技術編號：1199939
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及適用于例如光干涉斷層圖像化(OCT 0ptical Coherent Tomography) 裝置等中的、用來向測定對象物照光并從測定對象物接受返回光的光特性測定探測器。背景技術近年來，在診斷生體組織時，除了得到其組織表面狀態(tài)光學性信息的影像裝置之外，有一種能夠得到組織內部光學性信息的光干涉斷層圖像化(OCT=Optical Coherent Tomography)裝置被提案。所謂光干涉斷層圖像化裝置技術，是將低干涉性光分割為二，用其中之一的光照...
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