具有測試托盤的測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種測試系統(tǒng)，其中待測裝置被加載到測試托盤中并且在多個測試工位處進行測試。要在給定測試工位處對待測裝置進行測試，可將測試托盤安裝到測試工位處的測試固定裝置中。每個測試工位處的測試設備可經由測試固定裝置和測試托盤與待測裝置通信。每個測試托盤可具有可用于將所述待測裝置固定至測試托盤的彈簧加載拐角部分。測試托盤可具有與每個測試固定裝置處的對應觸點配合的觸點，并且可具有連接至待測裝置的內置纜線。測試固定裝置可具有可檢測在測試固定裝置上是否存在測試托盤的檢測器。
【專利說明】具有測試托盤的測試系統(tǒng)
[0001]本申請要求2012年5月15日提交的美國專利申請N0.13/472, 399以及2012年2月6日提交的美國臨時專利申請N0.61/595，572的優(yōu)先權，這些專利申請據(jù)此以引用的方式全文并入本文。

【背景技術】
[0002]本發(fā)明整體涉及測試系統(tǒng)，且更具體地講，涉及將測試托盤用作測試設備與待測裝置之間的界面的測試系統(tǒng)。
[0003]通常在組裝之后對電子裝置進行測試以確保裝置性能符合設計規(guī)格。例如，可在一系列測試工位處對裝置進行測試以確保裝置中的部件及軟件正令人滿意地工作。在每個測試工位處，操作人員可使用纜線將裝置耦合至測試設備。在所有測試工位處的測試均成功之后，可將裝置運送至最終用戶。
[0004]附接及拆卸測試纜線連接器的過程可縮減測試纜線連接器的壽命，并且對于測試系統(tǒng)操作人員而言，可能是麻煩且繁重的。如果不小心，則測試可能不太準確并消耗比所需時間更多的時間。另外，測試系統(tǒng)操作人員與待測裝置之間的過度接觸可能增大待測裝置外觀損壞的風險。
[0005]因此將期望能夠提供執(zhí)行制造操作(諸如對電子裝置進行測試操作)的改進方式。


【發(fā)明內容】

[0006]可提供一種測試系統(tǒng)，其中待測裝置被安裝在測試托盤中并且在多個測試工位處進行測試。要在給定測試工位處對待測裝置進行測試，可將測試托盤安裝在測試工位處的測試固定裝置中。每個測試工位處的測試設備可經由測試托盤與待測裝置通信。
[0007]每個測試托盤可具有相對于托盤的中心部分移動的活動拐角部分?？墒褂靡粋€或多個彈簧加載構件來將活動拐角部分朝著托盤的中心部分偏置。當需要將待測裝置安裝在測試托盤中時，可使測試托盤上的桿件致動以將拐角部分移動遠離托盤的中心部分。在將待測裝置放置到測試托盤的中心部分上之后，可釋放桿件以允許拐角部分返回至其平衡位置，從而將待測裝置固定至測試托盤。
[0008]測試托盤可具有測試托盤觸點，所述測試托盤觸點可用于將測試托盤中的待測裝置電耦合至測試工位處的測試固定裝置。測試固定裝置可具有與測試托盤上的觸點配合的對應的測試固定裝置觸點。
[0009]測試托盤可具有一條或多條纜線。纜線可嵌入在測試托盤中的凹槽中。測試托盤纜線可具有被配置為與待測裝置中的輸入輸出端口配合的第一端以及電耦合至測試托盤觸點的第二端。當測試托盤安裝在測試固定裝置中時，纜線可用于在測試固定裝置與待測裝置之間傳送信號。
[0010]測試托盤可具有用于相對于測試托盤的旋轉軸線平衡測試托盤的重量的重量平衡特征，諸如孔。當待測裝置被安裝在托盤中時，重量平衡特征可用于將托盤的質量中心與待測裝置的質量中心對齊。
[0011]測試固定裝置可具有當測試托盤安裝于測試固定裝置中時與對應接合特征接合的接合特征，諸如一個或多個彈簧加載構件。
[0012]測試固定裝置可具有被配置為檢測在測試固定裝置上是否存在測試托盤的一個或多個檢測器。
[0013]測試固定裝置可具有可用于對待測裝置中的一個或多個電氣部件進行測試的測試設備。測試托盤可具有一個或多個開口以允許測試設備與正接受測試的電氣部件通信。
[0014]在將待測裝置安裝進測試托盤中之后，可將測試托盤纜線連接至待測裝置。然后可通過將測試托盤觸點與測試固定裝置觸點配合來將測試托盤安裝在測試工位處的測試固定裝置中。在將測試托盤安裝在測試固定裝置中之后，可在測試固定裝置處對待測裝置進行測試?？稍诹硗獾臏y試工位處對待測裝置進行測試，而不需要將待測裝置從測試托盤中移除或將測試托盤纜線從待測裝置拆卸的步驟。可通過將測試托盤安裝進與每個另外的測試工位相關聯(lián)的測試固定裝置中，來在另外的測試工位處對待測裝置進行測試。
[0015]根據(jù)附圖以及以下對優(yōu)選實施例的詳細描述，本發(fā)明的其他特征、本發(fā)明的本質以及各種優(yōu)點將更加顯而易見。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1為根據(jù)本發(fā)明實施例的可使用測試托盤來制造的示例性電子裝置的示意圖，該示例性電子裝置諸如平板電腦。
[0017]圖2為根據(jù)本發(fā)明實施例的示例性電子裝置的透視圖，該示例性電子裝置諸如可使用測試托盤來制造的類型的手持裝置。
[0018]圖3為根據(jù)本發(fā)明實施例的制造設備的圖示，該制造設備為可用于制造電子裝置的類型。
[0019]圖4為根據(jù)本發(fā)明實施例的示出可如何將待測裝置安裝在被配置為接收在測試工位測試固定裝置內的測試托盤中的圖示。
[0020]圖5為根據(jù)本發(fā)明實施例的測試托盤的前透視圖。
[0021]圖6為根據(jù)本發(fā)明實施例的測試托盤的后透視圖。
[0022]圖7為根據(jù)本發(fā)明實施例的被配置為接收測試托盤的示例性測試工位測試固定裝置的頂部透視圖。
[0023]圖8為根據(jù)本發(fā)明實施例的示例性測試工位測試固定裝置的橫截面?zhèn)纫晥D。
[0024]圖9為根據(jù)本發(fā)明實施例的待測裝置已安裝于其中的測試托盤的透視圖。
[0025]圖10為根據(jù)本發(fā)明實施例的位于測試托盤中的待測裝置的橫截面?zhèn)纫晥D，該測試托盤已安裝在配對測試工位測試固定裝置中。
[0026]圖11為根據(jù)本發(fā)明實施例的位于測試托盤中的呈倒置配置的待測裝置的橫截面?zhèn)纫晥D。
[0027]圖12為根據(jù)本發(fā)明實施例的位于測試托盤中的呈正面朝上配置的待測裝置的橫截面?zhèn)纫晥D。
[0028]圖13為根據(jù)本發(fā)明實施例的位于測試托盤中的待測裝置的橫截面?zhèn)纫晥D，該測試托盤具有用于適應測試的開口。
[0029]圖14為根據(jù)本發(fā)明實施例的待測裝置以及具有存在檢測機構的相關測試工位測試固定裝置的分解透視圖。
[0030]圖15為根據(jù)本發(fā)明實施例的具有配對接合特征的測試工位測試固定裝置和測試托盤的橫截面?zhèn)纫晥D。
[0031]圖16為根據(jù)本發(fā)明實施例的示例性自動化測試托盤加載機的透視圖，該示例性自動化測試托盤加載機可用于輔助操作人員將待測裝置加載進測試托盤中。

【具體實施方式】
[0032]可使用自動化制造設備來制造電子裝置，諸如圖1的電子裝置10。自動化制造設備可包括用于將裝置部件組裝在一起以形成電子裝置的設備。自動化制造設備還可包括用于評估裝置是否已正確組裝并且正在正確地發(fā)揮作用的測試系統(tǒng)。
[0033]還可以使用自動化制造系統(tǒng)及相關測試裝置來組裝和測試諸如圖1的裝置10的裝置。該制造系統(tǒng)可包括一個或多個工位，諸如用于執(zhí)行測試操作的一個或多個測試工位。
[0034]正在測試系統(tǒng)中接受測試的裝置有時可稱為待測裝置?？墒褂幂斔蛶А⑹褂脵C器人臂和/或使用其他加載設備來將待測裝置提供至測試工位。如有需要，可由測試系統(tǒng)操作人員在測試工位之間傳送待測裝置。
[0035]每個測試工位處的測試設備可用于對裝置執(zhí)行相關測試。例如，一個測試工位可具有用于對裝置中的顯示器進行測試的設備。另一個測試工位可具有用于對裝置中的音頻部件進行測試的設備。又一個測試工位可具有用于對裝置中的光傳感器進行測試的設備。又一個測試工位可具有用于對裝置中的無線通信電路進行測試的設備。測試系統(tǒng)中的自動化設備可用于加載及卸載待測裝置、用于在測試工位之間傳送待測裝置，以及用于執(zhí)行測試并維護測試結果的數(shù)據(jù)庫。
[0036]可使用測試設備對任何合適的裝置進行測試。例如，可對圖1的裝置10進行測試。裝置10可為具有集成計算機的計算機監(jiān)視器、臺式計算機、電視機、筆記本計算機、其他便攜式電子設備(諸如蜂窩電話、平板電腦、媒體播放器、手表式裝置、掛件裝置、耳機裝置、其他緊湊型便攜式裝置)或其他電子設備。在圖1所示的配置中，裝置10為手持式電子裝置，諸如蜂窩電話、媒體播放器、導航系統(tǒng)裝置或游戲裝置。
[0037]如圖1中所示，裝置10可包括外殼，諸如外殼12。外殼12 (有時可稱為殼體)可由塑料、玻璃、陶瓷、纖維復合材料、金屬(如，不銹鋼、鋁等)、其他合適的材料或這些材料的組合形成。在一些情況下，外殼12的部分可由電介質或其他低導電率材料形成。在其他情況下，外殼12或構成外殼12的結構中的至少一些可由金屬元件形成。
[0038]如果需要，裝置10可具有顯示器，例如顯示器14。顯示器14可為組裝了電容式觸摸電極或可能對觸摸不敏感的觸摸屏。顯示器14可包括通過發(fā)光二極管(LED)、有機LED(OLED)、等離子單元、電泳顯示元件、電濕潤顯示元件、液晶顯示器(IXD)部件或其他合適的圖像像素結構形成的圖像像素。顯示器14的表面可覆蓋蓋玻層。如有需要，可將用于諸如按鈕20的按鈕的開口、用于諸如揚聲器端口 22的揚聲器端口的開口以及其他開口形成在顯示器14的封蓋層中。
[0039]顯示器14的中心部分(如，活動區(qū)域16)可包括活動圖像像素結構。周圍的矩形環(huán)狀不活動區(qū)域(區(qū)域18)可能缺乏活動圖像像素結構。如有需要，可以使不活動區(qū)域18的寬度最小化(如，以產生無邊界顯示器)。
[0040]裝置10可包括諸如正面相機24的部件。相機24可取向為在裝置10的操作期間獲取用戶的圖像。裝置10在不活動區(qū)域18的部分26中可包括傳感器。這些傳感器可包括，例如，基于紅外線的接近傳感器，其包括紅外線發(fā)射器和對應的光檢測器以發(fā)射和檢測來自附近物體的反射光。部分26中的傳感器還可包括用于檢測在裝置10的周圍環(huán)境中的光量的環(huán)境光傳感器。如有需要，可在裝置10中使用其他類型的傳感器。圖1的例子僅是示例性的。
[0041]裝置10可包括輸入輸出端口，諸如端口 28。諸如端口 28的端口可包括音頻輸入輸出端口、模擬輸入輸出端口、數(shù)字數(shù)據(jù)輸入輸出端口或其他端口。每個端口可具有相關的連接器。例如，音頻端口可具有相關的四觸點音頻連接器，數(shù)字數(shù)據(jù)端口可具有帶兩個或更多個引腳(觸點)的連接器、帶四個或更多個引腳的連接器、帶三十個引腳的連接器或其他合適的數(shù)據(jù)端口連接器。
[0042]傳感器(諸如與圖1的區(qū)域26相關聯(lián)的傳感器)、相機(諸如相機24)、音頻端口(諸如揚聲器端口 22)、按鈕(諸如按鈕20)以及端口(諸如端口 28)可位于設備外殼12的任何合適部分(如，前外殼面諸如顯示器蓋玻部分，后外殼面諸如后平坦外殼壁，側壁結構，等等)上。
[0043]圖2為呈示例性配置的裝置10的透視圖，其中裝置10為平板電腦。如圖2中所不，裝置10可包括外殼,諸如外殼12。外殼12可由金屬、塑料、基于纖維的復合材料、玻璃、陶瓷、其他材料或者這些材料的組合形成。裝置10可具有覆蓋有顯示器14的上(前)表面。顯示器14的活動部分16可具有(例如)矩形形狀。顯示器14的不活動部分18可具有用于容納按鈕20的開口、相機24的窗口區(qū)域以及諸如部分26的與一個或多個光學傳感器(諸如基于紅外線的接近傳感器和/或環(huán)境光傳感器)相關聯(lián)的部分。
[0044]圖3為示例性系統(tǒng)的圖示，該示例性系統(tǒng)為可用于諸如裝置測試的制造操作的類型。如圖3中所示，系統(tǒng)30可包括一個或多個工位，諸如測試工位36。通常，測試系統(tǒng)30可包括自動化設備，該自動化設備用于加載及卸載待測裝置、用于在測試工位之間傳送待測裝置，以及用于執(zhí)行測試并維護測試結果的數(shù)據(jù)庫。
[0045]每個測試工位36可例如包括用于對待測裝置10執(zhí)行一個或多個測試的測試設備45，并因此可有時稱為裝置測試儀或DUT測試儀。例如，第一類測試工位36可具有用于對待測裝置10中的顯示器進行測試的設備。第二類測試工位36可具有用于對待測裝置10中的音頻部件進行測試的設備。另一類測試工位36可具有用于對待測裝置10中的光傳感器進行測試的設備。另一類測試工位36可具有用于對待測裝置10中的無線通信電路進行測試的設備。如有需要，測試系統(tǒng)30可包括沿著輸送帶38布置的不止一個相同類型的測試工位，使得可并行地測試多個待測裝置10。
[0046]如有需要，待測裝置10可安裝在測試托盤諸如托盤32中。托盤32可被配置為接收一個或多個待測裝置。例如，托盤32可具有多個狹槽，每個狹槽被配置為接收對應的待測裝置。如有需要，托盤32可被配置為接收僅單個待測裝置。
[0047]可手動地或使用自動化設備將裝置10安裝在測試托盤32中。為了方便手動安裝，測試托盤32可包括方便人工操縱的特征。例如，測試托盤32可包括有助于操作人員打開和關閉鉗夾或測試托盤32中的其他裝置保持特征的特征。
[0048]如有需要，可使用諸如輸送帶38的輸送帶(如，在方向40上移動的皮帶)來在測試工位36之間傳送已安裝在測試托盤32中的待測裝置10。每個測試工位36可具有諸如加載機47的加載機構(如，具有一個或多個由計算機控制的定位臂的機器人加載機)和/或可具有相關的測試系統(tǒng)操作人員。測試系統(tǒng)操作人員和/或加載機47可將測試托盤32在輸送帶38與測試工位36之間傳輸。例如，測試系統(tǒng)操作人員和/或加載機47可從輸送機38上拾取測試托盤32 (如，加載有裝置10的測試托盤)(箭頭50)，可將測試托盤提供至該測試工位處的測試儀45以執(zhí)行對裝置10的所需測試，并且可在測試之后將測試托盤返回至輸送機38(箭頭52)。如有需要，還可將測試托盤32從一個測試工位直接傳輸至另一個測試工位。
[0049]測試托盤32可允許測試系統(tǒng)操作人員在不必與待測裝置10進行物理接觸的情況下處理待測裝置10。測試托盤32既可用作待測裝置10與測試系統(tǒng)操作人員之間的界面，又可用作待測裝置10與測試工位之間的界面。測試托盤32可例如比待測裝置10更穩(wěn)固，可具有被配置為與測試工位36處的測試工位測試固定裝置配合的接合特征，可具有便于跟蹤的識別編號，并且可具有促進由測試工位36對待測裝置10進行測試的其他特征。
[0050]測試工位36可將測試結果提供至計算設備諸如測試主機42 (如，一個或多個已聯(lián)網(wǎng)計算機)以供處理。測試主機42可維護測試結果的數(shù)據(jù)庫，可用于向測試工位36發(fā)送測試命令，可在托盤和待測裝置通過系統(tǒng)30時跟蹤各個托盤和待測裝置，并且可執(zhí)行其他控制操作。
[0051]圖4為示出可如何將待測裝置10接收在測試托盤32內并示出可如何將測試托盤32接收在測試固定裝置34的導向結構50內的圖示。如圖4中所示，測試托盤32 (有時稱為待測裝置接收結構、待測裝置固定器或裝置到測試固定裝置界面結構)可具有待測裝置10安置在其上的基座，諸如基座48。側壁46可被配置為圍繞待測裝置10的一些或所有側面，并且可包含裝置定位特征，諸如正切表面和凹口。側壁結構46的一部分(諸如側壁結構46的拐角部分44)可相對于托盤32的中心部分(如，在待測裝置10安裝于托盤32中時，相對于待測裝置10)移動。在將待測裝置10安裝進由側壁46和基座48形成的凹陷部期間，可將部分44移動遠離側壁46以允許待測裝置10被插入到凹陷部中。在將待測裝置插入到托盤32的凹陷部分中之后，部分44可朝著待測裝置10向后移動以將待測裝置10保持在托盤32內。
[0052]測試固定裝置34可具有支撐結構(諸如基座52)，導向結構50附接至該支撐結構。導向結構50可被配置為接收測試托盤32的側壁46的外部部分。導向結構50和/或托盤32上的接合特征可有助于在測試期間將托盤32保持在測試固定裝置34內的適當位置。
[0053]圖5為測試托盤32的前透視圖。如圖5的示例性配置所示，測試托盤32可具有彈簧加載拐角部分44。為了將待測裝置10加載到測試托盤32中，可將拐角部分44和相關的桿58沿方向59移動。可使用彈簧或使用其他類型的彈簧加載構件來使拐角部分44向內(如，朝著測試托盤32的中心部分)偏置。在已將待測裝置10加載到測試托盤32中之后，可釋放拐角部分44。與拐角部分44相關聯(lián)的彈簧可使拐角部分44沿方向56向內偏置，以將待測裝置10保持在測試托盤32內。
[0054]測試托盤32可具有接合特征，諸如側壁46中的凹陷部60。凹陷部60(有時稱為開口、狹槽或凹槽)可被配置為與測試固定裝置34的導向結構50上的對應的接合特征(諸如圖4的特征51)配合。
[0055]圖6為測試托盤32的后透視圖。如圖6中所示，基座48可具有諸如開口 64的開口，操作人員可穿過該開口操作諸如致動構件，致動構件66。在圖6的例子中,致動構件66已以桿件的形式實現(xiàn)。當操作人員需要將待測裝置10加載到托盤32的前部中(或從托盤32的前部卸載待測裝置10)時，操作人員的手指可放置在指孔68中且操作人員的拇指可放置在桿件66上，以沿方向70拉動桿件66。桿件可圍繞樞轉點72樞轉(向內)，從而沿方向59向外擠壓彈簧加載桿58及側壁46的拐角部分44。如有需要，可使用其他類型的致動構件來控制拐角部分44 (如，可使用一個或多個按鈕、開關和/或其他類型的致動器來控制拐角部分44)。
[0056]如有需要，可使用自動化加載機來輔助操作人員打開和閉合拐角部分44。自動化加載機可包含拉動桿件66的由計算機控制的致動器。
[0057]托盤32可具有孔，諸如孔74，以便在測試期間促進對待測裝置10的測試測量。例如，諸如孔74的開口可用于允許來自測試光源的光到達待測裝置10的區(qū)域26中的環(huán)境光傳感器(圖2)(如，當待測裝置10已面朝下地加載到測試托盤32中時)。諸如孔74的開口還可用于允許裝置10中的磁性傳感器接受測試(如，通過允許將磁體放置為鄰近裝置10中的磁性傳感器)。
[0058]托盤32可具有諸如孔76的重量平衡特征，以有助于確保托盤32相對于旋轉軸線78以旋轉的方式保持重量平衡。托盤32內的質量(重量)旋轉平衡可促進使用系統(tǒng)30中的定位設備(諸如測試工位36中的加載機47和/或加載臂)對測試托盤32進行定位，并且可允許裝置10旋轉以供測試(如，用于測試諸如加速度計的運動傳感器)。可對平衡孔76進行配置，使得托盤32的質量中心與待測裝置10的質量中心對齊。
[0059]可能期望在系統(tǒng)30中使用測試托盤期間將其堆疊?？蓪⒍询B特征(諸如堆疊特征80)形成在側壁46的部分上，使得諸如托盤32的多個托盤可堆疊在彼此之上。在堆疊時，諸如側壁堆疊特征80的堆疊特征可安置在側壁46的配對部分(諸如圖5中的堆疊特征部分82)上。
[0060]測試托盤32可具有電觸點諸如觸點62 (有時稱為引腳、接觸墊、或墊)。當待測裝置10加載到托盤32中時，可使用纜線將待測裝置10中的一個或多個連接器端口連接至觸點62。如有需要，狹槽85可用作臨時性連接器固定器，用于接收纜線的一端處的連接器。托盤32可包括凹槽諸如凹槽84，用于在基座48內對纜線進行路由。
[0061]纜線的一端可被配置為使用連接器來與諸如圖2的端口 28的裝置端口配合。纜線的相對端可端接在觸點62處。觸點62可為例如由鍍有金的鎳形成的接觸墊。觸點62可被配置為與測試固定裝置34中的對應的彈簧加載引腳或其他觸點配合并形成電連接。
[0062]使用測試托盤32和測試固定裝置34可允許待測裝置10被準確地放置在測試工位36內(如，作為例子，以+/-0.1mm或更佳的準確度)。測試托盤32可保護待測裝置10在測試期間免受刮傷和其他損壞。用于將待測裝置附接到觸點62的布線可構建到測試托盤32中?？墒褂弥T如活動拐角44的夾持結構來促進加載和卸載。
[0063]可將待測裝置10以面朝上配置或者面朝下配置接收在測試托盤32中，在面朝上配置中，顯示器14面朝外遠離托盤32，在面朝下配置中，顯示器14面朝下至測試托盤32的基座48之上。如聯(lián)系圖6的堆疊對齊特征80所述，如有需要，可將測試托盤32堆疊?？稍诓淮嬖诖郎y裝置10時(即，在托盤32為空時)將托盤32堆疊，或者可在加載待測裝置10之后將托盤32堆疊。測試工位36可包含可檢測托盤32的存在或不存在的檢測器。
[0064]每個托盤32可包含位置特征，諸如孔86 (圖6)。如圖7中所示，每個測試工位36(即，每個測試固定裝置34)可包含與特征86配合的配對特征諸如突起(引腳)88，并從而可將托盤32相對于測試工位準確地放置在所需的位置。將孔和配對突起用作將托盤32相對于測試固定裝置32對齊的特征僅是示例性的。如有需要，可使用任何合適形狀的對齊特征。
[0065]每個測試固定裝置34可具有相應組的配對觸點(如，彈簧加載引腳)諸如配對觸點98。測試固定裝置34上的配對觸點98可被配置為與測試托盤32上的觸點62配合。由于使用與測試托盤32相關聯(lián)的布線來將待測裝置10連接至測試托盤32中的觸點62，所以不必反復地在每個測試工位處將待測裝置10與布線連接和斷開連接。相反地，可通過將測試托盤32中的觸點62耦合至每個測試固定裝置34中的對應觸點98(如，彈簧加載引腳)來形成在每個測試工位處待測裝置與測試設備之間的連接。通過使纜線需要與每個待測裝置連接和斷開連接的次數(shù)最少化，可以延長測試儀纜線和連接器的壽命。
[0066]圖7示出了測試固定裝置導向結構50可如何具有諸如彈簧加載夾片51的部分。在將托盤32插入到測試固定裝置34中期間，托盤32的側壁46可將夾片51向內按壓。一旦托盤32已被定位為使得夾片51與托盤32中的開口 60對齊(圖5和圖6)，夾片51便可彈入開口 60中，以將托盤32固定到固定裝置34。夾片51可具有有助于將測試托盤32靠近測試固定裝置34的基座52保持的成角度表面。在測試期間，夾片51可用于將測試托盤32抵靠固定裝置34內的基座52保持。
[0067]結構90可形成開孔延伸部，用于對在待測裝置10的區(qū)域26中的環(huán)境光傳感器進行測試。結構92可用于將托盤32從測試固定裝置34頂出。
[0068]圖8示出了觸點98的側視圖。如有需要，觸點98相對于測試固定裝置34的表面99的高度在維度Z上交錯以確保信號連接以可預測的次序發(fā)生(如，使得所需觸點諸如接地觸點在其他信號路徑之前進行接觸)。
[0069]圖9為測試托盤32和待測裝置10的透視圖。如圖9中所示，可使用測試托盤32的拐角部分44將待測裝置10保持在測試托盤32內。纜線96可具有帶有連接至相應觸點62的引線的一端，并且可具有帶有連接器諸如連接器94的相對端。在將待測裝置10安裝在托盤32中之前，可將連接器94保存在狹槽85中。當需要在待測裝置10與觸點62之間形成電連接時，操作人員(或自動化設備)可將連接器94從狹槽85移除，并可將連接器94插入到待測裝置10中與輸入輸出端口 28相關聯(lián)的連接器中。通過以該方式將連接器94塞進待測裝置10的端口 28中，觸點62中的每一個可連接至端口 28中的相應觸點。如有需要，可將纜線96嵌入托盤32中(如，可嵌入托盤32的凹槽諸如圖5的凹槽84中)。
[0070]可容納在纜線96中的信號線的例子包括正電源線、接地電源線、通用串行總線(USB)信號線對中的D+和D-數(shù)據(jù)線、控制線、通用異步接收器/發(fā)送器(UART)線，以及其他路徑。
[0071]圖10為系統(tǒng)30中的測試工位的側視圖。在圖10的配置中，待測裝置10已安裝在測試托盤32中。測試托盤32已安裝在測試工位36處的測試固定裝置34中。纜線96 (圖9)可用于將待測裝置10電連接至測試托盤32中的觸點62。每個觸點62可被測試固定裝置34中的對應觸點接觸，如通過觸點(引腳)98所例示。由信號線100形成的信號路徑可用于將測試固定裝置34中的觸點98耦合至測試工位計算設備102。計算設備102可使用一個或多個計算機或其他測試設備來實施。由信號線100和纜線96形成的信號路徑可為例如通用串行總線(USB)路徑(如，1.0、2.0、3.0等)，可為I2C路徑，可為串行外圍接口(SPI)路徑，可為控制器區(qū)域網(wǎng)絡(CAN)總線，或者可為任何其他合適的通信路徑。
[0072]圖11為處于一種配置的測試托盤32的橫截面?zhèn)纫晥D，在該配置中，側壁46已具有成角度內表面，諸如成角度表面46A和成角度表面46B。如圖11中所示，表面46A和46B可相對于垂直維度Z以非零角度取向。當待測裝置與圖11的待測裝置10—樣以倒置(反轉)取向放置時，待測裝置10的彎曲邊緣部分1T可抵靠測試托盤32的表面106被成角度表面46B沿方向104向下擠壓。當將待測裝置以如圖12中所示的正面朝上(非反轉)配置安裝在測試托盤32中時，成角度表面46A可有助于將待測裝置10沿方向104向下擠壓以將待測裝置保持在測試托盤32內。
[0073]圖13為安裝在測試托盤32中的待測裝置10的橫截面?zhèn)纫晥D。如圖13中所示，待測裝置10可包含電氣部件諸如部件108。部件108可為例如環(huán)境光傳感器、基于光的接近傳感器、電容傳感器、發(fā)光二極管(如，用于狀態(tài)指示器)、顯示部件、磁性傳感器或其他電氣部件?？墒褂脺y試固定裝置34中的測試設備110來對部件108進行測試。部件108和測試設備110可通過測試托盤32中的開口 74進行通信。
[0074]如果(例如)部件108為光傳感器，則測試設備110可為發(fā)射已校準的光信號的光源。來自測試設備110的光信號可穿過開口 74并且可被傳感器108接收?？墒褂美|線諸如纜線96和觸點62將所得的光傳感器信號從待測裝置10傳送至與測試工位36相關聯(lián)的計算設備102(圖9和圖10)。
[0075]如有需要，測試設備110可包括用于測試部件108的磁體(如，當部件108為磁性傳感器時)，可包括用于測試部件108的音頻源(如，當部件108為諸如麥克風的音頻部件時)，可包含用于測試部件108的麥克風(如，當部件108為揚聲器或其他音頻源時)，可包含用于測試部件108的光傳感器(如，當部件108為光源時)，可包含按鈕按壓裝置(如，當部件108為按鈕時)，或者可基于其他測試裝置。
[0076]測試托盤32可包含一個開口(諸如開口 74)，或者可包含兩個或更多個開口(諸如開口 74)。如有需要，開口(諸如開口 74)可填充透明塑料或其他窗口材料(如，用于支持光學測試)。在測試托盤32具有多個開口的配置中，測試工位36可具有用于對待測裝置10中的多個對應部件進行測試的多個對應裝置110。
[0077]測試工位36可使用短路檢測機構或其他傳感器來檢測測試托盤32何時已安裝在測試固定裝置34內。如圖14中所示，例如，每個測試托盤32可具有諸如金屬條帶116的導體條帶。墊118和120可形成在金屬條帶116的相對端處。金屬墊118和120可被配置為與測試固定裝置34中的對應觸點諸如引腳112和114配合。計算設備102可測量引腳112和114之間的電阻。當電阻較高時，計算設備102可推斷在引腳112和114之間存在開路并且可推斷固定裝置34內不存在托盤32。然而，當電阻較低時，計算設備102可推斷在引腳112和114之間存在短路并且可推斷托盤32已正確地坐置在測試固定裝置34內。
[0078]圖15為測試托盤32和測試固定裝置34的橫截面?zhèn)纫晥D，示出了測試固定裝置34的導向結構50上的特征51可如何用于將測試托盤32既牢固地固定又準確地定位在測試固定裝置34上。如圖15中所示，接合特征51可被配置為圍繞輪軸或其他類型的鉸鏈(諸如輪軸125)旋轉。輪軸125可形成在特征51的下部中并且可允許特征51的上部沿方向127和129移動。一個或多個彈簧加載構件(諸如彈簧124)可用于將特征51沿方向122偏置。
[0079]當將測試托盤32沿方向126插入到測試固定裝置34中時，測試托盤32的側壁的表面128可擠壓抵靠彈簧加載引腳51 (如，接合特征51)的表面130，從而使引腳51的上部沿方向129回縮到結構50中。一旦已將開口 60與引腳51對齊，彈簧124便可沿方向127迫使引腳51的上部進入開口 60中。由于特征51圍繞輪軸125旋轉，所以由彈簧124提供的彈簧力中的一些將沿方向126被向下引導，從而使特征51的表面131沿方向126對測試托盤32的表面144向下擠壓。這可以確保測試托盤32既牢固地固定至測試固定裝置34，且測試托盤32還定位在相對于測試固定裝置34的已知位置(如，特征51可用于將測試托盤32定位成盡可能靠近測試固定裝置34)。
[0080]可能需要為測試系統(tǒng)操作人員提供沿方向59移動托盤32的拐角部分44的輔助。圖16為可用于移動托盤32的拐角部分44的示例性加載機的透視圖。如圖16中所示，力口載機132可具有導板，諸如板142。操作人員可將測試托盤32面朝上地放置在板142上，使得板142接收在測試托盤32的壁內并且使得構件138抵靠測試托盤32中的桿件66 (圖6)。操作人員(或由計算機控制的致動器)然后可將構件134沿方向136移動。構件134沿方向136的移動可導致構件138沿方向140移動，從而將測試托盤32的桿件66沿方向70移動并將拐角44沿方向59移動以接收待測裝置。
[0081]根據(jù)一個實施例，提供了一種用于在測試期間容納待測裝置的測試裝置，該測試裝置包括被配置為接收待測裝置的待測裝置接收結構、待測裝置接收結構的被配置為將待測裝置保持在待測裝置接收結構內的至少一個活動部分，以及被配置為移動該活動部分以將待測裝置從待測裝置接收結構釋放的致動構件。
[0082]根據(jù)另一個實施例，所述至少一個活動部分包括活動拐角部分，并且該活動拐角部分朝著該待測裝置接收結構的中心部分偏置。
[0083]根據(jù)另一個實施例，活動拐角部分包括至少一個彈簧加載構件。
[0084]根據(jù)另一個實施例，待測裝置接收結構包括基座部分和至少一個側壁，所述基座部分和至少一個側壁限定凹陷部分，并且活動部分被配置為將該待測裝置保持在凹陷部分內。
[0085]根據(jù)另一個實施例，測試裝置還包括被配置為在測試期間將待測裝置電耦合至測試工位的多個觸點。
[0086]根據(jù)另一個實施例，測試裝置還包括具有第一端和第二端的纜線，第一端電耦合至所述多個觸點，并且第二端被配置為與待測裝置中的輸入輸出端口配合。
[0087]根據(jù)另一個實施例，待測裝置接收結構包括至少一個凹槽并且纜線嵌入在所述至少一個凹槽中。
[0088]根據(jù)另一個實施例，纜線包括信號線，該信號線選自正電源線、接地電源線、數(shù)據(jù)線、通用串行總線信號線、通用異步接收器/發(fā)送器線和控制線。
[0089]根據(jù)另一個實施例，待測裝置接收結構可圍繞旋轉軸線旋轉，并且待測裝置接收結構包括至少一個重量平衡特征，該至少一個重量平衡特征被配置為當待測裝置被接收在該待測裝置接收結構內時將該待測裝置接收結構的重量相對于該旋轉軸線進行平衡。
[0090]根據(jù)另一個實施例，至少一個重量平衡特征包括位于待測裝置接收結構中的多個孔。
[0091]根據(jù)一個實施例，提供了一種用于對待測裝置進行測試的測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包括:測試托盤，其被配置為接收待測裝置，該測試托盤包括被配置為當待測裝置被測試托盤接收時電耦合至待測裝置的多個測試托盤觸點；以及測試固定裝置，其被配置為接收測試托盤，該測試固定裝置包括被配置為當測試托盤被測試固定裝置接收時與多個測試托盤觸點配合的多個測試固定裝置觸點。
[0092]根據(jù)另一個實施例，測試托盤包括具有第一端和第二端的纜線，該第一端電耦合至所述多個測試托盤觸點，該第二端被配置為與待測裝置中的連接器配合，并且該纜線被配置為在待測裝置與所述多個測試托盤觸點之間傳送信號。
[0093]根據(jù)另一個實施例，所述多個測試托盤觸點包括多個接觸墊，并且所述多個測試固定裝置觸點包括多個導電引腳。
[0094]根據(jù)另一個實施例，所述多個導電引腳包括多個彈簧加載引腳，所述多個彈簧加載引腳中的每個彈簧加載引腳具有相對于測試固定裝置的表面的相關高度，并且所述多個彈簧加載引腳中的至少兩個彈簧加載引腳的高度是不同的。
[0095]根據(jù)另一個實施例，測試固定裝置包括多個測試固定裝置接合特征，測試托盤包括多個測試托盤接合特征，并且所述測試固定裝置接合特征被配置為當測試托盤被測試固定裝置接收時與測試托盤接合特征接合。
[0096]根據(jù)另一個實施例，所述多個測試固定裝置接合特征中的至少一個測試固定裝置接合特征包括彈簧加載構件。
[0097]根據(jù)另一個實施例，所述多個測試托盤接合特征中的至少一個測試托盤接合特征包括凹陷部。
[0098]根據(jù)另一個實施例，測試固定裝置包括被配置為檢測在該測試固定裝置上是否存在測試托盤的測試托盤檢測器。
[0099]根據(jù)另一個實施例，待測裝置包括電氣部件，測試固定裝置包括用于測試該電氣部件的測試設備，并且測試托盤包括至少一個開口，測試設備與電氣部件通過所述至少一個開口通信。
[0100]根據(jù)另一個實施例，待測裝置包括光學部件，測試固定裝置包括用于測試該光學部件的測試設備，并且測試托盤包括至少一個開口，光信號通過所述至少一個開口在測試設備與光學部件之間交換。
[0101]根據(jù)另一個實施例，測試托盤包括活動部分，該活動部分被配置為相對于該測試托盤的中心部分移動并且被配置為將待測裝置固定在該測試托盤內。
[0102]根據(jù)另一個實施例，測試托盤還包括被配置為移動活動部分以將待測裝置從測試托盤釋放的致動構件。
[0103]根據(jù)另一個實施例，活動部分包括活動拐角部分，并且該活動拐角部分朝著中心部分偏置。
[0104]根據(jù)一個實施例，提供了一種用于對待測裝置進行測試的方法，包括:將待測裝置安裝在測試托盤中，該測試托盤包括纜線和多個測試托盤觸點，并且纜線具有連接至所述多個測試托盤觸點的第一端；將纜線的第二端連接至待測裝置；以及通過將所述多個測試托盤觸點與測試固定裝置上的對應的測試固定裝置觸點配合來將測試托盤安裝在測試固定裝置中。
[0105]根據(jù)另一個實施例，將待測裝置安裝在測試托盤中包括致動該測試托盤上的桿件以使該測試托盤的活動部分移動；當桿件被致動時，將待測裝置放置在測試托盤的表面上；以及當待測裝置位于測試托盤的表面上時，釋放桿件以將待測裝置固定至測試托盤。
[0106]根據(jù)另一個實施例，該方法還包括當待測裝置被安裝于測試托盤中時以及當測試托盤安裝于測試固定裝置中時，在測試固定裝置處對待測裝置進行測試。
[0107]根據(jù)另一個實施例，對待測裝置執(zhí)行測試包括經由纜線在待測裝置與測試固定裝置之間傳送信號。
[0108]根據(jù)另一個實施例，該方法還包括:在測試之后，將測試托盤從測試固定裝置中移除；在沒有將待測裝置從測試托盤中移除以及在沒有將纜線從待測裝置斷開的情況下，將測試托盤安裝在另外的測試固定裝置中；以及在該另外的測試固定裝置處對待測裝置進行測試。
[0109]以上所述僅是說明本發(fā)明的原理，并且在不脫離本發(fā)明范圍和實質的情況下，本領域內的技術人員可以做出各種修改。
【權利要求】
1.一種用于在測試期間容納待測裝置的測試裝置，包括: 待測裝置接收結構，其被配置為接收待測裝置； 所述待測裝置接收結構的至少一個活動部分，其被配置為將所述待測裝置保持在所述待測裝置接收結構內；以及 致動構件，其被配置為移動所述活動部分以將所述待測裝置從所述待測裝置接收結構釋放。
2.根據(jù)權利要求1所述的測試裝置，其中所述至少一個活動部分包括活動拐角部分，并且其中所述活動拐角部分朝著所述待測裝置接收結構的中心部分偏置。
3.根據(jù)權利要求2所述的測試裝置，其中所述活動拐角部分包括至少一個彈簧加載構件。
4.根據(jù)權利要求1所述的測試裝置，其中所述待測裝置接收結構包括基座部分和至少一個側壁，其中所述基座部分和所述至少一個側壁限定凹陷部分，并且其中所述活動部分被配置為將所述待測裝置保持在所述凹陷部分內。
5.根據(jù)權利要求1所述的測試裝置，還包括被配置為在測試期間將所述待測裝置電耦合至測試工位的多個觸點。
6.根據(jù)權利要求5所述的測試裝置，還包括具有第一端和第二端的纜線，其中所述第一端電耦合至所述多個觸點，并且其中所述第二端被配置為與所述待測裝置中的輸入輸出端口配合。
7.根據(jù)權利要求6所述的測試裝置，其中所述待測裝置接收結構包括至少一個凹槽，并且其中所述纜線嵌入在所述至少一個凹槽中。
8.根據(jù)權利要求6所述的測試裝置，其中所述纜線包括信號線，所述信號線選自以下各項構成的組:正電源線、接地電源線、數(shù)據(jù)線、通用串行總線信號線、通用異步接收器/發(fā)送器線和控制線。
9.根據(jù)權利要求1所述的測試裝置，其中所述待測裝置接收結構可圍繞旋轉軸線旋轉，并且其中所述待測裝置接收結構包括至少一個重量平衡特征，所述至少一個重量平衡特征被配置為當所述待測裝置被接收在所述待測裝置接收結構內時將所述待測裝置接收結構的重量相對于所述旋轉軸進行平衡。
10.根據(jù)權利要求9所述的測試裝置，其中所述至少一個重量平衡特征包括位于所述待測裝置接收結構中的多個孔。
11.一種用于對待測裝置進行測試的測試系統(tǒng)，包括: 測試托盤，其被配置為接收所述待測裝置，其中所述測試托盤包括被配置為當所述待測裝置被所述測試托盤接收時電耦合至所述待測裝置的多個測試托盤觸點；以及 測試固定裝置，其被配置為接收所述測試托盤，其中所述測試固定裝置包括被配置為當所述測試托盤被所述測試固定裝置接收時與所述多個測試托盤觸點配合的多個測試固定裝置觸點。
12.根據(jù)權利要求11所述的測試系統(tǒng)，其中所述測試托盤包括具有第一端和第二端的纜線，其中所述第一端電耦合至所述多個測試托盤觸點，其中所述第二端被配置為與所述待測裝置中的連接器配合，并且其中所述纜線被配置為在所述待測裝置與所述多個測試托盤觸點之間傳送信號。
13.根據(jù)權利要求11所述的測試系統(tǒng),其中所述多個測試托盤觸點包括多個接觸墊，并且其中所述多個測試固定裝置觸點包括多個導電引腳。
14.根據(jù)權利要求13所述的測試系統(tǒng)，其中所述多個導電引腳包括多個彈簧加載引腳，其中所述多個彈簧加載引腳中的每個彈簧加載引腳具有相對于所述測試固定裝置的表面的相關高度，并且其中所述多個彈簧加載引腳中的至少兩個彈簧加載引腳的高度是不同的。
15.根據(jù)權利要求11所述的測試系統(tǒng)，其中所述測試固定裝置包括多個測試固定裝置接合特征，其中所述測試托盤包括多個測試托盤接合特征，并且其中所述測試固定裝置接合特征被配置為當所述測試托盤被所述測試固定裝置接收時與所述測試托盤接合特征接口 ο
16.根據(jù)權利要求16所述的測試系統(tǒng)，其中所述多個測試固定裝置接合特征中的至少一個測試固定裝置接合特征包括彈簧加載構件。
17.根據(jù)權利要求16所述的測試系統(tǒng)，其中所述多個測試托盤接合特征中的至少一個測試托盤接合特征包括凹陷部。
18.根據(jù)權利要求11所述的測試系統(tǒng)，其中所述測試固定裝置包括被配置為檢測在所述測試固定裝置上是否存在所述測試托盤的測試托盤檢測器。
19.根據(jù)權利要求11所述的測試系統(tǒng)，其中所述待測裝置包括電氣部件，其中所述測試固定裝置包括用于測試所述電氣部件的測試設備，并且其中所述測試托盤包括至少一個開口，所述測試設備與所述電氣部件通過所述至少一個開口通信。
20.根據(jù)權利要求11所述的測試系統(tǒng)，其中所述待測裝置包括光學部件，其中所述測試固定裝置包括用于測試所述光學部件的測試設備，并且其中所述測試托盤包括至少一個開口，光信號通過所述至少一個開口在所述測試設備與所述光學部件之間交換。
21.根據(jù)權利要求11所述的測試系統(tǒng)，其中所述測試托盤包括活動部分，所述活動部分被配置為相對于所述測試托盤的中心部分移動并且被配置為將所述待測裝置保持在所述測試托盤內。
22.根據(jù)權利要求21所述的測試系統(tǒng)，其中所述測試托盤還包括被配置為移動所述活動部分以將所述待測裝置從所述測試托盤釋放的致動構件。
23.根據(jù)權利要求22所述的測試系統(tǒng)，其中所述活動部分包括活動拐角部分，并且其中所述活動拐角部分朝著所述中心部分偏置。
24.一種用于對待測裝置進行測試的方法，包括: 將所述待測裝置安裝在測試托盤中，其中所述測試托盤包括纜線和多個測試托盤觸點，并且其中所述纜線具有連接至所述多個測試托盤觸點的第一端； 將所述纜線的第二端連接至所述待測裝置；以及 通過將所述多個測試托盤觸點與所述測試固定裝置上的對應的測試固定裝置觸點配合來將所述測試托盤安裝在所述測試固定裝置中。
25.根據(jù)權利要求24所述的方法，其中將所述待測裝置安裝在所述測試托盤中包括: 致動所述測試托盤上的桿件以使所述測試托盤的活動部分移動； 當所述桿件被致動時，將所述待測裝置放置在所述測試托盤的表面上；以及 當所述待測裝置位于所述測試托盤的所述表面上時，釋放所述桿件以將所述待測裝置固定至所述測試托盤。
26.根據(jù)權利要求24所述的方法，還包括: 當所述待測裝置被安裝于所述測試托盤中時并且當所述測試托盤被安裝于所述測試固定裝置中時，在所述測試固定裝置處對所述待測裝置進行測試。
27.根據(jù)權利要求26所述的方法，其中對所述待測裝置執(zhí)行所述測試包括經由所述纜線在所述待測裝置與所述測試固定裝置之間傳送信號。
28.根據(jù)權利要求26所述的方法，還包括: 在測試之后，將所述測試托盤從所述測試固定裝置中移除； 在沒有將所述待測裝置從所述測試托盤中移除以及在沒有將所述纜線從所述待測裝置斷開的情況下，將所述測試托盤安裝在另外的測試固定裝置中；以及在所述另外的測試固定裝置處對所述待測裝置進行測試。
【文檔編號】H04M1/24GK104205786SQ201380016712
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2013年1月4日 優(yōu)先權日:2012年2月6日
【發(fā)明者】P·G·帕納蓋斯 申請人:蘋果公司