技術(shù)編號：2730919
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及光纖設(shè)備的光學(xué)特性檢測方法、光學(xué)特性檢測裝置、以及光學(xué)特 性檢測系統(tǒng)。背景技術(shù)就現(xiàn)有的含光纖的光纖設(shè)備而言，在對其進行光纖之間的光軸調(diào)整工序、功 能部件與光纖及/或其他功能部件之間的光軸調(diào)整工序、或容納光纖i殳備用外殼的 組裝工序之后，還需要檢測所述光纖設(shè)備的光學(xué)特性從而確認其性能。尤其是， 光透射光纖設(shè)備時的損失測量與光入射到光纖設(shè)備時的反射損耗測量，是制造光 纖設(shè)備后進行的常見且必不可少的光學(xué)特性檢測項目。因而，在光纖設(shè)備中，為確認其性能而進...
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