專利名稱：一種實(shí)現(xiàn)sdh單板誤碼測(cè)試的裝置及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及SDH (Synchronous Digital Hierarchy ，同步數(shù)字系列)單板以
及SDH整機(jī)聯(lián)調(diào)時(shí)的誤碼測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試 的裝置及其方法。
背景技術(shù)：
SDH系統(tǒng)的單板或整機(jī)在生產(chǎn)線加工后，必須要經(jīng)過一系列的測(cè)試，包 括高溫老化、誤碼測(cè)試、指標(biāo)測(cè)試等之后才能發(fā)貨。在進(jìn)行大批量生產(chǎn)發(fā)貨時(shí)， 采用傳統(tǒng)的誤碼測(cè)試方法時(shí)需要很多的測(cè)試儀表，會(huì)造成儀表資源的緊張，影 響生產(chǎn)和發(fā)貨。
傳統(tǒng)的測(cè)試方法是借助外接的測(cè)試儀表20，在網(wǎng)管系統(tǒng)IO上進(jìn)行時(shí)隙配 置，穿通所有待測(cè)SDH單板30，最后再回到外接的測(cè)試儀表20，如圖1所示， 為傳統(tǒng)的測(cè)試方案。
申請(qǐng)?zhí)枮?00510018544.1、發(fā)明名稱為《基于現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列的155M 比特誤碼分析測(cè)試儀》的中國(guó)發(fā)明專利申請(qǐng)描述了一種誤碼分析儀，但該方案 過于復(fù)雜，而且是獨(dú)立于待測(cè)系統(tǒng)的一套設(shè)備。
專利號(hào)為200420007225.1、發(fā)明名稱為《內(nèi)嵌誤碼測(cè)試功能的光端機(jī)》的 中國(guó)實(shí)用新型專利描述了一種新的光端機(jī)，但該方案也比較復(fù)雜，成本較高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置 及其方法，用于現(xiàn)有技術(shù)中進(jìn)行單板誤碼測(cè)試時(shí)需額外增加硬件，造成成本較 高、實(shí)現(xiàn)較為復(fù)雜的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置， 包括網(wǎng)管系統(tǒng)，其特征在于，還包括內(nèi)嵌自測(cè)模塊的待測(cè)SDH單板；
所述網(wǎng)管系統(tǒng)使能待測(cè)SDH單板中的一塊指定待測(cè)SDH單板，將所述指
定待測(cè)SDH單板的偽隨機(jī)序列按照業(yè)務(wù)穿通所述待測(cè)SDH單板，并回到所述 指定待測(cè)SDH單板；
所述指定待測(cè)SDH單板根據(jù)所述偽隨機(jī)序列進(jìn)行誤碼測(cè)試，并將誤碼測(cè) 試結(jié)果上報(bào)給所述網(wǎng)管系統(tǒng)。
所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其中，所述自測(cè)模塊包括
偽隨機(jī)序列發(fā)生器，用于產(chǎn)生所述偽隨機(jī)序列；
偽隨機(jī)序列接收器，連接所述偽隨機(jī)序列發(fā)生器，用于接收穿通所述待測(cè) SDH單板后的所述偽隨機(jī)序列；
比較和誤碼統(tǒng)計(jì)指示模塊，連接所述偽隨機(jī)序列發(fā)生器、所述偽隨機(jī)序列 接收器，用于比較所述偽隨機(jī)序列與穿通所述待測(cè)SDH單板后的所述偽隨機(jī) 序列，獲取所述誤碼測(cè)試結(jié)果，并上報(bào)給所述網(wǎng)管系統(tǒng)。
所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其中，所述偽隨機(jī)序列發(fā)生器、 所述偽隨機(jī)序列接收器、所述比較和誤碼統(tǒng)計(jì)指示模塊通過所述待測(cè)SDH單 板的FPGA實(shí)現(xiàn)。
所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其中，所述偽隨機(jī)序列發(fā)生器由 D觸發(fā)器和異或門組成。
所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其中，所述偽隨機(jī)序列接收器為 15比特深度的緩存器。
所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其中，所述偽隨機(jī)序列為2'5-1的 偽隨機(jī)序列。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了 一種實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法， 其特征在于，包括
步驟一，網(wǎng)管系統(tǒng)使能內(nèi)嵌自測(cè)模塊的待測(cè)SDH單板中的指定待測(cè)SDH 單板，將所述指定待測(cè)SDH單板的偽隨機(jī)序列穿通所述待測(cè)SDH單板，并回 到所述指定待測(cè)SDH單板；
步驟二，所述指定待測(cè)SDH單板根據(jù)所述偽隨機(jī)序列進(jìn)行誤碼測(cè)試，并 將誤碼測(cè)試結(jié)果上報(bào)給所述網(wǎng)管系統(tǒng)。
所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法，其中，所述歩驟一中，進(jìn)一步包
括
通過所述網(wǎng)管系統(tǒng)下發(fā)命令給所述指定待測(cè)SDH單板，開啟所述指定待測(cè)SDH單板的使能開關(guān)使能所述指定待測(cè)SDH單板的歩驟。
所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法，其中，所述步驟一中，進(jìn)一步包
括
所述指定待測(cè)SDH單板按照配置的時(shí)隙業(yè)務(wù)將所述偽隨機(jī)序列穿通所述 待測(cè)SDH單板的步驟。
所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法，其中，所述步驟二中，進(jìn)一步包
括
所述指定待測(cè)SDH單板通過比較穿通所述待測(cè)SDH單板之前、之后的所 述偽隨機(jī)序列進(jìn)行誤碼測(cè)試，獲取所述誤碼測(cè)試結(jié)果的步驟。
所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法，其中，所述步驟二中，進(jìn)一步包
括
所述待測(cè)SDH單板進(jìn)行性能檢測(cè)和/或告警檢測(cè)，并將獲取的檢測(cè)結(jié)果上 報(bào)至所述網(wǎng)管系統(tǒng)的步驟。
本發(fā)明的有益技術(shù)效果
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明無需增加額外的硬件成本，實(shí)現(xiàn)起來簡(jiǎn)單方便， 節(jié)約成本，提高工作效率。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本發(fā)明的 限定。


圖1為傳統(tǒng)SDH單板和/或SDH整機(jī)誤碼測(cè)試的裝置示意圖； 圖2為本發(fā)明進(jìn)行SDH單板和SDH整機(jī)誤碼測(cè)試的裝置示意圖； 圖3為本發(fā)明內(nèi)嵌自測(cè)模塊的SDH單板的模塊結(jié)構(gòu)圖； 圖4為本發(fā)明偽隨機(jī)序列發(fā)生器的電路結(jié)構(gòu)圖5為本發(fā)明進(jìn)行SDH單板和/或SDH整機(jī)誤碼測(cè)試的方法流程圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案作進(jìn)一步更詳細(xì)的描述。
如圖2所示，為本發(fā)明進(jìn)行SDH單板和/或SDH整機(jī)誤碼測(cè)試的裝置示
意圖。在圖2中，利用現(xiàn)有SDH單板內(nèi)部集成的偽隨機(jī)碼的發(fā)送和檢測(cè)，結(jié) 合網(wǎng)管系統(tǒng)10的時(shí)隙配置和各待測(cè)SDH單板30的性能檢測(cè)上報(bào)對(duì)待測(cè)SDH 單板30和/或SDH整機(jī)40進(jìn)行誤碼測(cè)試。
在圖2中，該裝置200是一種利用偽隨機(jī)序列實(shí)現(xiàn)SDH單板和SDH整機(jī) 誤碼測(cè)試的裝置，包括以下兩個(gè)部分網(wǎng)管系統(tǒng)IO、待測(cè)SDH單板30;待測(cè) SDH單板30是內(nèi)嵌偽隨機(jī)序列發(fā)送和誤碼統(tǒng)計(jì)指示的SDH單板。 網(wǎng)管系統(tǒng)10、待測(cè)SDH單板30的測(cè)試連接關(guān)系如下 網(wǎng)管系統(tǒng)10對(duì)整個(gè)SDH系統(tǒng)200提供網(wǎng)元管理功能，將告警、性能等信 息提供給用戶；
與常規(guī)業(yè)務(wù)處理單板相比，待測(cè)SDH單板30增加了以下3個(gè)功能模塊 偽隨機(jī)序列發(fā)生器31、偽隨機(jī)序列接收器32以及比較和誤碼統(tǒng)計(jì)指示模塊33， 如圖3所示。
待測(cè)SDH單板30另設(shè)置一軟件開關(guān)，只有當(dāng)網(wǎng)管系統(tǒng)20下發(fā)命令給待 測(cè)SDH單板30，打開該開關(guān)時(shí)才使能待測(cè)SDH單板30實(shí)現(xiàn)偽隨機(jī)序列發(fā)送 和誤碼統(tǒng)計(jì)指示。
與傳統(tǒng)測(cè)試方法相比，圖2中的裝置200既沒有增加額外的SDH單板，
又節(jié)省了外接的測(cè)試儀表。
如圖3所示，為本發(fā)明內(nèi)嵌自測(cè)模塊的SDH單板的模塊結(jié)構(gòu)圖。與傳統(tǒng) 的SDH單板相比，待測(cè)SDH單板30是在現(xiàn)有的SDH單板上，內(nèi)嵌了自測(cè)模 塊300，該自測(cè)模塊300用于產(chǎn)生偽隨機(jī)序列、發(fā)送偽隨機(jī)序列并進(jìn)行誤碼統(tǒng) 計(jì)指示。
該自測(cè)模塊300包括偽隨機(jī)序列發(fā)生器31、偽隨機(jī)序列接收器32、比 較和誤碼統(tǒng)計(jì)模塊33。
這3個(gè)功能模塊均由待測(cè)SDH單板30上的FPGA (Field Programmable Gate Array,現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列)來實(shí)現(xiàn)的，因此不需要增加額外的硬件資源。 如果待測(cè)SDH單板30的業(yè)務(wù)處理是采用專用ASIC (Application-Specific Integrated Circuit,專用集成電路)來實(shí)現(xiàn)的，芯片內(nèi)部都集成了偽隨機(jī)序列的 發(fā)送自測(cè)功能，直接通過配置即可實(shí)現(xiàn)。
偽隨機(jī)序列發(fā)生器31采用ITUT推薦的El信號(hào)的測(cè)試序列，采用的是 215-1的偽隨機(jī)序列，由15個(gè)D觸發(fā)器和一個(gè)異或門來實(shí)現(xiàn)，如圖4所示。
偽隨機(jī)序列接收器32采用一個(gè)15bit深度的Buffer (緩存器)，其與偽隨 機(jī)序列發(fā)生器31保持同步。
比較和誤碼統(tǒng)計(jì)模塊33將偽隨機(jī)序列發(fā)生器31和偽隨機(jī)序列接收器32 的數(shù)據(jù)進(jìn)行逐位比較，并將結(jié)果保存上報(bào)。
在圖4中，給出本發(fā)明偽隨機(jī)序列發(fā)生器的電路結(jié)構(gòu)圖。偽隨機(jī)序列發(fā)生 器31由15個(gè)D觸發(fā)器(D0…D14)和一個(gè)異或門來實(shí)現(xiàn)。
DO觸發(fā)器的D輸入端接異或門的輸出；D0…D14觸發(fā)器的C輸入端順次 相連，D0…D13觸發(fā)器的輸出端分別接后一觸發(fā)器的D輸入端，DO觸發(fā)器的 輸出、D14觸發(fā)器的輸出作為異或門的輸入。
如圖5所示，為本發(fā)明進(jìn)行SDH單板和/或SDH整機(jī)誤碼測(cè)試的方法流 程圖。該流程描述了利用偽隨機(jī)序列實(shí)現(xiàn)SDH單板和/或SDH整機(jī)誤碼測(cè)試 的方法，結(jié)合圖2-4，首先，網(wǎng)管系統(tǒng)IO上有開關(guān)設(shè)置，打開使能開關(guān)使能待 測(cè)SDH單板30的內(nèi)嵌自測(cè)功能，關(guān)閉使能開關(guān)后，待測(cè)SDH單板30的內(nèi)嵌 自測(cè)功能無效，待測(cè)SDH單板30進(jìn)行業(yè)務(wù)的正常處理，默認(rèn)為關(guān)閉使能開關(guān)。
使能待測(cè)SDH單板30發(fā)送偽隨機(jī)序列，按照事先配置的時(shí)隙業(yè)務(wù)，穿通 所有待測(cè)SDH單板30，待測(cè)SDH單板30進(jìn)行業(yè)務(wù)的正常處理，進(jìn)行誤碼、 告警的檢測(cè)，并將結(jié)果上報(bào)給網(wǎng)管系統(tǒng)10。
發(fā)送的偽隨機(jī)序列穿通所有待測(cè)SDH單板30后，最終回到使能待測(cè)SDH 單板30，送入偽隨機(jī)序列接收器32，通過比較和誤碼統(tǒng)計(jì)模塊33進(jìn)行比較后 統(tǒng)計(jì)出誤碼，并將結(jié)果上報(bào)給網(wǎng)管系統(tǒng)10;測(cè)試人員查詢網(wǎng)管系統(tǒng)10后便知 道在整個(gè)測(cè)試過程中是否有誤碼或者告警。
在圖5中，誤碼測(cè)試的具體步驟如下
步驟S501，網(wǎng)管系統(tǒng)10使能待測(cè)SDH單板30中的其中一塊SDH單板 的偽隨機(jī)序列自測(cè)功能；
步驟S502，網(wǎng)管系統(tǒng)IO進(jìn)行時(shí)隙配置，將偽隨機(jī)序列穿通所有待測(cè)SDH 單板30后，回到使能偽隨機(jī)序列自測(cè)功能的SDH單板；
步驟S503，各待測(cè)SDH單板30進(jìn)行性能檢測(cè)和/或告警檢測(cè)后，上報(bào)給 網(wǎng)管系統(tǒng)10;
步驟S504，根據(jù)網(wǎng)管系統(tǒng)10上報(bào)的性能計(jì)數(shù)和告警指示，實(shí)現(xiàn)SDH單 板和SDH整機(jī)的誤碼測(cè)試。
另外，本發(fā)明中所有待測(cè)SDH單板都會(huì)進(jìn)行誤碼或告警的檢測(cè)，這樣進(jìn)
行故障定位比較簡(jiǎn)潔方便，提高工作效率。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提出的一種利用現(xiàn)有單板進(jìn)行SDH單板和SDH 整機(jī)誤碼測(cè)試的裝置及其方法，無需增加任何額外的硬件成本，無需增加任何 額外的成本，實(shí)現(xiàn)起來簡(jiǎn)單方便，節(jié)約了傳統(tǒng)測(cè)試所需要的儀表，節(jié)省成本， 提高了工作效率。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其他多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情 況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但 這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1、一種實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，包括網(wǎng)管系統(tǒng)，其特征在于，還包括內(nèi)嵌自測(cè)模塊的待測(cè)SDH單板；所述網(wǎng)管系統(tǒng)使能待測(cè)SDH單板中的一塊指定待測(cè)SDH單板，將所述指定待測(cè)SDH單板的偽隨機(jī)序列按照業(yè)務(wù)穿通所述待測(cè)SDH單板，并回到所述指定待測(cè)SDH單板；所述指定待測(cè)SDH單板根據(jù)所述偽隨機(jī)序列進(jìn)行誤碼測(cè)試，并將誤碼測(cè)試結(jié)果上報(bào)給所述網(wǎng)管系統(tǒng)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其特征在于， 所述自測(cè)模塊包括偽隨機(jī)序列發(fā)生器，用于產(chǎn)生所述偽隨機(jī)序列；偽隨機(jī)序列接收器，連接所述偽隨機(jī)序列發(fā)生器，用于接收穿通所述待測(cè) SDH單板后的所述偽隨機(jī)序列；比較和誤碼統(tǒng)計(jì)指示模塊，連接所述偽隨機(jī)序列發(fā)生器、所述偽隨機(jī)序列 接收器，用于比較所述偽隨機(jī)序列與穿通所述待測(cè)SDH單板后的所述偽隨機(jī) 序列，獲取所述誤碼測(cè)試結(jié)果，并上報(bào)給所述網(wǎng)管系統(tǒng)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其特征在于， 所述偽隨機(jī)序列發(fā)生器、所述偽隨機(jī)序列接收器、所述比較和誤碼統(tǒng)計(jì)指示模 塊通過所述待測(cè)SDH單板的FPGA實(shí)現(xiàn)。
4、 根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其特征在 于，所述偽隨機(jī)序列發(fā)生器由D觸發(fā)器和異或門組成。
5、 根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其特征在 于，所述偽隨機(jī)序列接收器為15比特深度的緩存器。
6、 根據(jù)權(quán)利要求l、 2或3所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置，其特 征在于，所述偽隨機(jī)序列為2'5_1的偽隨機(jī)序列。
7、 一種實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法，其特征在于，包括步驟一，網(wǎng)管系統(tǒng)使能內(nèi)嵌自測(cè)模塊的待測(cè)SDH單板中的指定待測(cè)SDH 單板，將所述指定待測(cè)SDH單板的偽隨機(jī)序列穿通所述待測(cè)SDH單板，并回 到所述指定待測(cè)SDH單板； 步驟二，所述指定待測(cè)SDH單板根據(jù)所述偽隨機(jī)序列進(jìn)行誤碼測(cè)試，并 將誤碼測(cè)試結(jié)果上報(bào)給所述網(wǎng)管系統(tǒng)。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法，其特征在于， 所述步驟一中，進(jìn)一步包括通過所述網(wǎng)管系統(tǒng)下發(fā)命令給所述指定待測(cè)SDH單板，開啟所述指定待 測(cè)SDH單板的使能開關(guān)使能所述指定待測(cè)SDH單板的步驟。
9、 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法，其特征在 于，所述步驟一中，進(jìn)一步包括所述指定待測(cè)SDH單板按照配置的時(shí)隙業(yè)務(wù)將所述偽隨機(jī)序列穿通所述 待測(cè)SDH單板的步驟。
10、 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法，其特征 在于，所述歩驟二中，進(jìn)一步包括所述指定待測(cè)SDH單板通過比較穿通所述待測(cè)SDH單板之前、之后的所 述偽隨機(jī)序列進(jìn)行誤碼測(cè)試，獲取所述誤碼測(cè)試結(jié)果的步驟。
11、 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的方法，其特征 在于，所述步驟二中，進(jìn)一步包括所述待測(cè)SDH單板進(jìn)行性能檢測(cè)和/或告警檢測(cè)，并將獲取的檢測(cè)結(jié)果上 報(bào)至所述網(wǎng)管系統(tǒng)的步驟。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種實(shí)現(xiàn)SDH單板誤碼測(cè)試的裝置及其方法，該裝置包括網(wǎng)管系統(tǒng)，還包括內(nèi)嵌自測(cè)模塊的待測(cè)SDH單板；所述網(wǎng)管系統(tǒng)使能待測(cè)SDH單板中的一塊指定待測(cè)SDH單板，將所述指定待測(cè)SDH單板的偽隨機(jī)序列按照業(yè)務(wù)穿通所述待測(cè)SDH單板，并回到所述指定待測(cè)SDH單板；所述指定待測(cè)SDH單板根據(jù)所述偽隨機(jī)序列進(jìn)行誤碼測(cè)試，并將誤碼測(cè)試結(jié)果上報(bào)給所述網(wǎng)管系統(tǒng)。本發(fā)明無需增加額外的硬件成本，實(shí)現(xiàn)起來簡(jiǎn)單方便，節(jié)約成本，提高工作效率。
文檔編號(hào)H04J3/08GK101183911SQ20071017939
公開日2008年5月21日 申請(qǐng)日期2007年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月12日
發(fā)明者彭祥吉 申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司