一種天線測試用夾具及測試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種天線測試用夾具及測試方法，所述夾具包括座體、壓合裝置，還包括至少兩塊電性能檢測主板和至少兩套固定裝置，這種設計使得極限樣品和待測樣品的測試可以同時進行，用同一狀態(tài)下測試極限樣品得到的門限值來判定待測樣品的合格與否，最大程度上減小了測試夾具自身的穩(wěn)定性波動帶來的測試和判斷誤差，提高了檢出精度。
【專利說明】
一種天線測試用夾具及測試方法
技術(shù)領域
[0001]本發(fā)明涉及通訊設備領域，尤其涉及一種天線測試用夾具及測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，天線生產(chǎn)廠商在產(chǎn)品出廠檢驗時，都會采用電性能全檢方案檢測產(chǎn)品的電性能。具體來說，根據(jù)產(chǎn)品的外形、線路形式、性能等要素設計天線測試夾具，夾具連接到測試儀器上，然后將待測產(chǎn)品放置到測試夾具上，夾具固定住待測產(chǎn)品后，可以開始測試。測試之前，先對一極限產(chǎn)品進行測試，以其測試參數(shù)作為測試門限值。測試時，測試儀器和控制電腦相連，設定控制電腦里的門限值，比較測試結(jié)果和門限值以判定所測產(chǎn)品性能是否滿足出廠要求。然而由于加工精度、組裝公差、使用磨損等因素會導致測試夾具的穩(wěn)定性下降，測試數(shù)據(jù)出現(xiàn)波動。如圖1所示，首次極限樣品測試所確定的門限范圍為箭頭所示范圍，產(chǎn)品測試結(jié)果落在A到A’區(qū)間內(nèi)則判定為合格品，落在區(qū)間外的為不合格品。當測試夾具穩(wěn)定性下降后，再次測試極限樣品，會發(fā)現(xiàn)極限樣品的測試值發(fā)生變化，使得真實的門限范圍變成B到B’的區(qū)間。但是由于門限值設定后不會經(jīng)常更改，若待測樣品的測試結(jié)果落在A到B區(qū)間內(nèi)依然會被判定為合格品，而落在A’到B’區(qū)間內(nèi)的則會被判定為不合格品，實際上此時真實的區(qū)間已經(jīng)變?yōu)锽到B’，這樣A到B區(qū)間的產(chǎn)品實際應該為不合格品而被判定為合格品，A’到B’區(qū)間的產(chǎn)品實際應該為合格品而被判定為不合格品。所以若仍然以最先測得的門限值作為判斷標準，會出現(xiàn)測試結(jié)果判定不準確，導致浪費合格品和流出不合格品的風險。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:由于天線測試夾具穩(wěn)定性下降導致浪費合格品和流出不合格品的現(xiàn)象。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:一種天線測試用夾具，包括座體、壓合裝置，還包括至少兩塊電性能檢測主板和至少兩套固定裝置。
[0005]進一步的，包括兩塊電性能檢測主板和兩套固定裝置，分別用于待測樣品和極限樣品測試。
[0006]進一步的，所述電性能檢測主板包括印制電路板、測試電纜和接觸裝置。
[0007]進一步的，所述至少兩塊電性能檢測主板的性能完全相同。
[0008]進一步的，所述電性能檢測主板并排或分排放置。
[0009]進一步的，固定裝置和電性能檢測主板一一對應。
[0010]本發(fā)明還采用一種基于上述天線測試用夾具的天線測試方法，包括如下步驟:
[0011 ]將極限樣品和待測樣品分別放置于固定裝置中；
[0012]比較極限樣品和待測樣品的測試結(jié)果，并確定待測樣品是否合格。
[0013]進一步的，“比較極限樣品和待測樣品的測試結(jié)果，并確定待測樣品是否合格”具體為:
[0014]以極限樣品的測試結(jié)果作為當次測試的門限值，若待測樣品的測試結(jié)果超出所述門限值，則判定為不合格品，否則判定為合格品。
[0015]本發(fā)明的有益效果在于:測試極限樣品的環(huán)境和狀態(tài)與測試待測樣品的環(huán)境和狀態(tài)相同，用同一狀態(tài)下測試得到的門限值來判定待測樣品的合格與否，避免了測試夾具自身的穩(wěn)定性波動帶來的測試和判斷誤差，提高了檢出精度。
【附圖說明】
[0016]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中夾具不穩(wěn)定導致門限值范圍波動示意圖；
[0017]圖2為測試樣品與電性能檢測主板相對位置關(guān)系圖；
[0018]圖3為本發(fā)明中極限樣品和待測樣品相對位置關(guān)系圖；
[0019]圖4為本發(fā)明電性能測試系統(tǒng)框圖；
[0020]圖5為本發(fā)明電性能測試流程圖；
[0021]標號說明:
[0022]1、印制電路板;2、測試電纜;3、接觸裝置;4、測試樣品；10、電性能檢測主板;11、極限樣品；12、待測樣品；13、電性能檢測主板1#; 14、電性能檢測主板2#。
【具體實施方式】
[0023]為詳細說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、所實現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖予以說明。
[0024]本發(fā)明最關(guān)鍵的構(gòu)思在于:在天線測試夾具上設有至少兩塊電性能檢測主板和至少兩套固定裝置，這種設計使得極限樣品和待測樣品的測試可以同時進行，用同一狀態(tài)下測試得到的門限值來判定待測樣品的合格與否，避免了測試夾具自身的穩(wěn)定性波動帶來的測試和判斷誤差，提高了檢出精度。
[0025]請參照圖2及圖3，一種天線測試用夾具，包括座體、壓合裝置，還包括至少兩塊電性能檢測主板和至少兩套固定裝置。
[0026]由上述描述可知，本發(fā)明的有益效果在于:對門限值進行實時更新，用同一狀態(tài)下測試極限樣品得到的門限值來判定待測樣品的合格與否，很大程度上減小了測試夾具自身的穩(wěn)定性波動帶來的測試和判斷誤差，提高了檢出精度。
[0027]進一步的，所述天線測試用夾具包括兩塊電性能檢測主板和兩套固定裝置，分別用于待測樣品和極限樣品測試。
[0028]進一步的，所述電性能檢測主板包括印制電路板、測試電纜和接觸裝置。
[0029]進一步的，所述至少兩塊電性能檢測主板的性能完全相同。
[0030]由上述描述可知，保證電性能檢測主板的性能完全相同，以確保極限樣品和待測樣品的檢測環(huán)境一樣，有利于準確地得到測試結(jié)果，作出判斷。
[0031 ]進一步的，所述電性能檢測主板并排或分排放置。
[0032]由上述描述可知，在各個電性能檢測主板工作互不影響的條件下，我們可以根據(jù)需要來擺放電性能檢測主板。
[0033]進一步的，所述固定裝置與所述電性能檢測主板一一對應。
[0034]由上述描述可知，固定裝置的位置、數(shù)量均與電性能檢測主板相對應，以便以同樣的方式固定檢測樣品，提供相同的測試環(huán)境。
[0035]請參照圖4及圖5，一種天線測試用夾具的測試方法，包括如下步驟:
[0036]將極限樣品和待測樣品分別放置于固定裝置中；
[0037]比較極限樣品和待測樣品的測試結(jié)果，并確定待測樣品是否合格。
[0038]進一步的，“比較極限樣品和待測樣品的測試結(jié)果，并確定待測樣品是否合格”具體為:
[0039]以極限樣品的測試結(jié)果作為當次測試的門限值，若待測樣品的測試結(jié)果超出所述門限值，則判定為不合格品，否則判定為合格品。
[0040]請參照圖2至圖4，本發(fā)明的實施例一為:一種天線測試用夾具，包括座體、壓合裝置，還包括兩塊電性能檢測主板10和兩套固定裝置，分別用于極限樣品11測試和待測樣品12測試。
[0041]如圖2所示，所述電性能檢測主板10包括印制電路板1、測試電纜2和接觸裝置3。印制電路板I的尺寸根據(jù)不同待測品的性能、尺寸差異而定制化設計。測試電纜2主體焊接在印制電路板I上，一端用于連接測試設備，另一端連接接觸裝置3。接觸裝置3的一端連接測試電纜2，另一端用于接觸測試樣品4。
[0042]如圖3所示，所述電性能檢測主板1#13和電性能檢測主板2#14的性能完全相同，以確保極限樣品11和待測樣品12的檢測環(huán)境一樣，有利于準確地得到測試結(jié)果，作出判斷。圖
3中所示電性能檢測主板1#13和電性能檢測主板2#14并排設置，但也可分排放置，以滿足不同的需要。所述固定裝置的位置、數(shù)量均與電性能檢測主板1#13和電性能檢測主板2#14相對應，以便以同樣的方式固定檢測樣品，提供相同的測試環(huán)境。
[0043]下面介紹上述天線測試用夾具的測試方法，如圖4和圖5所示，測試開始前，先將極限樣品放置于對應的固定裝置中，再將待測品放置于對應的固定裝置中；固定好后，推動治具壓合裝置使待測樣品和極限樣品同時與其對應的電性能檢測主板接觸，測試儀器分別通過待測樣品測試通路和極限樣品測試通路測試性能得到參數(shù);分別將待測樣品和極限樣品的測試數(shù)據(jù)傳給電腦，電腦測試軟件將本次測得的極限樣品結(jié)果設置為門限值，再將待測品的測試結(jié)果和門限值比較，作出合格與否判斷;判斷完成后，松開夾具壓合裝置，保持極限樣品不動，取下此次測試完成的待測樣品，更換下一個待測品，開始下一輪測試。
[0044]在本實施例中，可以有一個或者多個極限樣品測試通路和待測樣品測試通路，當有多個極限樣品測試通路時，計算出各個極限樣品測試結(jié)果的平均值作為門限值；當有多個待測樣品測試通路時，則可以同時對多個待測樣品進行合格與否判定，提高判定效率。同時，本測試方法使用的極限樣品具有使用期限，當前后兩次測試波動超過10%或者確認極限樣品某些部位因為長期使用有明顯的磨損等現(xiàn)象時，更換極限樣品，更換的新樣品是在選定極限樣品時一同選定的性能相同的樣品。
[0045]綜上所述，本發(fā)明提供的一種天線測試用夾具及測試方法，包括座體、壓合裝置，還包括至少兩塊電性能檢測主板和至少兩套固定裝置，這種設計使得極限樣品和待測樣品的測試可以同時進行，用同一狀態(tài)下測試極限樣品得到的門限值來判定待測樣品的合格與否，最大程度上減小了測試夾具自身的穩(wěn)定性波動帶來的測試和判斷誤差，提高了檢出精度，并且還可以提升檢出效率。
[0046]以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等同變換，或直接或間接運用在相關(guān)的技術(shù)領域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種天線測試用夾具，包括座體、壓合裝置，其特征在于，還包括至少兩塊電性能檢測主板和至少兩套固定裝置。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線測試用夾具，其特征在于，包括兩塊電性能檢測主板和兩套固定裝置，分別用于待測樣品和極限樣品測試。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線測試用夾具，其特征在于，所述電性能檢測主板包括印制電路板、測試電纜和接觸裝置。4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的天線測試用夾具，其特征在于，所述至少兩塊電性能檢測主板的性能完全相同。5.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項所述的天線測試用夾具，其特征在于，所述電性能檢測主板并排或分排放置。6.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項所述的天線測試用夾具，其特征在于，所述固定裝置和電性能檢測主板一一對應。7.—種基于權(quán)利要求1-6任一項所述的天線測試用夾具的天線測試方法，其特征在于，包括如下步驟: 將極限樣品和待測樣品分別放置于固定裝置中； 比較極限樣品和待測樣品的測試結(jié)果，并確定待測樣品是否合格。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的天線測試方法，其特征在于:“比較極限樣品和待測樣品的測試結(jié)果，并確定待測樣品是否合格”具體為: 以極限樣品的測試結(jié)果作為當次測試的門限值，若待測樣品的測試結(jié)果超出所述門限值，則判定為不合格品，否則判定為合格品。
【文檔編號】G01R29/10GK105974210SQ201610397168
【公開日】2016年9月28日
【申請日】2016年6月7日
【發(fā)明人】畢曄海
【申請人】深圳市信維通信股份有限公司