專利名稱:半導(dǎo)體器件及其試驗(yàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件及其試驗(yàn)方法,特別是涉及對于根據(jù)取入存儲(chǔ)部中的數(shù)據(jù),選擇給定電平的電壓向多個(gè)外部端子輸出的液晶驅(qū)動(dòng)電路有效的技術(shù)。
背景技術(shù):
作為本發(fā)明者研究的技術(shù),關(guān)于一般的便攜式彩色TFT液晶驅(qū)動(dòng)器等液晶驅(qū)動(dòng)電路,例如考慮了圖11所示的結(jié)構(gòu)。該液晶驅(qū)動(dòng)電路把通過外部接口寫入顯示數(shù)據(jù)RAM12中的數(shù)據(jù)按液晶顯示數(shù)據(jù)的每一行用行緩沖器31保持,在灰度電壓選擇電路33內(nèi)的各開關(guān)電路34中,根據(jù)行緩沖器31中保持的液晶顯示數(shù)據(jù),選擇由灰度電壓生成電路32生成的給定電平的灰度電壓向各輸出端子輸出。然后,按照該液晶驅(qū)動(dòng)電路輸出的灰度電壓,液晶面板的各象素被保持電容充電,在液晶面板中,控制各象素的亮度。
在該液晶驅(qū)動(dòng)電路的試驗(yàn)時(shí),從測試器35通過外部接口向液晶驅(qū)動(dòng)電路施加任意的試驗(yàn)圖案,通過執(zhí)行向顯示數(shù)據(jù)RAM12的數(shù)據(jù)寫入、顯示控制器11的控制等,從灰度電壓選擇電路33內(nèi)的各開關(guān)電路34向輸出端子輸出任意的灰度電壓,用測試器35加以測定來進(jìn)行試驗(yàn)。
如上所述,液晶驅(qū)動(dòng)電路是由顯示控制器和顯示數(shù)據(jù)RAM構(gòu)成的數(shù)字功能部、由灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路構(gòu)成的模擬功能部成為一體而工作。因此,當(dāng)實(shí)施液晶驅(qū)動(dòng)電路的數(shù)字功能試驗(yàn)時(shí),有必要測定從輸出端子輸出的給定電平的灰度電壓。液晶驅(qū)動(dòng)電路為了低耗電化,很難提高灰度電壓輸出的驅(qū)動(dòng)能力,無法實(shí)現(xiàn)灰度電壓測定時(shí)間的高速化,另一方面,由于高功能化可使試驗(yàn)項(xiàng)目增大,所以存在試驗(yàn)時(shí)間增加,很難實(shí)現(xiàn)低成本化的問題。
此外,在所述液晶驅(qū)動(dòng)電路中,考慮了例如圖12所示的灰度電壓生成電路32、灰度電壓選擇電路33(開關(guān)電路34)的結(jié)構(gòu)。在該電壓生成電路32中,以灰度生成電壓V0為基準(zhǔn),以任意的比率進(jìn)行n分壓,生成任意的n灰度的灰度電壓。而且,在配置在灰度電壓選擇電路33內(nèi)的各開關(guān)電路34中,按照保持在行緩沖器中的灰度設(shè)定數(shù)據(jù),選擇任意的灰度電壓,進(jìn)行輸出。
在該液晶驅(qū)動(dòng)電路中,當(dāng)進(jìn)行輸出端子的灰度電壓的試驗(yàn)時(shí),通過行緩沖器中設(shè)定的灰度設(shè)定數(shù)據(jù),設(shè)定各輸出端子中的灰度電壓值,對各輸出端子用AD轉(zhuǎn)換器進(jìn)行電壓測定,對全部灰度電壓加以測定來進(jìn)行試驗(yàn)。因此,由于上述的灰度輸出電壓的驅(qū)動(dòng)能力的限制,很難實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)時(shí)間的高速化,對于與液晶面板的高精細(xì)化對應(yīng)的液晶驅(qū)動(dòng)電路的輸出端子數(shù)或灰度階梯數(shù)的增加,試驗(yàn)時(shí)間增加,存在很難實(shí)現(xiàn)低成本化的課題。
為了解決這些課題,例如提出了專利文獻(xiàn)1(特開20002-197899號(hào)公報(bào))等中表示的謀求試驗(yàn)高速化的技術(shù)。該技術(shù)采用液晶驅(qū)動(dòng)電路在通過顯示數(shù)據(jù)RAM在行緩沖器等的存儲(chǔ)電路中保持液晶顯示數(shù)據(jù)進(jìn)行灰度試驗(yàn)的同時(shí),停止向行緩沖器的寫入,進(jìn)行顯示數(shù)據(jù)RAM的試驗(yàn)的結(jié)構(gòu),謀求試驗(yàn)時(shí)間的縮短。
可是,關(guān)于所述專利文獻(xiàn)1,本發(fā)明者研究的結(jié)果從以下可知。即在所述專利文獻(xiàn)1中,提出了謀求試驗(yàn)的高速化的技術(shù),但是為了與液晶驅(qū)動(dòng)電路的高功能化和輸出端子的增加對應(yīng),謀求液晶驅(qū)動(dòng)電路的低成本化,有必要實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)時(shí)間的進(jìn)一步縮短。此外,在該專利文獻(xiàn)1中,雖然能并行進(jìn)行顯示數(shù)據(jù)RAM單體的功能試驗(yàn)和利用取入行緩沖器中的數(shù)據(jù)所進(jìn)行的電特性試驗(yàn),但未具體描述功能的分割和試驗(yàn)項(xiàng)目等。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明的目的在于提供在功能上分割液晶驅(qū)動(dòng)電路,通過分別獨(dú)立控制進(jìn)行試驗(yàn),對于液晶驅(qū)動(dòng)電路的高功能化和輸出端子的增加,也能實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的試驗(yàn)時(shí)間的縮短,具有能謀求試驗(yàn)的高速化和低成本化的液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)技術(shù)。
為了實(shí)現(xiàn)所述目的,本發(fā)明除了數(shù)字功能部和模擬功能部,具有向外部輸出數(shù)字功能部的試驗(yàn)結(jié)果的第一端子,在功能上分割數(shù)字功能部和模擬功能部,向液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部輸出數(shù)字功能部的輸出。或者具有從外部控制模擬功能部的輸出的第二端子,從液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部與數(shù)字功能部獨(dú)立控制灰度電壓選擇電路的控制。此外,與模擬功能部獨(dú)立進(jìn)行數(shù)字功能部的試驗(yàn)。據(jù)此,能與模擬功能部獨(dú)立進(jìn)行數(shù)字功能部的試驗(yàn),能進(jìn)行高速的功能試驗(yàn)。
此外,本發(fā)明具有把模擬功能部中的包含的灰度電壓生成電路的輸出切換為給定的雙值電壓值的切換部件,把灰度電壓生成電路的輸出電壓切換為雙值電壓,有選擇地把各灰度電壓設(shè)定為雙值電壓。據(jù)此,把液晶驅(qū)動(dòng)電路的輸出電壓雙值化,能實(shí)現(xiàn)高速的灰度輸出試驗(yàn)。
如上所述,根據(jù)本發(fā)明,通過在功能上分割液晶驅(qū)動(dòng)電路的數(shù)字功能部和模擬功能部,能實(shí)現(xiàn)數(shù)字功能部的高速功能實(shí)現(xiàn),能實(shí)現(xiàn)基于試驗(yàn)時(shí)間的縮短的液晶驅(qū)動(dòng)電路的低成本化。
此外,根據(jù)本發(fā)明,通過把灰度輸出試驗(yàn)置換為灰度電壓選擇電路的開關(guān)試驗(yàn),能實(shí)現(xiàn)灰度輸出試驗(yàn)的高速化,能實(shí)現(xiàn)基于試驗(yàn)時(shí)間的縮短引起的液晶驅(qū)動(dòng)電路的低成本化。
結(jié)果,根據(jù)本發(fā)明對于液晶驅(qū)動(dòng)電路的高功能化和輸出端子的增加,也能實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的試驗(yàn)時(shí)間的縮短,作為具有該液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)技術(shù),也能謀求試驗(yàn)的高速化、低成本化。
下面簡要說明附圖。
圖1是表示本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)圖。
圖2是在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,表示液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)圖。
圖3是在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,表示把移位寄存器N分割時(shí)的液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)圖。
圖4是在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,把移位寄存器采用2級(jí)結(jié)構(gòu)時(shí)的液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)圖。
圖5是在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,表示灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路的電路圖。
圖6是在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,表示灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路的各信號(hào)和灰度輸出的關(guān)系的說明圖。
圖7(a)、(b)是在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,表示以競賽形式形成灰度電壓生成電路內(nèi)的開關(guān)電路時(shí)的電路圖和試驗(yàn)時(shí)電壓值的說明圖。
圖8是在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,表示把個(gè)別試驗(yàn)項(xiàng)目高速化時(shí)的測試流程圖。
圖9是在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,表示把試驗(yàn)項(xiàng)目并行化時(shí)的測試流程圖。
圖10是在本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中,表示把試驗(yàn)項(xiàng)目并行化時(shí)的測試流程圖。
圖11是表示作為本發(fā)明的前提而研究的以往技術(shù)的液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)圖。
圖12是表示作為本發(fā)明的前提而研究的以往技術(shù)的灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路的電路圖。
具體實(shí)施例方式
下面,根據(jù)附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施例。須指出的是,在用于說明實(shí)施例的全圖中,對于具有同一功能的構(gòu)件付與相同的符號(hào),省略了它的重復(fù)說明。
首先,根據(jù)圖1,說明本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)和動(dòng)作的一個(gè)例子。圖1是表示本實(shí)施例的具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)圖。
本實(shí)施例的具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件例如應(yīng)用于便攜式彩色TFT液晶驅(qū)動(dòng)器等中,作為包含向液晶面板施加選通信號(hào)的選通驅(qū)動(dòng)器1、向液晶面板施加灰度輸出電壓的源驅(qū)動(dòng)器2、發(fā)生液晶面板的驅(qū)動(dòng)電壓的液晶驅(qū)動(dòng)電壓發(fā)生電路3等的液晶顯示控制器4而構(gòu)成,該液晶顯示控制器4作為一個(gè)半導(dǎo)體器件而形成。須指出的是,也能包含后面描述的MPU而作為一個(gè)半導(dǎo)體器件而形成。
該液晶顯示控制器4連接在把TFT配置矩陣狀的液晶面板5上,對于該液晶面板5從選通驅(qū)動(dòng)器1施加任意顯示行,通過對于該選擇的顯示行的各象素從源驅(qū)動(dòng)器2施加灰度輸出電壓,對作為目標(biāo)的象素保持電容進(jìn)行充電,控制各象素的亮度。
此外,液晶顯示控制器4連接在MPU6上,通過該MPU6,控制各動(dòng)作的演算和處理。
下面,參照圖2說明本實(shí)施例的液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)和動(dòng)作的一個(gè)例子。圖2表示本實(shí)施例的液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)圖。
本實(shí)施例的液晶驅(qū)動(dòng)電路例如應(yīng)用于圖1所示的源驅(qū)動(dòng)器1中。包含該源驅(qū)動(dòng)器1的液晶顯示控制器4由通過外部接口控制數(shù)據(jù)的寫入和讀出的顯示控制器11、存儲(chǔ)寫入或讀出的數(shù)據(jù)的顯示數(shù)據(jù)RAM12、保持寫入該顯示數(shù)據(jù)RAM12中的數(shù)據(jù)的移位寄存器(保持部件)13、生成給定電平的灰度電壓的灰度電壓生成電路14、選擇由該灰度電壓生成電路14生成的給定灰度電壓的灰度電壓選擇電路15等構(gòu)成,在灰度電壓選擇電路15中包含多個(gè)開關(guān)電路16。在該液晶顯示控制器4中,由顯示控制器11和顯示數(shù)據(jù)RAM12構(gòu)成數(shù)字功能部,由灰度電壓生成電路14和灰度電壓選擇電路15構(gòu)成模擬功能部。
該液晶顯示控制器4在通常動(dòng)作時(shí),顯示控制器11通過外部接口連接在MPU6上,再從灰度電壓選擇電路15通過輸出端子連接在液晶面板5上。此外,有效(Enable)端子、數(shù)據(jù)輸入(DataIn)端子、移位時(shí)鐘(SCLK)端子連接到外部的接地電位上,數(shù)據(jù)輸出(DataOut)端子在外部處于開放狀態(tài)。此外,在內(nèi)部,來自Enable端子和DataIn端子、Enable端子和SCLK端子的各信號(hào)通過邏輯門輸入到移位寄存器13,此外,來自Enable端子的信號(hào)和來自顯示控制器11的鎖存時(shí)鐘通過邏輯門作為Load輸入而輸入到移位寄存器13,此外,從移位寄存器13,作為SerialOut輸出從DataOut端子輸出。
通常動(dòng)作時(shí),在該連接狀態(tài)下,通過Enable端子移位寄存器13的Load輸入變?yōu)橛行?,DataIn端子、SCLK端子的輸入變?yōu)闊o效狀態(tài),用顯示控制器11輸出鎖存時(shí)鐘把顯示數(shù)據(jù)RAM12的輸出保持在移位寄存器13中,按照該移位寄存器13的輸出,控制灰度電壓選擇電路15,把給定的灰度電壓向輸出端子輸出,進(jìn)行與以往電路(圖11)同等的動(dòng)作。
此外,在該液晶顯示控制器4中進(jìn)行數(shù)字功能部、模擬功能部的試驗(yàn)時(shí),向顯示控制器11的外部接口、來自灰度電壓選擇電路15的輸出端子、Enable端子(第二端子)、DataIn端子(第二端子)、SCLK端子(第二端子)、DataOut端子(第一端子)分別連接在測試器上,根據(jù)來自該測試器的信號(hào),進(jìn)行各種試驗(yàn)。這里,只說明數(shù)字功能部、模擬功能部試驗(yàn)時(shí)的動(dòng)作概要,后面詳細(xì)描述關(guān)于各種試驗(yàn)項(xiàng)目的細(xì)節(jié)。
在數(shù)字功能部的試驗(yàn)時(shí),在與通常動(dòng)作相同的狀態(tài)下,把顯示數(shù)據(jù)RAM12的輸出保持在移位寄存器13中后,通過Enable端子把移位寄存器13的Load輸入設(shè)定為無效,把DataIn端子、SCLK端子的輸入設(shè)定為有效狀態(tài),把與從SCLK端子輸入的移位時(shí)鐘同步的給定數(shù)據(jù)輸入到DataIn端子中,通過在移位寄存器13中設(shè)定,能與數(shù)字功能部獨(dú)立實(shí)施灰度電壓選擇電路15的功能試驗(yàn)。
下面,參照圖3,說明在本實(shí)施例中把移位寄存器N分割時(shí)的液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)和動(dòng)作的一個(gè)例子。圖3表示把移位寄存器N分割時(shí)的液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)圖。
如圖3所示,該液晶顯示控制器4a把輸出端子N分割,伴隨于此,移位寄存器13、灰度電壓選擇電路15也N分割,通過對于N個(gè)移位寄存器13a-13n配置N個(gè)(0~n)·DataIn端子和DataOut端子,能用對于所述圖2所示的液晶顯示控制器4為N分之1的時(shí)間實(shí)現(xiàn)來自移位寄存器13a~13n的保持?jǐn)?shù)據(jù)的讀出時(shí)間和向移位寄存器13a~13n的數(shù)據(jù)設(shè)定時(shí)間。
此外,在圖2和圖3所示的液晶顯示控制器4和4a中,DataIn端子、DataOut端子、SCLK端子等端子是液晶驅(qū)動(dòng)電路通常動(dòng)作時(shí)不使用的端子,所以按照是否實(shí)施試驗(yàn),能與外部接口的端子切換使用,與以往電路(圖11)中使用的端子的共用化成為可能。此外,在液晶顯示控制器的內(nèi)部,當(dāng)然能通過使用輸入輸出切換電路,使DataIn端子、DataOut端子共用化。
下面,參照圖4,說明在本實(shí)施例中使移位寄存器為2級(jí)結(jié)構(gòu)時(shí)的液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)和動(dòng)作的一個(gè)例子。圖4表示使移位寄存器為2級(jí)結(jié)構(gòu)時(shí)的液晶驅(qū)動(dòng)電路的結(jié)構(gòu)圖。
如圖4所示,該液晶顯示控制器4b通過配置保持顯示數(shù)據(jù)RAM12的輸出數(shù)據(jù)的移位寄存器(1)13和控制灰度電壓選擇電路15的移位寄存器(2)17,并行執(zhí)行從顯示控制器11通過顯示數(shù)據(jù)RAM12的顯示功能試驗(yàn)和包含灰度電壓生成電路14和灰度電壓選擇電路15的灰度輸出試驗(yàn),能謀求試驗(yàn)時(shí)間的縮短。
即在顯示功能試驗(yàn)中,在移位寄存器(1)13中保持任意的顯示數(shù)據(jù)RAM12的輸出數(shù)據(jù),通過SCLK(1)端子從測試器施加移位時(shí)鐘,通過DataOut端子(1)與期望值進(jìn)行比較判定。此外,與此同時(shí),從測試器通過DataIn端子(2)把灰度設(shè)定數(shù)據(jù)設(shè)定在移位寄存器(2)17中,通過輸出端子用測試器與期望值進(jìn)行比較判定。
須指出的是,通常動(dòng)作時(shí),移位寄存器(1)13和移位寄存器(2)17都輸入同一鎖存時(shí)鐘,能把顯示數(shù)據(jù)RAM12的任意數(shù)據(jù)保持在移位寄存器(2)17中,進(jìn)行顯示動(dòng)作。
這里,描述并行試驗(yàn)的實(shí)現(xiàn)原理,例如DataIn(1)端子和DataIn(2)端子可以是能從同一輸入端子有選擇地輸入的結(jié)構(gòu),此外,DataOut(1)端子和DataOut(2)端子可以是能有選擇地輸出到同一輸出端子的結(jié)構(gòu)。此外,這些信號(hào)在通常動(dòng)作時(shí)不使用,所以按照試驗(yàn)是否實(shí)施,能與外部接口的端子切換,與以往電路(圖11)中使用的端子的共用化成為可能。
下面,參照圖5和圖6說明在本實(shí)施例中構(gòu)成液晶驅(qū)動(dòng)電路的灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路的結(jié)構(gòu)以及動(dòng)作的一個(gè)例子。圖5是灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路的電路圖,圖6表示各信號(hào)和灰度輸出的關(guān)系的說明圖。
如圖5所示,在本實(shí)施例中,灰度電壓生成電路14包含以任意的比率把灰度生成電壓V0進(jìn)行n分壓的分壓電阻R、把基于該分壓電阻R的各分壓電壓放大的多個(gè)運(yùn)算放大器OA1~OA8、切換各運(yùn)算放大器OA1~OA8的輸出電壓和試驗(yàn)用電壓VH/VL的多個(gè)開關(guān)(切換開關(guān))SA1~SA8、把用各開關(guān)SA1~SA8切換的電壓放大的多個(gè)運(yùn)算放大器OA11~OA18、控制各開關(guān)SA1~SA8的切換的譯碼電路(切換部件)21等,成為把該灰度電壓生成電路14的輸出切換為給定的VH或VL的雙值電壓值的結(jié)構(gòu)。
此外,灰度電壓選擇電路15由與各行對應(yīng)的多個(gè)開關(guān)電路16構(gòu)成,在各開關(guān)電路16中包含有把灰度電壓生成電路14的輸出導(dǎo)通/斷開的多個(gè)開關(guān)SO1~SO8、控制各開關(guān)SO1~SO8的導(dǎo)通/斷開的譯碼電路22。在各開關(guān)SO1~SO8中,在輸入一側(cè)分別輸入來自灰度電壓生成電路14的各輸出,從公共連接的輸出一側(cè)輸出灰度電壓。
在該灰度電壓生成電路14、灰度電壓選擇電路15中,在灰度電壓生成電路14的譯碼電路21中輸入有效信號(hào)、極性反轉(zhuǎn)信號(hào)和電壓選擇信號(hào),輸出開關(guān)控制信號(hào)(1),控制各開關(guān)SA1~SA8的切換,此外,把灰度設(shè)定數(shù)據(jù)輸入開關(guān)電路16的譯碼電路22中,輸出開關(guān)控制信號(hào)(2),控制各開關(guān)SO1~SO8的導(dǎo)通/斷開,對于灰度設(shè)定數(shù)據(jù)、有效信號(hào)、極性反轉(zhuǎn)信號(hào)和電壓選擇信號(hào)等各信號(hào)設(shè)定的灰度電壓生成電路14的輸出和來自灰度電壓選擇電路15的各開關(guān)電路16的灰度輸出的關(guān)系如圖6所示。
在圖6中,有效信號(hào)為“0”時(shí)是通常工作狀態(tài),在該狀態(tài)下,灰度電壓生成電路14的輸出V1~V8原封不動(dòng)作為8灰度的灰度電壓輸出。而有效信號(hào)為“1”時(shí)是試驗(yàn)狀態(tài),在該狀態(tài)下,當(dāng)極性反轉(zhuǎn)信號(hào)為“0”時(shí),通過把電壓選擇信號(hào)設(shè)定為與灰度設(shè)定數(shù)據(jù)相同,灰度輸出都變?yōu)閂H的高電壓電平,此外,當(dāng)極性反轉(zhuǎn)信號(hào)為“1”,把電壓選擇信號(hào)設(shè)定為與灰度設(shè)定數(shù)據(jù)相同時(shí),則灰度輸出都變?yōu)閂L的低電壓電平。
這樣,在本實(shí)施例的液晶驅(qū)動(dòng)電路中,為把灰度電壓生成電路14的輸出切換為VH或VL的雙值電壓值的結(jié)構(gòu),按照設(shè)定在移位寄存器13中的灰度設(shè)定數(shù)據(jù),向灰度電壓選擇電路15內(nèi)的處于選擇狀態(tài)的開關(guān)和處于未選擇狀態(tài)的開關(guān)供給的灰度電壓如果一方是VH,則進(jìn)行控制使另一方為VL那樣不同的電壓電平,通過外部的測試器,把全部輸出端子同時(shí)與期望值電壓比較,能實(shí)現(xiàn)灰度輸出試驗(yàn)的高速化。
即在本實(shí)施例中,通過把所述以往的電路(圖12)的灰度輸出試驗(yàn)置換為構(gòu)成灰度電壓選擇電路15內(nèi)的開關(guān)電路16的開關(guān)SO1~SO8的開路或短路不良的功能試驗(yàn)而執(zhí)行,能實(shí)現(xiàn)灰度輸出試驗(yàn)的高速化。
須指出的是,在灰度電壓生成電路14中,可以不設(shè)定由運(yùn)算放大器OA11~OA18構(gòu)成的輸出緩沖電路,此外,當(dāng)然試驗(yàn)用電壓VH和VL可以使用從灰度生成電壓V0進(jìn)行n分壓的任意的灰度電壓。
下面,參照圖7說明以競賽形式形成灰度電壓生成電路內(nèi)的開關(guān)電路時(shí)的結(jié)構(gòu)和動(dòng)作的一個(gè)例子。圖7(a)、(b)表示以競賽形式形成灰度電壓生成電路內(nèi)的開關(guān)電路時(shí)的電路圖和試驗(yàn)時(shí)的電壓值的說明圖。
當(dāng)灰度電壓選擇電路內(nèi)的開關(guān)電路16a由競賽形式形成時(shí),在第一級(jí)設(shè)置8個(gè)開關(guān)SO11~SO18,在第二級(jí)設(shè)置4個(gè)開關(guān)SO21~SO24,在第三級(jí)設(shè)置2個(gè)開關(guān)SO31、SO32,用灰度設(shè)定數(shù)據(jù)D0控制第一級(jí)的開關(guān),同樣用D1控制第二級(jí),用D2控制第三級(jí),輸出灰度電壓。
在開關(guān)電路16a內(nèi),通過把灰度電壓生成電路14的輸出電壓作為雙值電壓值輸出,使2組的2∶1選擇分支的輸出在下一級(jí)的2∶1選擇分支的輸入中變?yōu)楸舜瞬煌碾p值電壓電平(VH或VL),與各開關(guān)的導(dǎo)通或斷開狀態(tài)無關(guān),把灰度電壓生成電路14的輸出電壓設(shè)定為彼此不同的電壓,能謀求配置在灰度電壓生成電路14內(nèi)的雙值電壓切換電路的簡化。
例如,如圖7(b)所示,在試驗(yàn)時(shí),當(dāng)為灰度設(shè)定數(shù)據(jù)“000”時(shí),如果把灰度電壓生成電路的輸出電壓設(shè)定為VH、VL、VL、VH、VL、VH、VH、VL,則第一級(jí)的開關(guān)SO11~SO18的輸出電壓依次為VH、VL、VL、VH,第二級(jí)的開關(guān)SO21~SO24的輸出電壓依次為VH、VL,第三級(jí)的開關(guān)SO31、SO32的輸出電壓變?yōu)閂H,最終能使開關(guān)電路16a的輸出電壓為VH輸出。
下面,參照圖8~圖10說明具有本實(shí)施例的液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件的測試流程的一個(gè)例子。圖8表示把個(gè)別試驗(yàn)項(xiàng)目高速化時(shí),圖9表示并行進(jìn)行試驗(yàn)項(xiàng)目時(shí),圖10表示另一個(gè)并行進(jìn)行試驗(yàn)項(xiàng)目時(shí)的測試流程圖。
具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件在制造步驟中,實(shí)施測定電壓、電流、電阻值等并且評價(jià)的DC試驗(yàn)、外部接口試驗(yàn)、對于顯示數(shù)據(jù)RAM通過外部接口的任意數(shù)據(jù)的寫入和讀出的RAM試驗(yàn)、灰度輸出試驗(yàn)、作為液晶驅(qū)動(dòng)電路全體的顯示功能試驗(yàn)等各試驗(yàn),進(jìn)行合格品、不合格品的識(shí)別。
例如,在本實(shí)施例中,如圖8所示,當(dāng)按順序進(jìn)行個(gè)別試驗(yàn)項(xiàng)目的DC試驗(yàn)(步驟S1)、外部接口試驗(yàn)(步驟S2)、RAM試驗(yàn)(步驟S3)、灰度輸出試驗(yàn)(步驟S4)、顯示功能試驗(yàn)(步驟S5)時(shí),通過使用所示圖2~圖4所示的方式,能使步驟S5的顯示功能試驗(yàn)高速化,通過使用所述圖5~圖7所示的方式,能實(shí)現(xiàn)步驟S4的灰度輸出試驗(yàn)的高速化。
此外,如圖9所示,使用所述圖2~圖4所示的方式,通過與外部接口獨(dú)立控制移位寄存器13,能彼此獨(dú)立進(jìn)行外部接口試驗(yàn)(步驟S2)、RAM試驗(yàn)(步驟S3)、灰度輸出試驗(yàn)(步驟S4),能實(shí)現(xiàn)基于試驗(yàn)的并行處理的高速化。
此外,如圖10所示,通過使用所述圖4的方式,能分離液晶驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)部的數(shù)字功能部和模擬功能部進(jìn)行試驗(yàn),能把外部接口試驗(yàn)(步驟S2)、RAM試驗(yàn)(步驟S3)、顯示功能試驗(yàn)(步驟S5)與灰度輸出試驗(yàn)(步驟S4)并行進(jìn)行,能實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)的高速化。
因此,根據(jù)本實(shí)施例的具有液晶驅(qū)動(dòng)電路半導(dǎo)體器件,能取得以下的效果。
(1)通過在功能上分割液晶驅(qū)動(dòng)電路的數(shù)字功能部和模擬功能部,能與模擬功能部獨(dú)立進(jìn)行數(shù)字功能部的試驗(yàn),實(shí)現(xiàn)數(shù)字功能部高速的功能試驗(yàn)。
(2)通過把灰度電壓生成電路14的輸出電壓切換為雙值電壓,能把液晶驅(qū)動(dòng)電路的輸出電壓變?yōu)殡p值電壓,所以能實(shí)現(xiàn)高速的灰度輸出試驗(yàn)。
以上根據(jù)實(shí)施例具體說明了由本發(fā)明者提出的發(fā)明,但是本發(fā)明并不局限于所述實(shí)施例,在不脫離該宗旨的范圍中,當(dāng)然能進(jìn)行各種變形。
權(quán)利要求
1.一種具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件,其特征在于所述液晶驅(qū)動(dòng)電路具有數(shù)字功能部、模擬功能部、以及在功能上分割所述數(shù)字功能部和所述模擬功能部并且把所述數(shù)字功能部試驗(yàn)結(jié)果的輸出不通過所述模擬功能部向所述液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部輸出的第一端子。
2.一種具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件,其特征在于所述液晶驅(qū)動(dòng)電路具有數(shù)字功能部、模擬功能部、以及在功能上分割所述數(shù)字功能部和所述模擬功能部并且為了與所述數(shù)字功能部獨(dú)立地進(jìn)行所述模擬功能部的試驗(yàn)而從所述液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部控制所述模擬功能部試驗(yàn)的第二端子。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于所述數(shù)字功能部包含顯示控制器和顯示數(shù)據(jù)RAM;所述模擬功能部包含灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路;所述半導(dǎo)體器件還具有保持所述顯示數(shù)據(jù)RAM的輸出的保持部件,把保持在所述保持部件中的數(shù)據(jù)通過所述第一端子向所述液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部讀出,通過所述第二端子從所述液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部將給定數(shù)據(jù)設(shè)定在所述保持部件中。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于所述數(shù)字功能部包含顯示控制器和顯示數(shù)據(jù)RAM;所述模擬功能部包含灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路;所述半導(dǎo)體器件還具有保持所述顯示數(shù)據(jù)RAM的輸出的保持部件,把保持在所述保持部件中的數(shù)據(jù)通過所述第一端子向所述液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部讀出,通過所述第二端子從所述液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部將給定數(shù)據(jù)設(shè)定在所述保持部件中。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于所述第一端子和/或所述第二端子與通常動(dòng)作時(shí)使用的端子共用。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于所述第一端子和/或所述第二端子與通常動(dòng)作時(shí)使用的端子共用。
7.一種具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件,其特征在于所述液晶驅(qū)動(dòng)電路具有至少包含顯示控制器的數(shù)字功能部、包含灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路的模擬功能部、把所述灰度電壓生成電路的輸出切換為給定的雙值電壓值的切換部件。
8.一種半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法,該半導(dǎo)體器件具有包含數(shù)字功能部和模擬功能部的液晶驅(qū)動(dòng)電路,其特征在于在功能上分割所述數(shù)字功能部和所述模擬功能部,不通過所述模擬功能部把所述數(shù)字功能部試驗(yàn)結(jié)果的輸出通過第一端子向所述液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部輸出。
9.一種半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法,該半導(dǎo)體器件具有包含數(shù)字功能部和模擬功能部的液晶驅(qū)動(dòng)電路,其特征在于在功能上分割所述數(shù)字功能部和所述模擬功能部,為了與所述數(shù)字功能部獨(dú)立進(jìn)行所述模擬功能部的試驗(yàn),通過第二端子從所述液晶驅(qū)動(dòng)電路的外部控制所述模擬功能部的試驗(yàn)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法,其特征在于獨(dú)立控制所述數(shù)字功能部和所述模擬功能部,并行進(jìn)行所述數(shù)字功能部的試驗(yàn)和所述模擬功能部的試驗(yàn)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法,其特征在于獨(dú)立控制所述數(shù)字功能部和所述模擬功能部,并行進(jìn)行所述數(shù)字功能部的試驗(yàn)和所述模擬功能部的試驗(yàn)。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法,其特征在于所述數(shù)字功能部的試驗(yàn)是顯示功能試驗(yàn),所還模擬功能部的試驗(yàn)是灰度輸出試驗(yàn)。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法,其特征在于所述數(shù)字功能部的試驗(yàn)是顯示功能試驗(yàn),所述模擬功能部的試驗(yàn)是灰度輸出試驗(yàn)。
14.一種半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法,該半導(dǎo)體器件具有液晶驅(qū)動(dòng)電路,所述液晶驅(qū)動(dòng)電路具有包含顯示控制器和顯示數(shù)據(jù)RAM的數(shù)字功能部、以及包含灰度電壓生成電路和灰度電壓選擇電路的模擬功能部,其特征在于通過切換部件把所述灰度電壓生成電路的輸出切換為雙值電壓值,有選擇地把各灰度電壓設(shè)定為不同的雙值電壓值,把所述液晶驅(qū)動(dòng)電路的輸出電壓雙值電壓化來進(jìn)行灰度輸出試驗(yàn)。
全文摘要
一種具有液晶驅(qū)動(dòng)電路的半導(dǎo)體器件,在功能上分割由顯示控制器11和顯示數(shù)據(jù)RAM12構(gòu)成的數(shù)字功能部、由灰度電壓生成電路14和灰度電壓選擇電路15構(gòu)成的模擬功能部,與模擬功能部獨(dú)立進(jìn)行數(shù)字功能部的試驗(yàn)。
文檔編號(hào)G09G3/20GK1534360SQ200310114919
公開日2004年10月6日 申請日期2003年11月13日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月28日
發(fā)明者幕內(nèi)雅巳, 今川健吾, 吾, 中條德男, 男, 折橋律郎, 郎, 智, 荒井祥智, 大渕篤 申請人:株式會(huì)社瑞薩科技