用于增強的功率放大器正向功率檢測的集成技術的制作方法
【專利摘要】一種功率放大器，具有功率檢測能力，其包括具有增益級的射頻(RF)功率放大器，該增益級包括增益級輸入、增益級輸出、以及耦合在功率放大器的輸入和輸出之間的反饋環(huán)路。檢測電路具有電耦合至增益級輸入的第一檢測電路輸入以及具有檢測電路輸出。振幅控制電路和相位控制電路在增益級輸出與第二檢測電路輸入之間串聯(lián)地電耦合在一起。振幅控制電路和相位控制電路產生由第二檢測電路輸入接收的信號，以使檢測電路能在檢測電路輸出處檢測與功率放大器的正向功率輸出成比例的信號，且檢測電路對功率放大器輸出負載不匹配不敏感。
【專利說明】用于增強的功率放大器正向功率檢測的集成技術 發(fā)明領域
[0001] 本發(fā)明涉及增強功率放大器性能，尤其涉及改善由于環(huán)境導致的可變負載條件下 的正向功率檢測。
[0002] 發(fā)明背景
[0003] 在所發(fā)射信號的功率量必需在指定范圍內的環(huán)境中，使用許多功率放大器。例如， 類似聯(lián)邦通信委員會（FCC)之類的聯(lián)邦機關對無線LAN通信中所發(fā)射的信號所準許的功率 量有所限制。此類受控環(huán)境中包括功率放大器的電路中的功率檢測對于確保所發(fā)射信號的 功率遵循FCC管制至關重要。
[0004] 功率放大器中的準確功率檢測可能是具有挑戰(zhàn)性的，特別是在功率放大器的輸出 端上的負載條件隨時間變化時尤其如此，諸如蜂窩電話的用戶從建筑物外部移動到建筑物 內部時。功率放大器的性能在新的負載條件下變化，并且此性能變化必須被可靠地檢測。檢 測功率放大器中功率的現(xiàn)成方案會依賴既大又貴的印刷電路板（PCB)級定向耦合器。其他 現(xiàn)成方案依靠功率放大器的輸出端的功率檢測，這對檢測正向功率造成了明顯的變化量。 另一些其他現(xiàn)成方案依靠功率放大器的最末增益級的輸入端的功率檢測，但是此類布置受 到功率放大器設計與檢測器之間的依存關系的影響，并且要求功率放大器設計考慮檢測器 的設計參數(shù)，這限制了功率放大器能力。
[0005] 因此，存在對可集成在單片電路方案（諸如標準CMOS/BiCMOS或GaAs工藝）中的 功率放大器中的功率檢測的改進的需要，其中該單片電路方案可獨立于功率放大器設計參 數(shù)并且相對于功率放大器的性能提供自由度而不犧牲準確檢測功率放大器的輸出信號中 的功率的能力。 發(fā)明概要
[0006] 本發(fā)明的目的是提供適于改進功率放大器的正向功率檢測的方法和設備結構。
[0007] 示例性功率放大器具有功率檢測能力。此類設備和方法可包括射頻（RF)功率放 大器，其具有增益級，該增益級包括增益級輸入、增益級輸出、以及耦合在功率放大器的輸 入和輸出之間的反饋環(huán)路。檢測電路具有電耦合至增益級輸入的第一檢測電路輸入以及檢 測電路輸出。振幅控制電路和相位控制電路在增益級輸出與第二檢測電路輸入之間串聯(lián)地 電耦合在一起。振幅控制電路和相位控制電路產生由第二檢測電路輸入接收的信號，以使 檢測電路能在檢測電路的輸出處檢測具有與功率放大器的正向功率輸出成比例的功率的 信號。
[0008] 還公開了在耦合至功率放大器的檢測電路中檢測正向功率的方法。將第一振幅控 制電路串聯(lián)地耦合至功率放大器的增益級的輸入以產生經(jīng)校正的輸入信號。將第二振幅控 制電路和相位控制電路串聯(lián)地耦合至功率放大器的增益級的輸出以產生經(jīng)校正的輸出信 號。累加經(jīng)校正的輸入信號和經(jīng)校正的輸出信號以產生與功率放大器的正向功率輸出成比 例的累加節(jié)點信號。累加節(jié)點信號被應用于檢測電路以檢測功率放大器的正向功率輸出。
[0009] 根據(jù)參照附圖開展的本發(fā)明的實施例的以下詳細描述，本發(fā)明的上述和其他目 標、特征、和優(yōu)點將變得顯而易見。
[0010] 附圖簡述
[0011] 圖1是在匹配功率條件下與功率放大器聯(lián)用的現(xiàn)有技術功率檢測電路。
[0012] 圖2是在不匹配功率條件下圖1中所示的現(xiàn)有技術功率檢測電路。
[0013] 圖3是在不匹配條件下具有外部定向耦合器的現(xiàn)有技術集成正向功率檢測電路。
[0014] 圖4是在不匹配條件下的現(xiàn)有技術集成正向功率檢測電路，該集成正向功率檢測 電路具有檢測功率放大器的輸出處的電壓的檢測電路。
[0015] 圖5是在不匹配條件下的現(xiàn)有技術集成正向功率檢測電路，該集成正向功率檢測 電路具有檢測功率放大器的最末增益級的輸入處的電壓的檢測電路。
[0016] 圖6是根據(jù)本發(fā)明的諸方面的集成正向功率檢測器。
[0017] 圖7是根據(jù)本發(fā)明的諸方面的集成正向功率檢測器的另一實施例。
[0018] 圖8是電耦合至第一振幅與相位控制電路和第二振幅與相位控制電路的示例累 加檢測電路。
[0019] 圖9是用于振幅與相位控制電路組合的示例電阻器與電容器調諧電路。
[0020] 圖10是當所公開的功率檢測器執(zhí)行功率放大器的功率檢測時對VWSR不敏感的正 向功率檢測改進的圖形表示。
[0021] 詳細描述
[0022] 在不一定按比例的附圖中，所公開系統(tǒng)和方法的類似或對應元素由相同附圖標記 來標示。
[0023] 為了檢測功率放大器，諸如Microsemi Corporation?所制造的LX5586和LX5588 集成前端模塊中的那些功率放大器中的功率，所公開的電路和方法提供了一種集成功率檢 測方案，該方案提供相對于功率放大器的設計自由度。所公開的帶有集成功率檢測器的功 率放大器使功率損耗最小化，具有平坦的頻率響應、改善的方向性，能靠著功率放大器并獨 立于功率放大器被集成，并且物理上較小以節(jié)省管芯面積。所公開的帶有集成功率檢測器 的功率放大器的所有這些特征改善了用于功率放大器的功率檢測的尺寸和成本。本發(fā)明的 電路和方法對功率放大器的末級的輸入和輸出采樣以準確地檢測從功率放大器傳送的信 號中的功率。
[0024] 圖1-5示出了檢測功率放大器中的功率的現(xiàn)有技術方案。圖1和2分別示出了在 匹配和不匹配信號條件下具有定向耦合器102的現(xiàn)有技術功率放大器100,定向耦合器102 檢測通過天線104從功率放大器100發(fā)射的信號的功率。在圖1和2所示的現(xiàn)有技術功 率檢測器中，定向耦合器102和天線104位于集成電路管芯或芯片106之外。在圖1所示 的匹配條件下，電壓駐波比（VSWR)為零。在圖2所示的不匹配條件下，VSWR大于零。計算 VSWR是傳輸路徑上最大和最小射頻（RF)電壓振幅之比。電壓振幅的變化由非零的反射功 率（PMV)引起。此反向功率由于功率放大器的輸出端的負載不匹配所引起，負載不匹配反 射正向功率回到功率放大器。
[0025] 匹配信號是具有等于被傳遞給負載（即，發(fā)射來自功率放大器的信號的天線）的 功率的正向功率P fwd 108的信號。在這些條件下，反射功率PMV 110為零。正向功率Pfwd 108是通過天線104從功率放大器100正被發(fā)射的信號的功率。反射功率P,ev 110是由于 關于天線104的負載匹配而正被反射回到放大器的功率。反射功率110在天線104返 回信號時產生，經(jīng)常發(fā)生于在信號有可能被諸如金屬盒、建筑物、車輛等對象反射的區(qū)域中 發(fā)射信號之時。
[0026] 圖2示出了其中正向功率Pfwd 108不再等于傳遞給負載的功率的現(xiàn)有技術功率檢 測方案。取決于不匹配的程度，一些量的功率被反射。在這些條件下，PMV不再為零。此類 不匹配條件導致傳輸路徑中的電壓振幅變化，并且使正向功率P fwd 108不再與來自功率放 大器輸出的功率信號的電壓振幅成比例。這種變化妨礙了基于電壓檢測的方案的準確功率 檢測。不匹配的相位和振幅的變化使準確檢測正向功率P fwd 108變得困難，因為集成檢測 方案在電壓域中最各易實現(xiàn)。
[0027] 在存在不匹配的情況下，系統(tǒng)中任何給定位置上的電壓信號在相位和振幅上皆有 變化。圖1和2中所示的現(xiàn)有技術檢測器僅依靠采樣輸出電壓，這使得此類方案本質上就 不準確，因為正向功率P fwd 108不再與來自功率放大器的輸出信號的功率的電壓振幅成比 例。
[0028] 圖3示出了實現(xiàn)外部片上定向耦合器302的現(xiàn)有技術功率放大器，該定向耦合器 302檢測全部在同一芯片306上的功率放大器300輸出的正向功率P fwd304。定向耦合器302 所檢測的信號的振幅和頻率響應是該片上定向耦合器302的尺寸的正函數(shù)。隨著定向耦合 器302的尺寸增長，該結構的損耗也增大并且該片上方案的面積成本也增大。定向耦合器 302的行為由信號波長規(guī)定，定向耦合器302可能經(jīng)歷頻率響應與尺寸之間的顯著折衷，這 轉換為損耗。此外，這種現(xiàn)有技術的片上定向耦合器302與功率放大器300的行為密切聯(lián) 系，這使得功率放大器300的設計復雜化并且損害了關于檢測器的功率放大器性能或定向 奉禹合器性能。
[0029] 圖4示出了帶有功率檢測器402的另一現(xiàn)有技術功率放大器400,其中定向耦合器 402位于功率放大器400所在的芯片404之外。圖4所示的示例中來自功率放大器400的 功率在功率放大器400的輸出處被檢測。如上所述，反射功率P, ev 408與正向功率Pfwd 410 相互作用，從而使得功率放大器400輸出端與不匹配之間的給定點上的電壓振幅導致電壓 振幅變化。功率放大器400輸出處的電壓檢測產生恒定正向功率P fwd 410的明顯變化量。
[0030] 圖5示出帶有位于同一芯片504上的功率檢測器502的又一現(xiàn)有技術功率放大器 500。功率檢測器502片上地檢測功率放大器500的最末增益級506的輸入處的功率，而不 需要如上文參考圖1-4所述的現(xiàn)有技術示例中所示的定向耦合器。功率放大器500的最末 增益級506的輸入對不匹配信號較不敏感，因為功率放大器的最末級中的晶體管具有負電 壓增益和有限反向隔離，所以由于不匹配信號引起的VSWR的影響能夠被消除。然而，檢測 功率放大器的最末增益級的輸入處的功率的檢測器設計，諸如圖5中所示的檢測器502,受 到依賴于功率放大器設計的影響，控制功率放大器的最末增益級的輸入處可見的相位和振 幅不匹配的能力下降、以及檢測具有相對較低功率值的信號的能力下降。
[0031] 現(xiàn)在參照圖6和7,根據(jù)本案的諸方面公開了具有功率檢測器的兩個功率放大器， 功率檢測器檢測從功率放大器輸出的信號的功率。在圖6中，功率放大器600和檢測器602 兩者皆位于同一芯片604上。功率放大器600可以是具有包括最末增益級606在內的多個 增益級的射頻RF功率放大器。功率放大器600的最末增益級606具有輸入和輸出，并且在 功率放大器600的該輸入和輸出之間耦合有反饋環(huán)路608。檢測器602包括檢測電路610， 檢測電路610具有電耦合至功率放大器600的最末增益級606輸入的檢測電路輸入，檢測 電路610還具有檢測電路輸出（圖8示例中的840)。振幅控制電路612和相位控制電路 614被電耦合在最末增益級606輸出與第二檢測電路610輸入之間。振幅控制電路612和 相位控制電路614串聯(lián)地電耦合，并且在其他示例中它們的次序可以顛倒。振幅控制電路 612和相位控制電路614產生信號，該信號被第二檢測電路610輸入所接收以使得檢測電路 610產生與功率放大器600的正向功率輸出成比例的輸出信號。
[0032] 圖6所示的功率放大器600的檢測電路610可以獨立于功率放大器600設計參數(shù)， 這帶來功率放大器600輸出信號中對VSWR不敏感的正向功率檢測。在功率放大器600的 最末增益級606的輸入處被檢測電路610輸入所檢測到的信號與已經(jīng)由振幅控制電路612 和相位控制電路614針對振幅和相位信號不匹配進行了校正的輸出信號在獨立于功率放 大器600本質固有的性能特性的檢測電路610中被累加。在此示例中，檢測電路610與功 率放大器610分開地操作。
[0033] 圖7示出了根據(jù)本發(fā)明的諸方面功率放大器700的另一實施例，該功率放大器700 具有功率檢測器702,功率檢測器702檢測從功率放大器700輸出的信號的功率。類似于圖 6,功率放大器700和檢測器702兩者皆位于同一芯片704上。在此示例中，功率放大器700 的最末增益級706具有輸入和輸出，并且反饋環(huán)路708耦合在該輸入與輸出之間。檢測器 702包括檢測電路710,檢測電路710具有電耦合至第一相位控制電路712和第一振幅控制 電路714的檢測電路輸入。第一相位控制電路712和第一振幅控制電路714的輸入電耦合 至功率放大器700的最末增益級706的輸入。
[0034] 檢測電路710還包括電耦合至第二相位控制電路716和第二振幅控制電路718的 檢測電路輸出。第二相位控制電路716和第二振幅控制電路718的輸出電耦合至功率放大 器700的最末增益級706的輸出。第一和第二相位控制712、716與振幅控制電路714、718 的次序可以顛倒。按照上文參照圖6描述的類似方式，第一相位和振幅控制電路712、714 產生的信號與第二相位和振幅控制電路716、718產生的信號在檢測電路710中累加以產生 累加 RF信號。該累加 RF信號具有與功率放大器700的正向功率輸出成比例的功率。
[0035] 在振幅控制電路714保持電耦合至最末增益級706輸入時，相位控制電路712可 以被省略。如上所述，功率放大器的最末增益級具有輸入和輸出，并且反饋環(huán)路耦合在該輸 入和輸出之間。檢測器包括檢測電路，檢測電路具有電耦合至第一振幅控制電路的檢測電 路輸入。該第一振幅控制電路的輸入電耦合至功率放大器的最末增益級的輸入。此檢測電 路還包括電耦合至相位控制電路和第二振幅控制電路的檢測電路輸出，該相位控制電路和 第二振幅控制電路串聯(lián)地電耦合在一起。該相位控制電路和第二振幅控制電路的輸出電耦 合至功率放大器的最末增益級的輸出。該相位控制電路和第二振幅控制電路的次序可以顛 倒。在此示例中，檢測電路電耦合在第一振幅控制電路與組合的第二振幅控制電路及相位 控制電路之間。在上述任何示例功率放大器和檢測器中，功率放大器輸出的增益級輸出或 信號輸出呈現(xiàn)出大于零的VSWR。
[0036] 現(xiàn)在參照圖8,公開了示例累加檢測電路，其說明圖7中所示的檢測器。該累加檢 測電路包括第一相位與振幅控制電路804、第二相位與振幅控制電路806、累加節(jié)點808、以 及檢測電路810。該第一相位與振幅控制電路804的輸入電耦合至功率放大器的最末增益 級的輸入812。該第二相位與振幅控制電路的輸出814電耦合至功率放大器的最末增益級 的輸出。第一相位與振幅控制電路804包括電容器816、可變或可選阻隔電容器818、晶體 管820、以及電流源822。第二相位與振幅控制電路806包括兩個電容器824、826、可變或可 選阻隔電容器828、以及可編程電阻器830。第一相位與振幅控制電路804的輸出與第二相 位與振幅控制電路806的輸入在檢測電路810的累加節(jié)點808處被電耦合或累加在一起。 圖8示出了累加節(jié)點808的示例，但是可以各種其他方式實現(xiàn)第一相位與振幅控制電路804 的輸出和第二相位與振幅控制電路806的累加。
[0037] 圖8所示的檢測電路702包括整流器834,諸如二極管或能夠將RF信號變換成DC 電壓的任何其他電路元件、電流源836、以及電容器838。檢測電路702的輸出840與功率 放大器的RF信號輸出成比例。檢測電路創(chuàng)生與累加節(jié)點808處的RF信號的振幅成比例的 直流（DC)電壓。檢測電路702產生的該DC電壓還與關聯(lián)于從功率放大器輸出的信號的功 率的電壓成比例。由于該信號現(xiàn)在是低頻信號，即DC信號，所以能將其準確地傳達給RF傳 輸系統(tǒng)的其他元件。
[0038] 圖9示出圖8中所示的第二相位與振幅控制電路806的示例。阻隔電容器828包 括一系列三個電容器932、934、936及相應開關，它們根據(jù)哪些開關938、940、942被斷開或 閉合而提供不同的電容器值。這三個電容器932、934、936并聯(lián)地電耦合在一起?？删幊屉?阻器832包括一系列三個電阻器944、946、948及相應開關950、952、954,在一些示例中這 些開關可以是門控的FET。當所有電阻器開關950、952、954都斷開時，總電阻等于所有三 個電阻器944、946、948的值的和。當所有電阻器開關950、952、954都閉合時，總電阻為線 電阻，而這三個電阻器944、946、948不為電路增添電阻。該可編程電阻器上的電阻可通過 斷開和閉合開關950、952、954中的一個或更多個來按需變化。由于圖9所示的相位與振幅 控制電路806的可編程的性質，可響應于功率放大器的輸出信號的功率變化來對檢測器編 程。例如，上文參照圖6-8討論的任何相位與振幅控制電路都可具有可編程組件，可響應于 功率放大器的輸出信號的功率變化對這些可編程組件進行編程。
[0039] 圖10示出了使用所公開的帶有功率檢測器的功率放大器進行正向功率檢測的性 能改善的圖形表示。對于每一幅圖，沿X軸采樣正向功率，而沿Y軸繪制恒定電壓。每條線 表示具有3:1VSWR(不匹配的量）且具有可變相位（60度步長）的不同負載條件。第一幅 圖1000示出了對正向功率的最終檢測器響應，并且表示輸入到功率放大器的最末增益級 的RF信號的振幅。第二幅圖1002表不RF輸出電壓信號的振幅。輸出電壓信號對于相同 的正向功率具有比輸入到功率放大器的最末增益級的RF信號的振幅和變化高得多的振幅 和更大的變化。
[0040] 第一幅圖1000示出125mV的恒定RF振幅具有幾近1. 9dB的正向功率變化，其表示 功率放大器的正向功率檢測，在1004處是未用所公開的檢測器而在1006處是采用了所公 開的檢測器。單依靠檢測功率放大器的最末增益級的輸入處的RF振幅的檢測器方案（諸 如圖5所示的檢測器）無法在此變化上有所改進。在對功率放大器使用了所公開的檢測器 時，對于相同的RF振幅，最后檢測器輸出電壓V DET[(I]的變化僅為1. 4dB。同樣，第二幅圖不出 了具有8dB正向功率變化的恒定RF輸出電壓，其中在1008處是未用所公開的檢測器而在 1010是采用了所公開的檢測器所測得的輸出值。單依靠檢測功率放大器的輸出處的RF振 幅的檢測器，諸如圖4所示的檢測器受到恒定正向功率的檢測器電壓過度變化的困擾。使 用所公開的檢測器的功率放大器的功率檢測相比于其他可能的方案提供了明顯的性能優(yōu) 勢。
[0041] 還公開了在耦合至功率放大器的檢測電路中檢測正向功率的方法。此方法可包括 將第一振幅控制電路串聯(lián)地耦合至功率放大器的增益級的輸入以產生經(jīng)校正的輸入信號， 將第二振幅控制電路和第二相位控制電路串聯(lián)地耦合至功率放大器的增益級的輸出以產 生經(jīng)校正的輸出信號，累加該經(jīng)校正的輸入信號和經(jīng)校正的輸出信號以產生與功率放大器 的正向功率輸出成比例的累加節(jié)點信號，以及將該累加節(jié)點信號應用于檢測電路以檢測正 向功率輸出。在此示例中，累加節(jié)點信號可以是具有功率的RF信號。該方法還可包括產生 具有與累加節(jié)點信號功率成比例的功率的DC輸出信號。此輸出信號可具有大于零的VSWR。 如上所述，檢測累加節(jié)點信號可獨立于功率放大器的輸出信號的VSWR變化來執(zhí)行。
[0042] 已經(jīng)在本發(fā)明的優(yōu)選實施例中描述和說明了本發(fā)明的原理，但應當顯而易見的 是，能在安排和細節(jié)方面修改本發(fā)明而不背離這樣的原理。 申請人:要求保護落在所附權利 要求的精神和范圍內的所有修改和變化。
【權利要求】
1. 一種具有功率檢測的功率放大器，包括： 射頻（RF)功率放大器，具有增益級，所述增益級包括增益級輸入、增益級輸出、以及耦 合在所述功率放大器的輸入和輸出之間的反饋環(huán)路； 檢測電路，具有電耦合至所述增益級輸入的第一檢測電路輸入以及具有檢測電路輸 出； 振幅控制電路和相位控制電路，在所述增益級輸出與第二檢測電路輸入之間串聯(lián)地電 奉禹合在一起； 其中，所述振幅控制電路和所述相位控制電路產生由所述第二檢測電路輸入接收的信 號，以使所述檢測電路在所述檢測電路的輸出處檢測具有與所述功率放大器的正向功率輸 出成比例的功率的信號。
2. 如權利要求1所述的功率檢測設備，其特征在于，所述振幅控制電路是第一振幅控 制電路，并且還包括串聯(lián)地電耦合在所述第一檢測電路輸入與所述增益級輸入之間的第二 振幅控制電路。
3. 如權利要求2所述的功率檢測設備，其特征在于，所述相位控制電路是第一相位控 制電路，并且還包括串聯(lián)地電耦合在所述第一振幅控制電路與所述第一檢測電路輸入之間 的第二相位控制電路。
4. 如權利要求3所述的功率檢測設備，其特征在于，所述第一相位控制電路的輸出與 所述第二相位控制電路的輸出被累加以產生累加 RF信號。
5. 如權利要求1所述的功率檢測設備，其特征在于，所述功率放大器的所述增益級輸 出呈現(xiàn)大于1的電壓駐波比（VSWR)。
6. 如權利要求1所述的功率檢測設備，其特征在于，所述功率放大器、所述振幅控制電 路、所述相位控制電路、以及所述檢測電路各自物理上一起位于集成電路管芯上。
7. -種在耦合至功率放大器的檢測電路中檢測正向功率的方法，包括： 將第一振幅控制電路串聯(lián)地耦合至功率放大器的增益級的輸入以產生經(jīng)校正的輸入 信號； 將第二振幅控制電路和第二相位控制電路串聯(lián)地耦合至所述功率放大器的所述增益 級的輸出以產生經(jīng)校正的輸出信號； 累加所述經(jīng)校正的輸入信號和所述經(jīng)校正的輸出信號以產生與所述功率放大器的正 向功率輸出成比例的累加節(jié)點信號；以及 將所述累加節(jié)點信號應用于所述檢測電路以檢測所述正向功率輸出。
8. 如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述累加節(jié)點信號是具有功率的射頻（RF) 信號，并且所述方法還包括產生具有與累加節(jié)點信號功率成比例的功率的直流（DC)輸出 信號。
9. 如權利要求7所述的方法，其特征在于，還包括在所述增益級輸入和所述第一振幅 控制電路之間將第一相位控制電路與所述第一振幅控制電路串聯(lián)地耦合。
10. 如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述功率放大器的輸出信號具有大于1的 電壓駐波比。
11. 如權利要求7所述的方法，其特征在于，將第一振幅控制電路耦合至所述功率放大 器的所述增益級的輸入、將所述第二振幅控制電路和所述第二相位控制電路耦合至所述功 率放大器的所述增益級的輸出、以及累加所述經(jīng)校正的輸入信號和所述經(jīng)校正的輸出信號 與所述功率放大器的所述增益級的反饋環(huán)路并行地發(fā)生。
12. 如權利要求11所述的方法，其特征在于，還包括獨立于所述功率放大器的輸出信 號的VSWR變化而檢測所述累加節(jié)點信號。
13. 如權利要求12所述的方法，其特征在于，將第一振幅控制電路耦合至功率放大器 的增益級的輸入、將第二振幅控制電路和第二相位控制電路耦合至所述功率放大器的所述 增益級的輸出、以及累加所述經(jīng)校正的輸入信號和所述經(jīng)校正的輸出信號以產生累加節(jié)點 信號、以及檢測所述累加節(jié)點信號全部在同一集成電路管芯上發(fā)生。
14. 如權利要求7所述的方法，其特征在于，還包括響應于所述功率放大器的輸出信號 的功率變化對所述第一振幅控制電路、所述第二振幅控制電路、和所述第二相位控制電路 中的至少一者進行編程。
15. 如權利要求14所述的方法，其特征在于，所述第一振幅控制電路、所述第二振幅控 制電路、以及所述第二相位控制電路各自包括阻隔電容器。
16. 如權利要求15所述的方法，其特征在于，對所述第一振幅控制電路、所述第二振幅 控制電路、和所述第二相位控制電路中的至少一者進行編程包括調節(jié)所述阻隔電容器的電 容。
17. 如權利要求7所述的方法，其特征在于，所述檢測所述累加節(jié)點信號包括在檢測電 路的輸入處接收所述經(jīng)校正的輸入信號和所述經(jīng)校正的輸出信號。
【文檔編號】H03F1/56GK104303416SQ201380025819
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2013年5月15日 優(yōu)先權日:2012年5月18日
【發(fā)明者】B·艾普萊特 申請人:美高森美公司