專利名稱：天線測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及天線測試技木，尤其涉及ー種天線測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
互調(diào)性能參數(shù)，駐波比，隔離度是天線三個(gè)重要的指標(biāo)，天線測試一般都需要對這三個(gè)指標(biāo)進(jìn)行測試。其中，用于測量互調(diào)性能參數(shù)的互調(diào)測試需要向天線輸入大功率信號，駐波比和隔離度測試需要向天線輸入小功率信號?，F(xiàn)有技術(shù)的ー種天線測試方法是，將互調(diào)測試與“駐波比和 隔離度”測試分開進(jìn)行，即，可以將天線與互調(diào)測試設(shè)備連接進(jìn)行互調(diào)測試，再把連接線拆下來，連接天線與“駐波比和隔離度”測試設(shè)備。但是，由于兩次測試間需要更換連接線，使得測試效率較低?，F(xiàn)有技術(shù)的另ー種天線測試方法是，使用大功率射頻開關(guān)在兩種測試間進(jìn)行切換，g卩，可以將大功率射頻開關(guān)的一端連接天線，另一端分別連接互調(diào)測試設(shè)備、及“駐波比和隔離度”測試設(shè)備，并通過大功率射頻開關(guān)實(shí)現(xiàn)測試通道的選擇，即選擇將天線連接互調(diào)測試設(shè)備進(jìn)行互調(diào)測試，或者將天線連接“駐波比和隔離度”測試設(shè)備。這種方式由于不需要更換連接線，測試效率有所提高；但是，大功率射頻開關(guān)在長時(shí)間通過用于測量互調(diào)性能參數(shù)的大功率信號且經(jīng)常切換時(shí)，其自身容易產(chǎn)生較大的互調(diào)信號，將對天線返回的互調(diào)信號造成干擾，使得測試結(jié)果不準(zhǔn)確。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型提供ー種天線測試系統(tǒng)，目的是提高天線測試的效率和精度。本實(shí)用新型提供ー種天線測試系統(tǒng)，包括互調(diào)測試設(shè)備、駐波比和隔離度測試設(shè)備、以及至少ー個(gè)定向耦合器組；所述定向耦合器組至少包括兩個(gè)級聯(lián)的定向耦合器；所述定向耦合器組的輸入端ロ連接天線，輸出端ロ連接所述互調(diào)測試設(shè)備，耦合端ロ連接所述駐波比和隔離度測試設(shè)備。如上所述的天線測試系統(tǒng)，所述定向耦合器組包括第一定向耦合器和第二定向耦合器；所述第一定向I禹合器包括第一I禹合端ロ、第一輸入端口和第一輸出端ロ ；所述第一輸入端ロ用于連接天線端ロ ；所述第二定向耦合器包括第二耦合端ロ、第二輸入端口和第二輸出端ロ ；所述第二輸入端ロ連接所述第一輸出端ロ，所述第二輸出端ロ連接所述互調(diào)測試設(shè)備；所述第一耦合端口和第二耦合端ロ連接所述駐波比和隔離度測試設(shè)備。如上所述的天線測試系統(tǒng)，所述定向耦合器組還包括第三定向耦合器，所述第三定向耦合器級聯(lián)在所述第一定向耦合器和第二定向耦合器之間；所述第三定向耦合器包括第三耦合端ロ、第三輸入端口和第三輸出端ロ ；所述第三輸入端ロ連接所述第一輸出端ロ，所述第三輸出端ロ連接所述第二輸入端ロ，所述第三耦合端ロ連接所述駐波比和隔離度測試設(shè)備。如上所述的天線測試系統(tǒng)，所述定向耦合器組與駐波比和隔離度測試設(shè)備之間還包括選擇開關(guān)；所述選擇開關(guān)分別與所述定向耦合器組的耦合端ロ、以及所述駐波比和隔離度測試設(shè)備連接。如上所述的天線測試系統(tǒng)，所述天線測試系統(tǒng)還包括小功率射頻開關(guān)；所述小功率射頻開關(guān)的一端連接所述定向耦合器組中的定向耦合器的耦合端ロ，另一端連接駐波比和隔離度測試設(shè)備。如上所述的天線測試系統(tǒng)，所述小功率射頻開關(guān)與駐波比和隔離度測試設(shè)備之間還包括選擇開關(guān)；所述選擇開關(guān)分別與所述小功率射頻開關(guān)、以及駐波比和隔離度測試設(shè)備連接。
如上所述的天線測試系統(tǒng)，所述互調(diào)測試設(shè)備包括雙エ器或者多エ器，還包括頻譜儀；所述雙エ器或者多エ器與所述頻譜儀連接。如上所述的天線測試系統(tǒng)，所述互調(diào)測試設(shè)備還包括功放器，所述功放器連接在雙エ器或者多エ器與頻譜儀之間。如上所述的天線測試系統(tǒng)，駐波比和隔離度測試設(shè)備包括網(wǎng)絡(luò)分析儀。如上所述的天線測試系統(tǒng)，所述定向耦合器組的數(shù)量為兩個(gè)。本實(shí)用新型天線測試系統(tǒng)的技術(shù)效果是通過使用定向耦合器組連接互調(diào)測試設(shè)備、駐波比和隔離度測試設(shè)備，使得不用更換連接線，測試效率高；并且，定向耦合器組不會如現(xiàn)有技術(shù)的大功率射頻開關(guān)那樣產(chǎn)生較大的干擾信號，所以提高了天線測試的精度。

圖I為本實(shí)用新型天線測試系統(tǒng)ー實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實(shí)用新型天線測試系統(tǒng)另ー實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。附圖標(biāo)記說明11-互調(diào)測試設(shè)備； 12-駐波比和隔離度測試設(shè)備；13-定向耦合器組；14-天線；15-天線端ロ；16-第一定向耦合器；17-第二定向耦合器；18-天線端ロ；19-第三定向耦合器；20-第四定向耦合器；21-第五定向耦合器；22-第六定向耦合器；23-小功率射頻開關(guān)；24-選擇開關(guān)。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型實(shí)施例提供了ー種天線測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)中包括互調(diào)測試設(shè)備、駐波比和隔離度測試設(shè)備、以及至少ー個(gè)定向耦合器組；定向耦合器組至少包括兩個(gè)級聯(lián)的定向耦合器；定向耦合器組的輸入端ロ連接天線，輸出端ロ連接互調(diào)測試設(shè)備，耦合端ロ連接駐波比和隔離度測試設(shè)備。由于定向耦合器具有多個(gè)端ロ，不同的測試可以通過該多個(gè)端ロ選擇經(jīng)過不同的傳輸路徑，能夠滿足不同測試的需求，即通過該定向耦合器組進(jìn)行互調(diào)測試、以及駐波比和隔離度測試并且不需要如現(xiàn)有技術(shù)那樣在兩種測試間切換連接路徑，所以大大提高了測試效率；并且，定向耦合器組不會產(chǎn)生干擾信號，提高了天線測試的精度。下面通過附圖和具體實(shí)施例，對本實(shí)用新型的方案做進(jìn)ー步詳細(xì)說明。實(shí)施例一[0029]圖I為本實(shí)用新型天線測試系統(tǒng)ー實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖I所示，本實(shí)施例的天線測試系統(tǒng)包括互調(diào)測試設(shè)備11、駐波比和隔離度測試設(shè)備12、以及定向耦合器組13。其中，圖I中示出了兩個(gè)定向耦合器組13，是因?yàn)楸緦?shí)施例是以駐波比和隔離度測試設(shè)備12需要測試隔離度指標(biāo)為例，該隔離度指標(biāo)在測試時(shí)需要使用兩個(gè)定向耦合器組13 ;但是，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，若駐波比和隔離度測試設(shè)備12僅需要測試駐波比指標(biāo)，則該天線測試系統(tǒng)也可以只包括ー個(gè)定向耦合器組13。下面分別對本實(shí)施例的天線測試系統(tǒng)中的互調(diào)測試設(shè)備、定向耦合器組、以及駐波比和隔離度測試設(shè)備的結(jié)構(gòu)及其連接關(guān)系進(jìn)行說明本實(shí)施例中，圖I中所示的互調(diào)測試設(shè)備11是指的雙エ器。實(shí) 際實(shí)施中，互調(diào)測試設(shè)備可以包括雙エ器和頻譜儀等設(shè)備，雙エ器的輸入信號端口和輸出信號端ロ連接頻譜儀；所述互調(diào)測試設(shè)備還可以包括功放器，所述功放器連接在雙エ器或者多エ器與頻譜儀之間；只是該圖I中沒有示出所述的頻譜儀等設(shè)備，而是僅示出了直接與定向耦合器組13連接的雙エ器，并在圖I中用雙エ器代表了互調(diào)測試設(shè)備。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，本實(shí)施例的中的互調(diào)測試設(shè)備均為常用測試設(shè)備，該設(shè)備中具體包括哪些測試裝置例如功放器、頻譜儀等可以根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行設(shè)置，本實(shí)施例僅為其中ー種示例。此外，互調(diào)測試設(shè)備11還可以是多エ器(后續(xù)可以參見圖2所示)。具體的，本實(shí)施例的雙エ器包括輸入信號通路Tl和輸出信號通路T2 ;其中，輸入信號通路用于接收去往定向耦合器組13的輸入信號，該輸入信號是從互調(diào)信號源例如頻譜儀發(fā)射的大功率測試信號；輸出信號通路用于接收從定向耦合器組13返回的輸出信號。本實(shí)施例中，每個(gè)定向耦合器組13均連接ー個(gè)天線端ロ，且每個(gè)定向耦合器組13至少包括兩個(gè)級聯(lián)的定向耦合器。具體的，如圖I所示，以其中ー個(gè)定向耦合器組為例，對該定向耦合器組的連接結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。該定向I禹合器組13包括第一定向f禹合器16和第二定向f禹合器17。該第一定向I禹合器16包括第一f禹合端ロ al、第一輸入端ロ a3、以及第ー輸出端ロ a2 ;第二定向率禹合器17包括第二耦合端ロ bl、第二輸入端ロ b3、以及第ニ輸出端ロ b2。通常，定向耦合器中的輸入端ロ距離耦合端ロ較近，輸出端ロ距離耦合端ロ較遠(yuǎn)。其中，所述的第一耦合端ロal、第二 f禹合端ロ bl相當(dāng)于該定向f禹合器組13的I禹合端ロ，所述的第一輸入端ロ a3相當(dāng)于該定向I禹合器組13的輸入端ロ，所述的第二輸出端ロ b2相當(dāng)于該定向f禹合器組13的輸出端ロ，即定向耦合器組13的輸入端ロ、輸出端ロ和耦合端ロ為該定向耦合器組13作為ー個(gè)整體對外連接的幾個(gè)端ロ。第一輸出端ロ a2連接第二輸入端ロ b3,第二輸出端ロ b2連接雙エ器,第一f禹合端ロ al和第二耦合端ロ bl都連接駐波比和隔離度測試設(shè)備12，可以是第一耦合端ロ al連接駐波比和隔離度測試設(shè)備12中的第一端ロ(即端ロ A)，第二耦合端ロ bl連接駐波比和隔離度測試設(shè)備12中的第二端ロ(即端ロ B)。第一輸入端ロ a3與天線端ロ 15連接。另ー個(gè)定向耦合器組的連接結(jié)構(gòu)與上述的連接結(jié)構(gòu)類似，具體可以參見圖I所示，不再贅述。本實(shí)施例中，駐波比和隔離度測試設(shè)備12可以是網(wǎng)絡(luò)分析儀。該網(wǎng)絡(luò)分析儀具有多個(gè)用于輸入或者輸出“駐波比和隔離度測試信號”的端ロ，例如，可以包括端ロ A、端ロ B、端ロ C和端ロ D。具體的，參見圖1，上述的第一耦合端ロ al、第二耦合端ロ bl都連接駐波比和隔離度測試設(shè)備12，可以是，第一耦合端ロ al連接端ロ A，第二耦合端ロ bl連接端ロ B。同理，另ー個(gè)定向耦合器組13中的兩個(gè)級聯(lián)定向耦合器的耦合端ロ可以連接至端ロ C和端ロ D。通過使用定向耦合器組集成連接互調(diào)測試設(shè)備、駐波比和隔離度測試設(shè)備，由于定向耦合器具有三個(gè)端ロ(包括前述的輸入端ロ、輸出端口和耦合端ロ)，測試信號可以選擇不同的傳輸路徑，例如可以使用輸入端ロ與輸出端ロ之間的路徑，或者選擇使用輸入端口和耦合端ロ之間的路徑等，從而使得在進(jìn)行互調(diào)測試、或者駐波比等測試時(shí)，不同的測試可以通過該定向耦合器選擇不同的測試路徑而互不影響，因此，使用該定向耦合器可以完成上述的兩種測試而不需要如現(xiàn)有技術(shù)那樣必須在兩種測試間切換連接即兩種測試交替使用某個(gè)測試路徑，所以大大提高了測試效率；并且，定向耦合器組自身不會如現(xiàn)有技術(shù)切換連接所用的大功率射頻開關(guān)那樣產(chǎn)生較大的互調(diào)干擾信號，所以對天線的互調(diào)測試不會產(chǎn)生影響，從而提高了天線測試的精度。
在上述的結(jié)構(gòu)和連接關(guān)系說明的基礎(chǔ)上，下面詳細(xì)說明本實(shí)施例的天線測試系統(tǒng)進(jìn)行天線測試的原理，并且分別描述該天線測試系統(tǒng)的互調(diào)測試、隔離度測試和駐波比測試時(shí)的測試原理在互調(diào)測試時(shí)天線的互調(diào)性能參數(shù)是對應(yīng)的天線單個(gè)端ロ的互調(diào)性能，所以需要一個(gè)定向耦合器組即可得到對應(yīng)該天線端ロ的互調(diào)參數(shù)。例如，由信號源發(fā)出的測試互調(diào)的大功率信號，進(jìn)入雙エ器(即圖I中所示的互調(diào)測試設(shè)備11)的輸入通路；再從第二輸出端ロ b2由雙エ器輸出至第二定向耦合器17。接著，依次經(jīng)過第二輸入端ロ b3、第一輸出端ロ a2進(jìn)入第一定向f禹合器16,從第一輸入端ロa3、天線端ロ 15進(jìn)入天線14。天線14將返回一個(gè)互調(diào)信號(也稱PM信號)，該互調(diào)信號按照上述的反向路徑，從天線端ロ 15輸出后，依次經(jīng)過第一定向耦合器16、第二定向耦合器17進(jìn)入雙エ器的輸出通路。最后，該輸出信號即互調(diào)信號將輸送至頻譜儀，由該頻譜儀進(jìn)行信號分析后就可以得到天線14的互調(diào)性能參數(shù)即互調(diào)指標(biāo)(Passive Intermodulation,簡稱ΡΙΜ) ο在隔離度測試時(shí)天線隔離度參數(shù)即指的是天線端ロ 15和天線端ロ 18之間的隔離度，所以需要讀取分別和這兩個(gè)端ロ級聯(lián)的定向耦合器間的傳輸參數(shù)得到。例如，網(wǎng)絡(luò)分析儀可以從上述的端ロ A至端ロ D都輸出測試信號，該信號為小功率信號。例如，端ロ A輸出的測試信號沿著以下路線行迸“端ロ A——(第一定向耦合器16
的第一I禹合端ロ al)-(第一定向I禹合器16的第一輸入端ロ a3)-天線端ロ 15(入天
線)——天線端ロ 18 (出天線)——第三定向耦合器19——端ロ D”，或者，該信號也可以由第三定向耦合器19繼續(xù)向下經(jīng)過第四定向耦合器20輸入端ロ C。網(wǎng)絡(luò)分析儀(即圖I中所示的駐波比和隔離度測試設(shè)備12)可以直接進(jìn)行信號分析后得到端ロ A和端ロ D之間的傳輸參數(shù)即天線14的隔離度，或者也可以讀取端ロ A和端ロ C之間的傳輸參數(shù)也為天線14的隔離度，即上述的兩種參數(shù)均可以表示隔離度。同理，也可讀取端ロ B和端ロ C之間、或者端ロ B和端ロ D之間的傳輸參數(shù)即為天線隔離度。在駐波比測試時(shí)天線的駐波比是對應(yīng)的單個(gè)天線端ロ的駐波比，所以需要讀取天線同一個(gè)端口下級聯(lián)的兩個(gè)定向耦合器的傳輸參數(shù)得到。例如，以網(wǎng)絡(luò)分析儀從端ロ A輸出測試信號為例，該信號為小功率信號。該測試信號經(jīng)過第一定向I禹合器16的第一I禹合端ロ al、第一輸入端ロ a3進(jìn)入天線14 ;接著,從天線14返回的信號會從天線端ロ 15輸出，經(jīng)過第一定向耦合器16、第二定向耦合器17，再通過第二定向耦合器17的第二耦合端ロ bl、端ロ B輸入網(wǎng)絡(luò)分析儀，也有部分返回的信號會從第一耦合端ロ al返回至端ロ A。該網(wǎng)絡(luò)分析儀可以讀取端ロ A和端ロ B之間的傳輸參數(shù)得到天線端ロ 15處測得的天線駐波比。同理，也可以是讀取對網(wǎng)絡(luò)分析儀的端ロ B輸出、從端ロ A輸入的信號分析后得到的端ロ A和端ロ B之間的傳輸參數(shù)得到天線端ロ 15的駐波比。同理，天線端ロ 18的駐波比可以通過讀取端ロ C和端ロ D之間的傳輸參數(shù)(從端ロ C輸出、從端ロ D輸入的參數(shù))或端ロ D和端ロ C之間的傳輸參數(shù)(即從端ロ D輸出、從端ロC輸入的參數(shù))得到。本實(shí)施例的天線測試系統(tǒng)，通過使用定向耦合器組連接互調(diào)測試設(shè)備、駐波比和隔離度測試設(shè)備，使得使用該定向耦合器可以完成上述的兩種測試而不需要如現(xiàn)有技術(shù)那樣必須在兩種測試間切換連接 即兩種測試交替使用某個(gè)測試路徑，所以大大提高了測試效率；并且，定向耦合器組不會如現(xiàn)有技術(shù)的大功率射頻開關(guān)那樣產(chǎn)生較大的干擾信號，所以提聞了天線測試的精度。實(shí)施例ニ圖2為本實(shí)用新型天線測試系統(tǒng)另ー實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，本實(shí)施例的天線測試系統(tǒng)與實(shí)施例一相比，主要區(qū)別在于，每個(gè)定向耦合器組中至少還包括第三定向耦合器；此處的“第三定向耦合器”實(shí)際上指的是每個(gè)定向耦合器組中新増加的第三個(gè)定向耦合器(假設(shè)原來每個(gè)定向耦合器中有兩個(gè)定向耦合器)，即圖2中所示的第五定向耦合器21和第六定向耦合器22 ;即，該“第三定向耦合器”僅僅指代的是新增加的ー個(gè)定向耦合器而已，不表示具體的定向耦合器的名稱。如圖2所示，第五定向耦合器21和第六定向耦合器22可以是級聯(lián)在原有的兩個(gè)定向耦合器之間，當(dāng)然，實(shí)際實(shí)施時(shí)也不局限于此，例如也可以連接在原有兩個(gè)定向耦合器下方等。本實(shí)施例只是表示ー個(gè)定向耦合器組中，兩個(gè)級聯(lián)的定向I禹合器可以增加為多個(gè)定向I禹合器級聯(lián)。如圖2所示，以定向耦合器組13中包括三個(gè)定向耦合器為例，是在圖I中的四個(gè)定向I禹合器的基礎(chǔ)上，增加了第五定向I禹合器21、第六定向f禹合器22。以第五定向I禹合器21為例，具體的連接方式可以為第五定向耦合器21包括第三耦合端ロ Cl、第三輸入端ロ c2和第三輸出端ロ c3 ;第三輸入端ロ c2連接第一輸出端ロ a2，第三輸出端ロ c3連接第ニ輸入端ロ b3，第三耦合端ロ Cl連接駐波比和隔離度測試設(shè)備?？蛇x的，本實(shí)施例是采用的具有兩個(gè)端ロ的駐波比和隔離度測試設(shè)備(該測試設(shè)備也可以為具有四個(gè)端ロ的測試設(shè)備例如圖I所示，可以選擇使用)。相應(yīng)的，本實(shí)施例在定向耦合器組13與駐波比和隔離度測試設(shè)備12之間增設(shè)了小功率射頻開關(guān)23，該小功率射頻開關(guān)23分別與定向耦合器組13、駐波比和隔離度測試設(shè)備12連接，具體是該小功率射頻開關(guān)23的一端分別連接定向耦合器組13中的各個(gè)定向耦合器的耦合端ロ，另一端連接駐波比和隔離度測試設(shè)備12 ;該小功率射頻開關(guān)23的作用是可以在所述的三個(gè)定向耦合器間進(jìn)行選擇使用，例如，該小功率射頻開關(guān)23可以選擇連接其中的兩個(gè)定向耦合器進(jìn)行相關(guān)測試，而斷開與另ー個(gè)定向耦合器的連接。可選的，在采用具有兩個(gè)端ロ的駐波比和隔離度測試設(shè)備時(shí)，可以設(shè)置選擇開關(guān)24。該選擇開關(guān)24分別與所述定向耦合器組的耦合端ロ、以及駐波比和隔離度測試設(shè)備連接；具體到本實(shí)施例中，由于定向耦合器組的耦合端ロ連接至小功率射頻開關(guān)23，所以選擇開關(guān)24可以連接小功率射頻開關(guān)23。該選擇開關(guān)24的作用是，從連接至該選擇開關(guān)24的多個(gè)傳輸通路中選擇其中的兩路信號輸入至駐波比和隔離度測試設(shè)備的兩個(gè)端ロ。如圖2所示，駐波比和隔離度測試設(shè)備12只有兩個(gè)端ロ，而連接至選擇開關(guān)24的傳輸通路有四個(gè)wl、《2、《3、w4,則選擇開關(guān)24就可以從中選擇兩個(gè)通路，使得該兩個(gè)通路的信號輸入至駐波比和隔離度測試設(shè)備12的兩個(gè)端ロ。其中，選擇不同的通路對應(yīng)于不同的測試指標(biāo)，例如，若選擇w3、w4,則可以測試天線的駐波比指標(biāo)，若選擇w3、wI,則可以測試天線的_離度指標(biāo)，實(shí)際中可以根據(jù)實(shí)際測試環(huán)境具體設(shè)置。本實(shí)施例結(jié)構(gòu)的天線測試系統(tǒng)，可以用于寬頻天線的多子頻段測試。例如，天線14的頻段范圍是800M 2000M ;需要測試該天線的800M 1200M范圍的子頻段的各指標(biāo)(駐波比和隔離度)、以及1200M 2000M范圍的子頻段的各指標(biāo)，即測試該寬頻天線的分頻段的駐波比和隔離度。可以按照以下方法測量具體的，定向耦合器一般可能是在某個(gè)頻段范圍內(nèi)的定向性比較好，如圖2所示，假設(shè)第二定向耦合器17的較優(yōu)頻段范圍為800M 1200M，第五定向耦合器21的較優(yōu)頻段 范圍為1200M 2000M。此外，本實(shí)施例的互調(diào)測試設(shè)備11中可以采用多エ器；該多エ器包括兩個(gè)輸入通路和兩個(gè)輸出通路，可以分別用于測試不同的子頻段。例如，同時(shí)測試天線的兩個(gè)子頻段范圍，即800M 1200M子頻段、及1200M 2000M子頻段。以其中ー個(gè)定向耦合器組為例，當(dāng)進(jìn)行互調(diào)測試吋，從多エ器的兩個(gè)輸入通路分別輸入對應(yīng)上述兩個(gè)子頻段的大功率測試信號。上述測試信號經(jīng)過第二定向耦合器
17、第五定向耦合器21、第一定向耦合器16后，從天線端ロ 15進(jìn)入天線14。從天線14返回的互調(diào)信號再反向依次經(jīng)過第一定向耦合器16、第五定向耦合器21和第二定向耦合器17后，分別從多エ器的兩個(gè)輸出通路輸出，最終會輸出至頻譜儀，由頻譜儀在信號分析后得到天線14的上述兩個(gè)對應(yīng)子頻段的互調(diào)性能參數(shù)。當(dāng)進(jìn)行隔離度和駐波比測試時(shí)，測試原理與實(shí)施例一基本相同，區(qū)別在于，上述兩個(gè)子頻段需要分別測試。例如，測試1200M 2000M子頻段時(shí)，可以通過小功率射頻開關(guān)23，選擇本次測試使用第一定向耦合器16、第二定向耦合器17 ;再通過選擇開關(guān)24選擇網(wǎng)絡(luò)分析儀上的與第一定向耦合器16、第二定向耦合器17相連接的兩個(gè)端ロ，就可以按照實(shí)施例一的測試方法進(jìn)行隔離度和駐波比測試。同理，在測試800M 1200M子頻段時(shí)，可以通過小功率射頻開關(guān)23，選擇本次測試使用第一定向耦合器16、第五定向耦合器21，并通過選擇開關(guān)24選擇網(wǎng)絡(luò)分析儀上對應(yīng)連接的端ロ即可。本實(shí)施例中，由于小功率射頻開關(guān)23是設(shè)置在駐波比和隔離度的測試通道上，沒有級聯(lián)在互調(diào)測試的大功率信號通道即互調(diào)測試通道(互調(diào)測試通道即由互調(diào)測試設(shè)備、定向耦合器組和天線組成的測試通道)上，不會經(jīng)過大功率信號，所以小功率射頻開關(guān)23本身的互調(diào)信號不會影響測試結(jié)果。同理，可以增加定向耦合器的個(gè)數(shù)、多エ器的路數(shù)以及通過小功率射頻開關(guān)控制，實(shí)現(xiàn)寬頻天線的更多子頻段的測試。本實(shí)施例的天線測試系統(tǒng)，通過使用定向耦合器組連接互調(diào)測試設(shè)備、駐波比和隔離度測試設(shè)備，使得使用該定向耦合器可以完成上述的兩種測試而不需要如現(xiàn)有技術(shù)那樣必須在兩種測試間切換連接即兩種測試交替使用某個(gè)測試路徑，所以大大提高了測試效率較；并且，在通過大功率測試信號的互調(diào)定向耦合器組不采用大功率射頻開關(guān)，而是采用定向耦合器組，定向耦合器組不會如現(xiàn)有技術(shù)的大功率射頻開關(guān)那樣產(chǎn)生較大的干擾信號，避免了大功率射頻開關(guān)互調(diào)性能惡化影響測試結(jié)果，提高了天線測試的精度。最后應(yīng)說明的是以上各實(shí)施例僅用以說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述各實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本實(shí)用新型各實(shí)施例技術(shù)方案 的范圍。
權(quán)利要求1.ー種天線測試系統(tǒng)，其特征在于，包括互調(diào)測試設(shè)備、駐波比和隔離度測試設(shè)備、以及至少ー個(gè)定向耦合器組； 所述定向耦合器組至少包括兩個(gè)級聯(lián)的定向耦合器；所述定向耦合器組的輸入端ロ連接天線，輸出端ロ連接所述互調(diào)測試設(shè)備，耦合端ロ連接所述駐波比和隔離度測試設(shè)備。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述定向耦合器組包括第一定向率禹合器和第二定向I禹合器； 所述第一定向I禹合器包括第一I禹合端ロ、第一輸入端口和第一輸出端ロ ；所述第一輸入端ロ用于連接天線端ロ； 所述第二定向耦合器包括第二耦合端ロ、第二輸入端口和第二輸出端ロ ；所述第二輸入端ロ連接所述第一輸出端ロ，所述第二輸出端ロ連接所述互調(diào)測試設(shè)備； 所述第一耦合端口和第二耦合端ロ連接所述駐波比和隔離度測試設(shè)備。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述定向耦合器組還包括第三定向耦合器，所述第三定向耦合器級聯(lián)在所述第一定向耦合器和第二定向耦合器之間； 所述第三定向耦合器包括第三耦合端ロ、第三輸入端口和第三輸出端ロ ；所述第三輸入端ロ連接所述第一輸出端ロ，所述第三輸出端ロ連接所述第二輸入端ロ，所述第三耦合端ロ連接所述駐波比和隔離度測試設(shè)備。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述定向耦合器組與駐波比和隔離度測試設(shè)備之間還包括選擇開關(guān)； 所述選擇開關(guān)分別與所述定向耦合器組的耦合端ロ、以及所述駐波比和隔離度測試設(shè)備連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述天線測試系統(tǒng)還包括小功率射頻開關(guān)； 所述小功率射頻開關(guān)的一端連接所述定向耦合器組中的定向耦合器的耦合端ロ，另ー端連接駐波比和隔離度測試設(shè)備。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述小功率射頻開關(guān)與駐波比和隔離度測試設(shè)備之間還包括選擇開關(guān)； 所述選擇開關(guān)分別與所述小功率射頻開關(guān)、以及駐波比和隔離度測試設(shè)備連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述互調(diào)測試設(shè)備包括雙エ器或者多エ器，還包括頻譜儀；所述雙エ器或者多エ器與所述頻譜儀連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述互調(diào)測試設(shè)備還包括功放器，所述功放器連接在雙エ器或者多エ器與頻譜儀之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述駐波比和隔離度測試設(shè)備包括網(wǎng)絡(luò)分析儀。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的天線測試系統(tǒng)，其特征在于，所述定向耦合器組的數(shù)量為兩個(gè)。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種天線測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括互調(diào)測試設(shè)備、駐波比和隔離度測試設(shè)備、以及至少一個(gè)定向耦合器組；所述定向耦合器組至少包括兩個(gè)級聯(lián)的定向耦合器；所述定向耦合器組的輸入端口連接天線，輸出端口連接所述互調(diào)測試設(shè)備，耦合端口連接所述駐波比和隔離度測試設(shè)備。本實(shí)用新型所以提高了天線測試的精度。
文檔編號H04B17/00GK202444494SQ20122004559
公開日2012年9月19日 申請日期2012年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月13日
發(fā)明者蔡丹濤, 趙曉東 申請人:華為技術(shù)有限公司