專利名稱:燈的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及具備將發(fā)光二極管(LED)作為光源的燈。
背景技術(shù):
近年來,從地球環(huán)境保護(hù)的觀點(diǎn)出發(fā),逐漸普及了以低耗電、長壽命的發(fā)光二極管(下面在本說明書中稱為“LED”)作為光源的燈。特別是,從白色的高亮度LED被開發(fā)以來其用途擴(kuò)展,不限于面光源型的照明器具,即使是以往擔(dān)心成本高等而未采用的家庭用的照明,也開始廣泛使用將對(duì)LED進(jìn)行點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路和LED —體化而得到的LED燈,來作為白熾燈、熒光管、燈泡型熒光燈的替代品。作為這樣的代替在白熾燈用的照明器具中使用的白熾燈的燈泡型LED燈,提出了 如下方案,即為了防止因LED發(fā)光時(shí)的熱而使驅(qū)動(dòng)電路基板上的電子部件受到損傷,使搭載有LED的散熱板和搭載有驅(qū)動(dòng)電路的電路基板離開地配置(參照專利文獻(xiàn)I)。現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)I :日本特開2009-176925號(hào)公報(bào)發(fā)明概要發(fā)明要解決的技術(shù)問題作為光源,長壽命的LED特性是較大的優(yōu)點(diǎn)。但是,從對(duì)LED進(jìn)行點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路所使用的電路基板自身、及所搭載的電路部件特別是連接部與劣化壽命之間的關(guān)系來看,將LED用作光源的驅(qū)動(dòng)電路一體型的燈會(huì)產(chǎn)生新的問題。由于LED元件本身可半永久地使用,因此LED燈的產(chǎn)品壽命可以說是指由于密封有LED的樹脂發(fā)生劣化而透光性下降、發(fā)光量成為一定以下的情況。即使在將該樹脂劣化的狀態(tài)考慮為燈壽命的情況下,其長度也超過:T4萬小時(shí)。例如在I天點(diǎn)亮約10小時(shí)的情況下,使用時(shí)間在I年間約為3000小時(shí),因此3萬小時(shí)的使用時(shí)間相當(dāng)于約10年。另一方面,在遍及10年以上這樣的長時(shí)間來使用LED燈的情況下,作為LED的驅(qū)動(dòng)電路而使用的印刷基板的布線、電容等電路部件、以及將布線與電路部件連接的焊料首先劣化,導(dǎo)致導(dǎo)通不良及短路等。即,在LED的發(fā)光停止、亮度降低以前,驅(qū)動(dòng)電路的壽命就已耗盡。這不是實(shí)施上述專利文獻(xiàn)I所記載的對(duì)策就能夠避免的問題,在作為光源的LED壽命到達(dá)之前驅(qū)動(dòng)電路已發(fā)生連接不良等的情況下,可能成為由不良發(fā)生部分引起的異常發(fā)熱或著火等重大事故的原因。并且,在使用白熾燈的替代品即燈泡形LED燈、直管型熒光燈的替代品即直管型LED燈的一般家庭中,存在用戶在燈的發(fā)光幾乎完全為0之前不更換燈的傾向。即,以往的白熾燈、熒光管,與照明器具所使用的電路部件相比,燈明顯具有短的產(chǎn)品壽命,因此,用戶慣性地認(rèn)為,燈的亮度大幅下降時(shí)是更換時(shí)期。使這種用戶的認(rèn)識(shí)立刻改變是困難的,例如,僅通過配置定時(shí)器等壽命管理部件來向用戶通知燈的壽命已到來,作為促使用戶更換燈的方法不能說是足夠的。結(jié)果,通過追加管理壽命并對(duì)其進(jìn)行通知的機(jī)構(gòu),徒然導(dǎo)致高成本及燈體積的增加,卻不能可靠地進(jìn)行燈更換,從而會(huì)招致因驅(qū)動(dòng)電路的不良導(dǎo)致的意外狀況。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種燈,能夠解決上述以往的LED燈的技術(shù)問題,以簡單的結(jié)構(gòu)向用戶傳達(dá)LED燈到達(dá)產(chǎn)品壽命,并可靠地促進(jìn)燈更換。用于解決技術(shù)問題的手段為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明的燈的特征在于,具備作為光源的發(fā)光二極管;以及通過交流或直流電源使上述發(fā)光二極管點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路;上述燈具有壽命檢測元件,若上述發(fā)光二極管工作了規(guī)定時(shí)間,則該壽命檢測元件的樹脂材料絕緣劣化而使上述發(fā)光、
二極管非點(diǎn)亮。S卩,本發(fā)明的燈的特征在于,具備發(fā)光二極管;以及使上述發(fā)光二極管點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路;上述燈具有壽命檢測元件,該壽命檢測元件與上述發(fā)光二極管的工作時(shí)間相應(yīng)地產(chǎn)生電特性的變化,由此使上述發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。發(fā)明效果本發(fā)明的燈使用進(jìn)行絕緣劣化的樹脂材料的壽命檢測元件,從而若發(fā)光二極管的工作時(shí)間達(dá)到規(guī)定時(shí)間,則使點(diǎn)亮中的發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。因此,能夠使用戶知曉包含驅(qū)動(dòng)電路在內(nèi)的燈的產(chǎn)品壽命已到來,促使用戶可靠地進(jìn)行燈交換。
圖I是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的第I配置例的電路框圖。圖I (a)表示與串聯(lián)連接多個(gè)LED而得到的連接體整體并聯(lián)配置的薄膜電容,圖I (b)表示與串聯(lián)連接多個(gè)LED而得到的連接體的一部分LED并聯(lián)配置的薄膜電容。圖2是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的第2配置例的電路框圖,表示作為LED驅(qū)動(dòng)電路的電路元件而使用了薄膜電容的情況。圖3是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的第3配置例的電路框圖,表示在LED驅(qū)動(dòng)電路的電源電路中使用了薄膜電容的情況。圖4是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的第4配置例的電路框圖,表示在與LED驅(qū)動(dòng)電路連接的濾波(filter)電路中使用了薄膜電容的情況。圖5是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的第5配置例的電路框圖,表示在LED驅(qū)動(dòng)電路中使用了具有被樹脂覆蓋的繞線的檢測線圈(coil)的情況。圖6是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示燈泡型燈的第I具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖7是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示燈泡型燈的第2具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖8是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示燈泡型燈的第3具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖9是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示燈泡型燈的第4具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。
圖10是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示直管型燈的第I具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖11是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示直管型燈的第2具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖12是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示直管型燈的第3具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖13是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示直管型燈的第4具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖14是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示GX燈頭型燈的第I具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖15是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示GX燈頭型燈的第2具體結(jié)構(gòu) 的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖16是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示LED模塊的具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖17是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的燈的產(chǎn)品例而表示LED板上芯片的具體結(jié)構(gòu)的剖面結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的燈具備作為光源的發(fā)光二極管以及通過交流或直流電源使上述發(fā)光二極管點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路,上述燈具有壽命檢測元件,若上述發(fā)光二極管工作了規(guī)定時(shí)間,則該壽命檢測元件的樹脂材料絕緣劣化而使上述發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。上述本發(fā)明的燈,利用了由于發(fā)光二極管工作時(shí)產(chǎn)生的熱的作用從而樹脂材料絕緣劣化這一點(diǎn),將設(shè)計(jì)為當(dāng)發(fā)光二極管工作了規(guī)定時(shí)間時(shí)電特性變化的電路元件用作壽命檢測元件。通過將該壽命檢測元件配置為,若從發(fā)光二極管發(fā)出的熱作用規(guī)定時(shí)間而電路特性變化則強(qiáng)制性使發(fā)光二極管的至少一部分非點(diǎn)亮,從而使經(jīng)過了規(guī)定的設(shè)計(jì)壽命時(shí)間的燈不能正常工作。因此,利用將發(fā)光二極管作為光源的燈,能夠在比發(fā)光二極管壽命短的驅(qū)動(dòng)電路發(fā)生劣化前促使用戶更換燈。在上述本發(fā)明的燈中,上述壽命檢測元件能夠設(shè)為與上述發(fā)光二極管的上述至少一部分并聯(lián)配置的薄膜電容。這樣,能夠以簡單的結(jié)構(gòu)在工作了規(guī)定時(shí)間后使規(guī)定個(gè)數(shù)的發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。并且,上述壽命檢測元件能夠設(shè)為構(gòu)成上述發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)電路的薄膜電容。這樣,能夠不附加特別的元件而進(jìn)行燈的壽命管理。進(jìn)而,上述壽命檢測元件能夠設(shè)為具有被樹脂覆蓋的繞線的線圈。這樣,能夠以與薄膜電容同樣的簡單結(jié)構(gòu),進(jìn)行利用了樹脂材料絕緣劣化這一特性的燈的壽命管理。并且,優(yōu)選將上述壽命檢測元件配置為,與上述發(fā)光二極管的發(fā)光部之間具有IOmm以下的間隔。這樣,通過將壽命檢測元件配置于發(fā)光二極管的附近,從而能夠使由發(fā)光二極管的發(fā)熱導(dǎo)致的樹脂材料的絕緣劣化的程度與設(shè)計(jì)值相匹配,能夠更正確地對(duì)應(yīng)于發(fā)光二極管的工作時(shí)間而使發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。進(jìn)而,在該情況下,優(yōu)選上述發(fā)光二極管工作時(shí)的溫度為50度以上。這樣,能夠進(jìn)行基于壽命檢測元件的更正確的工作時(shí)間的檢測。進(jìn)而,還優(yōu)選將上述壽命檢測元件配置為,與為了上述發(fā)光二極管的散熱而設(shè)置的散熱板、或收容有上述發(fā)光二極管的殼體之間具有IOmm以下的間隔。通過將壽命檢測元件配置在傳遞發(fā)光二極管的發(fā)熱的散熱板等的附近,從而能夠使由發(fā)光二極管的發(fā)熱導(dǎo)致的樹脂材料的絕緣劣化的程度與設(shè)計(jì)值相匹 配,能夠更正確地對(duì)應(yīng)于發(fā)光二極管的工作時(shí)間而使發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。進(jìn)而,在該情況下,優(yōu)選上述發(fā)光二極管工作時(shí)的、上述散熱板或上述殼體的溫度為50度以上。這樣,能夠進(jìn)行基于壽命檢測元件的更正確的工作時(shí)間的檢測。即,本發(fā)明是具備發(fā)光二極管、將上述發(fā)光二極管點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路、并具有壽命檢測元件的燈,該壽命檢測元件與上述發(fā)光二極管的工作時(shí)間相應(yīng)地產(chǎn)生電特性的變化,由此使上述發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。本發(fā)明采用以下新的技術(shù)思想即使在作為光源的發(fā)光二極管的壽命未耗盡的情況下,也通過與壽命更早到來的其他電路部件相匹配地將燈強(qiáng)制非點(diǎn)亮或使其明亮度大幅降低,從而促使用戶更換燈。這樣,能夠得到一種可有效防止因構(gòu)成驅(qū)動(dòng)電路的電路部件劣化而導(dǎo)致發(fā)熱或火災(zāi)等重大事件的燈。下面,對(duì)于本發(fā)明的燈,參照附圖進(jìn)行說明。另外,為了說明方便,以下參照的各圖僅將本發(fā)明的燈的構(gòu)成部件中的、為了說明本發(fā)明而必需的主要部件進(jìn)行簡略化表示。因此,本發(fā)明的燈能夠具備在參照的各圖中未表示的任意的構(gòu)成部件。并且,各圖中的部件的尺寸并不一定忠實(shí)地表示出實(shí)際的構(gòu)成部件的尺寸及各部件的尺寸比例等。(壽命檢測元件及其配置例)作為本發(fā)明的實(shí)施方式,首先對(duì)本發(fā)明的燈所使用的壽命檢測元件的內(nèi)容及其配置位置進(jìn)行說明。本發(fā)明的壽命檢測元件是如下元件,即電特性對(duì)應(yīng)于作為燈的光源的發(fā)光二極管(LED)的工作時(shí)間而變化,若LED的工作時(shí)間超過規(guī)定時(shí)間,則強(qiáng)制地使點(diǎn)亮中的
發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。圖I是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的燈所使用的壽命檢測元件的第I配置例的電路框圖。在圖I (a)及圖I (b)所示的本實(shí)施方式的壽命檢測元件的第I配置例中,作為壽命檢測元件的薄膜電容2與作為光源的LED I并聯(lián)配置。薄膜電容2采用由作為電極的金屬箔來夾持作為樹脂制的絕緣體的薄膜的結(jié)構(gòu)。另外,即使是將樹脂制的薄膜作為絕緣體的電容,也由于在樹脂上涂覆了金屬的金屬化(metallize)電極型的電容在壽命劣化時(shí)阻抗上升,而不能作為壽命檢測元件使用。并且,電解電容、鉭電容、緩沖(snubber)用的陶瓷電容等也由于在壽命劣化時(shí)阻抗上升而不能作為壽命檢測元件使用。在薄膜電容2中,若例如是250V耐壓的電容,則作為絕緣體一般使用厚度5 15 y m左右的聚酯、聚丙烯、聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯(polyethylene terephthalate)、云母、娃樹脂等。另外,具體的絕緣體的厚度如后所述,是根據(jù)與薄膜電容2的檢測壽命的長度相應(yīng)的獨(dú)立的設(shè)計(jì)值而決定的。并且,已知對(duì)這樣的包含樹脂制絕緣體的多數(shù)物質(zhì)而言,下面的阿倫尼斯(Arrhenius)式成立。(式I)k=A X exp (-Ea/ (R*T)) k=反應(yīng)速度常數(shù)
A=常數(shù)Ea=活化能R=氣體常數(shù)=8. 3144J/ (K*mol)T=溫度(k)根據(jù)阿倫尼斯的公式,示出了反應(yīng)速度常數(shù)由于放置物質(zhì)的環(huán)境溫度而不同的情況,在絕緣體的情況下,通過該物質(zhì)所被放置的環(huán)境溫度,能夠得知絕緣劣化的進(jìn)展情況。因此,對(duì)于規(guī)定的絕緣體,能夠根據(jù)加速試驗(yàn)的結(jié)果來把握其絕緣劣化程度,能夠規(guī)定到薄膜電容發(fā)生絕緣劣化而被破壞為止的時(shí)間。如圖I (a)所示,將該薄膜電容2并聯(lián)配置在將多個(gè)LED I串聯(lián)連接而得到的連接體的兩端以進(jìn)行恒定電流驅(qū)動(dòng)。這樣,在LED I工作的時(shí)間,由于來自LED I的發(fā)熱,薄膜電容2被置于規(guī)定的環(huán)境溫度下。然后,若經(jīng)過事先把握的壽命時(shí)間,則薄膜電容2的絕緣箔由于因熱導(dǎo)致的劣化而被破壞從而導(dǎo)通。于是,電流不會(huì)流過LED I的連接體,因此連接體的全部LED I即使壽命未耗盡也能夠成為非點(diǎn)亮。并且,如圖I (b)所示,還能夠?qū)⒈∧る娙?與將多個(gè)LED I串聯(lián)連接而得到的連接體的一部分并聯(lián)配置以進(jìn)行恒定電流驅(qū)動(dòng)。這樣,當(dāng)薄膜電容2被破壞時(shí),與薄膜電容2并聯(lián)的部分的LED I成為非點(diǎn)亮。這樣,通過僅使LED I的連接體的一部分非點(diǎn)亮,能夠防止在燈的壽命到來時(shí)燈完全熄滅從而出現(xiàn)用戶難以進(jìn)行新的燈的更換作業(yè)的狀況。其中,如在“發(fā)明所要解決的技術(shù)問題”一欄中說明的那樣,由于擔(dān)心用戶在燈的明亮度僅稍微下降時(shí)感覺不到燈更換的必要性,因此,優(yōu)選為,使不設(shè)為非點(diǎn)亮的LED I的數(shù)量變得比設(shè)為非點(diǎn)亮的LED I的數(shù)量少,例如使不設(shè)為非點(diǎn)亮的LED I的數(shù)量在整體的1/3以下,以使得能夠促使用戶進(jìn)行燈更換。并且,為了通過燈得到必要的亮度,存在使用多個(gè)LED的串聯(lián)體的情況。該情況下也能夠在使用戶能夠知曉燈壽命到達(dá)并認(rèn)識(shí)到需要更換燈的范圍內(nèi),適當(dāng)?shù)卮_定使多個(gè)連接體中的多少LED非點(diǎn)亮。當(dāng)然,在LED I為I個(gè)的情況下,則使該LED非點(diǎn)亮。如上所述,通過將本實(shí)施方式的壽命檢測元件即薄膜電容2的作為樹脂制部件的絕緣體的樹脂制薄膜的材質(zhì)、厚度設(shè)定為規(guī)定的值,從而在點(diǎn)亮狀態(tài)的LED I發(fā)熱了規(guī)定時(shí)間的情況下,能夠使薄膜電容2絕緣破壞而使其導(dǎo)通。因此,能夠在將LED I點(diǎn)亮的LED驅(qū)動(dòng)電路中的、壽命最短的部件及部件彼此的接合位置不發(fā)生故障的任意范圍內(nèi),設(shè)定燈的壽命時(shí)間。另外,如根據(jù)上述說明可知的那樣,能夠通過本實(shí)施方式的壽命檢測元件即薄膜電容2檢測出LED燈的點(diǎn)亮?xí)r間是因?yàn)?,事先把握了被放置在能夠作為LED I的點(diǎn)亮狀態(tài)而把握的環(huán)境溫度下的時(shí)間下的絕緣膜的絕緣劣化的進(jìn)展。因此,重要的是,薄膜電容2的配置位置是對(duì)于受到點(diǎn)亮狀態(tài)下的LED I的發(fā)熱影響而言足夠接近的位置。經(jīng)發(fā)明者們的確認(rèn),已知該距離優(yōu)選為,在LED I的發(fā)光部與薄膜電容2之間為IOmm以下。該距離是在LED I和薄膜電容2被收容在共同的燈殼體內(nèi)的情況下、且在燈殼體內(nèi)沒有強(qiáng)制性空氣攪動(dòng)這樣的條件下的數(shù)值。當(dāng)然,在存在于LED I和薄膜電容2之間的空氣移動(dòng)的情況下,來自LED I的熱傳導(dǎo)變小,因此優(yōu)選為,使LED I與薄膜電容2之間的間隔進(jìn)一步減小,使它們盡可能緊密接觸。并且,關(guān)于燈泡型LED燈或直管型LED燈等的具體例,如后述那樣,在將LED I作為光源的燈中,為了使LED I的熱更容易放出而設(shè)置散熱板,或?qū)魵んw作為散熱板使用。該散熱板或殼體等是積極傳遞來自LED I的發(fā)熱的部件,因此能夠?qū)⑵錅囟茸鳛閴勖鼨z測元件即薄膜電容2檢測的對(duì)象。在該情況下,也由于薄膜電容2的配置位置是受到從點(diǎn)亮狀態(tài)的LED I傳遞到散熱板等的熱的影響的附近的位置,因此可知相互的間隔優(yōu)選為IOmm以下。另外,該數(shù)值以LED I、散熱板等被燈殼體覆蓋、且沒有進(jìn)行強(qiáng)制性空氣循環(huán)的狀態(tài)為前提,這與直接檢測來自上述LED的發(fā)熱的情況相同。根據(jù)本實(shí)施方式的壽命檢測元件即薄膜電容2,將LED I的點(diǎn)亮?xí)r間根據(jù)其發(fā)熱的熱量來檢測,因此為了正確區(qū)別LED I的點(diǎn)亮?xí)r和非點(diǎn)亮?xí)r,優(yōu)選在各個(gè)狀態(tài)中存在一定以上的溫度差。根據(jù)發(fā)明者們的研究,已知在薄膜電容2對(duì)LED I自身的溫度進(jìn)行感知的情況下,LED I的發(fā)光部的溫度優(yōu)選為50度以上。同樣,已知在薄膜電容2對(duì)用于放出LED I的熱的散熱板或殼體的溫度進(jìn)行感知的情況下,這些散熱板等的溫度也優(yōu)選為50度以上。在設(shè)計(jì)作為壽命檢測元件的薄膜電容2的絕緣體的材質(zhì)、膜厚的情況下,在已知使用燈的環(huán)境的情況下,還能夠按照該環(huán)境來調(diào)整薄膜電容2的絕緣體的材質(zhì)、膜厚等。例如,在使用燈的環(huán)境溫度始終較低的情況下,來自LED I的發(fā)熱容易從燈殼體向外部放出,因此需要考慮這一點(diǎn)來進(jìn)行燈的壽命設(shè)計(jì)。接著,圖2是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的燈所使用的壽命檢測元件的第2配置例的電路框圖。如圖2所示,作為本實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的薄膜電容2,能夠采用使LEDI點(diǎn)亮的LED驅(qū)動(dòng)電路3所使用的電容。這樣,不新設(shè)置僅用于檢測壽命的元件,而能夠把握LED I的工作時(shí)間,并在規(guī)定時(shí)間經(jīng)過后使LED I非點(diǎn)亮。圖3是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的燈所使用的壽命檢測元件的第3配置例的電路框圖。如圖3所示,作為本實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的薄膜電容2,能夠采用電源電路4所使用的電容,該電源電路4向使LED I點(diǎn)亮的LED驅(qū)動(dòng)電路3提供電壓。這樣,也能夠不新設(shè)置僅用于檢測壽命的元件而把握LEDl的工作時(shí)間,并在規(guī)定時(shí)間經(jīng)過后使LED I
非點(diǎn)亮。圖4是表示本發(fā)明的實(shí)施方式的燈所使用的壽命檢測元件的第3配置例的電路框圖。如圖4所示,作為本實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的薄膜電容2,能夠采用濾波電路5所使用的電容,該濾波電路5根據(jù)需要而對(duì)使LED I點(diǎn)亮的LED驅(qū)動(dòng)電路3設(shè)置。這樣,也能夠不新設(shè)置僅用于檢測壽命的元件而把握LED I的工作時(shí)間,并在規(guī)定時(shí)間經(jīng)過后使LED I非點(diǎn)亮。如圖疒圖4所示,作為本實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的薄膜電容2,能夠采用驅(qū)動(dòng)LED I的驅(qū)動(dòng)電路的各電路模塊中的規(guī)定的電容。圖3及圖4所示的例子中示出的都是在某個(gè)電路模塊中設(shè)置一個(gè)作為壽命檢測元件的薄膜電容2的結(jié)構(gòu),但在本發(fā)明中沒有將、壽命檢測元件必須限制為一個(gè)的理由,可以根據(jù)需要在一個(gè)或兩個(gè)以上的電路模塊中設(shè)置多個(gè)作為壽命檢測元件的薄膜電容2。另外,各電路模塊所使用的電容中,例如作為用于防止電路的振鈴(ringing)而使用的電容,使用電解電容,在電特性上不優(yōu)選使用薄膜電容。這種情況下,當(dāng)然不將薄膜電容作為用于防止電路的振鈴的電容來使用,而是應(yīng)僅用于沒有電路特性上的問題的部分。接著,圖5中,作為本實(shí)施方式的燈的壽命檢測元件的第5配置例,示出了采用線圈(電感)而非薄膜電容的情況下的電路框圖。如圖5所示,能夠?qū)⒆鳛楸緦?shí)施方式的燈的壽命檢測元件即線圈的檢測線圈6用作使LED I點(diǎn)亮的LED驅(qū)動(dòng)電路3所使用的線圈。檢測線圈6的線圈繞線具有樹脂制的絕緣覆蓋膜。與上述薄膜電容情況下的絕緣 箔同樣地,該樹脂覆蓋的材質(zhì)和厚度根據(jù)以阿倫尼斯公式的原理為基礎(chǔ)的加速試驗(yàn)等的結(jié)果來設(shè)計(jì),以使得在規(guī)定的工作時(shí)間內(nèi)絕緣劣化進(jìn)展、鄰接的繞線間導(dǎo)通。通過在鄰接的線圈間發(fā)生導(dǎo)通,產(chǎn)生次級(jí)回路而電感值變化,結(jié)果,不流動(dòng)正規(guī)的電流,因此能夠使LED I非點(diǎn)亮。因而,通過將檢測線圈6配置在驅(qū)動(dòng)電路內(nèi),能夠與薄膜電容2同樣地將檢測線圈6作為壽命檢測元件,能夠在LED I的壽命殘留的狀態(tài)下使燈非點(diǎn)亮而促使用戶更換燈。如上所述,在使用了檢測線圈6的情況下,經(jīng)過期望的點(diǎn)亮?xí)r間后使LED I非點(diǎn)亮的原理也與使用了薄膜電容2的情況相同,因此,對(duì)于與發(fā)熱源即LED I的發(fā)光部、散熱板、殼體的溫度、發(fā)熱源與檢測線圈6之間的間隔的關(guān)系等,能夠適用上述薄膜電容中說明的條件。并且,在存在多個(gè)LED I的串聯(lián)連接體的情況下能夠根據(jù)需要使一部分LED I非點(diǎn)亮這一點(diǎn),也與將薄膜電容用作上述壽命檢測體的情況相同。接著,參照附圖,說明本實(shí)施方式的以LED為光源的燈的具體結(jié)構(gòu)例。(燈泡型LED燈的結(jié)構(gòu)例)圖6是表示本實(shí)施方式的燈是能夠替代白熾燈的燈泡型LED燈的情況下的第I結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。如圖6所示,在本實(shí)施方式的第I燈泡型LED燈100中,LED搭載基板11與散熱板12被透明或半透明的罩部件13覆蓋,該LED搭載基板11搭載有作為光源的LED 1,由玻璃、陶瓷或鋁等金屬制造,該散熱板12用于將來自LED I的發(fā)熱傳遞給燈殼體14,由玻璃、陶瓷或鋁等金屬制造,該罩部件13由樹脂或玻璃制造。另外,在圖6中,將作為光源的LEDI圖示為具有規(guī)定面積的面狀光源,但作為本實(shí)施方式的光源的LED I不限于面狀光源,也可以將多個(gè)LED元件配置在LED搭載基板11上。由玻璃、陶瓷或鋁等金屬制造的燈殼體14將罩部件13和燈頭17連接,在其內(nèi)部,在搭載有通過從燈頭17提供的交流電源來使LED I點(diǎn)亮的LED驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)電路基板15上,配置有電容、扼流圈、阻抗、半導(dǎo)體等驅(qū)動(dòng)電路元件16,通過在驅(qū)動(dòng)電路基板15的表面形成的未圖示的電路布線來連接。另外,本實(shí)施方式的第I燈泡型LED燈100中的LED驅(qū)動(dòng)電路能夠直接使用以往的LED燈的驅(qū)動(dòng)電路,因此其圖示及詳細(xì)說明省略。作為壽命檢測元件的薄膜電容2作為驅(qū)動(dòng)電路的一部分而搭載在驅(qū)動(dòng)電路基板15上,經(jīng)由LED搭載基板11、散熱板12,從位于驅(qū)動(dòng)電路基板15的背面?zhèn)鹊臒魵んw14的LED搭載部分14a感知LED I點(diǎn)亮?xí)r產(chǎn)生的發(fā)熱。因此,本實(shí)施方式的第I燈泡型LED燈100中的薄膜電容2被配置為,使與燈殼體14的LED搭載部分14a之間的間隔x為IOmm以下的規(guī)定值。這樣,在本實(shí)施方式的第I燈泡型LED燈100中,與構(gòu)成驅(qū)動(dòng)電路的電路部件兼用薄膜電容2,從而不追加用于檢測燈壽命的特別的元件而檢測LED I的點(diǎn)亮?xí)r間,在經(jīng)過規(guī)定的工作時(shí)間后使LED I的至少一部分非點(diǎn)亮。并且,由于從殼體14的LED搭載部分14a感知LED I的發(fā)熱,因此能夠?qū)⒆鳛檩^高的部件的薄膜電容2配置在空間上具有裕度的殼體14內(nèi)的中央部分,結(jié)果,能夠?qū)崿F(xiàn)緊湊的燈泡型LED燈100。圖7是表示本實(shí)施方式的燈泡型LED燈的第2結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖7所示的本實(shí)施方式的第2燈泡型LED燈110,與用上述圖6說明的第I燈泡型燈100相比,不同點(diǎn)僅在于作為壽命檢測元件的薄膜電容2的配置場所。因此,對(duì)與第I燈
泡型LED燈100相同的構(gòu)成部件賦予相同的符號(hào),省略其說明。本實(shí)施方式的第2燈泡型LED燈110中,兼用驅(qū)動(dòng)電路的電路部件的薄膜電容2被配置在驅(qū)動(dòng)電路基板15上的殼體14內(nèi)的周邊部分。這樣,第2燈泡型LED燈110的薄膜電容2經(jīng)由LED搭載基板11、散熱板12,從燈殼體14的側(cè)面部分14b感知LED I點(diǎn)亮?xí)r產(chǎn)生的發(fā)熱。因此,第2燈泡型LED燈110中的薄膜電容2被配置為,使與燈殼體14的側(cè)面部分14b之間的間隔X為IOmm以下的規(guī)定值。這樣,在本實(shí)施方式的第2燈泡型LED燈110中,與構(gòu)成驅(qū)動(dòng)電路的電路部件兼用薄膜電容2,從而不追加用于檢測燈壽命的特別的元件而檢測LED I的點(diǎn)亮?xí)r間,在經(jīng)過規(guī)定的工作時(shí)間后使LED I的至少一部分非點(diǎn)亮。并且,由于將薄膜電容2配置在驅(qū)動(dòng)電路基板的周邊部,從殼體14的側(cè)面部分14b感知LED I的發(fā)熱,因此能夠使其他驅(qū)動(dòng)電路部件從熱源遠(yuǎn)離。結(jié)果,能夠?qū)崿F(xiàn)具有進(jìn)行穩(wěn)定工作的驅(qū)動(dòng)電路的、可靠性高的燈泡型LED燈110。圖8是表示本實(shí)施方式的燈泡型LED燈的第3結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖8所示的本實(shí)施方式的第3燈泡型LED燈120,與用上述圖6說明的第I燈泡型燈100相比,不同點(diǎn)僅在于作為壽命檢測元件的薄膜電容2的配置場所。因此,與第2燈泡型LED燈110的情況同樣,對(duì)與第I燈泡型LED燈100相同的構(gòu)成部件賦予相同的符號(hào),省略其說明。在本實(shí)施方式的第3燈泡型LED燈120中,與LED I的串聯(lián)連接體并聯(lián)連接的薄膜電容2被配置在LED搭載基板11上的LED I搭載位置的周邊部分。這樣,第3燈泡型LED燈120的薄膜電容2從LED I直接感知LED I點(diǎn)亮?xí)r產(chǎn)生的發(fā)熱。因此,第3燈泡型LED燈120中的薄膜電容2被配置為,使與LED I之間的間隔xl為IOmm以下的規(guī)定值。同時(shí),由于薄膜電容2被配置在最初傳遞LED I的發(fā)熱的LED搭載基板11上,因此還能夠感知LED搭載基板11的熱。因此,配置為,使與LED搭載基板11之間的間隔x2為IOmm以下的規(guī)定值。這樣,在本實(shí)施方式的第3燈泡型LED燈120中,薄膜電容2將本來的發(fā)熱源LEDI及作為最初傳遞LED I的發(fā)熱的部件的LED搭載基板11作為熱感知對(duì)象,因此能夠更正確地檢測LED I的點(diǎn)亮狀態(tài)。因而,例如,在將燈泡型LED燈120用于周圍環(huán)境溫度變化大的場所時(shí),也能夠正確檢測LED I的點(diǎn)亮?xí)r間,從而在工作了規(guī)定時(shí)間后使LED I非點(diǎn)亮。圖9是表示本實(shí)施方式的燈泡型LED燈的第4結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖9所示的本實(shí)施方式的第4燈泡型LED燈130中,薄膜電容2被配置為,接近燈殼體14的與燈頭17連接的部分14c。這樣,第4燈泡型LED燈130的薄膜電容2,經(jīng)由LED搭載基板11、散熱板12,從燈殼體14的燈頭附近部分14c感知LED I點(diǎn)亮?xí)r產(chǎn)生的發(fā)熱。因此,第4燈泡型LED燈130中的薄膜電容2被配置為,使與燈殼體14的燈頭附近部分14c之間的間隔X為IOmm以下的規(guī)定值。這樣,在本實(shí)施方式的第4燈泡型LED燈130中,將薄膜電容2從驅(qū)動(dòng)電路基板15上的其他電路部件15隔開,從而能夠不將構(gòu)成驅(qū)動(dòng)電路的電路部件的發(fā)熱作為噪聲提取而感知來自LED I的發(fā)熱。因此,在燈泡型LED燈130的驅(qū)動(dòng)電路中存在發(fā)熱大的部件的情況下,也能夠正確檢測LED I的點(diǎn)亮?xí)r間,而在工作了規(guī)定時(shí)間后使LED I非點(diǎn)亮。(直管型LED燈的結(jié)構(gòu)例)下面,說明本實(shí)施方式的燈是可代替直管型熒光燈的直管型LED燈的情況下的結(jié)構(gòu)例。
圖10是表示本實(shí)施方式的燈是直管型LED燈的情況下的第I結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。如圖10所示,本實(shí)施方式的第I直管型LED燈200中,在透明或半透明的管狀的殼體21內(nèi)部,配置有LED搭載基板22,該殼體21由玻璃、陶瓷或鋁等金屬制造,該LED搭載基板22搭載有作為光源的LED I且兼作散熱板,由鋁等金屬、或環(huán)氧玻璃等樹脂、或陶瓷、玻璃制造。LED搭載基板22的一端與收容有LED驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)電路部25連接,在LED搭載基板22上形成有未圖示的布線,從驅(qū)動(dòng)電路部25施加使LED I工作的恒定電流。另外,在圖10中,圖示出將作為光源的LED I在LED搭載基板22上配置2個(gè),但本實(shí)施方式的作為光源的LED I的配置個(gè)數(shù)不限于2個(gè),也可以使用I個(gè)或更多的LED I。并且,與圖6 圖9圖示的燈泡型LED燈100、110、120、130同樣,當(dāng)然可以使用面狀的LED I。從驅(qū)動(dòng)電路部25的與LED搭載基板22相反側(cè)的端部,電極插頭24貫通殼體21的外廓部23而向直管型LED燈200外延伸。向該電極插頭24施加交流或直流電壓,LED I點(diǎn)亮。另外,本實(shí)施方式的第I直管型LED燈200的形成于驅(qū)動(dòng)電路部25的LED驅(qū)動(dòng)電路能夠直接使用以往的LED燈的驅(qū)動(dòng)電路,因此其圖示及詳細(xì)說明省略。作為壽命檢測元件的薄膜電容2被配置在搭載有LED I的一側(cè)的LED搭載基板22上并與LED I接近。在本實(shí)施方式的第I直管型LED燈200中,從LED I直接感知LED I點(diǎn)亮?xí)r產(chǎn)生的發(fā)熱,因此,將薄膜電容2與LED I之間的間隔X配置為IOmm以下的規(guī)定值。這樣,在本實(shí)施方式的第I直管型LED燈200中,通過將薄膜電容2配置在LED I附近,能夠正確檢測LED I的點(diǎn)亮狀態(tài)。圖11是表示本實(shí)施方式的直管型LED燈的第2結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖11所示的本實(shí)施方式的第2直管型LED燈210,與用上述圖10說明的第I直管型燈200相比,不同點(diǎn)僅在于作為壽命檢測元件的薄膜電容2的配置場所。因此,對(duì)與第I直管型LED燈200相同的構(gòu)成部件賦予相同的符號(hào),省略其說明。本實(shí)施方式的第2直管型LED燈210中,薄膜電容2被配置在LED搭載基板22的搭載有LED I的一側(cè)的背面?zhèn)取_@樣,第2直管型LED燈210的薄膜電容2經(jīng)由LED搭載基板22感知LED I點(diǎn)亮?xí)r產(chǎn)生的發(fā)熱。因此,雖然將第2直管型LED燈210中的薄膜電容2與LED搭載基板22之間的間隔X設(shè)為IOmm以下的規(guī)定值,但實(shí)際上如圖11所示,與LED搭載基板22緊密接觸地進(jìn)行配置并無特別妨礙,能夠正確地檢測因LED I的工作引起的發(fā)熱而上升的LED搭載基板22的溫度。這樣,在本實(shí)施方式的第2直管型LED燈210中,在LED搭載基板22的背面?zhèn)扰渲帽∧る娙?,因此薄膜電容2不會(huì)妨礙LED I的發(fā)光,薄膜電容2的配置場所的選擇裕度擴(kuò)大。并且,通過與傳導(dǎo)LED I的溫度上升的LED搭載基板22緊密接觸地配置,能夠正確地感知LED I的溫度上升。圖12是表示本實(shí)施方式的直管型LED燈的第3結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖12所示的本實(shí)施方式的第3直管型LED燈220,不同點(diǎn)也僅在于作為壽命檢測元件的薄膜電容2的配置場所,因此,對(duì)與第I直管型LED燈200相同的構(gòu)成部件賦予相同的符號(hào),省略其說明。本實(shí)施方式的第3直管型LED燈220的薄膜電容2兼作LED驅(qū)動(dòng)電路的電容,配置在驅(qū)動(dòng)電路部25內(nèi)。這樣,在第3直管型LED燈220中,不用追加配置薄膜電容2作為 用于感知LED I點(diǎn)亮的部件,而是配置在使LED I點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路25內(nèi)而感知LED I點(diǎn)亮?xí)r產(chǎn)生的發(fā)熱。因此,將薄膜電容2配置為,使與LED I之間的間隔xl為IOmm以下的規(guī)定值。并且,由于驅(qū)動(dòng)電路部25與LED搭載基板22連接,因此從最初傳遞來自LED I的發(fā)熱的LED搭載基板22也能夠感知LED I的熱。該情況下,將與LED搭載基板22之間的間隔x2配置為10_以下的規(guī)定值。這樣,在本實(shí)施方式的第3直管型LED燈220中,通過將薄膜電容2與構(gòu)成LED驅(qū)動(dòng)電路的電路部件兼用,不追加用于檢測燈壽命的特別的元件而檢測LED I的點(diǎn)亮?xí)r間,在經(jīng)過規(guī)定的工作時(shí)間后使LED I的至少一部分非點(diǎn)亮。并且,由于驅(qū)動(dòng)電路部25與LED搭載基板22連接,因此直接地或經(jīng)由LED搭載基板22感知LED I的發(fā)熱,所以能夠正確地檢測LEDl的點(diǎn)亮?xí)r間。圖13是表示本實(shí)施方式的直管型LED燈的第4結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖13所示的本實(shí)施方式的第4直管型LED燈230,其薄膜電容2被配置在LED搭載基板22的搭載有LED I的一側(cè),但與LED I之間的間隔比圖10所示的第I直管型LED燈200的情況大。對(duì)于圖13所示的第4直管型LED燈230,示出了例如作為直管型LED燈230整體的光源位置的配置分布存在限制等、從而在LED搭載基板22上與LED I接近的位置無法配置薄膜電容2的情況下的結(jié)構(gòu)。這樣,在薄膜電容2位于LED搭載基板22上但無法配置在LED I附近的情況下,使LED搭載基板22為導(dǎo)熱性高的材料,經(jīng)由LED搭載基板22檢測來自LEDl的發(fā)熱。因此,對(duì)第4直管型LED燈230中的薄膜電容2而言,將與LED搭載基板22之間的間隔X設(shè)為IOmm以下的規(guī)定值,若可能,優(yōu)選將薄膜電容2配置為緊密接觸在LED搭載基板22上。這樣,在本實(shí)施方式的第4直管型LED燈230中,即使在LED搭載基板22上與LEDI接近的位置無法配置薄膜電容2的情況下等,也能夠經(jīng)由LED搭載基板22感知來自LEDI的發(fā)熱。因此,能夠得到發(fā)光亮度分布優(yōu)異的直管型LED燈230。(GX燈頭型燈的結(jié)構(gòu)例)接著,說明本實(shí)施方式的燈是能夠代替鹵素?zé)舻染哂蠫X燈頭插頭的燈的、GX燈頭型LED燈的情況下的結(jié)構(gòu)例。圖14是表示本實(shí)施方式的燈是GX燈頭型LED燈的情況下的第I結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。
如圖14所示,本實(shí)施方式的第IGX燈頭型LED燈300,在透明或半透明的由樹脂、玻璃、陶瓷或鋁等金屬制造的殼體31內(nèi)部,配置有LED搭載基板32,該LED搭載基板32搭載有作為光源的LED 1,兼作散熱板,由樹脂、玻璃、陶瓷、或鋁等金屬制造。另外,在圖14中,圖示了作為光源的LED I在LED搭載基板32上配置有3個(gè)的情況,但在本實(shí)施方式的GX燈頭型LED燈300中,作為光源的LED I的配置個(gè)數(shù)不限于3個(gè),也可以使用I個(gè)或2個(gè)進(jìn)而更多個(gè)數(shù)的LED I。并且,與圖6 圖9圖示的燈泡型LED燈100、110、120、130同樣,也可以使用面狀的LED I。在殼體31的背面?zhèn)刃纬捎须姌O33,并且在殼體31的背面中央部分配置有驅(qū)動(dòng)電 路部34,該驅(qū)動(dòng)電路部34收容有提供將LED I點(diǎn)亮的恒定電流的LED驅(qū)動(dòng)電路。并且,作為在驅(qū)動(dòng)電路部34內(nèi)的電路基板35上配置的驅(qū)動(dòng)電路部件的電容,兼作壽命檢測元件即薄膜電容2。另外,通過對(duì)電極插頭33施加的交流電壓而使LED I點(diǎn)亮的、形成于驅(qū)動(dòng)電路部34的LED驅(qū)動(dòng)電路,能夠直接使用以往的LED燈的驅(qū)動(dòng)電路,因此其圖示及詳細(xì)的說明省略。在本實(shí)施方式的第IGX燈頭型LED燈300中,作為壽命檢測元件的薄膜電容2作為LED驅(qū)動(dòng)電路的一個(gè)電路部件而形成,因此需要將薄膜電容2與搭載有LED I的LED搭載基板32之間設(shè)為10_以下的規(guī)定值。因此,如圖14所示配置為,使原本作為較高的部件的薄膜電容2從驅(qū)動(dòng)電路部34向殼體31內(nèi)突出。這樣,在本實(shí)施方式的第IGX燈頭型LED燈300中,通過將薄膜電容2配置在殼體31內(nèi)的LED I搭載基板32附近,能夠正確地檢測LED I的點(diǎn)亮狀態(tài)。圖15是表示本實(shí)施方式的GX燈頭型LED燈的第2結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。圖15所示的本實(shí)施方式的第2GX燈頭型LED燈310,與用上述圖14說明的第IGX燈頭型燈300相比,不同點(diǎn)僅在于作為壽命檢測元件的薄膜電容2的配置場所。因此,對(duì)與第IGX燈頭型LED燈300相同的構(gòu)成部件賦予相同的符號(hào),省略其說明。本實(shí)施方式的第2GX燈頭型LED燈310,其與LED I并聯(lián)連接的薄膜電容2被配置在LED搭載基板32的搭載有LED I的一側(cè)的背面?zhèn)取_@樣,經(jīng)由LED搭載基板32感知LEDI點(diǎn)亮?xí)r產(chǎn)生的發(fā)熱。因此,雖然將薄膜電容2與LED搭載基板32之間的間隔X設(shè)為IOmm以下的規(guī)定值,但實(shí)際上如圖15所示那樣,與LED搭載基板32緊密接觸地進(jìn)行配置并無特別妨礙,能夠正確地檢測因LED I的工作引起的發(fā)熱而上升的LED搭載基板32的溫度。這樣,在本實(shí)施方式的第2GX燈頭型LED燈310中,在LED搭載基板32的背面?zhèn)扰渲帽∧る娙?,因此薄膜電容2的配置場所的選擇裕度擴(kuò)大。并且,通過與傳導(dǎo)LED I的溫度上升的LED搭載基板32緊密接觸地配置,能夠正確地感知LED I的溫度上升。(其他燈單元的結(jié)構(gòu)例)圖16是表示本實(shí)施方式的LED燈是LED模塊的情況下的結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。如圖16所示,本實(shí)施方式的LED模塊400中,在模塊基板41上,配置有作為光源的LED I以及與LED I并聯(lián)連接的作為壽命檢測元件的薄膜電容2。并且,模塊基板41設(shè)有輸入端子42,該輸入端子42用于從外部施加使LED I點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電壓。另外,在圖16中,圖示了作為光源的LED I在模塊基板41上僅配置了 I個(gè)的情況,但本實(shí)施方式的LED模塊400中,作為光源的LED I的配置個(gè)數(shù)不限于I個(gè)。并且,在作為模塊的用途的關(guān)系方面,可以在模塊基板41上適當(dāng)配置LED驅(qū)動(dòng)電路。
這樣,作為本實(shí)施方式的LED燈的LED模塊400,由于搭載有感知LED I工作時(shí)產(chǎn)生的發(fā)熱的薄膜電容2,因此,在LED I的工作時(shí)間超過規(guī)定時(shí)間的情況下使LED I非點(diǎn)亮,從而能夠在LED模塊400所使用的LED I以外的電路部件的壽命到來前,促使用戶更換LED模塊400。圖17是表示本實(shí)施方式的LED燈是LED板上芯片(chip on board)的情況下的結(jié)構(gòu)例的剖面結(jié)構(gòu)圖。如圖17所示,搭載有本實(shí)施方式的LED的板500,在板基板52上配置有作為光源的LED I、與LED I并聯(lián)連接的作為壽命檢測元件的薄膜電容2、以及其他電路部件51。這樣,通過在搭載有LED I的板基板52上與LED I接近地配置作為壽命檢測元件的薄膜電容2,從而在LED I的工作時(shí)間超過規(guī)定時(shí)間的情況下使LED I非點(diǎn)亮,在搭載有LED的板基板52上的各種電路部件51等的壽命到來前,能夠促使用戶更換板500。、以上說明的本實(shí)施方式的LED燈的結(jié)構(gòu)例中,僅示出了使用薄膜電容作為壽命檢測元件的例子,但也可以如有關(guān)壽命檢測元件的說明中敘述的那樣,使用線圈繞線具有樹脂制絕緣覆蓋膜的線圈來代替薄膜電容。并且,作為壽命檢測元件,不必采用薄膜電容或線圈這樣的電路部件的形態(tài),能夠?qū)⒏糁鴺渲づ渲糜须姌O的部件等、用于壽命檢測而構(gòu)成的壽命檢測元件配置在能夠在LED I的工作時(shí)直接或間接感知其溫度的位置。進(jìn)而,本發(fā)明的壽命檢測元件只要自身具有能夠感知LED的工作時(shí)間、并在規(guī)定時(shí)間經(jīng)過后使LED非點(diǎn)亮的機(jī)構(gòu),則不限于使用樹脂膜的絕緣劣化的結(jié)構(gòu)。工業(yè)實(shí)用性本發(fā)明涉及的燈,作為光源而使用低耗電且長壽命的LED的同時(shí)能進(jìn)行燈整體的壽命管理,能夠用作以現(xiàn)有燈的替代品為代表的各種燈。
權(quán)利要求
1.一種燈,其特征在于 具備 作為光源的發(fā)光二極管;以及 通過交流或直流電源使上述發(fā)光二極管點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路, 上述燈具有壽命檢測元件,若上述發(fā)光二極管工作了規(guī)定時(shí)間,則該壽命檢測元件的樹脂材料絕緣劣化而使上述發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。
2.如權(quán)利要求I所述的燈,其特征在于 上述壽命檢測元件是與上述發(fā)光二極管的上述至少一部分并聯(lián)配置的箔型薄膜電容。
3.如權(quán)利要求I所述的燈,其特征在于 上述壽命檢測元件是構(gòu)成上述發(fā)光二極管的驅(qū)動(dòng)電路的箔型薄膜電容。
4.如權(quán)利要求I所述的燈,其特征在于 上述壽命檢測元件是具有被樹脂覆蓋的繞線的線圈。
5.如權(quán)利要求1 4中任一項(xiàng)所述的燈,其特征在于 上述壽命檢測元件被配置為,與上述發(fā)光二極管的發(fā)光部之間具有IOmm以下的間隔。
6.如權(quán)利要求5所述的燈,其特征在于 上述發(fā)光二極管的工作時(shí)的溫度為50度以上。
7.如權(quán)利要求廣4中任一項(xiàng)所述的燈,其特征在于 上述壽命檢測元件被配置為,與為了上述發(fā)光二極管的散熱而設(shè)置的散熱板、或收容有上述發(fā)光二極管的殼體之間具有IOmm以下的間隔。
8.如權(quán)利要求7所述的燈,其特征在于 上述發(fā)光二極管工作時(shí),上述散熱板或上述殼體的溫度為50度以上。
9.一種燈,其特征在于 具備 發(fā)光二極管;以及 使上述發(fā)光二極管點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路, 上述燈具有壽命檢測元件,該壽命檢測元件與上述發(fā)光二極管的工作時(shí)間相應(yīng)地產(chǎn)生電特性的變化,由此使上述發(fā)光二極管非點(diǎn)亮。
全文摘要
本發(fā)明提供一種燈,能夠以簡單的結(jié)構(gòu)向用戶傳達(dá)LED燈到達(dá)產(chǎn)品壽命,并且能夠可靠地促使燈更換。具備作為光源的發(fā)光二極管(1)以及通過交流或直流電源使上述發(fā)光二極管(1)點(diǎn)亮的驅(qū)動(dòng)電路(3),并具有壽命檢測元件(2),若上述發(fā)光二極管(1)工作了規(guī)定時(shí)間,則該壽命檢測元件(2)的樹脂材料絕緣劣化而使上述發(fā)光二極管(1)非點(diǎn)亮。
文檔編號(hào)H05B37/02GK102742361SQ201180008228
公開日2012年10月17日 申請日期2011年1月20日 優(yōu)先權(quán)日2010年2月4日
發(fā)明者安藤保, 杉田和繁 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社