1.一種檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的系統(tǒng)，其特征在于，包括：測試儀器、N個射頻耦合器、射頻合路器、衰減裝置、射頻開關和控制處理器；
所述射頻耦合器，用于接收待測的信號發(fā)射設備發(fā)送的一路發(fā)射信號，對所述發(fā)射信號進行耦合生成耦合信號，輸出所述耦合信號到所述射頻開關，還用于傳送所述發(fā)射信號給所述射頻合路器；
所述控制處理器，用于接收用戶發(fā)送的請求檢測所述信號發(fā)射設備發(fā)送的第i路發(fā)射信號的請求信號時，根據(jù)所述請求信號控制所述射頻開關切換鏈路，以使所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號傳送至所述測試儀器；N≥i；
所述測試儀器，用于從所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，對所述數(shù)據(jù)包進行檢測，并輸出檢測結(jié)果；
所述射頻合路器，用于對接收所述N個射頻耦合器傳送的所有發(fā)射信號進行合并生成合路發(fā)射信號，并輸出所述合路發(fā)射信號給所述衰減裝置；
所述衰減裝置，用于對所述合路發(fā)射信號進行衰減，并傳送衰減后的所述合路發(fā)射信號給信號接收設備。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的系統(tǒng)，其特征在于，所述衰減裝置為可編程衰減芯片；
所述控制處理器，還用于在測試儀器輸出檢測結(jié)果后，根據(jù)預設的衰減步進在所述衰減裝置的當前衰減值的基礎上增加所述衰減裝置的衰減值，直至達到所述衰減裝置的最大衰減值，遍歷信號發(fā)射設備的所有待測速率模式；
所述測試儀器，還用于在增加所述衰減裝置的衰減值之后，繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，對所述數(shù)據(jù)包進行檢測，并輸出檢測結(jié)果，直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。
3.如權(quán)利要求1所述的檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的系統(tǒng)，其特征在于，所述從所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，對所述數(shù)據(jù)包進行檢測，并輸出檢測結(jié)果，具體為：
從所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包，判斷所述數(shù)據(jù)包是否為有效包；
若是，對計數(shù)值加一；
若否，返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包；
判斷所述計數(shù)值是否大于計數(shù)閾值；
若是，對提取的所有有效包進行檢測，并輸出檢測結(jié)果以及對所述計數(shù)值清零；
若否，返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包。
4.如權(quán)利要求1所述的檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制處理器，還用于設置所述信號發(fā)射設備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設備的網(wǎng)卡參數(shù)，以使所述信號發(fā)射設備與所述信號接收設備建立網(wǎng)絡連接；還用于在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設置后，判斷所述信號發(fā)射設備與所述信號接收設備建立網(wǎng)絡連接的時長是否大于時長閾值，并在所述時長大于時長閾值時返回重新設置所述信號發(fā)射設備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設備的網(wǎng)卡參數(shù)。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的系統(tǒng)，其特征在于，所述射頻開關包括輸出端、控制端和N個輸入端；
所述射頻開關的控制端與所述控制處理器連接；
所述N個輸入端與所述N個射頻耦合器的連接，具體為：第i個輸入端與第i個射頻耦合器的耦合端連接；
所述輸出端與所述測試儀器連接。
6.如權(quán)利要求1所述的檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的系統(tǒng)，其特征在于，所述控制處理器，包括控制臺和單片機；其中，所述控制臺包括顯示器。
7.一種檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的方法，其特征在于，包括：
接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設備發(fā)送給信號接收設備的第i路發(fā)射信號的請求信號；所述信號發(fā)射設備發(fā)射的信號包括M路發(fā)射信號；M≥i；
根據(jù)所述請求信號控制射頻開關切換鏈路，以使射頻耦合器生成的第i路發(fā)射信號對應的耦合信號傳送至測試儀器；所述射頻耦合器包括N個，N≥M；所述射頻耦合器用于傳送所述信號發(fā)射設備發(fā)射的信號到射頻合路器，以使所述射頻合路器將所述M路發(fā)射信號進行生成合路發(fā)射信號，并輸出所述合路發(fā)射信號經(jīng)衰減裝置傳送到所述信號接收設備；
控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進行檢測，并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的方法，其特征在于，還包括：
在接收所述檢測結(jié)果后，根據(jù)預設的衰減步進在所述衰減裝置的當前衰減值的基礎上增加所述衰減裝置的衰減值，直至達到所述衰減裝置的最大衰減值；
并在增加所述衰減裝置的衰減值之后，繼續(xù)控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進行檢測，并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。
9.如權(quán)利要求7所述的檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的方法，其特征在于，在接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設備的第i路發(fā)射信號的請求信號的同時，還包括：
設置所述信號發(fā)射設備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設備的網(wǎng)卡參數(shù)，以使所述信號發(fā)射設備與所述信號接收設備建立網(wǎng)絡連接；
在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設置后，判斷所述信號發(fā)射設備與所述信號接收設備建立網(wǎng)絡連接的時長是否大于時長閾值，并在所述時長大于時長閾值時返回重新設置所述信號發(fā)射設備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設備的網(wǎng)卡參數(shù)。
10.如權(quán)利要求7所述的檢測信號發(fā)射設備的發(fā)射性能的方法，其特征在于，在控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進行檢測的同時，還包括：
接收用戶設置的計數(shù)閾值；
設置所述測試儀器的計數(shù)閾值為所述用戶設置的計數(shù)閾值；其中，所述計數(shù)閾值用于判斷所述測試儀器從第i路發(fā)射信號提取數(shù)據(jù)包為有效包時的計數(shù)值是否大于所述計數(shù)閾值。