專利名稱：小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測裝置及檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)一種模塊時序參數(shù)的檢測裝置及方法，尤其是指一種能準(zhǔn)確且自動地 對SFP(Small Form-factor Pluggable transceiver,小封裝可插拔收發(fā)器)模塊的時序參 數(shù)的檢測裝置及檢測方法。
背景技術(shù)：
SFP模塊是一種小型的熱插拔光收發(fā)模塊，其安裝于千兆以太網(wǎng)模塊的SFP插槽 中，用于提供與其他交換機(jī)和服務(wù)器的千兆位連接，SFP模塊時序參數(shù)的合理的范圍大小對 于光線鏈路減少故障的發(fā)生有著至關(guān)重要的作用，因此對于SFP模塊的時序參數(shù)檢測也尤 為重要。同時，MSA(MultiSource Agreement,多源協(xié)議)協(xié)議為確保來自不同供應(yīng)商光器 件產(chǎn)品的互用，MSA協(xié)議INF-8074i對SFP模塊的時序有嚴(yán)格的規(guī)定。目前對SFP模塊時 序參數(shù)的測試方法是采用一臺示波器和一塊測試板，將被測模塊插入測試板的SFP模塊插 槽中，并將示波器的兩個探頭點在測試板上相應(yīng)的焊盤上，通過手工撥動開關(guān)，使觸發(fā)信號 發(fā)生跳變，繼而觸發(fā)相應(yīng)的狀態(tài)檢測引腳，反映在示波器上就是一個探頭的上升沿(或下 降沿)到另一個探頭的下降沿(或上升沿)的時間間隔。目前對SFP模塊時序參數(shù)測試的 整個系統(tǒng)比較復(fù)雜，且需要人工操作，有時需要兩人協(xié)作才能完成時序測試，測試中存在操 作不規(guī)范以及容易弓I入誤差的缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種智能化、且能精確測試的小封裝可插 拔收發(fā)器模塊時序參數(shù)的檢測裝置及檢測方法。 為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種小封裝可插拔收發(fā)器模塊時序參數(shù)的檢測裝 置，其包含有測試板、被測模塊、標(biāo)準(zhǔn)模塊、單片機(jī)及上位機(jī)，測試板上留有兩個插槽，一個 插接被測模塊，另一個插接標(biāo)準(zhǔn)模塊，被測模塊的發(fā)射端通過光纖連接到標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收 端，被測模塊的接收端通過光纖連接到標(biāo)準(zhǔn)模塊的發(fā)射端，測試板上并插接單片機(jī)，單片機(jī) 分為控制型單片機(jī)與總線型單片機(jī)，被測模塊與標(biāo)準(zhǔn)模塊的時序引腳分別通過測試板與控 制型單片機(jī)的輸入/輸出端口電連接，控制型單片機(jī)通過串行總線與總線型單片機(jī)電連 接，總線型單片機(jī)通過測試板上的USB轉(zhuǎn)換芯片和串口轉(zhuǎn)換芯片實現(xiàn)與上位機(jī)實時通信。
控制型單片機(jī)的輸入/輸出端口為P0端口，被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳、發(fā)射 端故障報錯引腳及接收端信號丟失指示引腳與標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳和接收端信 號丟失指示引腳分別一一對應(yīng)電連接PO端口的各管腳，被測模塊的電源開關(guān)和光電二極 管陽極開關(guān)通過插接于測試板上的電源管理芯片分別一一對應(yīng)電連接到控制型單片機(jī)的 PO端口中的各管腳。 本發(fā)明還提供一種對SFP模塊時序參數(shù)的檢測方法，該檢測方法包括有
對被測模塊的關(guān)斷發(fā)射時間參數(shù)的檢測；
對被測模塊的開啟發(fā)射時間參數(shù)的檢測；
對被測模塊的初始化時間參數(shù)的檢測； 對被測模塊的發(fā)射故障報錯時間參數(shù)的檢測； 對被測模塊的發(fā)射端復(fù)位時間參數(shù)的檢測； 對被測模塊的接收端無信號告警時間參數(shù)的檢測； 對被測模塊的接收端有信號告警解除時間參數(shù)的檢測； 通過上位機(jī)的程序控制控制型單片機(jī)的管腳的電平跳變，同時打開控制型單片機(jī)
的計時器開始計時，直到檢測到控制型單片機(jī)的指定引腳電平跳變?yōu)橛嫈?shù)結(jié)束，這個時間 值再通過修正即可得到被測模塊的時序參數(shù)值，所述上位機(jī)的程序是基于圖形化編程語言 開發(fā)的控制程序。 對被測模塊的關(guān)斷發(fā)射時間參數(shù)的檢測方式為 上位機(jī)的程序控制與被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳， 使該管腳置為低電平，即開啟被測模塊發(fā)射光功率，光由被測模塊的發(fā)射端經(jīng)過光纖到達(dá) 標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端，并加入程序延時，然后將與被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制 型單片機(jī)的管腳置高，即關(guān)閉被測模塊，并開啟計時器，打開中斷程序掃描與標(biāo)準(zhǔn)模塊的接 收端信號丟失指示引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳的狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)上升沿 電平跳變，關(guān)閉計時器，計時器的計時時間減去標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端無信號告警時間就是被 測模塊實際的關(guān)閉參數(shù)值。 對被測模塊的開啟發(fā)射時間參數(shù)的檢測方式為 上位機(jī)的程序控制與被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳，
使該管腳置為高電平，即關(guān)閉被測模塊，加入程序延時，然后將與被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制
引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳置低，即開啟被測模塊發(fā)射光功率，并開啟計時器，打開中
斷程序掃描與標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端信號丟失指示引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳的狀態(tài)，直
到捕捉到該管腳出現(xiàn)下降沿電平跳變，關(guān)閉計時器，計時器的計時時間減去標(biāo)準(zhǔn)模塊的接
收端有信號告警解除時間就是被測模塊實際的開啟發(fā)射時間參數(shù)值。 對被測模塊的初始化時間參數(shù)的檢測方式為 上位機(jī)的程序控制與被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳，
使該管腳置為低電平，然后使與被測模塊的電源開關(guān)連接的控制型單片機(jī)的管腳置為高電
平，即開啟電源管理芯片，為被測模塊上電，并開啟計時器，光經(jīng)過光纖到達(dá)標(biāo)準(zhǔn)模塊的接
收端，打開中斷程序掃描與標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端信號丟失指示引腳連接的控制型單片機(jī)的管
腳的狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變，關(guān)閉計時器，計時器的計時時間減去標(biāo)
準(zhǔn)模塊的接收端有信號告警解除時間就是被測模塊實際的初始化時間參數(shù)值。 對被測模塊的發(fā)射故障報錯時間參數(shù)的檢測方式為 將被測模塊的光電二極管陽極開關(guān)引腳引到測試板上，上位機(jī)的程序控制與被測 模塊的光電二極管陽極開關(guān)連接的控制型單片機(jī)的管腳，使該管腳置為低電平，加入程序 延時，然后使與被測模塊的光電二極管陽極開關(guān)連接的控制型單片機(jī)的管腳置為高電平， 并開啟計時器，打開中斷程序掃描與被測模塊的發(fā)射端故障報錯引腳連接的控制型單片機(jī) 的管腳的狀態(tài)，直到該管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變，關(guān)閉計時器，計時器的計時時間即被測模 塊的發(fā)射故障報錯時間參數(shù)值。 對被測模塊的發(fā)射端復(fù)位時間參數(shù)的檢測方式為
上位機(jī)的程序控制與被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳， 使該管腳置為低電平，并按照發(fā)射故障報錯時間參數(shù)的測試步驟使被測模塊的發(fā)射端故障 報錯引腳變?yōu)楦唠娖讲⑶益i定高狀態(tài)，然后將與被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制 型單片機(jī)的管腳置高，并打開中斷程序掃描與被測模塊的發(fā)射端故障報錯引腳連接的控制 型單片機(jī)的管腳的狀態(tài)，程序延時lus，然后將與被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制 型單片機(jī)的管腳置低，如果檢測到與被測模塊的發(fā)射端故障報錯引腳連接的控制型單片機(jī) 的管腳的下降沿電平跳變，則延時時間就是實際被測模塊的發(fā)射端復(fù)位時間參數(shù)值；如果 沒有發(fā)生下降沿跳變，使延時時間累加lus，直到掃描到與被測模塊的發(fā)射端故障報錯引腳 連接的控制型單片機(jī)的管腳下降沿電平跳變，則延時時間即為被測模塊的發(fā)射端復(fù)位時間 參數(shù)值。 對被測模塊的接收端無信號告警時間參數(shù)的檢測方式為 上位機(jī)的程序控制與標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳，
使該管腳置低，開啟標(biāo)準(zhǔn)模塊發(fā)射光功率，光由標(biāo)準(zhǔn)模塊的發(fā)射端經(jīng)過光纖到達(dá)被測模塊
的接收端，加入程序延時，然后將與標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制型單片機(jī)的
管腳置高關(guān)閉標(biāo)準(zhǔn)模塊，并開啟計時器，打開中斷程序掃描與被測模塊的接收端信號丟失
指示引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳的狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變，關(guān)
閉計時器，計時器計時時間減去標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射時間就是被測模塊實際的接收端無信
號告警時間參數(shù)值。 對被測模塊的接收端有信號告警解除時間參數(shù)的檢測方式為 上位機(jī)的程序控制與標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳，
使該管腳置高，關(guān)閉標(biāo)準(zhǔn)模塊，加入程序延時，然后將與標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接
的控制型單片機(jī)的管腳置低開啟標(biāo)準(zhǔn)模塊發(fā)射光功率，并開啟計時器，光由標(biāo)準(zhǔn)模塊的發(fā)
射端經(jīng)過光纖到達(dá)被測模塊的接收端，打開中斷程序掃描與被測模塊的接收端信號丟失指
示引腳連接的控制型單片機(jī)的管腳的狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)下降沿電平跳變，關(guān)閉
計時器，計時器計時時間減去標(biāo)準(zhǔn)模塊的開啟發(fā)射時間就是被測模塊實際的接收端有信號 告警解除時間參數(shù)值。 借由本發(fā)明SFP模塊時序參數(shù)的檢測裝置及方法，可以實現(xiàn)自動化測試，操作簡 單，測量精度高，同時大大節(jié)省了測試所需的設(shè)備及人力。


圖1為本發(fā)明小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測裝置原理圖；
圖2為本發(fā)明中SFP模塊的關(guān)斷發(fā)射時間與開啟發(fā)射時間的時序圖；
圖3為本發(fā)明中SFP模塊的初始化時間的時序圖；
圖4為本發(fā)明中SFP模塊的發(fā)射故障報錯時間的時序圖；
圖5為本發(fā)明中SFP模塊的發(fā)射端復(fù)位時間的時序圖； 圖6為本發(fā)明中SFP模塊的接收端無信號告警時間與接收端有信號告警解除時間 的時序圖。
具體實施例方式
為便于對本發(fā)明的檢測方法與檢測裝置及能達(dá)到的效果有更進(jìn)一步的了解，現(xiàn)配 合附圖并舉較佳實施例詳細(xì)說明如下。 如圖1所示，本發(fā)明的用于實現(xiàn)SFP模塊時序檢測方法的裝置，其包括有測試板1 ， 被測模塊SFP—DUT，標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP—STD，單片機(jī)及上位機(jī)5。本發(fā)明中測試板1上留有兩個 SFP插槽， 一個插接被測模塊SFP_DUT，另一個插接標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD，測試板1上并插接有 所述單片機(jī)，該單片機(jī)分為控制型單片機(jī)40與總線型單片機(jī)41 。被測模塊SFP_DUT與標(biāo)準(zhǔn) 模塊SFP_STD的時序引腳分別通過測試板1與控制型單片機(jī)40的I/O (1即ut/0utput，輸 入/輸出)端口電連接，本發(fā)明中的被測模塊SFP_DUT的時序引腳TX_DISABLE_DUT為關(guān)斷 發(fā)射控制引腳，當(dāng)該引腳置高電平時，被測模塊SFP_DUT關(guān)閉，當(dāng)該引腳置低電平時，被測 模塊SFP_DUT開啟；被測模塊SFP_DUT的時序引腳TX_FAULT_DUT為發(fā)射端故障報錯引腳， 當(dāng)發(fā)射光功率產(chǎn)生故障時，該引腳置為高電平；被測模塊SFP_DUT的時序引腳RX_LOS_DUT 為接收端信號丟失指示引腳，當(dāng)該引腳為高電平時表示被測模塊SFP_DUT沒有接收到光信 號，當(dāng)該引腳為低電平時表示被測模塊SFP—DUT接收到光信號；標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP—STD的時序引 腳TX_DISABLE_STD與RX_LOS_STD同被測模土央SFP_DUT的時序引腳TX_DISABLE_DUT與RX_ LOS_DUT定義相同，被測模i央SFP_DUT的時序引腳TX_DISABLE_DUT、 TX_FAULT_DUT及RX_ LOS_DUT與標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的時序引腳TX_DISABLE_STD和RX_LOS_STD分別通過測試板 1 一一對應(yīng)電連接控制型單片機(jī)401/0端口中的各管腳，另外被測模塊SFP_DUT的電源開關(guān) Vcc和PD+(光電二極管陽極)開關(guān)引腳FAULT_0ccur_DUT通過電源管理芯片6也分別一一 對應(yīng)電連接到該控制型單片機(jī)40的I/O 口 。被測模塊SFP_DUT的電源開關(guān)Vcc和PD+開 關(guān)采用電源管理芯片，PD+開關(guān)是SFP模塊內(nèi)激光器發(fā)射組件(TOSA)的一個引腳，PD+連 接激光器發(fā)射組件內(nèi)的光電二極管的正極，PD+開關(guān)需要焊接到SFP模塊內(nèi)部PCB的一個 相應(yīng)焊盤上，并與SFP模塊內(nèi)的驅(qū)動芯片相連，PD+開關(guān)用于檢測激光器發(fā)射組件的Laser Diode (激光二極管)的發(fā)射光功率，若PD+開關(guān)與電源開關(guān)Vcc短路，就意味著激光二極管 發(fā)射異常，驅(qū)動芯片就會使SFP模塊的TX—FAULT(發(fā)射端故障報錯引腳)置為高電平。本 發(fā)明中的電源管理芯片6的型號為NTJD4152P，其開啟發(fā)射時間小于10ns。被測模塊SFP_ DUT的發(fā)射端TX通過光纖20連接到標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的接收端RX，被測模塊SFP_DUT的 接收端RX通過光纖30連接標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的發(fā)射端TX。 本發(fā)明中與被測模塊SFP_DUT及標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD通信的控制型單片機(jī)40采用 51系列單片機(jī)中的C8051F330，其具有電平的跳變沿的捕捉能力，它作為測試系統(tǒng)的核心 芯片?？偩€型單片機(jī)41采用51系列單片機(jī)中的C8051F311 ，其作為IIC (Inter-Integrated Circuit,串行總線)主機(jī)，該總線型單片機(jī)41通過串行總線1IC實現(xiàn)與被測模塊SFP—DUT、 標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD及控制型單片機(jī)40的通信，總線型單片機(jī)41通過測試板1上的USB轉(zhuǎn) 換芯片10和串口轉(zhuǎn)換芯片11實現(xiàn)與上位機(jī)5實時通信。因SFP模塊是遵循IIC總線協(xié)議 的，上位機(jī)5具有USB和RS232串口兩種接口 ，但是沒有IIC總線接口 ，因此總線型單片機(jī) 41承擔(dān)被測模塊SFP—DUT、標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD和控制型單片機(jī)40與上位機(jī)5的通訊協(xié)議轉(zhuǎn) 換的功能。上位機(jī)5的界面程序控制控制型單片機(jī)40的相應(yīng)端口置高或者置低，以及捕捉 相應(yīng)控制型單片機(jī)40端口的電平跳變沿。并且通過控制型單片機(jī)40的計時器計算出兩個 電平跳變的間隔，然后上報到上位機(jī)5，再減除標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD引入的固定偏差，就是實際被測模塊SFP_DUT的時序參數(shù)值。本發(fā)明中的USB轉(zhuǎn)換芯片10采用CP2102，其集成度很 高，體積小，功能強(qiáng)大，串口轉(zhuǎn)換芯片11采用MAX3222E，其具有低功耗、高數(shù)據(jù)速率等特性。
如圖2至圖6所示，SFP模塊的時序參數(shù)有七種，分別為關(guān)斷發(fā)射時間(t_off)、 開啟發(fā)射時間(t—on)、初始化時間(tjnit)、發(fā)射故障報錯時間(t—fault)、發(fā)射端復(fù)位 時間(t—reset)、接收端無信號告警時間(t_l0SS_0n)及接收端有信號告警解除時間(t_ 1oss—off)，標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP—STD的以上時序參數(shù)值都是已知的。如圖2所示，t—off是從TX— DISABLE(關(guān)斷發(fā)射控制引腳)的上升沿到發(fā)射光功率關(guān)閉(即傳輸信號(Tranxmitted Signal)置為低電平)的時間段，此時TX—FAULT(發(fā)射端故障報錯引腳)為低電平，規(guī)定 要求t_off小于lOus ;t_on是從TX_DISABLE的下降沿到發(fā)射光功率開啟(即傳輸信號 (TranxmittedSignal)置為高電平)的時間段，此時TX_FAULT為低電平，規(guī)定要求t_on小 于lms ;如圖3所示，t」nit是從模塊上電到發(fā)射光功率開啟的時間段，此時TX_DISABLE為 低電平，規(guī)定要求t_init小于300ms ;如圖4所示，t_fault是從發(fā)生故障(即Occurrence of Fault置為高電平)到產(chǎn)生TX—FAULT的時間段，此時TX_DISABLE為低電平，規(guī)定要求 t_fault小于lOOus ;如圖5所示，t_reset定義為發(fā)生故障后TX_FAULT —直處于鎖定狀 態(tài)，這個時候需要TX_DISABLE經(jīng)過一個低高低的過程，使TX_FAULT解除，規(guī)定要求t_reset 大于lOus ;如圖6所示，t_loss_on是從接收無光功率(即Occurrence of loss變?yōu)楦唠?平)到RXJDS(接收端信號丟失指示引腳)變?yōu)楦唠娖降臅r間段，規(guī)定要求t—loss—on小 于lOOus ;t_loss_off是從接收到光功率(即Occurrence of loss變?yōu)榈碗娖?到RX_L0S 變?yōu)榈碗娖降臅r間段，規(guī)定要求t_OSS_off小于100us。 如圖1所示，被測模土央SFP_DUT的時序引腳TX_DISABLE_DUT、TX_FAULT_DUT及RX_ L0S_DUT分別與控制型單片機(jī)40的P0端口的管腳PO. 3、P0. 4、P0. 5電連接，被測模塊SFP_ DUT的電源開關(guān)Vcc和PD+開關(guān)FAULT_0ccur_DUT通過插接于測試板1上的電源管理芯片 6分別與控制型單片機(jī)40的PO端口的管腳PO. 6和PO. 2電連接，標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的時 序引腳TX_DISABLE_STD和RX_L0S_STD分別與控制型單片機(jī)40的PO端口的管腳PO. 1和 PO. 0電連接。通過上位機(jī)5的程序控制控制型單片機(jī)40的管腳的電平跳變，同時打開控制 型單片機(jī)40的計時器開始計時，直到檢測到控制型單片機(jī)40的指定引腳電平跳變?yōu)橛嫈?shù) 結(jié)束，這個時間值再通過修正即可得到被測模塊SFP—DUT的時序。上位機(jī)5的程序是基于圖 形化編禾呈語言LabView(XaboratoryVirtual Instrument Engineering Workbench,實驗室 虛擬儀器工程平臺)開發(fā)的控制程序，通過串口或USB接口向單片機(jī)發(fā)送將要對哪個通道 進(jìn)行測試的指令，單片機(jī)收到命令后，就對其自身的引腳進(jìn)行實現(xiàn)相應(yīng)功能的初始化設(shè)置， 包括配置功能寄存器、特定管腳的電平置位、開啟計數(shù)器、打開中斷程序等。被測模塊SFP_ DUT各時序參數(shù)值的檢測過程如下所述
1 、檢測t_of f時序參數(shù) 上位機(jī)5的程序控制控制型單片機(jī)C8051F330使管腳PO. 3 (即被測模塊SFP_DUT 的時序引腳TX_DISABLE_DUT)置低，即開啟被測模塊SFP_DUT發(fā)射光功率，光由被測模塊 SFP_DUT的發(fā)射端TX經(jīng)過光纖20到達(dá)標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的接收端RX，并加入程序延時。然 后PO. 3置高，即關(guān)閉被測模塊SFP—DUT，并開啟計時器，打開中斷程序掃描管腳PO. 0(即標(biāo) 準(zhǔn)模塊SFP—STD的時序引腳RXJDS—STD)的狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變， 關(guān)閉計時器。這個時間包括管腳PO. 3置高到被測模塊SFP_DUT完全關(guān)閉的時間和無光接收后標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的時序引腳RX_L0S_STD形成跳變的時間，即是t_off_DUT(即被測 模塊SFP_DUT的t_off參數(shù)值)和t-loss-on_STD(即標(biāo)準(zhǔn)模i央SFP_STD的t-loss-on參 數(shù)值)之和，這個值減去t-loSS-on_STD就是被測模塊SFP_DUT實際的t_off時序參數(shù)值。 [OO43] 2、檢測t_on時序參數(shù) 上位機(jī)5的程序控制控制型單片機(jī)C8051F330使管腳P0. 3 (即被測模塊SFP_DUT 的時序引腳TX_DISABLE_DUT)置高，即關(guān)閉SFP_DUT，加入程序延時。然后管腳PO. 3置低 即開啟被測模塊SFP_DUT發(fā)射光功率，并開啟計時器，打開中斷程序掃描管腳PO. 0 (即標(biāo) 準(zhǔn)模塊SFP_STD的時序引腳RX_LOS_STD)狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)下降沿電平跳變， 關(guān)閉計時器。這個時間包括管腳PO. 3置低到被測模塊SFP_DUT完全開啟的時間和標(biāo)準(zhǔn)模 塊SFP_STD接收光功率后到其時序引腳RX_LOS_STD形成跳變的時間，即是t_on_DUT(SFP_ DUT的t_on參數(shù)值)和t-loss-off_STD(SFP_STD的t-loss-off參數(shù)值)之和，這個值減 去t-loss-off_STD就是被測模塊SFP_DUT實際的t_on時序參數(shù)值。
3、檢測t_init時序參數(shù) 上位機(jī)5的程序控制控制型單片機(jī)C8051F330使管腳PO. 3 (即被測模塊SFP_DUT 的時序引腳TX_DISABLE_DUT)置低，然后使管腳PO. 6置高開啟電源管理芯片，為被測模塊 SFP_DUT上電，并開啟計時器，光經(jīng)過光纖20到達(dá)標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的接收端RX，打開中 斷程序掃描管腳PO.O(即標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP—STD的時序引腳RXJDS—STD)狀態(tài)，直到捕捉到該 管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變，關(guān)閉計時器。這個時間包括被測模塊SFP_DUT的初始化時間和 標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD接收光功率后到其時序引腳RX_L0S_STD形成跳變的時間，即是t_init_ DUT(SFP_DUT的t-init參數(shù)值)和t-loss-off_STD (SFP_STD的t-loss-off參數(shù)值)之 和，這個值減去t-loss-off_STD就是被測模塊SFP_DUT實際的t-init時序參數(shù)值。
4、檢測t_fault時序參數(shù) 將被測模塊SFP_DUT的PD+引腳引到測試板上，上位機(jī)5的程序控制使控制型單 片機(jī)C8051F330的管腳PO. 2 (即被測模塊SFP_DUT的PD+開關(guān)引腳FAULT_occur_DUT)置 低，加入程序延時，然后使管腳PO. 2置高并開啟計時器，打開中斷程序掃描管腳PO. 4 (即被 測模塊SFP_DUT的時序引腳TX_FAULT_DUT)的狀態(tài)，直到該管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變，關(guān)閉 計時器，計時器的計時時間即被測模塊SFP_DUT的t_fault時序參數(shù)值。
5、檢測t_reset時序參數(shù) 上位機(jī)5的程序控制控制型單片機(jī)C8051F330使其管腳PO. 3 (即被測模塊SFP_ DUT的引腳TX_DISABLE_DUT)置低，并按照測試t-fault的步驟使被測模塊SFP_DUT的引腳 TX_FAULT_DUT變?yōu)楦唠娖讲⑶益i定高狀態(tài)，然后將單片機(jī)管腳PO. 3置高，并打開中斷程序 掃描管腳PO. 4 (即被測模塊SFP_DUT的引腳TX_FAULT_DUT)的狀態(tài)，程序延時T (T = lus)， 然后將管腳PO. 3置低，如果檢測到管腳PO. 4 (TX_FAULT_DUT)的下降沿電平跳變，則T就是 實際被測模塊SFP_DUT的t—reset測試值；如果沒有發(fā)生下降沿跳變，增加程序延時時間使 T+1，直到掃描到管腳P0. 4(TX_FAULT_DUT)下降沿電平跳變，延時時間即為被測模塊SFP_ DUT的t_reset測試值。
6、檢測t_loss_on時序參數(shù) 上位機(jī)5的程序控制控制型單片機(jī)C8051F330使管腳PO. 1 (即標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD 的引腳TX_DISABLE_STD)置低，開啟標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD發(fā)射光功率，光由標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的發(fā)射端TX經(jīng)過光纖30到達(dá)被測模塊SFP_DUT的接收端RX，加入程序延時，然后將管腳 P0. 1置高關(guān)閉標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP—STD，并開啟計時器，打開中斷程序掃描管腳P0.5(即被測模 塊SFP—DUT的引腳RXJDS—DUT)的狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變，關(guān)閉計時 器。這個時間包括管腳PO. 1置高到標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD完全關(guān)閉的時間和無光后被測模塊 SFP_DUT的引腳RX_LOS_DUT形成跳變的時間，即是t_off_STD(即標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的t_ off參數(shù)值)和t-loss-on_DUT(即被測模塊SFP_DUT的t-loss-on參數(shù)值)之和，這個值 減去t_off_STD就是被測模塊SFP_DUT實際的t-loss-on時序參數(shù)值。
7、檢測t_loss_off時序參數(shù) 上位機(jī)5的程序控制控制型單片機(jī)C8051F330使管腳P0. 1 (即標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD 的引腳TX_DISABLE_STD)置高，關(guān)閉標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD，加入程序延時，然后PO. 1置低開啟 標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD發(fā)射光功率，并開啟計時器，光由標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的發(fā)射端TX經(jīng)過光 纖到達(dá)被測模塊SFP_DUT的接收端，打開中斷程序掃描管腳PO. 5 (即被測模塊SFP_DUT的 引腳RXJDS—DUT)狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)下降沿電平跳變，關(guān)閉計時器。這個時間包 括管腳PO. 1置低到標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD完全開啟的時間和被測模塊SFP_DUT接收光功率后 到其引腳RX_L0S_DUT形成跳變的時間，即是t_on_STD(即標(biāo)準(zhǔn)模塊SFP_STD的t_on參數(shù) 值)和t-loss-off DUT (即被測模塊SFP_DUT的t-loss-off參數(shù)值)之和，這個值減去t_ on_STD就是被測模塊SFP_DUT實際的時間t_loSS_off時序參數(shù)值。 本發(fā)明中所涉及到的SFP模塊、單片機(jī)、電源管理芯片及測試板均屬于市售產(chǎn)品， 在此不作詳述。 本發(fā)明對SFP模塊的時序檢測方法，可以實現(xiàn)自動化測試，操作簡單，大大節(jié)省了 測試所需的設(shè)備及人力。 以上所述，僅為本發(fā)明的較佳 施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測裝置，其特征在于，其包含有測試板、被測模塊、標(biāo)準(zhǔn)模塊、單片機(jī)及上位機(jī)，所述測試板上留有兩個插槽，一個插接所述被測模塊，另一個插接所述標(biāo)準(zhǔn)模塊，所述被測模塊的發(fā)射端通過光纖連接到所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端，所述被測模塊的接收端通過光纖連接到所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的發(fā)射端，所述測試板上并插接所述單片機(jī)，所述單片機(jī)分為控制型單片機(jī)與總線型單片機(jī)，所述被測模塊與所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的時序引腳分別通過所述測試板與所述控制型單片機(jī)的輸入/輸出端口電連接，所述控制型單片機(jī)通過串行總線與所述總線型單片機(jī)電連接，所述總線型單片機(jī)通過所述測試板上的USB轉(zhuǎn)換芯片和串口轉(zhuǎn)換芯片實現(xiàn)與所述上位機(jī)實時通信。
2. 如權(quán)利要求1所述的小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測裝置，其特征在于，所述 控制型單片機(jī)的輸入/輸出端口為P0端口，所述被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳、發(fā)射端故 障報錯引腳及接收端信號丟失指示引腳與所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳和接收端信 號丟失指示引腳分別一一對應(yīng)電連接所述PO端口的各管腳，所述被測模塊的電源開關(guān)和 光電二極管陽極開關(guān)通過插接于所述測試板上的電源管理芯片分別一一對應(yīng)電連接到所 述控制型單片機(jī)的P0端口中的各管腳。
3. —種根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測裝置對小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測方法， 該檢測方法包括有對所述被測模塊的關(guān)斷發(fā)射時間參數(shù)的檢測； 對所述被測模塊的開啟發(fā)射時間參數(shù)的檢測； 對所述被測模塊的初始化時間參數(shù)的檢測； 對所述被測模塊的發(fā)射故障報錯時間參數(shù)的檢測； 對所述被測模塊的發(fā)射端復(fù)位時間參數(shù)的檢測； 對所述被測模塊的接收端無信號告警時間參數(shù)的檢測； 對所述被測模塊的接收端有信號告警解除時間參數(shù)的檢測；其特征在于，通過所述上位機(jī)的程序控制所述控制型單片機(jī)的管腳的電平跳變，同時 打開所述控制型單片機(jī)的計時器開始計時，直到檢測到所述控制型單片機(jī)的指定引腳電平 跳變?yōu)橛嫈?shù)結(jié)束，這個時間值再通過修正即可得到所述被測模塊的時序參數(shù)值，所述上位 機(jī)的程序是基于圖形化編程語言開發(fā)的控制程序。
4. 如權(quán)利要求3所述的小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測方法，其特征在于，對所 述被測模塊的關(guān)斷發(fā)射時間參數(shù)的檢測方式為所述上位機(jī)的程序控制與所述被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片 機(jī)的管腳，使該管腳置為低電平，即開啟所述被測模塊發(fā)射光功率，光由所述被測模塊的發(fā) 射端經(jīng)過光纖到達(dá)所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端，并加入程序延時，然后將與所述被測模塊的關(guān) 斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳置高，即關(guān)閉所述被測模塊，并開啟計時 器，打開中斷程序掃描與所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端信號丟失指示引腳連接的所述控制型單片 機(jī)的管腳的狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變，關(guān)閉計時器，計時器的計時時間 減去所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端無信號告警時間就是所述被測模塊實際的關(guān)閉參數(shù)值。
5. 如權(quán)利要求3所述的小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測方法，其特征在于，對所 述被測模塊的開啟發(fā)射時間參數(shù)的檢測方式為所述上位機(jī)的程序控制與所述被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳，使該管腳置為高電平，即關(guān)閉所述被測模塊，加入程序延時，然后將與所述被測 模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳置低，即開啟所述被測模塊發(fā)射 光功率，并開啟計時器，打開中斷程序掃描與所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端信號丟失指示引腳連 接的所述控制型單片機(jī)的管腳的狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)下降沿電平跳變，關(guān)閉計時 器，計時器的計時時間減去所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端有信號告警解除時間就是所述被測模塊 實際的開啟發(fā)射時間參數(shù)值。
6. 如權(quán)利要求3所述的小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測方法，其特征在于，對所 述被測模塊的初始化時間參數(shù)的檢測方式為所述上位機(jī)的程序控制與所述被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片 機(jī)的管腳，使該管腳置為低電平，然后使與所述被測模塊的電源開關(guān)連接的所述控制型單 片機(jī)的管腳置為高電平，即開啟所述電源管理芯片，為所述被測模塊上電，并開啟計時器， 光經(jīng)過光纖到達(dá)所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端，打開中斷程序掃描與所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端信號 丟失指示引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳的狀態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)上升沿電平 跳變，關(guān)閉計時器，計時器的計時時間減去所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端有信號告警解除時間就 是所述被測模塊實際的初始化時間參數(shù)值。
7. 如權(quán)利要求3所述的小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測方法，其特征在于，對所 述被測模塊的發(fā)射故障報錯時間參數(shù)的檢測方式為將所述被測模塊的光電二極管陽極開關(guān)引腳引到所述測試板上，所述上位機(jī)的程序控 制與所述被測模塊的光電二極管陽極開關(guān)連接的所述控制型單片機(jī)的管腳，使該管腳置為 低電平，加入程序延時，然后使與所述被測模塊的光電二極管陽極開關(guān)連接的所述控制型 單片機(jī)的管腳置為高電平，并開啟計時器，打開中斷程序掃描與所述被測模塊的發(fā)射端故 障報錯引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳的狀態(tài)，直到該管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變，關(guān) 閉計時器，計時器的計時時間即所述被測模塊的發(fā)射故障報錯時間參數(shù)值。
8. 如權(quán)利要求7所述的小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測方法，其特征在于，對所述被測模塊的發(fā)射端復(fù)位時間參數(shù)的檢測方式為所述上位機(jī)的程序控制與所述被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片 機(jī)的管腳，使該管腳置為低電平，并按照所述發(fā)射故障報錯時間參數(shù)的測試步驟使所述被 測模塊的發(fā)射端故障報錯引腳變?yōu)楦唠娖讲⑶益i定高狀態(tài)，然后將與所述被測模塊的關(guān)斷 發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳置高，并打開中斷程序掃描與所述被測模塊 的發(fā)射端故障報錯引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳的狀態(tài)，程序延時lus，然后將與所述被測模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳置低，如果檢測到與所述 被測模塊的發(fā)射端故障報錯引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳的下降沿電平跳變，則延時時間就是實際所述被測模塊的發(fā)射端復(fù)位時間參數(shù)值；如果沒有發(fā)生下降沿跳變，使延 時時間累加lus，直到掃描到與所述被測模塊的發(fā)射端故障報錯引腳連接的所述控制型單 片機(jī)的管腳下降沿電平跳變，則延時時間即為所述被測模塊的發(fā)射端復(fù)位時間參數(shù)值。
9. 如權(quán)利要求3所述的小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測方法，其特征在于，對所 述被測模塊的接收端無信號告警時間參數(shù)的檢測方式為所述上位機(jī)的程序控制與所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片 機(jī)的管腳，使該管腳置低，開啟所述標(biāo)準(zhǔn)模塊發(fā)射光功率，光由所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的發(fā)射端經(jīng)過光纖到達(dá)所述被測模塊的接收端，加入程序延時，然后將與所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射控制 引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳置高關(guān)閉所述標(biāo)準(zhǔn)模塊，并開啟計時器，打開中斷程 序掃描與所述被測模塊的接收端信號丟失指示引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳的狀 態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)上升沿電平跳變，關(guān)閉計時器，計時器計時時間減去所述標(biāo)準(zhǔn)模 塊的關(guān)斷發(fā)射時間就是所述被測模塊實際的接收端無信號告警時間參數(shù)值。
10.如權(quán)利要求3所述的小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測方法，其特征在于，對所 述被測模塊的接收端有信號告警解除時間參數(shù)的檢測方式為所述上位機(jī)的程序控制與所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān)斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片 機(jī)的管腳，使該管腳置高，關(guān)閉所述標(biāo)準(zhǔn)模塊，加入程序延時，然后將與所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的關(guān) 斷發(fā)射控制引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳置低開啟所述標(biāo)準(zhǔn)模塊發(fā)射光功率，并開 啟計時器，光由所述標(biāo)準(zhǔn)模塊的發(fā)射端經(jīng)過光纖到達(dá)所述被測模塊的接收端，打開中斷程 序掃描與所述被測模塊的接收端信號丟失指示引腳連接的所述控制型單片機(jī)的管腳的狀 態(tài)，直到捕捉到該管腳出現(xiàn)下降沿電平跳變，關(guān)閉計時器，計時器計時時間減去所述標(biāo)準(zhǔn)模 塊的開啟發(fā)射時間就是所述被測模塊實際的接收端有信號告警解除時間參數(shù)值。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種小封裝可插拔收發(fā)器時序參數(shù)的檢測裝置及檢測方法，該裝置包含有測試板、被測模塊、標(biāo)準(zhǔn)模塊、單片機(jī)及上位機(jī)，測試板上留有兩個插槽，一個插接被測模塊，另一個插接標(biāo)準(zhǔn)模塊，被測模塊的發(fā)射端通過光纖連接到標(biāo)準(zhǔn)模塊的接收端，被測模塊的接收端通過光纖連接到標(biāo)準(zhǔn)模塊的發(fā)射端，測試板上并插接單片機(jī)，單片機(jī)分為控制型單片機(jī)與總線型單片機(jī)，被測模塊與標(biāo)準(zhǔn)模塊的時序引腳分別通過測試板與控制型單片機(jī)的輸入/輸出端口電連接，控制型單片機(jī)通過串行總線與總線型單片機(jī)電連接，總線型單片機(jī)通過測試板上的USB轉(zhuǎn)換芯片和串口轉(zhuǎn)換芯片實現(xiàn)與上位機(jī)實時通信。本發(fā)明可實現(xiàn)自動化測試、操作簡單且測量精度高的效果。
文檔編號H04B10/08GK101753212SQ20091021572
公開日2010年6月23日 申請日期2009年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月30日
發(fā)明者張春艷, 袁濤 申請人:武漢電信器件有限公司