技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明屬于集成電路領(lǐng)域，涉及一種基于或非門(mén)和與門(mén)的抗輻射鎖存器的電路設(shè)計(jì)方法，尤其涉及一種基于或非門(mén)和與門(mén)的抗輻射鎖存器的制備方法；所述的鎖存器使八個(gè)由或非門(mén)和與門(mén)構(gòu)成的基本單元相互絞合連接，當(dāng)一個(gè)存儲(chǔ)節(jié)點(diǎn)值因輻射發(fā)生變化時(shí)，相互絞合連接的其它節(jié)點(diǎn)通過(guò)或非門(mén)抑制這種變化，待輻射效應(yīng)消失后，會(huì)驅(qū)動(dòng)發(fā)生錯(cuò)誤的存儲(chǔ)節(jié)點(diǎn)恢復(fù)原來(lái)的正確值，從而使該鎖存器具有抗輻射容錯(cuò)特性。

技術(shù)研發(fā)人員：佘曉軒
受保護(hù)的技術(shù)使用者：復(fù)旦大學(xué)
文檔號(hào)碼：201510369378
技術(shù)研發(fā)日：2015.06.29
技術(shù)公布日：2017.01.11