專利名稱：測試控制方法、裝置和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明實施例涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種測試控制方法、裝置和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在科研及生產(chǎn)中，矢量網(wǎng)絡分析儀(vector network analyzer，簡稱VNA)廣泛應用于各種射頻及微波器件和組件，如濾波器、放大器、混頻器等器件的功能特性測量與分析。矢量網(wǎng)絡分析儀自身的技術(shù)指標，如頻率范圍、測量動態(tài)、分辨率等參數(shù)指標，直接影響測試精度和測試效率，其中測試動態(tài)范圍是衡量VNA性能的重要指標之一。測試動態(tài)范圍即為測量信號輸出功率與測量接收靈敏度的差值；其中，測試接收靈敏度為負值，其絕對值越大，則表示接收靈敏度越高?，F(xiàn)有技術(shù)通常采用外置功放、外置低噪聲放大器或矢量網(wǎng)絡分析儀內(nèi)接收機耦合器直通的方法，來擴展VNA的測試動態(tài)范圍。外置功放的方法，是通過放大VNA的輸出信號來提高測量信號輸出功率，從而擴展VNA 的測試動態(tài)范圍；外置低噪聲放大器的方法，是通過放大VNA的輸入信號來提高測量接收靈敏度，從而擴展VNA的測試動態(tài)范圍；矢量網(wǎng)絡分析儀內(nèi)接收機耦合器直通的方法，是通過直傳不經(jīng)衰減的接收信號來提高測量接收靈敏度，從而擴展VNA的測試動態(tài)范圍。發(fā)明人在實踐現(xiàn)有技術(shù)的過程中發(fā)現(xiàn)上述現(xiàn)有技術(shù)在擴展VNA測試動態(tài)范圍的同時，不能測試被測試件(Device Under Test，簡稱DUT)端口特性的部分參數(shù)，如現(xiàn)有技術(shù)測試過程中有用信號和噪聲信號均被等比例放大，故不能測試濾波器通帶頻段的輸出端口駐波特性等參數(shù)；如需測試這些參數(shù)，通常需要將被測試件從當前測試系統(tǒng)拿到另一套測試系統(tǒng)，或?qū)斍皽y試系統(tǒng)通過外部跳線手動切換到另一套測試系統(tǒng)，因此測量效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種測試控制方法、裝置和系統(tǒng)，用以提高測試效率。本發(fā)明一方面提供了一種測試控制方法，包括獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息；所述當前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位；判斷所述當前狀態(tài)信息是否滿足預設(shè)的門限條件；在所述當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，直接輸出所述信號。本發(fā)明另一方面還提供了一種測試控制裝置，包括檢測和驅(qū)動模塊，用于獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息，并判斷所述當前狀態(tài)信息是否滿足預設(shè)的門限條件；所述當前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位；信號處理模塊，用于在所述當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，直接輸出所述信號。本發(fā)明另一方面還提供了一種測試儀表，包括所述測試儀表的主體，還包括上述測試控制裝置，與所述測試儀表的主體連接。本發(fā)明另一方面還提供了一種測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于對被測試件進行測試，該系統(tǒng)包括測試儀表和上述測試控制裝置；所述測試控制裝置外置于所述測試儀表，且連接在所述測試儀表和所述被測試件之間；或者，所述測試控制裝置內(nèi)置在所述測試儀表中，與所述測試儀表的主體連接，且所述測試儀表的主體通過所述測試控制裝置與所述被測試件連接。本發(fā)明各個方面提供的測試控制方法、裝置和系統(tǒng)，通過獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)漠斍盃顟B(tài)信息，并將該信息與預設(shè)的門限條件進行比較，自動完成對信號是否進行增益處理的選通控制，以滿足測試儀表對被測試件的端口特性和傳輸特性測試的需要，選通控制過程不需要在不同測試系統(tǒng)間切換或人工干預，在檢測過程中無需增加新的測量工序，降低操作復雜度和成本，從而提高了測試的效率。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明實施例一提供的測試控制方法的流程圖；圖2為本發(fā)明實施例二提供的測試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實施例三提供的測試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖如為本發(fā)明實施例四提供的測試控制裝置的原理框圖；圖4b為圖如的等效測試框圖示例一；圖如為圖如的等效測試框圖示例二 ；圖5為本發(fā)明實施例五提供的測試控制裝置的原理框圖；圖6為本發(fā)明實施例六提供的測試控制裝置的原理框圖；圖7為本發(fā)明實施例七提供的測試控制裝置的原理框圖；圖8為本發(fā)明實施例八提供的測試儀表的結(jié)構(gòu)示意圖；圖9為本發(fā)明實施例九提供的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖10為本發(fā)明實施例十提供的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有付出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。本發(fā)明以下實施例的序號僅僅為了描述，不代表實施例的優(yōu)劣。圖1為本發(fā)明實施例一提供的測試控制方法的流程圖。如圖1所示，本實施例提供的測試控制方法包括
步驟11 獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息；所述當前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位。本發(fā)明實施例所述的測試儀表可包括矢量網(wǎng)絡分析儀、信號發(fā)生器、功率計、噪聲測試儀、信號分析儀等，其中，信號分析儀可具體為完成時域、頻域、碼域至少其中之一信號分析的儀表。完成時域信號分析的儀表也稱為示波器；完成頻域信號分析的儀表也稱為頻譜儀，完成頻域和碼域信號分析的儀表也稱為矢量頻譜分析儀。被測試件可包括 濾波器、放大器、混頻器等。所述信號為在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘?，可具體為測試儀表的輸入或輸出信號，或被測試件的輸入或輸出信號。信號可包括但不限于幾HZ 300GHZ范圍內(nèi)的模擬信號，如射頻信號、微波信號等。步驟12 判斷所述當前狀態(tài)信息是否滿足預設(shè)的門限條件。步驟13 在所述當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，對所述信號進行增益處理， 并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，直接輸出所述信號。在所述信號的當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，可輸出第一驅(qū)動信號，根據(jù)所述第一驅(qū)動信號對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，輸出第二驅(qū)動信號，根據(jù)所述第二驅(qū)動信號直接輸出所述信號。其中，第一驅(qū)動信號表示需要進行增益處理，第二驅(qū)動信號表示不需要進行增益處理。可選的，上述技術(shù)方案中，步驟12中所述預設(shè)的門限條件與步驟11中獲取的所述信號的當前狀態(tài)信息相對應。例如所述信號的當前狀態(tài)信息可包括以下之一或任意組合所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位。 所述預設(shè)的門限條件相應包括以下之一或任意組合第一門限條件，第二門限條件，第三門限條件。其中，第一門限條件為所述信號的功率小于所述預設(shè)的功率門限值，第二門限條件為所述信號的頻率位于所述預設(shè)的頻段，第三門限條件為所述信號的相位位于所述預設(shè)的相位范圍。所述增益處理可包括功率放大處理、或低噪聲放大處理。如果所述信號滿足上述預設(shè)的門限條件，則對所述信號進行功率放大處理，提高其測量信號輸出功率，從而擴展測試儀表的測試動態(tài)范圍；或者，對所述信號進行低噪聲放大處理，提高其測量信號接收靈敏度，從而擴展測試儀表的測試動態(tài)范圍。如果所述信號不滿足上述預設(shè)的門限條件，則對所述信號不進行增益處理，而直接輸出未經(jīng)功率放大或低噪聲放大處理的所述信號，以便測試儀表可以測試在擴展其測試動態(tài)范圍后不能測試的部分參數(shù)，如濾波器通帶頻段內(nèi)輸出端口的駐波特性等參數(shù)。 或者，所述預設(shè)的門限條件包括以下之一或任意組合第二門限條件，第三門限條件，第四門限條件；其中，第二門限條件為所述信號的頻率位于所述預設(shè)的頻段，第三門限條件為所述信號的相位位于所述預設(shè)的相位范圍，第四門限條件為所述信號的功率大于或等于所述預設(shè)的功率門限值。所述增益處理可包括信號衰減處理。如果所述信號滿足上述預設(shè)的門限條件，則對所述信號進行信號衰減處理，以擴展測試儀表的動態(tài)測試范圍。具體應用場景舉例說明如下被測試件的輸出信號存在放大增益，如被測試件在某個頻率范圍，如第一頻率范圍對測試儀表輸出的信號有放大增益，則被測試件輸出的放大信號也會影響測試儀表的接收動態(tài)。例如當測試儀表向被測試件輸入第一頻段范圍的第一信號時，被測試件對第一信號進行放大輸出放大后的第一信號，測試儀表的接收機接收到該第一信號后可能飽和。因此，需要在第一頻率范圍內(nèi)對被測試件輸出的放大信號進行信號衰減處理，以避免在第一頻率范圍內(nèi)測試儀表內(nèi)的接收機飽和，從而擴展了測試儀表在整個測試頻率范圍內(nèi)的測試動態(tài)范圍?；蛘?，所述預設(shè)的門限條件包括以下之一或任意組合第四門限條件，第五門限條件，第六門限條件；其中，第四門限條件為所述信號的功率大于或等于所述預設(shè)的功率門限值，第五門限條件為所述信號的頻率超出所述預設(shè)的頻段，第六門限條件為所述信號的相位超出所述預設(shè)的相位范圍。所述增益處理包括信號衰減處理。如果所述信號滿足上述預設(shè)的門限條件，則不對所述信號進行信號衰減處理，以提高其測量信號接收靈敏度， 從而擴展測試儀表的測試動態(tài)范圍。如果所述信號不滿足上述預設(shè)的門限條件，則對所述信號進行信號衰減處理，輸出經(jīng)衰減處理的所述信號，以便測試儀表可以測試在擴展其測試動態(tài)范圍后不能測試的部分參數(shù)，如濾波器通帶頻段內(nèi)輸出端口的駐波特性等參數(shù)。由此可見，本實施例提供的測試控制方法，通過獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)漠斍盃顟B(tài)信息，并將該信息與預設(shè)的門限條件進行比較，自動完成對信號是否進行增益處理的選通控制，以滿足測試儀表對被測試件的端口特性和傳輸特性測試的需要，選通控制過程不需要在不同測試系統(tǒng)間切換或人工干預，在檢測過程中無需增加新的測量工序，降低操作復雜度和成本，從而提高了測試的效率。圖2為本發(fā)明實施例二提供的測試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，本實施例提供的測試控制裝置包括檢測和驅(qū)動模塊21和信號處理模塊22。檢測和驅(qū)動模塊21用于獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息，并判斷所述當前狀態(tài)信息是否滿足預設(shè)的門限條件；所述當前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位。信號處理模塊22用于在所述當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，直接輸出所述信號。本實施例提供的測試控制裝置，通過獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息，并將該信息與預設(shè)的門限條件進行比較，自動完成對信號是否進行增益處理的選通控制，以滿足測試儀表對被測試件的端口特性和傳輸特性測試的需要，選通控制過程不需要在不同測試系統(tǒng)間切換或人工干預，因此提高了測試的效率。圖3為本發(fā)明實施例三提供的測試控制裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示的測試控制裝置31包括檢測和驅(qū)動模塊311和信號處理模塊312。檢測和驅(qū)動模塊311用于獲取在測試儀表32和被測試件33之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息，并判斷所述當前狀態(tài)信息是否滿足預設(shè)的門限條件，根據(jù)判斷結(jié)果輸出第一驅(qū)動信號或第二驅(qū)動信號，其中第一驅(qū)動信號表示需要進行增益處理，第二驅(qū)動信號表示不需要進行增益處理。所述信號為在射頻儀和被測試件之間傳輸?shù)男盘?，可具體為測試儀表的輸入或輸出信號，或被測試件的輸入或輸出信號。所述信號的當前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位。信號處理模塊312可進一步包括選通單元3121、增益處理單元3122和直通單元 3123。選通單元3121可用于接收檢測和驅(qū)動模塊311輸出的驅(qū)動信號，并根據(jù)接收到的驅(qū)動信號選通增益處理單元3122或直通單元3123，以便在測試儀表32和被測試件33之間
8形成信號的傳輸回路。具體的，選通單元3121可用于接收檢測和驅(qū)動模塊311輸出的第一驅(qū)動信號和第二驅(qū)動信號；且在接收到第一驅(qū)動信號時選通增益處理單元3122，在接收到第二驅(qū)動信號時選通直通單元3123。增益處理單元3122可用于對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號。直通單元3123可用于提供所述信號傳輸?shù)闹眰魍?，不對所述信號進行增益處理，而是直接輸出所述信號。(1)上述技術(shù)方案中，檢測和驅(qū)動模塊311獲取的所述信號的當前狀態(tài)信息可包括以下之一所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位。相應的，預設(shè)的門限條件可具體為第一門限條件或第四門限條件；第一門限條件為所述信號的功率小于所述預設(shè)的功率門限值；第四門限條件為所述信號的功率大于或等于所述預設(shè)的功率門限值。該情形下，檢測和驅(qū)動模塊311檢測信號的功率，并將該功率與功率門限值進行比較，如果所述信號的功率滿足第一門限條件或第四門限條件，檢測和驅(qū)動模塊311輸出第一驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通增益處理單元3122。如果所述信號的功率不滿足第一門限條件或第四門限條件，檢測和驅(qū)動模塊311輸出第二驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通直通單元3123?；蛘撸A設(shè)的門限條件可具體為第二門限條件或第五門限條件第二門限條件為 所述信號的頻率位于所述預設(shè)的頻段；第五門限條件為所述信號的頻率超出所述預設(shè)的頻段。該情形下，檢測和驅(qū)動模塊311檢測信號的頻率，并將該頻率與預設(shè)的頻段進行比較，如果信號的頻率滿足第二門限條件或第五門限條件，檢測和驅(qū)動模塊311輸出第一驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通增益處理單元3122。如果信號的頻率不滿足第二門限條件或第五門限條件，檢測和驅(qū)動模塊311輸出第二驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通直通單元3123?；蛘?，預設(shè)的門限條件可具體為第三門限條件或第六門限條件第三門限條件為 所述信號的相位位于所述預設(shè)的相位范圍；第六門限條件為所述信號的相位超出所述預設(shè)的相位范圍。該情形下，檢測和驅(qū)動模塊311檢測信號的相位，并將該相位與預設(shè)的相位范圍進行比較，如果信號的相位滿足第三門限條件或第六門限條件，檢測和驅(qū)動模塊311 輸出第一驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通增益處理單元3122。如果信號的相位不滿足第三門限條件或第六門限條件，檢測和驅(qū)動模塊311輸出第二驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元 3121選通直通單元3123。對應上述第一門限條件、第二門限條件或第三門限條件的應用情形下，增益處理單元3122可具體為功率放大單元，通過對信號進行功率放大處理來提高測量信號輸出功率，從而擴展測試儀表的測試動態(tài)范圍；或者，增益處理單元3122可具體為低噪聲放大單元，通過對信號進行低噪聲放大處理來提高測量接收靈敏度，從而擴展測試儀表的測試動態(tài)范圍。直通單元3123不對所述信號進行功率放大或低噪聲放大處理，而是提供所述信號的直傳通道，直接輸出所述信號，以滿足測試儀表在原測試動態(tài)范圍內(nèi)對被測試件的部分端口特性參數(shù)的測試需要，如滿足測試儀表對濾波器通帶頻段內(nèi)輸出端口的駐波特性等參數(shù)的測試需要。對應上述第二門限條件、第三門限條件或第四門限條件的應用情形下，增益處理
9單元3122可具體為信號衰減單元，該信號衰減單元可具體為衰減器；通過對信號進行信號衰減處理，避免測試儀表內(nèi)的接收機飽和，以擴展測試儀表的動態(tài)測試范圍。直通單元 3123不對所述信號進行信號衰減處理，而是提供所述信號的直傳通道，直接輸出所述信號， 以滿足測試儀表在原測試動態(tài)范圍內(nèi)對被測試件的部分端口特性參數(shù)的測試需要，如滿足測試儀表對濾波器通帶頻段內(nèi)輸出端口的駐波特性等參數(shù)的測試需要。對應上述第四門限條件、第五門限條件或第六門限條件的應用情形下，增益處理單元3122可具體為信號衰減單元，該信號衰減單元可具體為接收耦合器，通過對信號進行衰減處理，以滿足測試儀表在原測試動態(tài)范圍內(nèi)對被測試件的端口特性和傳輸特性的測試需要。直通單元3123不對所述信號進行信號衰減處理，而是提供所述信號的直傳通道，直接輸出所述信號，以擴展測試儀表的測試動態(tài)范圍。(2)上述技術(shù)方案中，檢測和驅(qū)動模塊311獲取的所述信號的當前狀態(tài)信息也可包括以下任意組合所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位。相應的，預設(shè)的門限條件也可具體為以下條件的任意組合第一門限條件，第二門限條件，第三門限條件；該情形下，增益處理單元3122可具體為功率放大單元或低噪聲放大單元。不妨以檢測和驅(qū)動模塊311檢測信號的功率以及信號的頻率為例，進行說明檢測和驅(qū)動模塊311檢測信號的頻率以及信號的功率，將檢測到的信號的頻率與預設(shè)的頻段進行比較、并將檢測到的信號的功率與預設(shè)的功率門限值進行比較。如果檢測到的信號的頻率位于預設(shè)的頻段(即所述信號的頻率滿足第二門限條件)、且檢測到的信號的功率小于預設(shè)的功率門限值(即所述信號的功率滿足第一門限條件)，檢測和驅(qū)動模塊311輸出第一驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通增益處理單元3122 ；否則，檢測和驅(qū)動模塊311輸出第二驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通直通單元3123。或者，預設(shè)的門限條件也可相應為以下條件的任意組合第二門限條件，第三門限條件，第四門限條件；該情形下，增益處理單元3122可具體為信號衰減單元；該信號衰減單元可具體為衰減器。不妨以檢測和驅(qū)動模塊311檢測信號的功率以及信號的頻率為例， 進行說明。檢測和驅(qū)動模塊311檢測信號的頻率以及信號的功率，將檢測到的信號的頻率與預設(shè)的頻段進行比較、并將檢測到的信號的功率與預設(shè)的功率門限值進行比較。如果檢測到的信號的頻率位于預設(shè)的頻段(即所述信號的頻率滿足第二門限條件)、且檢測到的信號的功率大于或等于預設(shè)的功率門限值(即所述信號的功率滿足第四門限條件)，檢測和驅(qū)動模塊311輸出第一驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通增益處理單元3122 ；否則， 檢測和驅(qū)動模塊311輸出第二驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通直通單元3123。或者，預設(shè)的門限條件也可相應為以下條件的任意組合第四門限條件，第五門限條件，第六門限條件；該情形下，增益處理單元3122可具體為信號衰減單元；該信號衰減單元可具體為接收耦合器。不妨以檢測和驅(qū)動模塊311檢測信號的功率以及信號的頻率為例，進行說明。檢測和驅(qū)動模塊311檢測信號的頻率以及信號的功率，將檢測到的信號的頻率與預設(shè)的頻段進行比較、并將檢測到的信號的功率與預設(shè)的功率門限值進行比較。如果檢測到的信號的頻率超出預設(shè)的頻段(即所述信號的頻率滿足第五門限條件)、且檢測到的信號的功率大于或等于預設(shè)的功率門限值(即所述信號的功率滿足第四門限條件)， 檢測和驅(qū)動模塊311輸出第一驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通增益處理單元3122 ；否則，檢測和驅(qū)動模塊311輸出第二驅(qū)動信號，以驅(qū)動選通單元3121選通直通單元3123。
由此可見，本實施例提供的測試控制裝置中，檢測和驅(qū)動模塊通過獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息，并將該信息與預設(shè)的門限條件進行比較， 根據(jù)比較結(jié)果輸出第一驅(qū)動信號或第二驅(qū)動信號，分別驅(qū)動選通單元選通增益處理單元或直通單元，以自動完成對信號是否進行增益處理的選通控制。本實施例提供的測試控制裝置，可滿足測試儀表對被測試件的端口特性和傳輸特性測試的需要，選通控制過程不需要在不同測試系統(tǒng)間切換或人工干預，在檢測過程中無需增加新的測量工序，降低操作復雜度和成本，從而提高了測試的效率。本發(fā)明實施例所述的測試儀表可包括矢量網(wǎng)絡分析儀、信號發(fā)生器、功率計、噪聲測試儀和信號分析儀等，其中，信號分析儀可具體為完成時域、頻域、碼域至少其中之一信號分析的儀表。完成時域信號分析的儀表也稱為示波器；完成頻域信號分析的儀表也稱為頻譜儀，完成頻域和碼域信號分析的儀表也稱為矢量頻譜分析儀。被測試件可包括濾波器、放大器、混頻器等。所述信號為在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘?，可具體為測試儀表的輸入或輸出信號，或被測試件的輸入或輸出信號。信號可包括但不限于幾 HZ 300GHZ范圍內(nèi)的模擬信號。本實施例提供的測試控制裝置包括的各模塊的功能，可基于軟件編程的方式實現(xiàn)，也可采用搭建硬件電路的方式實現(xiàn)，結(jié)構(gòu)簡單且成本低。下面不妨以測試儀表為VNA為例，并結(jié)合圖4a-圖7，詳細說明本發(fā)明實施例提供的測試控制的硬件實現(xiàn)和方法機理。圖如為本發(fā)明實施例四提供的測試控制裝置的原理框圖。如圖如所示的測試控制裝置中，檢測和驅(qū)動模塊可包括射頻檢波器(RF DeteCtor)41、第一定向耦合器42和第二定向耦合器43。第一定向耦合器42和第二定向耦合器43中，每個定向耦合器分別有兩個直通端以及兩個耦合端，兩個直通端作為信號的輸入端和輸出端，耦合端用于輸出信號。射頻檢波器(RF DeteCtor)41有兩個輸入端和一個輸出端，用于檢測第一定向耦合器42或第二定向耦合器43輸出的信號的功率，且在所述信號的功率小于所述預設(shè)的功率門限值(即信號的功率滿足第一門限條件)時，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號。檢測和驅(qū)動模塊還可包括第一負載44和第二負載45。選通單元可包括第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2。增益處理單元為低噪聲放大單元，可具體為LNA (低噪聲放大器，Low Noise Amplifier) 46，用于對所述信號進行低噪聲放大處理，并輸出經(jīng)所述低噪聲放大處理的所述信號。直通單元具體為直傳通道47。如圖如所示，VNA的一個輸入輸出端，S卩Pl端連接有DUT;第一定向耦合器42的兩個直通端分別連接DUT和第一開關(guān)Si，一個耦合端連接射頻檢波器41的一個輸入端，另一個耦合端連接第一負載44 ；第二定向耦合器43的兩個直通端分別連接VNA的P2端和第二開關(guān)S2，一個耦合端連接射頻檢波器41的另一個輸入端，另一個耦合端連接第二負載45 ； 射頻檢波器41的輸出端連接第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2。第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2分別以可選通的方式，連接在LNA46和直傳通道47的兩端，且第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2在射頻檢波器41的驅(qū)動控制下同步動作，如在射頻檢波器41輸出第一驅(qū)動信號時，第一開關(guān) Sl和第二開關(guān)S2同步選通LNA46而斷開直傳通道47，在射頻檢波器41輸出第二驅(qū)動信號時，第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通直傳通道47而斷開LNA46。
采用VNA可以完成對DUT的端口特性和傳輸特性測試，如P4和P3之間的插損、P3 和P4端口駐波、P3到P4端口的阻帶抑制度等。依據(jù)VNA的儀器特性，VNA的Pl端口和P2 端口的功能完全相同；在實際測試過程中，每個端口具體作為信號的輸入端還是輸出端，可根據(jù)實際測試內(nèi)容的需要預先設(shè)置。例如當測試DUT的P4端到P3端的插損時，Pl端為信號的輸出端，P2端為信號的輸入端；當測試DUT的P3端到P4端的阻帶抑制度時，P2端為信號的輸出端，Pl端為信號的輸入端；當測試DUT的P4的駐波特性時，Pl端即做信號的輸出端也為信號的輸入端；當測試DUT的P3端的駐波特性時，P2端即做信號的輸出端也做信號的輸入端；等等。在具體的測試過程中，信號的選取(即耦合)以及增加測試動態(tài)范圍的測試控制裝置中的信號處理模塊的所接端口，與具體所需測試的特性相關(guān)，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以進行相應的選擇。下面以VNA測試濾波器為例，說明圖如所示的測試控制裝置的原理。通常，在VNA對濾波器的性能測試時，對于濾波器通帶(Pass Band)和阻帶 (Reject Band)關(guān)注的特性參數(shù)不同，如在濾波器通帶內(nèi)關(guān)注濾波器的端口特性，如濾波器通帶的插損和端口駐波特性等，在濾波器阻帶關(guān)注濾波器的傳輸特性，如濾波器阻帶抑制度。不妨以VNA的Pl端作輸出端而P2端作輸入端的情形為例，說明VNA測試濾波器的性能參數(shù)過程中，測試控制裝置的工作機理。當VNA掃描到濾波器阻帶時，由于VNA通過Pl端輸出的信號難以通過濾波器阻帶，此時，射頻檢波器41檢測到的信號的功率很小，如小于預設(shè)的功率門限值，則輸出第一驅(qū)動信號，用以驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通LNA46，由LNA46對信號進行低噪聲放大處理，這樣，VNA通過P2端接收到的信號為經(jīng)低噪聲放大處理后的信號，提高VNA測量接收靈敏度，從而擴展VNA的測試動態(tài)范圍；其VNA等效測試框圖如圖4b所示。當VNA掃描到濾波器通帶時，由于VNA通過Pl端輸出的信號可通過濾波器通帶， 此時，射頻檢波器41檢測到的信號的功率較大，如大于或等于預設(shè)的功率門限值，則輸出第二驅(qū)動信號，用以驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通直傳通道47 ；其VNA等效測試框圖如圖如所示；這樣，VNA通過P2端接收到的信號為未經(jīng)低噪聲放大處理后的信號?？梢?，采用如圖如所示的測試控制裝置，可在VNA掃描到濾波器阻帶和通帶時，射頻檢波器41根據(jù)檢測到信號的功率和預設(shè)的功率門限值，驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2 自動完成LNA46和直傳通道47之間的切換。在VNA掃描到濾波器阻帶時，由于通過濾波器的信號功率很小，射頻檢波器41驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2切換連接到LNA46，對小信號進行低噪聲放大處理，提高VNA 測量接收靈敏度，使得VNA能夠提供更高的測試動態(tài)范圍。在VNA掃描到濾波器通帶時，通過濾波器的信號功率較大，如果此時還采用LAN46 對信號進行低噪聲放大，則由于有用信號和無用信號被等比例放大，因此，會導致濾波器通帶內(nèi)輸出端口的駐波特性無法測試。此時，射頻檢波器41驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2 切換連接到直傳通道47，直傳通道47不對信號進行低噪聲放大處理，以滿足VNA測試濾波器通帶內(nèi)輸出端口的駐波特性的測試需要。通過上述分析可知，本實施例提供的測試控制裝置，可在VNA掃描到濾波器阻帶和通帶時，射頻檢波器41根據(jù)檢測到信號的功率和預設(shè)的功率門限值，驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2自動完成LNA46和直傳通道47之間的切換，無需降低VNA的測試速度，即不需要降低VNA內(nèi)接收機的中頻帶寬，且切換控制過程無需人工干預；此外，VNA在測試控制裝置的輔助下，可完成濾波器通帶的全部指標測試，VNA系統(tǒng)提供了更強的檢測控制能力，并且在測試濾波器阻帶特性時，系統(tǒng)擴展了測試動態(tài)范圍，提升了測試精度，因而提高了 VNA 的測試效率。圖5為本發(fā)明實施例五提供的測試控制裝置的原理框圖。如圖5所示的測試控制裝置中，檢測和驅(qū)動模塊可包括射頻檢波器51和定向耦合器52。定向耦合器52有兩個直通端和兩個耦合端，其中，兩個直通端分別連接DUT的P3 端和VNA的P2端，一個耦合端Cl與射頻檢波器的一個輸入端連接，且另一個耦合端C2與射頻檢波器51的另一個輸入端連接。射頻檢波器51的輸出端連接第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2。第一開關(guān)Sl的一端和第二開關(guān)S2的一端分別以可選通的方式，連接在功率放大單元53和直傳通道M的兩端， 且第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2在射頻檢波器51的驅(qū)動控制下同步動作，如在射頻檢波器51 輸出第一驅(qū)動信號時，第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通功率放大單元53而斷開直傳通道M，在射頻檢波器51輸出第二驅(qū)動信號時，第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通直傳通道M而斷開功率放大單元53。第一開關(guān)Sl的另一端與VNA的Pl端連接，第二開關(guān)S2的另一端與DUT連接。本實施例中，功率放大單元53可包括AMP (功率放大器)531，用于對所述信號進行功率放大處理?？蛇x的，功率放大單元還可包括限幅器(Limitr)532，以免AMP531輸出功率過高而損壞VNA，提高了 VNA操作的安全性。本實施例提供的測試控制裝置中，當DUT的P3端有信號輸出時，定向耦合器52的耦合端，即Cl端輸出信號到射頻檢波器51 ；當VNA的P2端有信號輸出時，定向耦合器52的耦合端，即C2端輸出信號到射頻檢波器51。如果射頻檢波器51檢測信號的功率，在信號的功率小于預設(shè)的功率門限值(即信號的功率滿足第一門限條件)時，射頻檢波器51輸出第一驅(qū)動信號，用于驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2切換連接到功率放大單元53，對VNA的 Pl端輸出的信號進行功率放大處理。由于信號經(jīng)過AMP531放大處理后提高了測量信號輸出功率，因而提高了 VNA的測試動態(tài)范圍。如果射頻檢波器51檢測到信號的功率大于或等于預設(shè)的功率門限值時，射頻檢波器51輸出第二驅(qū)動信號，用于驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2切換連接到直傳通道M。直傳通道M不對信號進行功率放大放大處理，以滿足VNA 測試DUT的部分端口輸出特性，如濾波器通帶內(nèi)輸出端口的駐波特性的測試需要。本實施例提供的測試控制裝置，射頻檢波器通過檢測DUT的P3端或VNA的P2端的輸出功率，控制第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2的自動切換，并達到圖如對應實施例相似的技術(shù)效果，在此不再贅述；此外，通過在功率放大單元中引入限幅器，還有利于提高VNA操作的安全性?？蛇x的，圖如和圖5對應實施例中增益處理單元還可為信號衰減單元，用于對所述信號進行信號衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號衰減處理的所述信號。該信號衰減單元可具體為衰減器或接收耦合器。該情形下，射頻檢波器，用于檢測第一定向耦合器或第二定向耦合器輸出的所述信號的功率，且在所述信號的功率大于或等于所述預設(shè)的功率門限值(即信號的功率滿足第四門限條件)時，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動信號和第二驅(qū)動信號， 分別選通信號衰減單元或直通單元。如果信號衰減單元具體為接收耦合器，則該情形提供的測試控制裝置可與測試儀表，如VNA的主體連接，具體的，測試控制裝置和VNA內(nèi)的接收機連接，測試控制裝置中的接收耦合器可以相當于VNA內(nèi)原有的接收耦合器進行工作；此時內(nèi)置有測試控制裝置的VNA，不需要人工干預即可實現(xiàn)的測試控制，從而提高VNA的測試效率。圖6為本發(fā)明實施例六提供的測試控制裝置的原理框圖。如圖6所示的測試控制裝置中，檢測和驅(qū)動模塊可包括射頻檢波器61、BPF(帶通濾波器，Band Pass Filter)62、 第一定向耦合器63和第二定向耦合器64。檢測和驅(qū)動模塊還可包括第一負載65和第二負載66。第一定向耦合器63有兩個直通端和兩個耦合端，其中，兩個直通端分別連接VNA 的Pl端和DUT的P4端，一個耦合端與BPF62的輸入端連接，另一耦合端與第一負載65連接；第二定向耦合器64也有兩個直通端和兩個耦合端，其中，兩個直通端分別連接 VNA的P2端和第二開關(guān)S2，一個耦合端與第二負載66連接，另一個耦合端與射頻檢波器61 的一個輸入端連接。射頻檢波器61的另一個輸入端與BPF62的輸出端連接，且射頻檢波器61的輸出端分別與第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2連接。第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2分別以可選通的方式，連接在LNA67和直傳通道68的兩端，且第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2在射頻檢波器61的驅(qū)動控制下同步動作，如在射頻檢波器61輸出第一驅(qū)動信號時，第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2 同步選通LNA67而斷開直傳通道68，在射頻檢波器61輸出第二驅(qū)動信號時，第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通直傳通道68而斷開LNA67。在實際應用中，VNA的Pl端輸出的信號經(jīng)第一定向耦合器63輸入到BPF62。BPF62 檢測該信號的頻率，如果信號的頻率位于BPF62的通帶頻段(即信號的頻率滿足第二門限條件，其中第二門限條件中的預設(shè)的頻段為BPF62的通帶頻段)，則BPF62向射頻檢波器61 輸出信號；否則，不向BPF62輸出信號。當射頻檢波器61在檢測到BPF62有信號輸入時，可輸出第二驅(qū)動信號，用以驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通直傳通道68，直傳通道 68不對信號進行低噪聲放大處理，以滿足VNA測試端口特性的需要。當射頻檢波器61在檢測到BPF62沒有信號輸入時，可輸出第一驅(qū)動信號，用以驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通LNA67，LNA67對信號進行低噪聲放大處理，以擴展VNA的測試動態(tài)范圍。本實施例提供的測試控制裝置，可通過設(shè)置BPF62透傳頻率位于BPF通帶頻段的信號，并由射頻檢波器驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2切換到直傳通道68，以滿足對特定頻段的信號的測試需求，實現(xiàn)方式非常靈活；此外，對超出BPF62通帶頻段的信號，由射頻檢波器驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2切換到LNA67，以提高VNA測量接收靈敏度，從而擴展 VNA測試動態(tài)范圍。由于第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2的切換控制是在射頻檢波器的驅(qū)動控制下自動完成，無需降低VNA的測試速度，即不需要降低VNA內(nèi)接收機的中頻帶寬，且切換控制過程無需人工干預，因而提高了 VNA的測試效率?？蛇x的，圖6對應實施例中增益處理單元還可為信號衰減單元，用于對所述信號進行信號衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號衰減處理的所述信號。
該信號衰減單元可具體為衰減器。該情形下，射頻檢波器在檢測到BPF有信號輸出(即信號的頻率滿足第二門限條件，其中第二門限條件中的預設(shè)的頻段為BPF的通帶頻段)時，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動信號和第二驅(qū)動信號，分別選通衰減器或直通單元?；蛘撸撔盘査p單元可具體為接收耦合器；該情形下，射頻檢波器在檢測到BPF 有信號輸出(即信號的頻率滿足第五門限條件，其中第五門限條件中的預設(shè)的頻段為BPF 的通帶頻段)時，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號；否則，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動信號和第二驅(qū)動信號，分別接收耦合器或直通單元。該情形提供的測試控制裝置可與測試儀表，如VNA的主體連接，具體的，測試控制裝置和VNA的接收機連接，測試控制裝置中的接收耦合器可以相當于VNA內(nèi)原有的接收耦合器進行工作；此時內(nèi)置有測試控制裝置的VNA，不需要人工干預即可實現(xiàn)的測試控制， 從而提高VNA的測試效率。圖7為本發(fā)明實施例七提供的測試控制裝置的原理框圖。如圖7所示的測試控制裝置中，檢測和驅(qū)動模塊可包括相位探測器71、第一定向耦合器73和第二定向耦合器74。 檢測和驅(qū)動模塊還可包括第一負載75和第二負載76。相位探測器71可以為射頻相位探測器。第一定向耦合器73有兩個直通端和兩個耦合端，其中，兩個直通端分別連接VNA 的Pl端和DUT的P4端，一個耦合端與相位探測器71的一個輸入端連接，另一耦合端與第一負載75連接；第二定向耦合器74也有兩個直通端和兩個耦合端，其中，兩個直通端分別連接 VNA的P2端和第二開關(guān)S2，一個耦合端與第二負載76連接，另一個耦合端與相位探測器71 的另一個輸入端連接。相位探測器71的輸出端分別與第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2連接。第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2分別以可選通的方式，連接在LNA77和直傳通道78的兩端，且第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2在相位探測器71的驅(qū)動控制下同步動作，如在相位探測器71輸出第一驅(qū)動信號時，第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通LNA77而斷開直傳通道78，在相位探測器71輸出第二驅(qū)動信號時，第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通直傳通道78而斷開LNA77。在實際應用中，VNA的Pl端輸出的信號經(jīng)第一定向耦合器73輸入到相位探測器 71。相位探測器71檢測該信號的相位，如果信號的相位位于相位探測器71允許通過的相位范圍(即信號的相位滿足第三門限條件，其中第三門限條件中的預設(shè)的相位范圍，為相位探測器允許通過的相位范圍)，則相位探測器71可輸出第二驅(qū)動信號，用以驅(qū)動第一開關(guān) Sl和第二開關(guān)S2同步選通直傳通道78，直傳通道78不對信號進行低噪聲放大處理，以滿足VNA測試端口特性的需要。當相位探測器71檢測到信號的相位，超出其允許通過的相位范圍，則可輸出第一驅(qū)動信號，用以驅(qū)動第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2同步選通LNA77，LNA77 對信號進行低噪聲放大處理，以擴展VNA的測試動態(tài)范圍。本實施例提供的測試控制裝置，可通過設(shè)置相位探測器檢測VNA的Pl端輸出的信號的相位，實現(xiàn)對第一開關(guān)Sl和第二開關(guān)S2的自動切換控制，即可為相位超出相位探測器允許通過的相位范圍的信號，提供更高的VNA測試動態(tài)范圍，也可為相位位于相位探測器允許通過的相位范圍的信號，提供直傳通道，以滿足VNA的實際測試需求。整個切換過程在相位探測器的驅(qū)動控制下自動完成，無需降低VNA的測試速度，即不需要降低VNA內(nèi)接收機的中頻帶寬，且切換控制過程無需人工干預，因而提高了 VNA的測試效率?？蛇x的，圖7對應實施例中增益處理單元還可為信號衰減單元，用于對所述信號進行信號衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號衰減處理的所述信號。該信號衰減單元可具體為衰減器。該情形下，相位探測器在檢測到信號的相位，位于自身允許通過的相位范圍(即信號的相位滿足第三門限條件，其中第三門限條件中的預設(shè)的相位范圍，為相位探測器允許通過的相位范圍)時，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動信號和第二驅(qū)動信號，分別衰減器或直通單元。或者，該信號衰減單元可具體為接收耦合器。該情形下，相位探測器在檢測到信號的相位，位于自身允許通過的相位范圍(即信號的相位滿足第六門限條件，其中第六門限條件中的預設(shè)的相位范圍，為相位探測器允許通過的相位范圍)時，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號；否則，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號。選通單元根據(jù)接收到的第一驅(qū)動信號和第二驅(qū)動信號，分別選通接收耦合器或直通單元。該情形提供的測試控制裝置可與測試儀表，如VNA的主體連接，具體的，測試控制裝置和VNA的接收機連接，測試控制裝置中的接收耦合器可以相當于VNA內(nèi)原有的接收耦合器進行工作；此時內(nèi)置有測試控制裝置的VNA，不需要人工干預即可實現(xiàn)的測試控制，從而提高VNA的測試效率。圖8為本發(fā)明實施例八提供的測試儀表的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖8所示的測試儀表包括測試儀表的主體81和測試控制裝置82 ；測試控制裝置82與測試儀表的主體81連接。 某些測試儀表，如VNA、信號源等測試儀表的主體的兩個輸入輸出端在連續(xù)脈沖下交替作為輸入端或輸出端，因此，為了方便測試，測試儀表的主體81的兩個輸入輸出端可分別連接一測試控制裝置82，作為測試儀表內(nèi)置測試控制裝置的一種可選的解決方案；其中，測試控制裝置82的具體結(jié)構(gòu)及其可達到的技術(shù)效果，可參見圖3-圖7對應實施例的記載，在此不再贅述。如果測試控制裝置82中包括信號衰減單元、且信號衰減單元具體為接收耦合器時，測試儀表內(nèi)置測試控制裝置可采用另一種可選的解決方案，即測試控制裝置82可直接與測試儀表的主體81內(nèi)的接收機連接。此時，測試控制裝置中的接收耦合器可以相當于測試儀表的主體81內(nèi)原有的接收耦合器進行工作，在測試儀表內(nèi)部實現(xiàn)測試自動控制，并且提高了測試儀表的集成度；相關(guān)描述可參見圖4a、圖5-圖7對應實施例中，關(guān)于內(nèi)置有測試控制裝置的VNA的相應記載，在此不再贅述。本發(fā)明實施例還提供了一種測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于對被測試件進行測試，包括測試儀表、被測試件和測試控制裝置，測試儀表和被測試件通過測試控制裝置，形成測試的信號傳輸回路。其中，所述測試控制裝置可外置于所述測試儀表，且連接在所述測試儀表和所述被測試件之間；或者，所述測試控制裝置內(nèi)置在所述測試儀表中，與所述測試儀表的主體連接，且所述測試儀表的主體通過所述測試控制裝置與所述被測試件連接。下面結(jié)合圖9 和圖10，對測試控制裝置外置和內(nèi)置測試儀表情形，分別予以說明。圖9為本發(fā)明實施例九提供的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖9所示，測試系統(tǒng)包括測試儀表91、被測試件92和測試控制裝置93。測試儀表91和被測試件92分別與測試控制裝置93連接，且通過測試控制裝置93，在測試儀表91和被測試件92之間形成信號的傳輸回路。其中，測試控制裝置93的具體結(jié)構(gòu)及其可達到的技術(shù)效果，可參見圖3-圖7對
16應實施例的記載，在此不再贅述。圖10為本發(fā)明實施例十提供的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖10所示，測試系統(tǒng)包括測試儀表101和被測試件102。其中，測試儀表101包括測試儀表的主體1011、以及在測試儀表的主體1011的兩端分別設(shè)有一測試控制裝置1012。測試儀表的主體1011通過測試控制裝置1012與被測試件102連接，對被測試件102的端口特性和傳輸特性等參數(shù)進行測試。其中，測試控制裝置1012的具體結(jié)構(gòu)及其可達到的技術(shù)效果，可參見圖3-圖7對應實施例的記載，在此不再贅述。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解附圖只是一個實施例的示意圖，附圖中的模塊或流程并不一定是實施本發(fā)明所必須的。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實施例中的裝置中的模塊可以按照實施例描述分布于實施例的裝置中，也可以進行相應變化位于不同于本實施例的一個或多個裝置中。上述實施例的模塊可以合并為一個模塊，也可以進一步拆分成多個子模塊。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成，前述的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述方法實施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括R0M、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。最后應說明的是以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應當理解其依然可以對前述實施例所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換； 而這些修改或者替換，并不使相應技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明實施例技術(shù)方案的精神和范圍。
1權(quán)利要求
1.一種測試控制方法，其特征在于，包括獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息；所述當前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位； 判斷所述當前狀態(tài)信息是否滿足預設(shè)的門限條件；在所述當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，直接輸出所述信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，直接輸出所述信號，包括在所述當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，輸出第一驅(qū)動信號，根據(jù)所述第一驅(qū)動信號對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，輸出第二驅(qū)動信號，根據(jù)所述第二驅(qū)動信號直接輸出所述信號；所述第一驅(qū)動信號表示需要進行增益處理， 所述第二驅(qū)動信號表示不需要進行增益處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述預設(shè)的門限條件包括以下之一或任意組合第一門限條件，第二門限條件，第三門限條件；所述增益處理包括功率放大處理或低噪聲放大處理；或者，所述預設(shè)的門限條件包括以下之一或任意組合第二門限條件，第三門限條件， 第四門限條件；所述增益處理包括信號衰減處理；或者，所述預設(shè)的門限條件包括以下之一或任意組合第四門限條件，第五門限條件， 第六門限條件；所述增益處理包括信號衰減處理；所述第一門限條件為所述信號的功率小于所述預設(shè)的功率門限值；所述第二門限條件為所述信號的頻率位于所述預設(shè)的頻段；所述第三門限條件為所述信號的相位位于所述預設(shè)的相位范圍；所述第四門限條件為所述信號的功率大于或等于所述預設(shè)的功率門限值；所述第五門限條件為所述信號的頻率超出所述預設(shè)的頻段；所述第六門限條件為所述信號的相位超出所述預設(shè)的相位范圍。
4.一種測試控制裝置，其特征在于，包括檢測和驅(qū)動模塊，用于獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息， 并判斷所述當前狀態(tài)信息是否滿足預設(shè)的門限條件；所述當前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號的功率，所述信號的頻率，所述信號的相位；信號處理模塊，用于在所述當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，直接輸出所述信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述檢測和驅(qū)動模塊，還用于根據(jù)判斷結(jié)果輸出第一驅(qū)動信號或第二驅(qū)動信號；所述第一驅(qū)動信號表示需要進行增益處理，所述第二驅(qū)動信號表示不需要進行增益處理； 所述信號處理模塊包括增益處理單元，用于對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號； 直通單元，用于提供所述信號傳輸?shù)闹眰魍?，直接輸出所述信號?選通單元，用于在接收到所述第一驅(qū)動信號時，選通所述增益處理單元；以及，在接收到所述第二驅(qū)動信號時，選通所述直通單元。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述預設(shè)的門限條件包括以下之一或任意組合第一門限條件，第二門限條件，第三門限條件；所述增益處理單元具體為功率放大處理單元，用于對所述信號進行功率放大處理，并輸出經(jīng)所述功率放大處理的所述信號；或者，所述所述增益處理單元具體為低噪聲放大處理單元，用于對所述信號進行低噪聲放大處理，并輸出經(jīng)所述低噪聲放大處理的所述信號；或者，所述預設(shè)的門限條件包括以下之一或任意組合第二門限條件，第三門限條件， 第四門限條件；所述增益處理單元具體為信號衰減處理單元，用于對所述信號進行信號衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號衰減處理的所述信號；或者，所述預設(shè)的門限條件包括以下之一或任意組合第四門限條件，第五門限條件， 第六門限條件；所述增益處理單元具體為信號衰減處理單元，用于對所述信號進行信號衰減處理，并輸出經(jīng)所述信號衰減處理的所述信號；所述第一門限條件為所述信號的功率小于所述預設(shè)的功率門限值；所述第二門限條件為所述信號的頻率位于所述預設(shè)的頻段；所述第三門限條件為所述信號的相位位于所述預設(shè)的相位范圍；所述第四門限條件為所述信號的功率大于或等于所述預設(shè)的功率門限值；所述第五門限條件為所述信號的頻率超出所述預設(shè)的頻段；所述第六門限條件為所述信號的相位超出所述預設(shè)的相位范圍。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預設(shè)的門限條件具體為所述第一門限條件或所述第四門限條件；所述檢測和驅(qū)動模塊包括定向耦合器和射頻檢波器；所述定向耦合器，包括兩個直通端，分別為所述信號的輸入端和輸出端；耦合端，輸出所述信號；所述射頻檢波器，用于檢測所述耦合端輸出的所述信號的功率，且在所述信號的功率滿足所述第一門限條件或所述第四門限條件時，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號； 否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預設(shè)的門限條件具體為所述第二門限條件或所述第五門限條件，其中，所述預設(shè)的頻段為帶通濾波器的通帶頻段；所述檢測和驅(qū)動模塊包括定向耦合器、帶通濾波器和射頻檢波器；所述定向耦合器，包括兩個直通端，分別為所述信號的輸入端和輸出端；耦合端，輸出所述信號；所述帶通濾波器，用于檢測所述耦合端輸出的所述信號的頻率，且在所述信號的頻率滿足所述第二門限條件或所述第五門限條件時，輸出所述信號；否則，不輸出所述信號；所述射頻檢波器，用于檢測所述帶通濾波器是否有所述信號的輸出，如果有，則向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號；否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號；或者，所述射頻檢波器，用于檢測所述帶通濾波器是否有所述信號的輸出，如果有，則向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號；否則，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預設(shè)的門限條件具體為所述第三門限條件或所述第六門限條件，其中，所述預設(shè)的相位范圍為相位探測器允許探測的相位范圍；所述檢測和驅(qū)動模塊包括定向耦合器和相位探測器；所述定向耦合器，包括兩個直通端，分別為所述信號的輸入端和輸出端；耦合端，輸出所述信號；所述相位探測器，用于檢測所述耦合端輸出的所述信號的相位，且在所述信號的相位滿足所述第三門限條件或所述第六門限條件時，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號， 否則，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號；或者，所述相位探測器，用于檢測所述耦合端輸出的所述信號的相位，且所述信號的相位滿足所述第三門限條件或所述第六門限條件時，向所述選通單元輸出所述第二驅(qū)動信號，否則，向所述選通單元輸出所述第一驅(qū)動信號。
10.根據(jù)權(quán)利要求4-9任一所述的裝置，其特征在于，所述測試儀表包括網(wǎng)絡分析儀、信號發(fā)生器、功率計、噪聲測試儀或信號分析儀；所述信號分析儀具體為完成時域、頻域、碼域至少其中之一信號分析的儀表。
11.根據(jù)權(quán)利要求4-10任一所述的裝置，其特征在于，所述被測試件包括濾波器、放大器或混頻器。
12.根據(jù)權(quán)利要求4-11任一所述的裝置，其特征在于，所述信號具體為所述測試儀表的輸入或輸出信號，或所述被測試件的輸入或輸出信號。
13.—種測試儀表，包括所述測試儀表的主體，其特征在于，還包括測試控制裝置，與所述測試儀表的主體連接，為如權(quán)利要求4-12任一所述的裝置。
14.一種測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)用于對被測試件進行測試，所述系統(tǒng)包括測試儀表和測試控制裝置；所述測試控制裝置為如權(quán)利要求4-9任一所述的裝置；所述測試控制裝置外置于所述測試儀表，且連接在所述測試儀表和所述被測試件之間；或者，所述測試控制裝置內(nèi)置在所述測試儀表中，與所述測試儀表的主體連接，且所述測試儀表的主體通過所述測試控制裝置與所述被測試件連接。
全文摘要
本發(fā)明實施例涉及一種測試控制方法、裝置和系統(tǒng)。其中一種方法包括獲取在測試儀表和被測試件之間傳輸?shù)男盘柕漠斍盃顟B(tài)信息；所述當前狀態(tài)信息包括以下之一或任意組合所述信號的功率、頻率或相位；判斷所述當前狀態(tài)信息是否滿足預設(shè)的門限條件；在所述當前狀態(tài)信息滿足所述門限條件時，對所述信號進行增益處理，并輸出經(jīng)所述增益處理的所述信號；否則，直接輸出所述信號。本發(fā)明實施例提高了測試儀表的測試效率。
文檔編號H04B17/00GK102388552SQ201180001474
公開日2012年3月21日 申請日期2011年6月15日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月15日
發(fā)明者張志偉, 王偉, 魏宏亮 申請人:華為技術(shù)有限公司