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光特性測(cè)定探測(cè)器的制作方法

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專(zhuān)利名稱(chēng):光特性測(cè)定探測(cè)器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及適用于例如光干涉斷層圖像化(OCT :0ptical Coherent Tomography) 裝置等中的、用來(lái)向測(cè)定對(duì)象物照光并從測(cè)定對(duì)象物接受返回光的光特性測(cè)定探測(cè)器。
背景技術(shù)
近年來(lái),在診斷生體組織時(shí),除了得到其組織表面狀態(tài)光學(xué)性信息的影像裝置之外,有一種能夠得到組織內(nèi)部光學(xué)性信息的光干涉斷層圖像化(OCT=Optical Coherent Tomography)裝置被提案。所謂光干涉斷層圖像化裝置技術(shù),是將低干涉性光分割為二,用其中之一的光照射被檢體,然后,使帶有被檢體相位信息的返回散射光與另一光干涉,從干涉光的強(qiáng)度信息得到被檢體的相位信息,對(duì)被檢體的測(cè)定部位進(jìn)行圖像化(請(qǐng)參照專(zhuān)利文獻(xiàn) 1、2)。專(zhuān)利文獻(xiàn)1中,為了使貫通的插管能貫通合適的部位,在光圖像診斷裝置的光探測(cè)器部分上標(biāo)上標(biāo)識(shí),通過(guò)觀(guān)測(cè)其像,能夠調(diào)整探測(cè)器先端的位置及/或旋轉(zhuǎn)方向。專(zhuān)利文獻(xiàn)2中是采用插入管腔內(nèi)得到斷層圖像的探測(cè)器、邊使它在導(dǎo)管內(nèi)移動(dòng)邊進(jìn)行觀(guān)察拍攝的管腔內(nèi)圖像化裝置,其中通過(guò)在導(dǎo)管上標(biāo)標(biāo)識(shí),確定斷層圖像的基準(zhǔn)位置, 進(jìn)行沒(méi)有位置偏離的圖像化。先行技術(shù)文獻(xiàn)專(zhuān)利文獻(xiàn)專(zhuān)利文獻(xiàn)1 特表2006-520244號(hào)公報(bào)專(zhuān)利文獻(xiàn)2 特開(kāi)2007-7410號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明欲解決的課題用細(xì)徑的光探測(cè)器測(cè)定多處體內(nèi)等測(cè)定對(duì)象物時(shí),正確把握探測(cè)器先端在各測(cè)定處的朝向和位置是非常重要的。但是在探測(cè)器能夠彎曲的情況時(shí),因?yàn)樘綔y(cè)器先端與尾部之間產(chǎn)生扭轉(zhuǎn),所以,單從探測(cè)器尾部的位置和朝向來(lái)特定先端的正確位置和朝向是困難的。另外,以往的例子中是在探測(cè)器先端上配置位置確認(rèn)用標(biāo)識(shí),檢測(cè)測(cè)定光入射到標(biāo)識(shí)上的返回光,確認(rèn)探測(cè)器先端的位置。但是,因?yàn)槭怯脤?shí)際測(cè)定光檢測(cè)基準(zhǔn)標(biāo)識(shí),所以, 觀(guān)察像上出現(xiàn)標(biāo)識(shí),產(chǎn)生標(biāo)識(shí)的影子,位于標(biāo)識(shí)背后的觀(guān)察圖像成為標(biāo)識(shí)的陰影而缺落,還有圖像對(duì)比度降低,存在問(wèn)題。本發(fā)明的目的在于,提供一種能夠不影響觀(guān)察圖像地檢測(cè)探測(cè)器先端的位置和朝向的光特性測(cè)定探測(cè)器。用來(lái)解決課題的手段為了達(dá)成上述目的。本發(fā)明是一種能夠彎曲的光特性測(cè)定探測(cè)器,其特征在于,備有導(dǎo)光體,用來(lái)傳送光源發(fā)出的光,將光照射到測(cè)定對(duì)象物;導(dǎo)管,用來(lái)支承導(dǎo)光體,使之繞軸旋轉(zhuǎn)自在,且沿軸方向變位自在;導(dǎo)光體至少導(dǎo)光用來(lái)測(cè)定測(cè)定對(duì)象物光特性的測(cè)定光及用來(lái)測(cè)定導(dǎo)光體位置的位置確定光之2種光,在導(dǎo)管側(cè)面上配置具有透過(guò)測(cè)定光、只向?qū)Ч怏w返回位置確定光之特性的標(biāo)識(shí)。本發(fā)明中,優(yōu)選測(cè)定光為近紅外光,位置確定光為可見(jiàn)光。本發(fā)明中,優(yōu)選測(cè)定光是可干涉光,位置確定光是非干涉光。本發(fā)明中,優(yōu)選光特性測(cè)定探測(cè)器是旋轉(zhuǎn)掃描探測(cè)器。發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明,導(dǎo)光體傳送測(cè)定光及位置確定光之二種光,同時(shí),在導(dǎo)管的測(cè)定位置上配置具有透過(guò)測(cè)定光、只向?qū)Ч怏w返回位置確定光之特性的標(biāo)識(shí),由此,能夠不影響用測(cè)定光觀(guān)察圖像地用位置確定光檢測(cè)探測(cè)器先端的位置和朝向。


圖1 本發(fā)明概念的概略結(jié)構(gòu)示意圖。圖2 本發(fā)明光探測(cè)器的一例結(jié)構(gòu)示意圖。圖3 光探測(cè)器先端附近各種結(jié)構(gòu)的截面示意圖。圖4 本發(fā)明光探測(cè)器應(yīng)用于光斷層測(cè)定裝置的一例結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式圖1是本發(fā)明概念的概略結(jié)構(gòu)示意圖。光探測(cè)器P內(nèi)部?jī)?nèi)藏光導(dǎo)纖維等導(dǎo)光體, 在導(dǎo)光體先端備有光掃描部OS。光掃描部OS向測(cè)定對(duì)象物照光,并取入在測(cè)定對(duì)象物等反射的光。測(cè)定光源SA供給用來(lái)測(cè)定測(cè)定對(duì)象物光特性的測(cè)定光,位置確定光源SB供給用來(lái)測(cè)定導(dǎo)光體位置的位置確定光。光源SA、SB發(fā)出的測(cè)定光和位置確定光由耦合器CA耦合,進(jìn)一步經(jīng)由耦合器CB供給到光探測(cè)器P。光干涉斷層圖像化(OCT)的情況時(shí),優(yōu)選測(cè)定光是近紅外區(qū)域(例如波長(zhǎng) 800nm 1500nm)的可干涉光,且位置確定光是可見(jiàn)區(qū)域(例如波長(zhǎng)380nm 750nm)的非干涉光。通過(guò)位置確定光是LED等非干涉光,能夠抑制干涉光時(shí)有光路長(zhǎng)變化時(shí)產(chǎn)生干涉所引起的信號(hào)變化,能夠更正確地測(cè)定位置。在測(cè)定對(duì)象物等反射的光逆行于光探測(cè)器P,被耦合器CB分支為測(cè)定光和位置確定光,分別由測(cè)定光檢測(cè)器DA和位置確定光檢測(cè)器DB檢測(cè)。耦合器CB是具有下述功能的光學(xué)元件使來(lái)自于SA、SB的測(cè)定光和位置確定光穿過(guò),將來(lái)自于光探測(cè)器P的逆行光根據(jù)波長(zhǎng)分離為測(cè)定光和位置確定光。測(cè)定光檢測(cè)器DA發(fā)出的信號(hào)被用于測(cè)定對(duì)象物的光特性測(cè)定。位置確定光檢測(cè)器DB發(fā)出的信號(hào)被供給到同步信號(hào)發(fā)生回路SY,變換到光掃描部OS的同步信號(hào)。耦合器CA、CB具體可以使用循環(huán)器、波長(zhǎng)選擇濾器(例如二向色性濾波器)、 WDM (波分多路)元件等。圖2是本發(fā)明光探測(cè)器的一例結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是光探測(cè)器先端附近各種結(jié)構(gòu)的截面示意圖。光探測(cè)器備有導(dǎo)管70、導(dǎo)光體71、聚光透鏡72、棱鏡73等,作為整體能夠彎曲。導(dǎo)管70具有圓筒狀截面形狀,由對(duì)測(cè)定光透過(guò)率高的易彎性材料、例如氟樹(shù)脂等形成。導(dǎo)光體71由對(duì)測(cè)定光及位置確定光透過(guò)率高的易彎性材料、例如光導(dǎo)纖維等形成。 導(dǎo)光體71被收藏于導(dǎo)管70內(nèi)部,繞軸旋轉(zhuǎn)自在,且沿軸方向變位自在。導(dǎo)光體71尾部上設(shè)有旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),導(dǎo)光體71能夠以一定的旋轉(zhuǎn)速度、例如1200rpm繞軸旋轉(zhuǎn)。聚光透鏡72裝在導(dǎo)光體71先端。棱鏡73備有反射測(cè)定光及位置確定光的反射面,被裝在聚光透鏡72上。聚光透鏡72及棱鏡73與導(dǎo)光體71 一體旋轉(zhuǎn)并在半徑方向放射測(cè)定光及位置確定光,對(duì)位于導(dǎo)管70外部的測(cè)定對(duì)象物進(jìn)行360度旋轉(zhuǎn)掃描。本實(shí)施方式中,在導(dǎo)管70側(cè)面上配置標(biāo)識(shí)M,該標(biāo)識(shí)M具有透過(guò)測(cè)定光、只向?qū)Ч怏w71返回位置確定光之特性。優(yōu)選這種標(biāo)識(shí)M對(duì)測(cè)定光體現(xiàn)與導(dǎo)管70相同的光學(xué)特性, 并且對(duì)位置確定光體現(xiàn)與導(dǎo)管70不同的光學(xué)特性,可以選擇相應(yīng)波長(zhǎng)例如光透過(guò)率、光散射特性、光反射特性等變化的材料和涂層。例如,可以使標(biāo)識(shí)M只散射位置確定光,當(dāng)測(cè)定光為紅外光、位置確定光為可見(jiàn)光時(shí),通過(guò)使標(biāo)識(shí)M中含有位置確定光波程度的微粒子,能夠大大散射位置確定光,而波長(zhǎng)較長(zhǎng)的紅外光幾乎不散射。此時(shí),位置確定光和測(cè)定光的波長(zhǎng)必須設(shè)定得充分分開(kāi)。還可以形成對(duì)不同波長(zhǎng)持有不同反射率的薄膜作為標(biāo)識(shí),通過(guò)反射位置確定光的波長(zhǎng),透過(guò)測(cè)定光的波長(zhǎng),能夠達(dá)成同樣的效果。這種標(biāo)識(shí)M可以參照例如特開(kāi)昭58-31307號(hào)公報(bào)中公開(kāi)的帶通濾波器以及特開(kāi)昭59-195205號(hào)公報(bào)中公開(kāi)的只反射可見(jiàn)光區(qū)域的多層膜面鏡來(lái)構(gòu)成。進(jìn)一步可以采用體積反射型衍射光柵。當(dāng)測(cè)定光為SOOnm程度的紅外光時(shí),可以構(gòu)成其一半以下、例如200nm至400nm之間間距的衍射光柵。這種衍射光柵的話(huà)能夠透過(guò)紅外光,反射可見(jiàn)光。標(biāo)識(shí)M如圖3(a)、圖3(b)所示,形成時(shí)可以置換導(dǎo)管70壁面的一部分,也可以作為涂層薄膜形成在導(dǎo)管70的外面或內(nèi)面上。圖3(a)表示在360度掃描區(qū)域上形成一個(gè)標(biāo)識(shí)M的例子。棱鏡73旋轉(zhuǎn),當(dāng)光的照射方向朝著導(dǎo)管70沒(méi)有標(biāo)識(shí)M的部分時(shí),測(cè)定光就此穿過(guò)導(dǎo)管70,位置確定光在導(dǎo)管70 不被反射。而光的照射方向向著標(biāo)識(shí)M時(shí),測(cè)定光就此穿過(guò)標(biāo)識(shí)M,而位置確定光卻被標(biāo)識(shí)M 反射,經(jīng)由棱鏡72及聚光透鏡72返回導(dǎo)光體71。再次入射到導(dǎo)光體71的位置確定光如圖 1所示,由耦合器CB分支,在位置確定光檢測(cè)器DB被檢出,變換到同步信號(hào)。圖3(a)的結(jié)構(gòu)中,棱鏡73每轉(zhuǎn)1轉(zhuǎn)產(chǎn)生1個(gè)同步信號(hào)。圖3 (b)表示在360度掃描區(qū)域上形成2個(gè)標(biāo)識(shí)M的例子。第1及第2標(biāo)識(shí)M間隔180度配置,為了識(shí)別標(biāo)識(shí),使第1標(biāo)識(shí)M的寬度比第2標(biāo)識(shí)M的寬度大。棱鏡73旋轉(zhuǎn), 當(dāng)光的照射方向朝著第1標(biāo)識(shí)M時(shí),測(cè)定光就此穿過(guò)標(biāo)識(shí)M,而位置確定光被標(biāo)識(shí)M反射返回導(dǎo)光體71,產(chǎn)生第1同步信號(hào)。進(jìn)一步光的照射方向朝著第2標(biāo)識(shí)M時(shí),測(cè)定光就此穿過(guò)標(biāo)識(shí)M,而位置確定光被標(biāo)識(shí)M反射返回導(dǎo)光體71,產(chǎn)生第2同步信號(hào)。這樣,棱鏡73每轉(zhuǎn) 1轉(zhuǎn)產(chǎn)生2個(gè)同步信號(hào)。一般來(lái)說(shuō)通過(guò)用360/N度間隔配置N個(gè)標(biāo)識(shí)M,棱鏡73每轉(zhuǎn)1轉(zhuǎn)產(chǎn)生N個(gè)同步信號(hào)。本發(fā)明的探測(cè)器適合于旋轉(zhuǎn)掃描探測(cè)器。旋轉(zhuǎn)掃描探測(cè)器時(shí)掃描區(qū)域是連續(xù)的,所以難以將標(biāo)識(shí)設(shè)定在掃描區(qū)域外,用以往技術(shù)的話(huà)難以避免標(biāo)識(shí)引起的圖像缺損。旋轉(zhuǎn)掃描探測(cè)器中,進(jìn)一步適合于旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)是在探測(cè)器尾部進(jìn)行的方式。在尾部配置旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)方法中,一旦產(chǎn)生扭轉(zhuǎn)等的話(huà),驅(qū)動(dòng)部的旋轉(zhuǎn)與先端的旋轉(zhuǎn)狀況有時(shí)不完全一致。因此,能夠直接測(cè)定先端部驅(qū)動(dòng)狀態(tài)的本發(fā)明適用。標(biāo)識(shí)M如圖2所示,可以沿導(dǎo)管70長(zhǎng)度方向配置多個(gè)。根據(jù)測(cè)定形態(tài),有時(shí)會(huì)有在固定導(dǎo)管70的狀態(tài)下使導(dǎo)光體71沿長(zhǎng)度方向移動(dòng)的情況。光的照射方向朝著標(biāo)識(shí)M的話(huà)位置確定光被標(biāo)識(shí)M反射返回導(dǎo)光體71,發(fā)出同步信號(hào)。通過(guò)計(jì)數(shù)隨導(dǎo)光體71移動(dòng)而產(chǎn)生的同步信號(hào),能夠測(cè)量導(dǎo)光體71的變位量。如上所述,通過(guò)在導(dǎo)管70側(cè)面配置具有透過(guò)測(cè)定光、只向?qū)Ч怏w71返回位置確定光之特性的標(biāo)識(shí)M,能夠不影響用測(cè)定光觀(guān)察圖像地用位置確定光測(cè)量導(dǎo)光體71的旋轉(zhuǎn)角以及/或變位量。圖4是本發(fā)明光探測(cè)器應(yīng)用于光斷層測(cè)定裝置的一例結(jié)構(gòu)示意圖。光斷層測(cè)定裝置被構(gòu)成為采用低干涉光源的邁克耳孫干涉儀,備有測(cè)定光源10、耦合器12、循環(huán)器22、 23、衰減器33、探測(cè)器50、參照面鏡30、耦合器40、差動(dòng)檢測(cè)器42a、42b、多個(gè)光路11、21、 31、41a、41b等,因?yàn)槭菍⑽恢么_定光導(dǎo)入相同測(cè)定光路利用的,所以,進(jìn)一步追加了位置確定光源61、位置確定光檢測(cè)器62、耦合器63。光路ll、21、31、41a、41b含有易彎性單一模式光導(dǎo)纖維。測(cè)定光源10由SLD(Super Luminescent Diode)等構(gòu)成,產(chǎn)生低干涉光,例如,中心波長(zhǎng)為1. 3 μ m、振蕩光譜寬約為50nm。從測(cè)定光源10射出的測(cè)定光穿過(guò)光路11到達(dá)耦
合器12 ο耦合器12由光導(dǎo)纖維耦合器、分光儀等構(gòu)成,具有作為光分割手段的功能,即用所定的比率向光路21、31分割來(lái)自于光路11的光。由耦合器12分割的測(cè)定光穿過(guò)光路21及循環(huán)器22、耦合器63,到達(dá)探測(cè)器50。 探測(cè)器50向測(cè)定對(duì)象物照射測(cè)定光。相應(yīng)測(cè)定對(duì)象物的內(nèi)部構(gòu)造反射的測(cè)定返回光再次入射探測(cè)器50,逆行于光路21,穿過(guò)循環(huán)器22,到達(dá)耦合器40。由耦合器12分割的參照光穿過(guò)光路31、循環(huán)器32以及衰減器33,到達(dá)參照面鏡 30。在參照面鏡30反射的參照返回光逆行于光路31,穿過(guò)衰減器33及循環(huán)器32,到達(dá)耦合器40。分別逆行于光路21、31的測(cè)定返回光以及參照返回光在耦合器40相遇發(fā)生干涉。 耦合器40由光導(dǎo)纖維耦合器和分光儀等構(gòu)成,備有作為光干涉手段的功能,使逆行于各光路21、31的光干涉。干涉光穿過(guò)光路41a、41b,分別到達(dá)差動(dòng)檢測(cè)器42a、42b。差動(dòng)檢測(cè)器 42a、42b輸出2個(gè)干涉信號(hào)之差。來(lái)自于差動(dòng)檢測(cè)器42a、42b的信號(hào)被實(shí)施各種噪聲除去和過(guò)濾處理,被變換為數(shù)字信號(hào)之后,被保存到個(gè)人電腦等信號(hào)處理裝置。信號(hào)處理裝置用保存的數(shù)據(jù),相應(yīng)后述光斷層測(cè)定方式,構(gòu)筑光斷層像。光斷層測(cè)定方式大致分為時(shí)域OCT (TD-OCT)和傅氏域OCT (FD-OCT),傅氏域OCT進(jìn)一步分為波長(zhǎng)掃描型OCT (SS-OCT)和分光器型OCT (SD-OCT)。時(shí)域OCT中是在光路21及光路31的任何一方或雙方設(shè)光相位調(diào)制器,相應(yīng)掃描信號(hào)調(diào)制光的相位。波長(zhǎng)掃描型OCT中是作為光源10采用波長(zhǎng)可變光源,相應(yīng)掃描信號(hào)調(diào)制光的波長(zhǎng)。分光器型OCT中是用衍射光柵分光測(cè)定返回光和參照返回光的干涉光,用線(xiàn)性影像傳感測(cè)量分光光譜。本發(fā)明可適用于上述任何一種方式,但因?yàn)椴恍枰趨⒄展饴穬?nèi)使光路長(zhǎng)做時(shí)間性變動(dòng)的機(jī)構(gòu),所以?xún)?yōu)選波長(zhǎng)掃描型OCT和分光器型OCT。本實(shí)施方式中,通過(guò)差動(dòng)檢測(cè)測(cè)定返回光和參照返回光的干涉信號(hào),來(lái)自于測(cè)定光路的光和來(lái)自于參照光路的光在耦合器40干涉的信號(hào)是逆相信號(hào),所以,通過(guò)差動(dòng)檢測(cè)信號(hào)強(qiáng)度增強(qiáng)。而例如在測(cè)定光路內(nèi)配置的棱鏡等光學(xué)面所產(chǎn)生的重像起因的干涉信號(hào), 在耦合器40只是單單被分割所以同相,通過(guò)差動(dòng)檢測(cè)能夠降低噪聲信號(hào),結(jié)果能夠得到良好的斷層像。另外,因?yàn)槭怯梅珠_(kāi)的光導(dǎo)纖維傳送測(cè)定光和參照光之結(jié)構(gòu),所以,可以只在參照光路31中插入衰減器33。因此,能夠容易地實(shí)現(xiàn)參照返回光的光量控制,實(shí)現(xiàn)最適合于干涉的光量調(diào)整。并且,因?yàn)闇y(cè)定光和參照光穿過(guò)不同的光路,所以能夠除去產(chǎn)生在測(cè)定光路內(nèi)的重像光。本實(shí)施方式中是經(jīng)由耦合器63將位置確定光源61射出的位置確定光導(dǎo)入光路 21。如果探測(cè)器50旋轉(zhuǎn)掃描以及/或直線(xiàn)移動(dòng),則如圖2、圖3所示,位置確定光在標(biāo)識(shí)M 反射,再次入射探測(cè)器50,穿過(guò)耦合器63,在位置確定光檢測(cè)器62被檢測(cè),產(chǎn)生同步信號(hào)。 利用該同步信號(hào)能夠測(cè)量探測(cè)器50的旋轉(zhuǎn)角以及/或變位量。此時(shí),因?yàn)闃?biāo)識(shí)M透過(guò)測(cè)定光,所以用測(cè)定光觀(guān)察的圖像不會(huì)缺落,能夠在360度旋轉(zhuǎn)掃描角得到斷層圖像。本實(shí)施方式中導(dǎo)光體是繞軸旋轉(zhuǎn)的,但本發(fā)明也可以應(yīng)用于探測(cè)器先端配置了 MEMS面鏡的掃描系統(tǒng)和纖維自身振動(dòng)的掃描系統(tǒng),因?yàn)槟軌虿凰p測(cè)定光地進(jìn)行探測(cè)器先端的掃描位置特定,所以能夠得到良好的OCT圖像。產(chǎn)業(yè)上的利用可能性本發(fā)明能夠提供一種能夠不影響觀(guān)察圖像地檢測(cè)探測(cè)器先端的位置和朝向的光特性測(cè)定探測(cè)器,從這一點(diǎn)來(lái)說(shuō),在產(chǎn)業(yè)上極為有用。符號(hào)說(shuō)明
10測(cè)定光源
11,21,31,41a,41b 光j
12,40,63耦合器
22,32循環(huán)器
33衰減器
42a, 42b差動(dòng)檢測(cè)器
50探測(cè)器
61位置確定光源
62位置確定光檢測(cè)器
70導(dǎo)管
71導(dǎo)光體
72聚光透鏡
73棱鏡
M標(biāo)識(shí)
權(quán)利要求
1.一種能夠彎曲的光特性測(cè)定探測(cè)器,其特征在于,備有導(dǎo)光體,用來(lái)傳送光源發(fā)出的光,將光照射到測(cè)定對(duì)象物;導(dǎo)管,用來(lái)支承導(dǎo)光體,使之繞軸旋轉(zhuǎn)自在,且沿軸方向變位自在;導(dǎo)光體至少導(dǎo)光用來(lái)測(cè)定測(cè)定對(duì)象物光特性的測(cè)定光及用來(lái)測(cè)定導(dǎo)光體位置的位置確定光之2種光,在導(dǎo)管側(cè)面上配置具有透過(guò)測(cè)定光、只向?qū)Ч怏w返回位置確定光之特性的標(biāo)識(shí)。
2.如權(quán)利要求1中記載的光特性探測(cè)器,其特征在于,測(cè)定光為近紅外光,位置確定光為可見(jiàn)光。
3.如權(quán)利要求1或2中記載的光特性探測(cè)器,其特征在于,測(cè)定光是可干涉光,位置確定光是非干涉光。
4.如權(quán)利要求1中記載的光特性探測(cè)器,其特征在于,是旋轉(zhuǎn)掃描探測(cè)器。
全文摘要
本發(fā)明的課題在于提供一種能夠不影響觀(guān)察圖像地檢測(cè)探測(cè)器先端的位置和朝向的光特性測(cè)定探測(cè)器。該課題通過(guò)下述本發(fā)明解決能夠彎曲的光特性測(cè)定探測(cè)器,其備有導(dǎo)光體(71),用來(lái)傳送光源發(fā)出的光,將光照射到測(cè)定對(duì)象物;導(dǎo)管(70),用來(lái)支承導(dǎo)光體(71),使之繞軸旋轉(zhuǎn)自在,且沿軸方向變位自在;導(dǎo)光體(71)至少導(dǎo)光用來(lái)測(cè)定測(cè)定對(duì)象物光特性的測(cè)定光及用來(lái)測(cè)定導(dǎo)光體位置的位置確定光之2種光,在導(dǎo)管(70)側(cè)面上配置具有透過(guò)測(cè)定光、只向?qū)Ч怏w返回位置確定光之特性的標(biāo)識(shí)。
文檔編號(hào)A61B1/00GK102413754SQ20108001921
公開(kāi)日2012年4月11日 申請(qǐng)日期2010年3月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月7日
發(fā)明者大澤聰 申請(qǐng)人:柯尼卡美能達(dá)精密光學(xué)株式會(huì)社
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