一種陣列基板及顯示面板的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及顯示技術領域，尤其涉及一種陣列基板及一種顯示面板。
【背景技術】
[0002]現(xiàn)有技術中的顯示面板包括陣列基板和彩膜基板，其中，所述陣列基板在和所述彩膜基板組裝前通常需要對所述陣列基板顯示區(qū)的結構進行測試，當所述顯示區(qū)的結構測試合格后，再在所述顯示面板的下邊框區(qū)綁定驅動電路，并與所述彩膜基板進行組裝，以降低所述顯示面板不合格的概率。
[0003]但是，現(xiàn)有技術中的顯示面板，由于其驅動電路區(qū)的面積較小，通常將用于對所述顯示區(qū)結構進行測試的測試電路設置在所述顯示面板中與所述驅動電路區(qū)相對的上邊框區(qū)，然后將顯示區(qū)的各結構通過與所述驅動電路位于同層的測試線從所述顯示面板左右兩側的邊框區(qū)電連接至所述測試電路進行測試，從而增加了所述顯示面板邊框區(qū)的面積，不適應于窄邊框的發(fā)展趨勢。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]為解決上述技術問題，本實用新型實施例提供了一種陣列基板及包括該陣列基板的顯示面板，以減少所述顯示面板邊框區(qū)的面積，從而適應于窄邊框的發(fā)展趨勢。
[0005]為解決上述問題，本實用新型實施例提供了如下技術方案:
[0006]一種陣列基板，所述陣列基板包括顯示區(qū)與邊框區(qū)，所述邊框區(qū)圍繞所述顯示區(qū)的四周設置，所述顯示區(qū)設置有公共電極層和觸控走線層，其中，所述公共電極層包括多個公共電極單元，所述觸控走線層包括多條與所述公共電極單元電連接的觸控走線；
[0007]所述邊框區(qū)設置有測試單元以及與所述測試單元電連接的測試線，所述測試線的另一端與所述陣列基板顯示區(qū)內(nèi)的待測試結構電連接，用于在所述陣列基板組裝前對所述陣列基板顯示區(qū)內(nèi)的待測試結構進行測試，所述測試線包括至少一條第一測試線，且所述第一測試線與所述觸控走線位于同一層。
[0008]可選的，所述公共電極單元在顯示階段用作公共電極，在觸控階段用作自電容觸控電極。
[0009]可選的，所述公共電極單元在顯示階段用作公共電極，在觸控階段用作驅動觸控電極或感應觸控電極。
[0010]可選的，所述邊框區(qū)包括:位于所述顯示區(qū)左側的第一邊框區(qū)、位于所述顯示區(qū)右側的和第二邊框區(qū)、位于所述顯示區(qū)上側的第三邊框區(qū)以及位于所述顯示區(qū)下側的第四邊框區(qū)，所述第一測試線至少部分位于所述第一邊框區(qū)和/或第二邊框區(qū)。
[0011]可選的，所述陣列基板的顯示區(qū)設置有源漏極層和柵極層，所述陣列基板的邊框區(qū)設置有柵極驅動電路。
[0012]可選的，所述第一測試線位于所述第一邊框區(qū)和/或第二邊框區(qū)的部分的投影位于所述柵極驅動電路的投影與所述顯示區(qū)的投影之間，
[0013]可選的，所述測試線還包括:至少一條第二測試線，所述第二測試線與所述源漏極層位于同一層。
[0014]可選的，所述第二測試線位于所述第三邊框區(qū)和/或第四邊框區(qū)。
[0015]可選的，所述第二測試線部分位于所述第一邊框區(qū)和/或第二邊框區(qū)，部分位于所述第三邊框區(qū)和/或第四邊框區(qū)。
[0016]可選的，所述第二測試線位于所述第一邊框區(qū)和/或第二邊框區(qū)的部分的投影位于所述柵極驅動電路的投影與所述顯示區(qū)的投影之間。
[0017]可選的，所述測試線還包括至少一條第三測試線，所述第三測試線與所述柵極層位于同一層。
[0018]可選的，所述第三測試線位于所述第三邊框區(qū)和/或第四邊框區(qū)。
[0019]可選的，所述第三測試線部分位于所述第一邊框區(qū)和/或第二邊框區(qū)，部分位于所述第三邊框區(qū)和/或第四邊框區(qū)。
[0020]可選的，所述第三測試線位于所述第一邊框區(qū)和/或第二邊框區(qū)的部分的投影位于所述柵極驅動電路的投影與所述顯示區(qū)的投影之間。
[0021]一種顯示面板，包括:相對設置的陣列基板和彩膜基板，以及位于所述陣列基板與所述彩膜基板之間的液晶層，其中，所述陣列基板為上述任一項所述的陣列基板。
[0022]與現(xiàn)有技術相比，上述技術方案具有以下優(yōu)點:
[0023]本實用新型實施例所提供的陣列基板包括顯示區(qū)與邊框區(qū)，所述邊框區(qū)圍繞所述顯示區(qū)的四周設置，其中，所述顯示區(qū)設置有公共電極層和觸控走線層，所述邊框區(qū)設置有測試單元以及與所述測試單元電連接的測試線，所述測試線的另一端與所述陣列基板顯示區(qū)內(nèi)的待測試結構電連接，用于在所述陣列基板組裝前對所述陣列基板顯示區(qū)內(nèi)的待測試結構進行測試，所述測試線包括至少一條第一測試線，所述第一測試線與所述觸控走線位于同一層。
[0024]由于現(xiàn)有技術陣列基板中，所述觸控走線層中的觸控走線僅位于顯示區(qū)，其同層相對應的邊框區(qū)為絕緣層，沒有走線，而本實用新型實施例所提供的陣列基板將所述第一測試線設置在與所述觸控走線層同層的邊框區(qū)，而無需額外增加邊框面積來放置所述第一測試線，從而減小了所述陣列基板的邊框面積，進而減小了包括該陣列基板的顯示面板的邊框面積，以適應于窄邊框的發(fā)展趨勢。
【附圖說明】
[0025]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0026]圖1為本實用新型第一實施例所提供的陣列基板的俯視圖；
[0027]圖2為本實用新型第二實施例所提供的陣列基板的剖視圖；
[0028]圖3為本實用新型第二實施例所提供的陣列基板的俯視圖；
[0029]圖4為本實用新型第五實施例所提供的陣列基板的剖視圖；
[0030]圖5為本實用新型第五實施例所提供的陣列基板的俯視圖；
[0031]圖6為本實用新型第六實施例所提供的陣列基板的剖視圖；
[0032]圖7為本實用新型第六實施例所提供的陣列基板的俯視圖；
[0033]圖8為本實用新型第七實施例所提供的陣列基板的剖視圖；
[0034]圖9為本實用新型第七實施例所提供的陣列基板的俯視圖；
[0035]圖10為本實用新型第八實施例所提供的陣列基板的剖視圖；
[0036]圖11為本實用新型第九實施例所提供的陣列基板的剖視圖；
[0037]圖12為本實用新型第九實施例所提供的陣列基板中所述第一測試線走線位置的一種俯視圖；
[0038]圖13為本實用新型第九實施例所提供的陣列基板中所述第一測試線走線位置的另一種俯視圖；
[0039]圖14為本實用新型第十實施例所提供的陣列基板的剖視圖；
[0040]圖15為本實用新型第十四實施例所提供的陣列基板的剖視圖；
[0041]圖16為本實用新型實施例所提供的顯示面板的剖視圖。
【具體實施方式】
[0042]下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├?，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0043]在下面的描述中闡述了很多具體細節(jié)以便于充分理解本實用新型，但是本實用新型還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實施，本領域技術人員可以在不違背本實用新型內(nèi)涵的情況下做類似推廣，因此本實用新型不受下面公開的具體實施例的限制。
[0044]本實用新型第一實施例提供了一種陣列基板，如圖1所示，該陣列基板包括顯示區(qū)100和邊框區(qū)200，其中，所述顯示區(qū)100設置有公共電極層(圖中未示出)和觸控走線層(圖中未示出)，所述公共電極層包括多個公共電極單元，所述觸控走線層包括多條與所述公共電極單元電連接的觸控走線；所述