技術總結
本發(fā)明公開了一種針對密碼芯片電磁脈沖故障分析的防御裝置,包括依次相連的環(huán)形振蕩器、調制器以及數(shù)字相位檢測器。本發(fā)明涉及的電路結構完全由數(shù)字電路構成,可以很方便的在現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)和專用集成電路(ASIC)中實現(xiàn),不需要特別的工藝條件。本發(fā)明電路結構簡單,延遲低,可以及時檢測電磁脈沖故障分析時產生的干擾脈沖,快速給出警告信號。本發(fā)明在故障干擾結束后,可以自主恢復正常,不需要外部復位。本發(fā)明輸出的報警信號是數(shù)字信號,因此在同一個密碼芯片中,本發(fā)明可以多次組合使用,輸出信號通過簡單的數(shù)字組合電路就能處理,成本較低。本發(fā)明的附加效果是能改變密碼芯片的功耗特征,一定程度上防御功耗故障分析攻擊。
技術研發(fā)人員:張帆;許聰源;趙新杰
受保護的技術使用者:浙江大學
文檔號碼:201611049807
技術研發(fā)日:2016.11.22
技術公布日:2017.05.10