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檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)及方法與流程

文檔序號:12691349閱讀:435來源:國知局
檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)及方法與流程

本發(fā)明涉及射頻功率檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)及方法。



背景技術(shù):

無線路由器等產(chǎn)品在調(diào)試、產(chǎn)測等階段,需要檢測實際發(fā)射功率、EVM性能等發(fā)射指標(biāo)。如圖1所示,現(xiàn)有技術(shù)提供的測量被測設(shè)備DUT處于實際工作狀態(tài)時的各種發(fā)射指標(biāo)的方案,具體為,以下圖中的ANT1為例,利用射頻耦合器將ANT1信號分成兩部分,一部分與ANT2、ANT3、ANT4的TX信號經(jīng)由射頻合路器、固定衰減頭與接收被測設(shè)備DUT的信號的接收設(shè)備(SUT)跑吞吐量,另一部分送入儀器進(jìn)行測量;而在測試時,測試人員手動操作測量儀器的(IQXel、WCTS等)抓取數(shù)據(jù)包,人工讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。

上述方案存在的以下缺陷:

1、需要不斷手動抓包進(jìn)行檢測,效率低下;

2、吞吐量通路衰減不可調(diào),僅能檢測DUT協(xié)商至最高速率下的發(fā)射指標(biāo);

3、只能完成一根天線的測試,對于多天線DUT,需要手動拆裝拓?fù)?,更換測試通路方可完成檢測。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明實施例的目的是提出的一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)及方法,能自動切換并選擇發(fā)射設(shè)備的信號通路進(jìn)行檢測,無需手動拆裝拓?fù)鋪砀鼡Q測試通路,并實現(xiàn)測試儀器的觸發(fā)抓包功能,無需手動控制測試儀器。

為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實施例提供一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng),其特征在于,包括:測試儀器、N個射頻耦合器、射頻合路器、衰減裝置、射頻開關(guān)和控制處理器;

所述射頻耦合器,用于接收待測的信號發(fā)射設(shè)備發(fā)送的一路發(fā)射信號,對所述發(fā)射信號進(jìn)行耦合生成耦合信號,輸出所述耦合信號到所述射頻開關(guān),還用于傳送所述發(fā)射信號給所述射頻合路器;

所述控制處理器,用于接收用戶發(fā)送的請求檢測所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)送的第i路發(fā)射信號的請求信號時,根據(jù)所述請求信號控制所述射頻開關(guān)切換鏈路,以使所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送至所述測試儀器;N≥i;

所述測試儀器,用于從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包,對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并輸出檢測結(jié)果;

所述射頻合路器,用于對接收所述N個射頻耦合器傳送的所有發(fā)射信號進(jìn)行合并生成合路發(fā)射信號,并輸出所述合路發(fā)射信號給所述衰減裝置;

所述衰減裝置,用于對所述合路發(fā)射信號進(jìn)行衰減,并傳送衰減后的所述合路發(fā)射信號給信號接收設(shè)備。

進(jìn)一步地,所所述衰減裝置為可編程衰減芯片;

所述控制處理器,還用于在測試儀器輸出檢測結(jié)果后,根據(jù)預(yù)設(shè)的衰減步進(jìn)在所述衰減裝置的當(dāng)前衰減值的基礎(chǔ)上增加所述衰減裝置的衰減值,直至達(dá)到所述衰減裝置的最大衰減值;

所述測試儀器,還用于在增加所述衰減裝置的衰減值之后,繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包,對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并輸出檢測結(jié)果,直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

進(jìn)一步地,所述從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包,對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并輸出檢測結(jié)果,具體為:

從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包,判斷所述數(shù)據(jù)包是否為有效包;

若是,對計數(shù)值加一;

若否,返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包;

判斷所述計數(shù)值是否大于計數(shù)閾值;

若是,對提取的所有有效包進(jìn)行檢測,并輸出檢測結(jié)果以及對所述計數(shù)值清零;

若否,返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包。

進(jìn)一步地,所述控制處理器,還用于設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù),以使所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接;還用于在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設(shè)置后,判斷所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接的時長是否大于時長閾值,并在所述時長大于時長閾值時返回重新設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)。

進(jìn)一步地,所述射頻開關(guān)包括輸出端、控制端和N個輸入端;

所述射頻開關(guān)的控制端與所述控制處理器連接;

所述N個輸入端與所述N個射頻耦合器的連接,具體為:第i個輸入端與第i個射頻耦合器的耦合端連接;

所述輸出端與所述測試儀器連接。

進(jìn)一步地,所述控制處理器,包括控制臺和單片機;其中,所述控制臺包括顯示器。

相應(yīng)地,本發(fā)明實施例還提供一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的方法,包括:

接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設(shè)備發(fā)送給信號接收設(shè)備的第i路發(fā)射信號的請求信號;所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)射的信號包括M路發(fā)射信號;M≥i;

根據(jù)所述請求信號控制射頻開關(guān)切換鏈路,以使射頻耦合器生成的第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送至測試儀器;所述射頻耦合器包括N個,N≥M;所述射頻耦合器用于傳送所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)射的信號到射頻合路器,以使所述射頻合路器將所述M路發(fā)射信號進(jìn)行生成合路發(fā)射信號,并輸出所述合路發(fā)射信號經(jīng)衰減裝置傳送到所述信號接收設(shè)備;

控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果。

進(jìn)一步地,所述方法還包括:

在接收所述檢測結(jié)果后,根據(jù)預(yù)設(shè)的衰減步進(jìn)在所述衰減裝置的當(dāng)前衰減值的基礎(chǔ)上增加所述衰減裝置的衰減值,直至達(dá)到所述衰減裝置的最大衰減值;

并在增加所述衰減裝置的衰減值之后,繼續(xù)控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

進(jìn)一步地,在接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設(shè)備的第i路發(fā)射信號的請求信號的同時,還包括:

設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù),以使所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接;

在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設(shè)置后,判斷所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接的時長是否大于時長閾值,并在所述時長大于時長閾值時返回重新設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)。

進(jìn)一步地,在控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測的同時,還包括:

接收用戶設(shè)置的計數(shù)閾值;

設(shè)置所述測試儀器的計數(shù)閾值為所述用戶設(shè)置的計數(shù)閾值;其中,所述計數(shù)閾值用于判斷所述測試儀器從第i路發(fā)射信號提取數(shù)據(jù)包為有效包時的計數(shù)值是否大于所述計數(shù)閾值。

實施本發(fā)明實施例,具有如下有益效果:

本發(fā)明實施例提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)及方法,采用多個射頻耦合器,將待測的信號發(fā)射設(shè)備的每一路發(fā)射信號耦合生成相應(yīng)的耦合信號,并輸?shù)缴漕l開關(guān),控制處理器再控制射頻開關(guān)切換鏈路,選擇用戶需檢測的一路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送到測試儀器中進(jìn)行檢測,實現(xiàn)無須手動折卸拓?fù)浔憧赏瓿尚盘柊l(fā)射設(shè)備多路輸出的測試工作;控制處理器自動調(diào)整鏈路衰減值,無須手動調(diào)整衰減,實現(xiàn)信號發(fā)射設(shè)備所有速率模式的測試工作;控制處理器自動觸發(fā)控制測試儀器對耦合信號的抓包,實現(xiàn)多路輸出的信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的自動化測試,無須手動操作測試儀器對耦合信號進(jìn)行數(shù)據(jù)包的提取。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性的系統(tǒng)的一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2是本發(fā)明實施例提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)的一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3,是本發(fā)明提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)的測試過程的一個實施例的流程示意圖;

圖4是本發(fā)明提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的方法的一個實施例的流程示意圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

參見圖2,是本發(fā)明實施例提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)的一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;

本發(fā)明實施例提供一種檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng),其特征在于,包括:測試儀器、N個射頻耦合器、射頻合路器、衰減裝置、射頻開關(guān)和控制處理器;本實施例提供的系統(tǒng)的連接關(guān)系,具體如圖1所示:

所述N個射頻耦合器的輸入端用于連接待測的信號發(fā)射設(shè)備的一個輸出端,且一個射頻耦合器對應(yīng)于所述信號發(fā)射設(shè)備的一個輸出端,所述發(fā)射設(shè)備包括M個輸出端,設(shè)置N≥M;所述N個射頻耦合器的輸出端均連接到射頻合路器的輸入端;

所述射頻開關(guān)包括輸出端、控制端和N個輸入端;所述射頻開關(guān)的控制端與所述控制處理器連接;所述N個輸入端與所述N個射頻耦合器的連接,具體為:第i個輸入端與第i個射頻耦合器的耦合端連接;N≥i;以及,所述輸出端與所述測試儀器的測試輸入端連接;

所述測試儀器的測試輸出端與所述控制處理器連接。

作為上述系統(tǒng)的進(jìn)一步地改進(jìn),所述控制處理器還與所述衰減裝置連接,所述衰減裝置為可編程衰減芯片。所述衰減裝置的衰減值也可能過手動調(diào)節(jié),以及所述射頻開關(guān)的鏈路切換也可通過手動切換。

需要說明的是,將上述檢測系統(tǒng)作為一個整體,檢測系統(tǒng)的一端待測的信號發(fā)射設(shè)備連接,檢測系統(tǒng)的另一端與信號接收設(shè)備連接,并調(diào)整衰減裝置的衰減值來得使傳輸?shù)男盘柼幱诳勺兺铝磕J剑M用戶的實際使用過程。

作為上述系統(tǒng)的進(jìn)一步地改進(jìn),所述控制處理器還與所述待測的信號發(fā)射設(shè)備連接,以及連接所述信號接收設(shè)備,使得控制處理器可設(shè)置信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù),以及信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù),實現(xiàn)信號發(fā)射設(shè)備和信號接收設(shè)備的通信連接。

作為上述系統(tǒng)的進(jìn)一步地改進(jìn),所述控制處理器,包括控制臺和單片機;其中,所述控制臺包括顯示器,使得檢測結(jié)果可通過控制臺的顯示器展示給用戶,以及用戶可通過控制臺進(jìn)行控制單片機進(jìn)而控制檢測系統(tǒng)。

參見圖3,是本發(fā)明提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)的測試過程的一個實施例的流程示意圖。

以下將以信號發(fā)射設(shè)備為無線路由器、信號接收設(shè)備為移動手持設(shè)備為例,結(jié)合上述實施例提供的系統(tǒng)和圖3,描述上述系統(tǒng)對無線路由器的測試過程:

步驟S1:建立無線路由器與移動手持設(shè)備的網(wǎng)絡(luò)連接;

所述控制處理器設(shè)置所述無線路由器的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述移動手持設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù),以使所述無線路由器與所述移動手持設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接;

所述控制處理器在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設(shè)置后,判斷所述無線路由器與所述移動手持設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接的時長是否大于時長閾值,并在所述時長大于時長閾值時返回重新設(shè)置所述無線路由器的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述移動手持設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)。所述時長閾值為30秒。

步驟S2:無線路由器發(fā)送發(fā)射信號給移動手持設(shè)備;

所述射頻耦合器接收待測的無線路由器發(fā)送的一路發(fā)射信號,使得N個射頻耦合器分別傳送一路發(fā)射信號給所述射頻合路器;

所述射頻合路器對接收所述N個射頻耦合器傳送的所有發(fā)射信號進(jìn)行合并生成合路發(fā)射信號,并輸出所述合路發(fā)射信號給所述衰減裝置;

所述衰減裝置對所述合路發(fā)射信號進(jìn)行衰減,并傳送衰減后的所述合路發(fā)射信號給所述移動手持設(shè)備。

步驟S3:控制處理器控制測試儀器進(jìn)行檢測工作;

所述控制處理器接收用戶發(fā)送的請求檢測所述無線路由器發(fā)送的第i路發(fā)射信號的請求信號;

所述控制處理器根據(jù)所述請求信號控制所述射頻開關(guān)切換鏈路,以使所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送至所述測試儀器;

所述測試儀器從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包,對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并輸出檢測結(jié)果給所述控制處理器。

需要說明的是,步驟S3的檢測工作過程,衰減裝置的衰減值維持在一個恒定的數(shù)值,對耦合信號進(jìn)行檢測,而當(dāng)完成此處檢測并輸出檢測結(jié)果給控制處理器后,調(diào)整衰減裝置的衰減值再次進(jìn)行檢測,即改變傳輸?shù)陌l(fā)射信號的吞吐量來進(jìn)行再次檢測。

因而,作為上述測試過程的進(jìn)一步改,所述測試過程還包括

步驟S4,控制處理器在調(diào)整衰減裝置的衰減值后再次進(jìn)行檢測工作;

所述控制處理器在所述測試儀器輸出檢測結(jié)果后,根據(jù)預(yù)設(shè)的衰減步進(jìn)在所述衰減裝置的當(dāng)前衰減值的基礎(chǔ)上增加所述衰減裝置的衰減值,直至達(dá)到所述衰減裝置的最大衰減值;

所述測試儀器在增加所述衰減裝置的衰減值之后,繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包,對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并輸出檢測結(jié)果給所述控制處理器,直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

在本發(fā)明實施例中,上述測試儀器執(zhí)行“從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包,對所述數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并輸出檢測結(jié)果給所述控制處理器”操作,具體過程為:

從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包,判斷所述數(shù)據(jù)包是否為有效包;

若是,對計數(shù)值加一;

若否,返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包;

判斷所述計數(shù)值是否大于計數(shù)閾值;

若是,對提取的所有有效包進(jìn)行檢測,并輸出檢測結(jié)果以及對所述計數(shù)值清零;

若否,返回繼續(xù)從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取數(shù)據(jù)包。

需要說明的是,上述計數(shù)閾值可由用戶通過控制處理器設(shè)置測試儀器的計數(shù)閾值。

本發(fā)明實施提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng),將衰減裝置與射頻合路器組合,能構(gòu)成速率可控的無線通路,此時待測無線路由器完全處于正常工作狀態(tài),即在模擬用戶實際使用無線路由器的過程,以及系統(tǒng)能通過射頻耦合器分出小部分無線功率,并巧妙通過射頻開關(guān)進(jìn)行射頻通路,在不影響無線路由器正常工作的情況下,能將與發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號送入測試儀器進(jìn)行測試,即可對發(fā)射信號進(jìn)行測試。另外,系統(tǒng)的可調(diào)衰減值的衰減裝置與射頻開關(guān)即可通過控制處理器的程控切換,又能通過串口命令手動切換,兩種方式分別能實現(xiàn)自動化測試以及手動調(diào)試。

參見圖4,是本發(fā)明提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的方法的一個實施例的流程示意圖。

以下將以控制處理器作為執(zhí)行主體,描述控制處理器控制上述實施例提供的系統(tǒng)工作的過程,包括步驟S11至S13,能夠?qū)崿F(xiàn)上述實施例提供系統(tǒng)的測試全部過程,具體如下:

S11,接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設(shè)備發(fā)送給信號接收設(shè)備的第i路發(fā)射信號的請求信號;所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)射的信號包括M路發(fā)射信號;M≥i;

S12,根據(jù)所述請求信號控制射頻開關(guān)切換鏈路,以使射頻耦合器生成的第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號傳送至測試儀器;所述射頻耦合器包括N個,N≥M;所述射頻耦合器用于傳送所述信號發(fā)射設(shè)備發(fā)射的信號到射頻合路器,以使所述射頻合路器將所述M路發(fā)射信號進(jìn)行生成合路發(fā)射信號,并輸出所述合路發(fā)射信號經(jīng)衰減裝置傳送到所述信號接收設(shè)備;

S13,控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果。

進(jìn)一步地,所述方法還包括:

在接收所述檢測結(jié)果后,根據(jù)預(yù)設(shè)的衰減步進(jìn)在所述衰減裝置的當(dāng)前衰減值的基礎(chǔ)上增加所述衰減裝置的衰減值,直至達(dá)到所述衰減裝置的最大衰減值;

并在增加所述衰減裝置的衰減值之后,繼續(xù)控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測,并接收所述測試儀器的檢測結(jié)果直至所述衰減裝置的衰減值為最大衰減值。

進(jìn)一步地,在接收用戶發(fā)送的請求檢測待測的信號發(fā)射設(shè)備的第i路發(fā)射信號的請求信號的同時,還包括:

設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù),以使所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接;

在完成所述通信狀態(tài)和所述網(wǎng)卡參數(shù)的設(shè)置后,判斷所述信號發(fā)射設(shè)備與所述信號接收設(shè)備建立網(wǎng)絡(luò)連接的時長是否大于時長閾值,并在所述時長大于時長閾值時返回重新設(shè)置所述信號發(fā)射設(shè)備的通信狀態(tài)和網(wǎng)卡參數(shù)以及所述信號接收設(shè)備的網(wǎng)卡參數(shù)。

進(jìn)一步地,在控制所述測試儀器對從所述第i路發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號中提取的數(shù)據(jù)包進(jìn)行檢測的同時,還包括:

接收用戶設(shè)置的計數(shù)閾值;

設(shè)置所述測試儀器的計數(shù)閾值為所述用戶設(shè)置的計數(shù)閾值;其中,所述計數(shù)閾值用于判斷所述測試儀器從第i路發(fā)射信號提取數(shù)據(jù)包為有效包時的計數(shù)值是否大于所述計數(shù)閾值。

本發(fā)明實施例提供的檢測信號發(fā)射設(shè)備的發(fā)射性能的系統(tǒng)和方法,將衰減裝置與射頻合路器組合,能構(gòu)成速率可控的無線通路,此時待測信號發(fā)射設(shè)備完全處于正常工作狀態(tài),即在模擬用戶實際使用信號發(fā)射設(shè)備的過程,以及系統(tǒng)能通過射頻耦合器分出小部分無線功率,并巧妙通過射頻開關(guān)進(jìn)行射頻通路,在不影響信號發(fā)射設(shè)備正常工作的情況下,能將與發(fā)射信號對應(yīng)的耦合信號送入測試儀器進(jìn)行測試,即可對發(fā)射信號進(jìn)行測試。另外,系統(tǒng)的可調(diào)衰減值的衰減裝置與射頻開關(guān)即可通過控制處理器的程控切換,又能通過串口命令手動切換,兩種方式分別能實現(xiàn)自動化測試以及手動調(diào)試。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分流程,是可以通過計算機程序來指令相關(guān)的硬件來完成,所述的程序可存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中,該程序在執(zhí)行時,可包括如上述各方法的實施例的流程。其中,所述的存儲介質(zhì)可為磁碟、光盤、只讀存儲記憶體(Read-Only Memory,ROM)或隨機存儲記憶體(Random Access Memory,RAM)等。

以上所述是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和潤飾,這些改進(jìn)和潤飾也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。

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