā)射側(cè)光纖6b端面進(jìn)行終端 處理后，無(wú)法輕易進(jìn)行損失測(cè)量的轉(zhuǎn)換。
關(guān)于這一點(diǎn)，在本實(shí)施例中采用了斜向(8度角度)切割發(fā)射側(cè)光纖6b端面 的手段，從而即使進(jìn)行了終端處理也能防止在所述端面上發(fā)生的反射。例如，即
斜切而不滿足全反射條件，而不能傳播到發(fā)射側(cè)光纖6b內(nèi)部。即，其狀態(tài)與對(duì)發(fā) 射側(cè)光纖6b的端面進(jìn)行了終端處理的情況相同。這樣就可以精確地進(jìn)行反射損耗 的測(cè)量。另外， 一般認(rèn)為光纖的全反射臨界角度是8度，因而如本實(shí)施例，以8 度以上的角度切割發(fā)射光纖6b的端面，這樣即使反射光再次射入到發(fā)射光纖6b 中也不滿足反射條件，故不會(huì)傳播到發(fā)射側(cè)光纖6b內(nèi)，而會(huì)立即衰減。
并且根據(jù)本實(shí)施例，由于不必考慮發(fā)射側(cè)光纖6b端面引起的反射，因此對(duì)所 述光纖設(shè)備6及發(fā)射側(cè)光纖6b與光接收器2的相對(duì)位置精度的要求不必過(guò)于嚴(yán) 密。結(jié)果，可以進(jìn)一步提高工作效率。
還有，在本實(shí)施例中，只通過(guò)切換光開(kāi)關(guān)5就可以輕易且迅速地進(jìn)行從反射 損耗測(cè)量到損失測(cè)量的過(guò)渡。由于沒(méi)有對(duì)發(fā)射側(cè)光纖6b的端面進(jìn)行終端處理，并 且該端面是通過(guò)圖中未示出的適配器連接到光接收器2上的，因此不會(huì)妨礙損失 的測(cè)量。當(dāng)然，由于對(duì)傳送到光接收器2中的光沒(méi)有障礙，因此即使發(fā)射側(cè)光纖 6b的端面被斜向切割，也不會(huì)對(duì)損失的測(cè)量產(chǎn)生壞影響。
如上所述，根據(jù)本實(shí)施例，由于已經(jīng)斜向切割了光纖設(shè)備6的發(fā)射側(cè)光纖6b 端面，因此可以通過(guò)光接收器2來(lái)接收測(cè)量損失時(shí)所需的透射光，而且也能防止 在光纖6b端面上引起的反射。根據(jù)于此，在進(jìn)行反射損耗的測(cè)量與損失測(cè)量時(shí)不 必調(diào)換光纖連接，只通過(guò)光開(kāi)關(guān)5的切換即可迅速進(jìn)行測(cè)量的轉(zhuǎn)換。這樣，與現(xiàn) 有的損失測(cè)量與反射損耗測(cè)量分別在不同裝置中進(jìn)行的情況(參照?qǐng)D3、 4)相比 較，能夠削減約40%的工時(shí)。
而且，通過(guò)斜切發(fā)射側(cè)光纖6a的端面來(lái)增大從該發(fā)射側(cè)光纖6a射出的光的 發(fā)射角度，因此雖然還要依靠發(fā)射側(cè)光纖6a與光接收器2之間的距離，但通過(guò)受
光徑較大的檢測(cè)器可以無(wú)過(guò)多損失地測(cè)量透射光。例如，當(dāng)光纖6b到光接收器2 的距離約為8mm時(shí)，可以利用受光徑為10mm的光4妄收器2進(jìn)行更有效的測(cè)量。
在本實(shí)施例中，由于在光接收器2中設(shè)置了適配器(圖未示)，因此可以把未 附加有連接器的光纖設(shè)備6作為檢測(cè)對(duì)象來(lái)使用。
當(dāng)然，本發(fā)明實(shí)施例并不限定于具有單芯光纖6a、 6b的結(jié)構(gòu)，通過(guò)采用分別 斜切各光纖端面的方式，具有多行排列單芯光纖的帶狀光纖結(jié)構(gòu)也能容易適用于 本發(fā)明中。
權(quán)利要求
1.一種光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)方法，其特征在于包括把作為檢測(cè)對(duì)象的光纖設(shè)備的入射側(cè)光纖連接到具有檢測(cè)光光源與反射光接收器的檢測(cè)單元上的步驟；及把端面被切割成斜面的所述光纖設(shè)備的發(fā)射側(cè)光纖連接到透射光接收器上的步驟，并選擇性地進(jìn)行利用所述透射光接收器接收從所述檢測(cè)單元通過(guò)其入射側(cè)光纖入射到所述光纖設(shè)備中的檢測(cè)光中透過(guò)該光纖設(shè)備及其發(fā)射側(cè)光纖的透射光的步驟；以及通過(guò)所述入射側(cè)光纖并利用所述反射光接收器接收從所述檢測(cè)單元通過(guò)其入射側(cè)光纖入射到所述光纖設(shè)備中的檢測(cè)光中被該光纖設(shè)備反射的反射光的步驟。
2. 如權(quán)利要求1所述的光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)方法，其特征在于所述檢測(cè)單 元形成為包含所述光源及所述反射光接收器的反射測(cè)量用模塊與另一光源連接到 光開(kāi)關(guān)上的結(jié)構(gòu)，而通過(guò)該光開(kāi)關(guān)的切換，選擇性地進(jìn)行利用所述透射光接收器 來(lái)接收所述透射光的步驟與利用所述反射光接收器來(lái)接收所述反射光的步驟。
3. 如權(quán)利要求1或2所述的光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)方法，其特征在于通過(guò)用 所述透射光接收器接收所述透射光的步驟來(lái)測(cè)定由所述光纖設(shè)備造成的損失；以 及，通過(guò)用所述反射光接收器接收所述反射光的步驟來(lái)測(cè)定由所述光纖設(shè)備造成 的反射損耗。
4. 如權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)方法，其特征在 于在所述光纖設(shè)備的發(fā)射側(cè)光纖的端面上，以8度以上的角度對(duì)垂直于該端面長(zhǎng)度方向的面ii^于切割。
5. —種光纖設(shè)備的光纖特性檢測(cè)裝置，其特征在于包括一具有檢測(cè)光光源及反 射光接收器的檢測(cè)單元、以及透射光接收器，其中，所述片全測(cè)單元可以連接作為 檢測(cè)對(duì)象的光纖設(shè)備的入射側(cè)光纖；所述透射光接收器可以連接所述光纖設(shè)備中被斜切端面發(fā)射側(cè)光纖。
6. 如權(quán)利要求5所述的光纖設(shè)備的光纖特性檢測(cè)裝置，其特征在于所述檢測(cè)單 元構(gòu)成為將包含所述光源及所述反射光接收器的反射測(cè)量用模塊與另 一光源間接 到光開(kāi)關(guān)上的結(jié)構(gòu)。
7. 如權(quán)利要求5或6所述的光纖設(shè)備的光纖特性檢測(cè)裝置，其特征在于所述透 射光接收器接收所述透射光，從而測(cè)量由所述光纖設(shè)備造成的損失；所述反射光 接收器接收所述反射光，從而測(cè)量由所述光纖設(shè)備造成的反射損耗。
8. 如權(quán)利要求5至7中任意一項(xiàng)所述的光纖設(shè)備的光纖特性檢測(cè)裝置，其特征在 于所述透射光接收器具有一適配器，該適配器用于連接所述光纖設(shè)備的發(fā)射側(cè) 光纖的，在垂直于其長(zhǎng)度方向的面上以8度以上的角度被切割的端面。
9. 一種光纖設(shè)備的光纖特性檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于包括權(quán)利要求5至8中任意 一項(xiàng)所述的光纖設(shè)備的光纖特性檢測(cè)裝置；以及光纖設(shè)備，該光纖設(shè)備具有入射 側(cè)光纖及端面被斜切的發(fā)射側(cè)光纖。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)方法，該方法包括把光纖設(shè)備的入射側(cè)光纖連接到檢測(cè)單元上的步驟；及把端面被切割成斜面的所述光纖設(shè)備的發(fā)射側(cè)光纖連接到透射光接收器上的步驟，并選擇性地進(jìn)行利用所述透射光接收器接收透射光的步驟；以及通過(guò)所述入射側(cè)光纖并利用所述反射光接收器接收反射光的步驟。根據(jù)該方法可以輕易并迅速地進(jìn)行光纖設(shè)備的透射光接收動(dòng)作與反射光接收動(dòng)作之間的轉(zhuǎn)換，而且無(wú)需進(jìn)行針對(duì)該端面的終端處理，因而可以簡(jiǎn)化檢測(cè)所需的工序，提高工作效率。另外，本發(fā)明還提供了光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測(cè)裝置及光學(xué)特性檢測(cè)系統(tǒng)。
文檔編號(hào)G02B6/24GK101113939SQ20071013685
公開(kāi)日2008年1月30日 申請(qǐng)日期2007年7月13日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月14日
發(fā)明者后藤正憲, 大西雅裕, 深井勉 申請(qǐng)人:新科實(shí)業(yè)有限公司