專利名稱：設(shè)有檢驗端子的圖像顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及圖像顯示裝置，特別是涉及在絕緣基板上形成的、在出廠前檢驗的圖像顯示裝置。
背景技術(shù)：
近年，隨著液晶面板向高清晰度的發(fā)展，用以連接LCD(liquidcrystal display液晶顯示器)模塊和FPC(flexible printed circuit board柔性印刷電路板)的端子的數(shù)量也在增加。并且，隨著LCD模塊的微型化，端子的節(jié)距越來越窄。液晶面板的檢驗通過在各端子上接觸探針來進(jìn)行，但隨著端子數(shù)的增加與端子節(jié)距的變窄，檢驗裝置的成本也在提高。
作為降低檢驗裝置的成本的方法，有一個檢驗端子上連接液晶面板的奇數(shù)號的數(shù)據(jù)線，同時將偶數(shù)號的數(shù)據(jù)線連接在另一個檢驗端子上，在利用兩個檢驗端子進(jìn)行檢驗后除去兩個端子的方法(例如參照日本專利申請?zhí)亻_平5-5897號公報)。
將這樣的兩個檢驗端子公共地設(shè)在多個液晶面板上時，可認(rèn)為能進(jìn)一步降低檢驗裝置的成本。但是，簡單地只將多個液晶面板的奇數(shù)號的數(shù)據(jù)線連接在一個檢驗端子上，同時將偶數(shù)號的數(shù)據(jù)線連接在另一個檢驗端子上的方法，不能單個地準(zhǔn)確地檢驗各液晶面板。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的在于提供能以低成本準(zhǔn)確地進(jìn)行檢驗的圖像顯示裝置。
本發(fā)明的圖像顯示裝置包括含有多個行多個列布置的多個像素顯示電路以及分別對應(yīng)于多個行設(shè)置的多條掃描線和分別對應(yīng)于多個列設(shè)置的多條數(shù)據(jù)線的圖像顯示面板；其第一電極分別與多條數(shù)據(jù)線連接的、圖像顯示面板正常工作時被設(shè)為非導(dǎo)通狀態(tài)的多個晶體管；與多個晶體管中的各奇數(shù)號晶體管的第二電極連接的第一檢驗端子；與多個晶體管中的各偶數(shù)號晶體管的第二電極連接的第二檢驗端子；以及與多個晶體管的柵極連接的、在檢驗時接受用以控制多個晶體管的控制信號的第一控制端子。因此，由于將第一檢驗端子、第二檢驗端子及第一控制端子連接在檢驗裝置上就能進(jìn)行檢驗，能以較少的用于檢驗的端子數(shù)完成檢驗，并能降低檢驗裝置的成本。并且，即使相互連接多個圖像顯示裝置的多個第一檢驗端子，同時相互連接多個第二檢驗端子的場合，也能一個一個準(zhǔn)確地檢驗圖像顯示裝置。


圖1是表示本發(fā)明實施例1的彩色液晶圖像裝置結(jié)構(gòu)的方框圖。
圖2是表示圖1所示的對應(yīng)于液晶盒設(shè)置的液晶驅(qū)動電路結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖3是表示圖1所示的彩色液晶顯示裝置的組裝部件的LCD模塊的結(jié)構(gòu)的電路方框圖。
圖4是說明圖3所示的LCD模塊的檢驗方法的時間圖。
圖5是表示實施例1的變更例的電路方框圖。
圖6是表示實施例1的另一變更例的電路方框圖。
圖7是說明本發(fā)明實施例2的LCD模塊的檢驗方法的示圖。
圖8是說明本發(fā)明實施例3的LCD模塊的檢驗方法的示圖。
圖9是表示圖8所示的LCD模塊的結(jié)構(gòu)的電路方框圖。
圖10是表示圖8所示的檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路結(jié)構(gòu)的電路方框圖。
圖11是表示本發(fā)明實施例4的LCD模塊的結(jié)構(gòu)的電路方框圖。
圖12是說明對圖11所示的LCD模塊安裝半導(dǎo)體芯片的方法的剖視圖。
圖13是表示實施例4的變更例的電路方框圖。
具體實施例方式
實施例1圖1是表示本發(fā)明實施例1的彩色液晶顯示裝置結(jié)構(gòu)的方框圖。如圖1所示，該彩色液晶顯示裝置設(shè)有液晶面板1、垂直掃描電路7及水平掃描電路8，該裝置例如可設(shè)在攜帶電話機(jī)上。
液晶面板1含有多個行多個列布置的多個液晶盒2、分別對應(yīng)于多個行設(shè)置的多條掃描線4、分別對應(yīng)于多個行設(shè)置的多個公共電位線5及分別對應(yīng)于多個列設(shè)置的多條數(shù)據(jù)線6。多條公共電位線5彼此連接。
液晶盒2在各行上每三個預(yù)先構(gòu)成一組。在各組的三個液晶盒2中分別設(shè)有R、G、B的彩色濾色片。各組的三個液晶盒2構(gòu)成一個像素3。
如圖2所示，在各液晶盒2上，設(shè)有液晶驅(qū)動電路10。液晶驅(qū)動電路10含有N型TFT(薄膜晶體管)11與電容12。N型TFT11連接在數(shù)據(jù)線6和液晶盒2的一個電極2a之間，其柵極與掃描線4連接。電容12連接在液晶盒2的一個電極2a和公共電位線5之間。對公共電位線5供給公共電位VCOM。液晶盒2的另一電極與對置電極連接。對置電極一般被供給與公共電位VCOM相同的電位。
返回圖1，垂直掃描電路7，根據(jù)圖像信號，多條掃描線4各按預(yù)定時間依次被選擇，并使選擇的掃描線4成為選擇電平的H電平。當(dāng)掃描線4成為選擇電平的H電平時，圖2的N型TFT11導(dǎo)通，對應(yīng)于該掃描線4的各液晶盒2的一個電極2a和對應(yīng)于該液晶盒2的數(shù)據(jù)線6連接。
水平掃描電路8，根據(jù)圖像信號，在由垂直掃描電路7選擇一條掃描線4的期間，向各數(shù)據(jù)線6供給灰度電位VG，同時向公共電位線5供給公共電位VCOM。液晶盒2的光透射率按照該電極間電壓變化。
若垂直掃描電路7與水平掃描電路8掃描了液晶面板1的全部液晶盒2，液晶面板1上就顯示一幅彩色圖像。
圖3是表示圖1與圖2所示的彩色液晶顯示裝置的組裝部件即LCD模塊的結(jié)構(gòu)的電路方框圖。如圖3所示，該LCD模塊包括玻璃基板15和在該表面上形成的液晶面板1、垂直掃描電路7、13多路信號分解器20、檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路25、多個(例如240個)數(shù)據(jù)端子30.1～30.4、…、R端子31、G端子32、B端子33、控制端子34、偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35及奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36。
端子30.1～30.4、…、31～36沿著玻璃基板15的一邊按預(yù)定的節(jié)距布置。在檢驗時，端子31～36各自通過探針與檢驗裝置連接。在檢驗后，端子30.1～30.4、…、31～36與FPC連接。在數(shù)據(jù)端子30.1～30.4、…等各端子上，由FPC供給灰度電位VG。對R端子31供給用以選擇R用數(shù)據(jù)線6的信號φR。對G端子32供給用以選擇G用數(shù)據(jù)線6的信號φG。對B端子33供給用以選擇B用數(shù)據(jù)線6的信號φB。對控制端子34供給控制信號φC。對偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35供給偶數(shù)數(shù)據(jù)信號DE。對奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36供給奇數(shù)數(shù)據(jù)信號DO。
13多路信號分解器20含有對應(yīng)于液晶面板1的240組R用數(shù)據(jù)線6、G用數(shù)據(jù)線6及B用數(shù)據(jù)線6設(shè)置的240組N型TFT21～23。N型TFT21～23分別連接在對應(yīng)組的R用數(shù)據(jù)線6、G用數(shù)據(jù)線6及B用數(shù)據(jù)線6的一端和對應(yīng)的數(shù)據(jù)端子(例如30.1)之間，其柵極分別與R端子31、G端子32及B端子33連接。
當(dāng)信號φR、φG、φB中的信號φR為H電平時，各N型TFT21導(dǎo)通，各R用數(shù)據(jù)線6和對應(yīng)的數(shù)據(jù)端子連接。當(dāng)信號φR、φG、φB中的信號φG為H電平時，各型TFT22導(dǎo)通，各G用數(shù)據(jù)線6和對應(yīng)的數(shù)據(jù)端子連接。當(dāng)信號φR、φG、φB中的信號φB為H電平時，各N型TFT23導(dǎo)通，各B用數(shù)據(jù)線6和對應(yīng)的數(shù)據(jù)端子連接。
檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路25含有對應(yīng)于240組R用數(shù)據(jù)線6、G用數(shù)據(jù)線6及B用數(shù)據(jù)線6中的各奇數(shù)號的組設(shè)置的N型TFT26和對應(yīng)于各偶數(shù)號的組設(shè)置的N型TFT27。各N型TFT26連接在對應(yīng)的N型TFT21～23的漏極和奇數(shù)數(shù)據(jù)線36之間，其柵極與控制端子34連接。各N型TFT27連接在對應(yīng)的N型TFT21～23的漏極和偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35之間，其柵極與端子34連接。
當(dāng)控制信號φC為H電平時，N型TFT26、27導(dǎo)通，奇數(shù)號組的N型TFT21～23的漏極和奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36連接，同時偶數(shù)號組的N型TFT21～23的漏極和偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35連接。
圖4是表示圖3所示的LCD模塊的檢驗方法的時間圖。進(jìn)行檢驗時，端子31～36各自通過探針與檢驗裝置連接。在某一時刻t0，選擇多條掃描線4中的任意一條的掃描線4，該掃描線4的電位VH上升至H電平。從而，對應(yīng)于該掃描線4的各N型TFT11導(dǎo)通，各數(shù)據(jù)線6通過導(dǎo)通的N型TFT11連接到液晶盒2。并且，在時刻t0，控制信號φC上升至H電平，N型TFT26、27導(dǎo)通，奇數(shù)號組的N型TFT21～23的漏極通過N型TFT26連接到奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36，同時偶數(shù)號組的N型TFT21～23的漏極通過N型TFT27連接到偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35。
在下一時刻t1，信號φR上升至H電平，各N型TFT21導(dǎo)通，各奇數(shù)號的R用數(shù)據(jù)線6通過N型TFT21、26連接到奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36，同時各偶數(shù)號的R用數(shù)據(jù)線6通過N型TFT21、27連接到偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35。并且，在時刻t1，奇數(shù)數(shù)據(jù)信號DO下降至L電平，同時偶數(shù)數(shù)據(jù)信號DE上升至H電平，各奇數(shù)號的R用數(shù)據(jù)線6成為L電平，同時各偶數(shù)號的R用數(shù)據(jù)線6成為H電平。從時刻t1經(jīng)過預(yù)定時間后，信號φR下降至L電平，各型TFT21成為非導(dǎo)通狀態(tài)，于是，向?qū)?yīng)于被選擇的掃描線4的各液晶盒2的數(shù)據(jù)信號的寫入結(jié)束。
接著，在時刻t2，信號φG上升至H電平，各N型TFT22導(dǎo)通，各奇數(shù)號的G用數(shù)據(jù)線6通過N型TFT22、26連接到奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36，同時各偶數(shù)號的G用數(shù)據(jù)線6通過N型TFT22、27連接到偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35。并且，在時刻t2，奇數(shù)數(shù)據(jù)信號DO上升至H電平，同時偶數(shù)數(shù)據(jù)信號DE下降至L電平，各奇數(shù)號的G用數(shù)據(jù)線6成為H電平，同時各偶數(shù)號的G用數(shù)據(jù)線6成為L電平。從時刻t2經(jīng)過預(yù)定時間后，信號φG下降至L電平，各N型TFT22成為非導(dǎo)通狀態(tài)，于是，向?qū)?yīng)于被選擇的掃描線4的各G用液晶盒2的數(shù)據(jù)信號的寫入結(jié)束。
接著在時刻t3，信號φB上升至H電平，各N型TFT23導(dǎo)通，各奇數(shù)號的B用數(shù)據(jù)線6通過N型TFT23、26連接到奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36，同時各偶數(shù)號的B用數(shù)據(jù)線6通過N型TFT23、27連接到偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35。并且，在時刻t3，奇數(shù)數(shù)據(jù)信號DO下降至L電平，同時偶數(shù)數(shù)據(jù)信號DE上升至H電平，各奇數(shù)號的B用數(shù)據(jù)線6成為L電平，同時各偶數(shù)號的B用數(shù)據(jù)線6成為H電平。從時刻t3經(jīng)過預(yù)定時間后，信號φB下降至L電平，各N型TFT23成為非導(dǎo)通狀態(tài)，于是，向?qū)?yīng)于被選擇的掃描線4的各B用液晶盒2的數(shù)據(jù)信號的寫入結(jié)束。接著，在時刻t4，掃描線4的電位VH下降至L電平，向?qū)?yīng)于一條掃描線4的各液晶盒2的數(shù)據(jù)信號的寫入結(jié)束。
通過按每條掃描線4進(jìn)行以上的操作，可向液晶面板1的全部液晶盒2寫入H電平或L電平的數(shù)據(jù)信號。液晶面板1是否正常，例如由檢測各液晶盒2的光透射率來進(jìn)行判斷。例如在相鄰的兩條數(shù)據(jù)線6短路時，對應(yīng)于這些數(shù)據(jù)線6的各液晶盒2上，寫入H電平和L電平之間的中間電平的電位，且該液晶盒2顯示與正常的數(shù)據(jù)線6對應(yīng)的液晶盒2不同的光透射率。因此，能夠容易地判斷液晶面板1是否正常。
在檢驗中判定為正常的LCD模塊的端子30.1～30.4、…、31～36連接在FPC上。各端子34～36中的各端子，由FPC固定于使N型TFT26、27成為非導(dǎo)通狀態(tài)的電位(例如接地電位GND)?；叶入娢籚G的寫入，與圖4所示的數(shù)據(jù)信號DE、DO的寫入同樣地進(jìn)行。就是說，在圖4的時刻t1至t2之間，對數(shù)據(jù)端子30.1～30.4、…中的各端子供給R用灰度電位VG，對各R用液晶盒2寫入R用灰度電位VG。在時刻t2至t3之間，對數(shù)據(jù)端子30.1～30.4、…中的各端子供給G用灰度電位VG，對各G用液晶盒2寫入G用灰度電位VG。在時刻t3至t4之間，對數(shù)據(jù)端子30.1～31.4、…中的各端子供給B用灰度電位VG，對各B用液晶盒2寫入B用灰度電位VG。這樣，在液晶面板1的各液晶盒2上寫入了灰度電位VG，液晶面板1的一幅彩色圖像被顯示。
在本實施例1中，在各奇數(shù)號組的N型TFT21～23的漏極和奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36之間連接N型TFT26，在各偶數(shù)號組的N型TFT21～23的漏極和偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35之間連接N型TFT27，將N型TFT26、27的柵極連接在控制端子34上。進(jìn)行檢驗時，使N型TFT26、27導(dǎo)通，向端子35、36供給檢驗用數(shù)據(jù)信號DE、DO，在正常工作時將N型TFT26、27固定于非導(dǎo)通狀態(tài)。因此，檢驗時能以較少的所需端子數(shù)來完成，從而能實現(xiàn)檢驗裝置的低成本化。并且，即使在多個LCD模塊的多個奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36相互連接、同時多個偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35相互連接的場合，也能通過控制各LCD模塊用的控制信號φC的電平來單個地準(zhǔn)確地檢驗各LD模塊。
液晶面板1通過在玻璃基板15表面的預(yù)定區(qū)域上形成含有掃描線4、數(shù)據(jù)線6、N型TFT11及電容12的陣列基板之后，在該陣列基板的表面上隔著液晶配置對置基板來形成。實施例1中，在組裝液晶面板1之后檢驗液晶盒2的光透射率，但可在組裝液晶面板1之前即配置對置基板之前的狀態(tài)下，通過對電容12的電荷量的監(jiān)測來檢驗陣列基板。
并且，在本實施例1中，由N型TFT構(gòu)成檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路25，但可以由P型TFT構(gòu)成，或者用并聯(lián)連接的N型TFT與P型TFT即傳輸門。
并且，如圖5所示，檢驗時使用的各端子31～36的尺寸可以大于各數(shù)據(jù)端子30.1～30.4、…的尺寸。從而，能夠降低探針的位置精度，并能降低檢驗裝置的成本。
并且，如圖6所示，檢驗時使用的端子31～36的節(jié)距可以大于數(shù)據(jù)端子30.1～30.4、…的節(jié)距。這種場合，也能降低探針的位置精度，從而降低檢驗裝置的成本。并且，如果將圖5的變更例和圖6的變更例相接合，檢驗時使用的端子31～36的大小與節(jié)距均大于數(shù)據(jù)端子30.1～30.4、…的大小與節(jié)距，就能進(jìn)一步降低檢驗裝置的成本。
實施例2圖7是說明本發(fā)明實施例2的LCD模塊的檢驗方法的示圖。在圖7的該檢驗方法中，在玻璃基板40的表面上形成多個(圖中為三個)LCD模塊41～43。各LCD模塊41～43與圖3中所示的相同。各LCD模塊41～43檢驗時使用的端子31～36，對著玻璃基板40的一邊配置。并且，沿著玻璃基板40的該邊，配置R端子51、G端子52、B端子53、控制端子54～56、偶數(shù)數(shù)據(jù)端子57以及奇數(shù)數(shù)據(jù)端子58。
LCD模塊41～43的R端子31，均與R端子51連接。LCD模塊41～43的G端子32，均與G端子52連接。LCD模塊41～43的B端子33，均與B端子53連接。LCD模塊41～43的控制端子34，與控制端子54～56連接。LCD模塊41～43的偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35，均與偶數(shù)數(shù)據(jù)端子57連接。LCD模塊41～43的奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36，均與奇數(shù)數(shù)據(jù)端子58連接。
進(jìn)行檢驗時，各端子51～58通過探針與檢驗裝置連接。對端子51～58，分別供給信號φR、φG、φB、φC1、φC2、φC3、DE、DO。在檢驗LCD模塊41～43時，各控制信號φC1～φC3被設(shè)為H電平。各LCD模塊41～43采用與實施例1相同的方法檢驗。檢驗結(jié)束后，各LCD模塊41～43被從玻璃基板40切割下來。此時，各LCD模塊41～43，與不再需要的端子51～58和布線分離。
在本實施例2中，由于能夠以一次探測進(jìn)行多個LCD模塊41～43的檢驗，比起逐個檢驗斷開的LCD模塊的場合，能以較少的探測次數(shù)來完成，并能縮短轉(zhuǎn)換探測所需的時間。并且，由于能以較少的探測次數(shù)來完成檢驗，可減小探針的磨損或彎曲，并能延長探針的壽命。因此，可實現(xiàn)測試成本的大幅降低。
另外，在本實施例2中，也可以在組裝液晶面板1之前的狀態(tài)下，通過監(jiān)測電容12的電荷量來檢驗各陣列基板。
實施例3圖8是說明本發(fā)明實施例3的LCD模塊的檢驗方法的示圖。在圖8的該檢驗方法中，在玻璃基板60的表面上形成多個(圖中為三個)LCD模塊61～63。LCD模塊61～63的外部端子部分61a～61c，對著玻璃基板60的一邊配置。沿著LCD模塊61～63的外部端子部分61a～61c，分別設(shè)置檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路64～66。并且，沿著玻璃基板60的該邊，設(shè)置R端子71、G端子72、B端子73、控制端子74～76、偶數(shù)數(shù)據(jù)端子77以及奇數(shù)數(shù)據(jù)端子78。
圖9是表示LCD模塊61的結(jié)構(gòu)的電路方框圖，用以與圖3進(jìn)行對比。參照圖9，LCD模塊61與圖3的LCD模塊的不同之處在于檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路25、控制端子34、偶數(shù)數(shù)據(jù)端子35及奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36均被除去。外部端子部分61a含有數(shù)據(jù)端子30.1～30.4、…、R端子31、G端子32及B端子33。玻璃基板15構(gòu)成玻璃基板60的一部分。LCD模塊62、63也具有與LCD模塊61相同的結(jié)構(gòu)。
如圖10所示，檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路64含有對應(yīng)于奇數(shù)號的數(shù)據(jù)端子30.1、30.3、…等各端子設(shè)置的N型TFT26和對應(yīng)于偶數(shù)號的數(shù)據(jù)端子30.2、30.4、…等各端子設(shè)置的N型TFT27。各N型TFT26連接在對應(yīng)的奇數(shù)號的數(shù)據(jù)端子和奇數(shù)數(shù)據(jù)端子78之間，其柵極與控制端子74連接。各N型TFT27連接在對應(yīng)的偶數(shù)號的數(shù)據(jù)端子和偶數(shù)數(shù)據(jù)端子77之間，其柵極與控制端子74連接。另外，圖1 0中省略了控制端子75、76的圖示。檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路65、66也具有與檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路64相同的結(jié)構(gòu)。但是，檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路65的N型TFT26、27的柵極與控制端子75連接，檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路66的N型TFT26、27的柵極與控制端子76連接。
進(jìn)行檢驗時，端子71～78各自通過探針與檢驗裝置連接。對端子71～78分別供給信號φR、φG、φB、φC1、φC2、φC3、DE、DO。檢驗LCD模塊61～63時，各控制信號φC1～φC3被設(shè)為H電平。LCD模塊61～63各自與實施例1一樣地被加以檢驗。檢驗結(jié)束后，LCD模塊61～63各自從玻璃基板60切割下來。此時，各LCD模塊61～63與不再需要的檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路64～66、端子71～78及布線分離。
在本實施例3中，得到與實施例2同樣的效果，除此以外，還不必進(jìn)行將不再需要的N型TFT26、27固定于非導(dǎo)通狀態(tài)的處理(對N型TFT26、27的柵極與漏極上施加接地電位GND)。并且，簡化了LCD模塊的結(jié)構(gòu)。
另外，本實施例3中，就玻璃基板60上設(shè)置多個LCD模塊61～63的場合作了說明，但從圖10中可知，該檢驗方法在玻璃基板60上設(shè)置一個LCD模塊61的場合也有效。
實施例4圖11是表示本發(fā)明實施例4的LCD模塊的結(jié)構(gòu)的電路方框圖，用以與圖3進(jìn)行對比。參照圖11，該LCD模塊與圖3的LCD模塊的不同之處在于在端子34～36和檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路25之間的三條布線通過COG(chip on glass芯片直裝玻璃)安裝區(qū)域80，并在三條布線的COG安裝區(qū)域80內(nèi)的預(yù)定位置上分別設(shè)置焊盤81～83。檢驗結(jié)束后，在覆蓋COG安裝區(qū)域80的位置安裝半導(dǎo)體芯片。此時，半導(dǎo)體芯片的接地電位GND的電極與三個焊盤81～83處于導(dǎo)通狀態(tài)，焊盤81～83固定為接地電位GND。通過電源端子和接地端子(未作圖示)，半導(dǎo)體芯片被供給電源電位VDD與接地電位GND。半導(dǎo)體芯片含有DC-DC變換器等。
圖12是局部表示在COG安裝區(qū)域80上安裝的半導(dǎo)體芯片90的剖視圖。在圖12中，玻璃基板15的表面上形成絕緣膜92，在絕緣膜92的表面上形成金屬布線93。該金屬布線93連接在奇數(shù)數(shù)據(jù)端子36與各N型TFT26的漏極上。
覆蓋金屬布線93地形成絕緣膜94，在絕緣膜94的預(yù)定區(qū)域上形成開口部分，使金屬布線93的預(yù)定部分露出。作為金屬端子形成的焊盤83覆蓋絕緣膜94的開口部分。在焊盤83的表面上涂敷各向異性導(dǎo)電樹脂95，再安裝半導(dǎo)體芯片90，使作為半導(dǎo)體芯片90的接地端子的凸起電極91位于焊盤83上。從而，凸起電極91與焊盤83電氣連接。
本實施例4中，通過檢驗后安裝半導(dǎo)體芯片90來把檢驗用端子轉(zhuǎn)換電路25的N型TFT26、27固定于非導(dǎo)通狀態(tài)。因此，無需從LCD模塊的外部向端子34～36供給接地電位GND，所以，能夠減少FPC的端子數(shù)，并能使FPC的寬度變窄。
另外，如圖13所示，也可以將端子34～36設(shè)在COG安裝區(qū)域80內(nèi)。通過安裝半導(dǎo)體芯片90，端子34～36被固定于接地電位GND。此變更例中，除取得與實施例4相同的效果外，還無需另外設(shè)置焊盤81～83。
本次公開的實施例中，所有內(nèi)容均屬例示，不應(yīng)視作本發(fā)明的限定。本發(fā)明的范圍不由上述說明表示，而由權(quán)利要求書的范圍來加以闡述，與權(quán)利要求的范圍相當(dāng)以及在該范圍內(nèi)的所有變更均為本發(fā)明的范圍所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種在絕緣基板上形成的圖像顯示裝置，其中設(shè)有含有多個行多個列布置的多個像素顯示電路以及分別對應(yīng)于所述多個行設(shè)置的多條掃描線和分別對應(yīng)于所述多個列設(shè)置的多條數(shù)據(jù)線的圖像顯示面板；其第一電極分別與所述多條數(shù)據(jù)線連接的、所述圖像顯示面板的在正常工作時被設(shè)為非導(dǎo)通狀態(tài)的多個晶體管；與所述多個晶體管中的各奇數(shù)號的晶體管的第二電極連接的第一檢驗端子；與所述多個晶體管中的各偶數(shù)號的晶體管的第二電極連接的第二檢驗端子；以及與所述多個晶體管的柵極連接的、在所述圖像顯示面板檢驗時接受用以控制所述多個晶體管的控制信號的第一控制端子。
2.如權(quán)利要求1所述的圖像顯示裝置，其特征在于還包括分別對應(yīng)于所述多條數(shù)據(jù)線設(shè)置的、各自在所述正常工作時接受用以使所述像素顯示電路顯示像素的像素電位的多個數(shù)據(jù)端子；所述第一檢驗端子、所述第二檢驗端子和所述第一控制端子各自的尺寸大于所述數(shù)據(jù)端子的尺寸。
3.如權(quán)利要求1所述的圖像顯示裝置，其特征在于還包括分別對應(yīng)于所述多條數(shù)據(jù)線設(shè)置的、各自在所述正常工作時接受用以使所述像素顯示電路顯示像素的像素電位的多個數(shù)據(jù)端子；所述多個數(shù)據(jù)端子以預(yù)定的節(jié)距排列；所述第一檢驗端子、所述第二檢驗端子和所述第一控制端子，其節(jié)距以大于所述多個數(shù)據(jù)端子的節(jié)距排列。
4.如權(quán)利要求1所述的圖像顯示裝置，其特征在于所述第一檢驗端子、所述第二檢驗端子和所述第一控制端子各自在所述正常工作時接受將所述多個晶體管設(shè)于非導(dǎo)通狀態(tài)的預(yù)定的電位。
5.如權(quán)利要求4所述的圖像顯示裝置，其特征在于所述第一檢驗端子、所述第二檢驗端子和所述第一控制端子各自配置在所述檢驗后被安裝半導(dǎo)體芯片的區(qū)域，并在所述正常工作時由安裝的半導(dǎo)體芯片接受所述預(yù)定的電位。
6.如權(quán)利要求1所述的圖像顯示裝置，其特征在于還包括分別與所述第一檢驗端子、所述第二檢驗端子和所述第一控制端子連接的、各自配置在所述檢驗后被安裝半導(dǎo)體芯片的區(qū)域，并在所述正常工作時由被安裝的半導(dǎo)體芯片接受將所述多個晶體管設(shè)于非導(dǎo)通狀態(tài)的預(yù)定的電位的三個焊盤。
7.如權(quán)利要求1所述的圖像顯示裝置，其特征在于多個模塊區(qū)域設(shè)置在所述絕緣基板上，所述圖像顯示面板、所述多個晶體管、所述第一檢驗端子、所述第二檢驗端子和所述第一控制端子在各模塊區(qū)域上形成；所述圖像顯示裝置，還包括在所述多個模塊區(qū)域外形成的、與多個所述第一檢驗端子連接的第一公共端子，在所述多個模塊區(qū)域外形成的、與多個所述第二檢驗端子連接的第二公共端子，以及分別對應(yīng)于多個所述第一控制端子設(shè)置并在所述多個模塊區(qū)域外形成的、各自在所述檢驗時接受控制信號并向?qū)?yīng)的第一控制端子供給該信號的多個第二控制端子；各模塊區(qū)域在所述檢驗之后，與所述第一公共端子、所述第二公共端子和所述多個第二控制端子分離。
8.如權(quán)利要求1所述的圖像顯示裝置，其特征在于多個模塊區(qū)域設(shè)置在所述絕緣基板上，所述圖像顯示面板在各模塊區(qū)域上形成，所述多個晶體管與所述第一檢驗端子對應(yīng)于各圖像顯示面板設(shè)置，在所述多個模塊區(qū)域外形成，所述第一與第二檢驗端子在多個所述圖像顯示面板上公共地設(shè)置，在所述多個模塊區(qū)域外形成，各模塊區(qū)域在所述檢驗之后，與多組的所述多個晶體管、多個所述第一控制端子、所述第一檢驗端子和所述第二檢驗端子分離。
9.如權(quán)利要求1所述的圖像顯示裝置，其特征在于所述圖像顯示面板在所述檢驗之后，與所述多個晶體管、所述第一檢驗端子、所述第二檢驗端子和所述第一控制端子分離。
全文摘要
本發(fā)明的LCD模塊包括在檢驗時用以通過各第一N型TFT(26)與多路信號分解器(20)向各奇數(shù)號組的數(shù)據(jù)線(6)供給奇數(shù)數(shù)據(jù)信號(DO)的奇數(shù)數(shù)據(jù)端子(36)，在檢驗時用以通過各第二N型TFT(27)與多路信號分解器(20)來向各偶數(shù)號組的數(shù)據(jù)線(6)供給偶數(shù)數(shù)據(jù)信號(DE)的偶數(shù)數(shù)據(jù)端子(35)，以及在檢驗時用以向第一、第二N型TFT(26、27)的柵極供給控制信號(φC)的控制端子(34)。因此，能以較少的端子數(shù)來完成檢驗，并能實現(xiàn)檢驗裝置的低成本化。
文檔編號G02F1/136GK1527104SQ20031010369
公開日2004年9月8日 申請日期2003年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月7日
發(fā)明者野尻勛, 之, 村井博之 申請人:三菱電機(jī)株式會社