專利名稱：校正usb裝置頻率的方法及電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種校正頻率的方法及電路，具體地說，是一種校正USB裝置頻率的 方法及電路。
背景技術(shù)：
在通用序列匯排流2. 0和1. 1驅(qū)動(dòng)器協(xié)議(USB 2. 0 and 1. 1 driver protocol) 中，通用序列匯排流(USB)主機(jī)端(host)對USB裝置(device)的接口通信協(xié)議對于低速 (low speed)、全速(full speed)及高速(high speed)狀態(tài)下的使用頻率具有嚴(yán)格的規(guī)范， 以對應(yīng)不同的應(yīng)用，例如在低速狀態(tài)下，USB主機(jī)的數(shù)據(jù)串行(data stream)的數(shù)據(jù)率規(guī)格 (data rate specification)為1. 5MHz士 1. 5%，應(yīng)用在鍵盤、鼠標(biāo)等，在全速狀態(tài)下，USB 主機(jī)的數(shù)據(jù)串行的數(shù)據(jù)率規(guī)格為12MHz士0. 25%，應(yīng)用在聲音及麥克風(fēng)等，在高速狀態(tài)下， USB主機(jī)的數(shù)據(jù)串行的數(shù)據(jù)率規(guī)格為480MHz士0. 05%，應(yīng)用在視頻和成像(imaging)等。因 此，已知的USB裝置的頻率源大多采用石英震蕩器、共振震蕩器或者再加上以數(shù)字鎖相回 路(DPLL)鎖頻的方式產(chǎn)生一準(zhǔn)確的頻率信號(hào)，然而，此方式卻無法將頻率源整合在USB裝 置的集成電路(IC)內(nèi)。為了降低成本及考慮組件的一致性，整合USB裝置IC的內(nèi)部電阻及電容產(chǎn)生一電 阻電容(RC)震蕩器做為USB裝置的頻率源，使USB裝置的頻率源被包含在USB裝置的IC 內(nèi)部。然而，由于制程的變異，所述RC震蕩器的頻率約有士25%的誤差，無法達(dá)到USB驅(qū)動(dòng) 器協(xié)議的規(guī)范。如圖1所示，USB接口通信協(xié)議對于USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行(datastream)的輸 出封包的格式有嚴(yán)格的規(guī)范，在一數(shù)據(jù)交易(transaction)中，輸出封包包括標(biāo)志封包 (token packet) 12^ (data packet) 14 禾口豸@ (hgindshEike packet) 16, ^ 均具有固定長度(例如八位)的位周期(bits period)及固定位值內(nèi)容的同步列數(shù)據(jù)域 (synchronization sequence ；SYNC)，以及固定長度但位值內(nèi)容不固定的封包辨識(shí)元數(shù)據(jù) 域(packet identifier ;PID)，其中標(biāo)志封包12具有固定長度為三十二位的位周期，數(shù)據(jù) 封包14具有長度小于九十六位的位周期，交握封包16具有固定長度為十六位的位周期。因 此，可利用USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中輸出封包的特性，擷取USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行的信號(hào)長度做 為USB裝置內(nèi)部RC震蕩器頻率的校準(zhǔn)基數(shù)，校正USB裝置內(nèi)部RC震蕩器的頻率，使其頻率 的準(zhǔn)確度達(dá)到USB驅(qū)動(dòng)器協(xié)議的規(guī)范，同時(shí)使USB裝置和USB主機(jī)端的數(shù)據(jù)串行信號(hào)同步 (synchronizing) 0美國專利公告第6343364號(hào)提出一種利用建立(SETUT)標(biāo)志封包的正差動(dòng)信號(hào) (D+)前四個(gè)下降緣(falling edge)的時(shí)間等于八位的位周期，校正USB裝置內(nèi)部RC震蕩 器的頻率。美國專利公開第2007/0159221號(hào)提出一種利用正差動(dòng)信號(hào)下降緣之間的時(shí)間 關(guān)系，辨識(shí)進(jìn)入的封包是否為標(biāo)志封包，若進(jìn)入的封包為標(biāo)志封包，則利用正差動(dòng)信號(hào)第一 個(gè)與第四個(gè)下降緣之間的時(shí)間等于八位的位周期，校正USB裝置內(nèi)部RC震蕩器的頻率。美 國專利公告第6407641號(hào)提出一種利用標(biāo)志封包中四位(例如第二至第五位)的位周期對USB裝置的內(nèi)部RC震蕩器進(jìn)行粗調(diào)，再經(jīng)由所述標(biāo)志封包中二十位(例如第六至第二十五 位)的位周期對USB裝置的內(nèi)部RC震蕩器進(jìn)行細(xì)調(diào)。然而，此種擷取USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行 中標(biāo)志封包來校正USB裝置的內(nèi)部RC震蕩器，無法在單一的數(shù)據(jù)交易(transaction)中進(jìn) 行多次校正，此外，僅利用標(biāo)志封包校正USB裝置的內(nèi)部RC震蕩器，在校正上缺乏彈性。因此已知的校正USB裝置頻率的方法存在著上述種種不便和問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的，在于提出一種利用同步列數(shù)據(jù)域多次校正USB裝置頻率的方法及 電路。本發(fā)明的另一目的，在于提出一種利用標(biāo)志封包校正USB裝置頻率的方法及電路。本發(fā)明的又一目的，在于提出一種利用交握封包校正USB裝置頻率的方法及電路。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)解決方案是一種校正USB裝置頻率的方法，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一 頻率，所述方法其特征在于包括下列步驟第一步驟檢測一輸入數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化一計(jì)數(shù)器；第二步驟檢測所述數(shù)據(jù)串行中一同步列數(shù)據(jù)域以觸發(fā)所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)所述 頻率的數(shù)量并產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；第三步驟比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值以調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，使 所述計(jì)數(shù)值與所述參考值相等。本發(fā)明的校正USB裝置頻率的方法還可以采用以下的技術(shù)措施來進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的方法，其中所述檢測所述數(shù)據(jù)串行中所述同步列數(shù)據(jù)域的步驟包括檢測一 負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)上升緣使所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)，以及檢測所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上 升緣以閂鎖所述計(jì)數(shù)值。前述的方法，其中所述檢測所述數(shù)據(jù)串行中所述同步列數(shù)據(jù)域的步驟包括檢測一 正差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)下降緣使所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)，以及檢測所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下 降緣以閂鎖所述計(jì)數(shù)值。前述的方法，其中所述調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率的步驟包括當(dāng)所述計(jì)數(shù) 值大于所述參考值時(shí)，降低所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，當(dāng)所述計(jì)數(shù)值小于所述參考值 時(shí)，增加所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率。前述的方法，其中更包括倍頻所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率。一種校正USB裝置頻率的電路，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一 頻率，其特征在于所述電路包括一計(jì)數(shù)器，用以計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量；一第一檢測單元，檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化所述計(jì)數(shù)器；一第二檢測單元，檢測所述數(shù)據(jù)串行中一同步列數(shù)據(jù)域以產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)，使所 述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；一校準(zhǔn)編碼單元，比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值產(chǎn)生一校準(zhǔn)信號(hào)調(diào)整所述內(nèi)部可校
7準(zhǔn)震蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值與所述參考值相等。本發(fā)明的校正USB裝置頻率的電路還可以采用以下的技術(shù)措施來進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的電路，其中包括一鎖相回路以倍頻所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率。前述的電路，其中所述第二檢測單元檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)上升緣以初始化 所述觸發(fā)信號(hào)，以及檢測所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣以結(jié)束所述觸發(fā)信號(hào)。前述的電路，其中所述第二檢測單元檢測一正差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)下降緣以初始化 所述觸發(fā)信號(hào)，以及檢測所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣以結(jié)束所述觸發(fā)信號(hào)。一種校正USB裝置頻率的方法，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一 頻率，其特征在于所述方法包括下列步驟(a)檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化一計(jì)數(shù)器；(b)檢測所述數(shù)據(jù)串行中一同步列數(shù)據(jù)域以觸發(fā)所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)所述頻率的
數(shù)量；(c)辨識(shí)包含所述同步列數(shù)據(jù)域的當(dāng)前封包是否為標(biāo)志封包，若所述當(dāng)前封包為 標(biāo)志封包，則進(jìn)行步驟(d)，反之，則停止所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)并回到步驟(a)(d)檢測所述當(dāng)前封包的封包結(jié)尾以閂鎖所述計(jì)數(shù)器產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；(e)比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值以調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，使所述計(jì) 數(shù)值與所述參考值相等。前述的方法，其中所述步驟(b)包括檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)上升緣。前述的方法，其中所述步驟(c)包括下列步驟檢測所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣；閂鎖所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣后的第二至第四位產(chǎn)生一封包辨識(shí)元；若所述封包辨識(shí)元中包含二個(gè)邏輯狀態(tài)為高的位，則判定為標(biāo)志封包。前述的方法，其中所述步驟(c)包括下列步驟檢測所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣；閂鎖所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣后的第一至第四位產(chǎn)生一封包辨識(shí)元；若所述封包辨識(shí)元中包含三個(gè)邏輯狀態(tài)為高的位，則判定為標(biāo)志封包。前述的方法，其中所述步驟(b)包括檢測一正差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)下降緣。前述的方法，其中所述步驟(c)包括下列步驟檢測所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣；閂鎖所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣后的第二至第四位產(chǎn)生一封包辨識(shí)元；若所述封包辨識(shí)元中包含二個(gè)邏輯狀態(tài)為低的位，則判定為標(biāo)志封包。前述的方法，其中所述步驟(c)包括下列步驟檢測所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣；閂鎖所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣后的第一至第四位產(chǎn)生一封包辨識(shí)元；若所述封包辨識(shí)元中包含三個(gè)邏輯狀態(tài)為低的位，則判定為標(biāo)志封包。前述的方法，其中所述調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率的步驟包括當(dāng)所述計(jì)數(shù) 值大于所述參考值時(shí)，降低所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，當(dāng)所述計(jì)數(shù)值小于所述參考值 時(shí)，增加所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率一種校正USB裝置頻率的電路，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一
8頻率，其特征在于所述電路包括一計(jì)數(shù)器，用以計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量；一第一檢測單元，檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化所述計(jì)數(shù)器；—第二檢測單元，檢測所述數(shù)據(jù)串行中一標(biāo)志封包以產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)，使所述計(jì) 數(shù)器開始計(jì)數(shù)產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；一校準(zhǔn)編碼單元，比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值產(chǎn)生一校準(zhǔn)信號(hào)調(diào)整所述內(nèi)部可校 準(zhǔn)震蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值與所述參考值相等。前述的電路，其中所述第二檢測單元檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)上升緣以初始化 所述觸發(fā)信號(hào)，檢測所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣使所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器產(chǎn)生一封包 辨識(shí)元以供辨識(shí)所述標(biāo)志封包，以及檢測所述標(biāo)志封包的封包結(jié)尾以結(jié)束所述觸發(fā)信號(hào)。前述的電路，其中所述封包辨識(shí)元包括所述第四個(gè)上升緣后的第一至第四個(gè)位。前述的電路，其中所述封包辨識(shí)元包括所述第四個(gè)上升緣后的第二至第四個(gè)位。前述的電路，其中所述第二檢測單元檢測一正差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)下降緣以初始化 所述觸發(fā)信號(hào)，檢測所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣使所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器產(chǎn)生一封包 辨識(shí)元以供辨識(shí)所述標(biāo)志封包，以及檢測所述標(biāo)志封包的封包結(jié)尾以結(jié)束所述觸發(fā)信號(hào)。前述的電路，其中所述封包辨識(shí)元包括所述第四個(gè)下降緣后的第一至第四個(gè)位。前述的電路，其中所述封包辨識(shí)元包括所述第四個(gè)下降緣后的第二至第四個(gè)位。一種校正USB裝置頻率的方法，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一 頻率，所述方法其特征在于包括下列步驟(a)檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化一計(jì)數(shù)器；(b)檢測所述數(shù)據(jù)串行中一同步列數(shù)據(jù)域以觸發(fā)所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)所述頻率的
數(shù)量；(c)辨識(shí)包含所述同步列數(shù)據(jù)域的當(dāng)前封包是否為交握封包，若所述當(dāng)前封包為 交握封包，則進(jìn)行步驟(d)，反之，則停止所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)并回到步驟(a)；(d)檢測所述當(dāng)前封包的封包結(jié)尾以閂鎖所述計(jì)數(shù)器產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；(e)比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值以調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，使所述計(jì) 數(shù)值與所述參考值相等。前述的方法，其中所述步驟(b)包括檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)上升緣。前述的方法，其中所述步驟(c)包括下列步驟計(jì)數(shù)所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的上升緣數(shù)量；檢測所述當(dāng)前封包的封包結(jié)尾；其中，當(dāng)所述封包結(jié)尾出現(xiàn)時(shí)，若所述上升緣數(shù)量為六，則所述當(dāng)前封包為交握封 包。前述的方法，其中所述步驟(b)包括檢測一正差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)下降緣。前述的方法，其中所述步驟(c)包括下列步驟計(jì)數(shù)所述正差動(dòng)信號(hào)的下降緣數(shù)量；檢測所述當(dāng)前封包的封包結(jié)尾；其中，當(dāng)所述封包結(jié)尾出現(xiàn)時(shí)，若所述下降緣數(shù)量為六，則所述當(dāng)前封包為交握封 包。
前述的方法，其中所述調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率的步驟包括當(dāng)所述計(jì)數(shù) 值大于所述參考值時(shí)，降低所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，當(dāng)所述計(jì)數(shù)值小于所述參考值 時(shí)，增加所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率。一種校正USB裝置頻率的電路，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一 頻率，其特征在于所述電路包括一計(jì)數(shù)器，用以計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量；一第一檢測單元，檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化所述計(jì)數(shù)器；一第二檢測單元，檢測所述數(shù)據(jù)串行中一交握封包以產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)，使所述計(jì) 數(shù)器開始計(jì)數(shù)產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；一校準(zhǔn)編碼單元，比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值產(chǎn)生一校準(zhǔn)信號(hào)調(diào)整所述內(nèi)部可校 準(zhǔn)震蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值與所述參考值相等。前述的電路，其中所述第二檢測單元檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)上升緣以初始化 所述觸發(fā)信號(hào)，以及檢測所述交握封包的封包結(jié)尾以結(jié)束所述觸發(fā)信號(hào)。前述的電路，其中更包括一第二計(jì)數(shù)器位于所述第二檢測單元中，以計(jì)數(shù)所述負(fù) 差動(dòng)信號(hào)的上升緣數(shù)量。前述的電路，其中所述第二檢測單元檢測一正差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)下降緣以產(chǎn)生所 述觸發(fā)信號(hào)，以及檢測所述交握封包的封包結(jié)尾以結(jié)束所述觸發(fā)信號(hào)。前述的電路，其中更包括一第二計(jì)數(shù)器位于所述第二檢測單元中，以計(jì)數(shù)所述正 差動(dòng)信號(hào)的下降緣數(shù)量。 采用上述技術(shù)方案后，本發(fā)明的校正USB裝置頻率的方法及電路具有以下優(yōu)點(diǎn)1.快速、精確地校正USB裝置的頻率。2.簡化校正電路，降低成本，增加USB裝置頻率的準(zhǔn)確度。


圖1是封包格式規(guī)范的示意圖2是本發(fā)明的校正USB裝置頻率的方法的第--實(shí)施例示意圖3是本發(fā)明的校正USB裝置頻率的電路的第--實(shí)施例示意圖4是校正USB裝置頻率的波形圖5是本發(fā)明的校正USB裝置頻率的方法的第二二實(shí)施例示意圖6是本發(fā)明的校正USB裝置頻率的電路的第二二實(shí)施例示意圖7是本發(fā)明的校正USB裝置頻率的方法的第三三實(shí)施例示意圖8是本發(fā)明的校正USB裝置頻率的電路的第三三實(shí)施例示意圖9是校正USB裝置頻率的波形圖10是本發(fā)明的校正USB裝置頻率的方法的第四實(shí)施例示意圖
圖11是本發(fā)明的校正USB裝置頻率的電路的第四實(shí)施例示意圖
圖12是校正USB裝置頻率的波形圖。
具體實(shí)施例方式
以下結(jié)合實(shí)施例及其附圖對本發(fā)明作更進(jìn)一步說明。
現(xiàn)請參閱圖1 圖3，圖1是封包格式規(guī)范的示意圖，圖2是根據(jù)本發(fā)明的校正USB 裝置頻率的方法流程圖20，圖3是校正USB裝置頻率的電路30。如圖所示，在所述步驟22 中，封包結(jié)尾(end of packet ；E0P)介于一封包的結(jié)束與下一個(gè)封包的開始之間，檢測單元 32檢測USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中的E0P產(chǎn)生一重置信號(hào)R給計(jì)數(shù)器36以初始化計(jì)數(shù)器36， 使計(jì)數(shù)器36歸零。在步驟24中，標(biāo)志封包12、數(shù)據(jù)封包14及交握封包16具有固定長度及 固定位值內(nèi)容的同步列數(shù)據(jù)域(SYNC)，檢測單元34檢測USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中的同步列數(shù) 據(jù)域產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)T給計(jì)數(shù)器36。在步驟26中，計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā)信號(hào)T開始計(jì)數(shù)內(nèi) 部可校準(zhǔn)震蕩器40產(chǎn)生的頻率的數(shù)量，以產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值P = nX (F/M) 公式 1其中，n為計(jì)數(shù)器36計(jì)數(shù)的位周期，F(xiàn)為內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的頻率，M為USB主 機(jī)端數(shù)據(jù)串行的數(shù)據(jù)率。在步驟28中，校準(zhǔn)編碼單元38比較計(jì)數(shù)值P與一參考值K產(chǎn)生 校準(zhǔn)信號(hào)Tr給內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40，當(dāng)計(jì)數(shù)值P大于參考值K時(shí)，降低頻率F，當(dāng)計(jì)數(shù)值P 小于參考值K時(shí)，增加頻率F，使計(jì)數(shù)值P與參考值K相等，其中，參考值K是以內(nèi)部可校準(zhǔn) 震蕩器40的設(shè)計(jì)頻率F’計(jì)算產(chǎn)生，將設(shè)計(jì)頻率F’代入公式1可得參考值K = nX(F，/M)公式 2圖4為校正USB裝置頻率的波形圖39，參考圖3及圖4，在一實(shí)施例中，內(nèi)部可校準(zhǔn) 震蕩器40包括一設(shè)計(jì)頻率為F’的可調(diào)校RC震蕩器，擷取同步列數(shù)據(jù)域前六位的位周期做 為校準(zhǔn)基數(shù)，例如負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-的前六位” 101010”，或正差動(dòng)信號(hào)D+的前六位”010101”， 使計(jì)數(shù)的位周期n等于6。利用負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-前六位” 101010”的位周期相當(dāng)于負(fù)差動(dòng) 信號(hào)D-的第一個(gè)上升緣(rising edge)42與第四個(gè)上升緣44之間的時(shí)間，藉由檢測單元 34檢測負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-的上升緣而產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)T，例如當(dāng)檢測單元34檢測到負(fù)差動(dòng)信號(hào) D-的第一個(gè)上升緣42時(shí)，初始化觸發(fā)信號(hào)T，計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā)信號(hào)T的開始而開始計(jì)數(shù) 頻率43的數(shù)量，當(dāng)檢測單元34檢測到負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-的第四個(gè)上升緣44時(shí)，結(jié)束觸發(fā)信 號(hào)T，計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā)信號(hào)T的結(jié)束而閂鎖計(jì)數(shù)值P，校準(zhǔn)編碼單元38比較計(jì)數(shù)值P與 參考值K以調(diào)整頻率F。同樣，利用正差動(dòng)信號(hào)D+前六位”010101”的位周期相當(dāng)于正差 動(dòng)信號(hào)D+的第一個(gè)下降緣(falling edge) 46與第四個(gè)下降緣48之間的時(shí)間，藉由檢測正 差動(dòng)信號(hào)D+的第一個(gè)下降緣46以初始化觸發(fā)信號(hào)T，以及檢測正差動(dòng)信號(hào)D+的第四個(gè)下 降緣48以結(jié)束觸發(fā)信號(hào)T，產(chǎn)生計(jì)數(shù)值P與參考值K比較以調(diào)整頻率F。當(dāng)設(shè)計(jì)頻率F’為 24MHz以及位數(shù)據(jù)率M為1. 5MHz時(shí)，根據(jù)公式2可得參考值K = 96，但實(shí)際上內(nèi)部可校準(zhǔn) 震蕩器40的頻率F與設(shè)計(jì)頻率F’之間具有誤差，根據(jù)公式1可得計(jì)數(shù)器36產(chǎn)生的計(jì)數(shù)值 P = 6X (F/l. 5MHz)，比較計(jì)數(shù)值P與參考值K，當(dāng)計(jì)數(shù)值P大于參考值K時(shí)，表示頻率F大 于設(shè)計(jì)頻率F’，校準(zhǔn)編碼單元38產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)Tr以降低頻率F，當(dāng)計(jì)數(shù)值P小于參考值K 時(shí)，表示頻率F小于設(shè)計(jì)頻率F’，校準(zhǔn)編碼單元38產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)Tr以增加頻率F，當(dāng)計(jì)數(shù) 值P等于參考值K時(shí)，表示頻率F等于設(shè)計(jì)頻率F’，校準(zhǔn)編碼單元38產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)Tr以維 持頻率F。此外，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40每階的調(diào)整量(trimming step)即為校正分辨率C = 1/K 公式 3將K = 96代入公式3可得校正分辨率C約等于士 1. 04%，符合通用序列匯排流 2. 0和1. 1的驅(qū)動(dòng)器協(xié)議中，對低速狀態(tài)下使用頻率誤差為士 1. 5%的規(guī)范。此實(shí)施例利用 USB接口通信協(xié)議數(shù)據(jù)傳輸中，不同的封包具有一固定同步列數(shù)據(jù)域的特性，藉由擷取USB
11主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中同步列數(shù)據(jù)域信號(hào)校正USB裝置的頻率，產(chǎn)生一相對于準(zhǔn)確于USB主機(jī) 端數(shù)據(jù)串行的頻率，以在單一的數(shù)據(jù)交易中多次校正USB裝置的頻率，相對于已知的僅利 用標(biāo)志封包校正USB裝置的頻率，此實(shí)施例不受封包特性的限制，可利用不同封包中的同 步列數(shù)據(jù)域校正USB裝置的頻率，毋須判別封包的格式，達(dá)到快速、精確地校正USB裝置的 頻率，以及簡化校正電路的目的。從公式3可知，藉由增加參考值K可得到較小的校正分辨率C，達(dá)到增加USB裝置 頻率準(zhǔn)確度的目的。根據(jù)公式2，參考值K可經(jīng)由增加內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的設(shè)計(jì)頻率F’ 或是增加計(jì)數(shù)的位周期n而增加。如圖5及圖6所示，在一實(shí)施例中，校正USB裝置頻率的方法流程圖50包括一倍 頻步驟52，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的頻率F經(jīng)校正USB裝置頻率的電路54中的鎖相回路 (PLL) 56倍頻后，產(chǎn)生頻率為NF的頻率供計(jì)數(shù)器36計(jì)數(shù)，以得到較小的校正分辨率C，其中 N為一常數(shù)。例如當(dāng)N = 2時(shí)，供計(jì)數(shù)器36計(jì)數(shù)的頻率經(jīng)鎖相回路56倍頻，因此所述頻率 從F增加至2F，在數(shù)據(jù)率M為1. 5MHz、設(shè)計(jì)頻率F’為24MHz以及位周期n為6的情況下，根 據(jù)公式2及公式3，可得參考值K= 192以及校正分辨率C約等于士0. 52%，因而增加USB 裝置頻率的準(zhǔn)確度。藉由鎖相回路56倍頻內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的頻率，提供頻率較高的 頻率供計(jì)數(shù)器36計(jì)數(shù)，而非直接增加內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的頻率，可避免因直接增加內(nèi)部 可校準(zhǔn)震蕩器40的頻率而導(dǎo)致諸如電路復(fù)雜化、成本增加等問題。如圖7所示，在另一實(shí)施例中，校正USB裝置頻率的方法流程圖58包括一辨識(shí)標(biāo) 志封包的步驟60，藉由擷取標(biāo)志封包固定三十二位的位周期，做為校正USB裝置頻率的校 準(zhǔn)基數(shù)，以增加計(jì)數(shù)的位周期n，得到較小的校正分辨率C。圖8是對應(yīng)圖7的校正USB裝置頻率的電路65，參考圖7及圖8，在步驟22中，檢 測單元32檢測USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中的E0P產(chǎn)生一重置信號(hào)R給計(jì)數(shù)器36以初始化計(jì)數(shù) 器36，使計(jì)數(shù)器36歸零。在步驟24中，檢測單元67檢測到USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中的同步 列數(shù)據(jù)域產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)T給計(jì)數(shù)器36。在步驟64中，計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā)信號(hào)T開始計(jì) 數(shù)內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40產(chǎn)生的頻率的數(shù)量，此時(shí)，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的頻率為F。在步 驟60中，辨識(shí)具有所述同步列數(shù)據(jù)域的當(dāng)前封包是否為標(biāo)志封包，若所述當(dāng)前封包不是標(biāo) 志封包，則進(jìn)行步驟62，計(jì)數(shù)器36停止計(jì)數(shù)，回到步驟22，若所述當(dāng)前封包為標(biāo)志封包，則 進(jìn)行步驟66，檢測單元34檢測所述標(biāo)志封包的E0P以結(jié)束觸發(fā)信號(hào)T，計(jì)數(shù)器36閂鎖其計(jì) 數(shù)值產(chǎn)生計(jì)數(shù)值P。在步驟28中，校準(zhǔn)編碼單元38比較計(jì)數(shù)值P與參考值K產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào) Tr給內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40，使計(jì)數(shù)值P與參考值K相等。在本實(shí)施例中，步驟60及步驟64 是同步進(jìn)行。圖9為校USB裝置頻率的波形圖68，參考圖7 圖9，在一實(shí)施例中，USB主機(jī)端 數(shù)據(jù)串行包括正差動(dòng)信號(hào)D+及負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40包括一設(shè)計(jì)頻率為F’ 的可調(diào)校RC震蕩器，步驟60藉由內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40從USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中產(chǎn)生一封 包辨識(shí)元(PID) 78給檢測單元67，以辨識(shí)當(dāng)前封包是否為標(biāo)志封包。當(dāng)檢測單元32檢測到 E0P時(shí)，產(chǎn)生一重置信號(hào)R，計(jì)數(shù)器88因應(yīng)重置信號(hào)R而被初始化。當(dāng)檢測單元67檢測到 負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-的第一個(gè)上升緣70或正差動(dòng)信號(hào)D+的第一個(gè)下降緣72時(shí)，初始化觸發(fā)信 號(hào)T，計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā)信號(hào)T的開始而開始計(jì)數(shù)頻率76的數(shù)量，此時(shí)，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器 40的頻率為F，當(dāng)檢測單元67檢測到負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-的第四個(gè)上升緣75或正差動(dòng)信號(hào)D+的第四個(gè)下降緣77時(shí)，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40閂鎖第四個(gè)上升緣75或第四個(gè)下降緣77后的 第一至第四個(gè)位” 1110”或”0001”，如波形74所示，產(chǎn)生封包辨識(shí)元78，檢測單元67根據(jù) 封包識(shí)別元78辨識(shí)當(dāng)前封包是否為標(biāo)志封包，若封包辨識(shí)元78中包含三個(gè)邏輯狀態(tài)為高 (即邏輯狀態(tài)為1)或三個(gè)邏輯狀態(tài)為低(即邏輯狀態(tài)為0)的位，則判定為標(biāo)志封包，計(jì)數(shù) 器36持續(xù)計(jì)數(shù)，直到檢測單元67再次檢測到E0P，結(jié)束觸發(fā)信號(hào)T，計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā)信 號(hào)T的結(jié)束而閂鎖其計(jì)數(shù)值產(chǎn)生計(jì)數(shù)值P，反之，則判定為非標(biāo)志封包，計(jì)數(shù)器36停止計(jì)數(shù)， 回到步驟22。校準(zhǔn)編碼單元38比較計(jì)數(shù)值P與參考值K以調(diào)整頻率F。在本實(shí)施例中，負(fù) 差動(dòng)信號(hào)D-從第一個(gè)上升緣70到再次檢測到E0P的時(shí)間相當(dāng)于整個(gè)標(biāo)志封包固定三十二 位的位周期，同樣地，正差動(dòng)信號(hào)D+從第一個(gè)下降緣72到再次檢測到E0P的時(shí)間相當(dāng)于整 個(gè)標(biāo)志封包固定三十二位的位周期，因此計(jì)數(shù)的位周期n = 32，當(dāng)數(shù)據(jù)率M為1. 5MHz,以及 設(shè)計(jì)頻率F’為6MHz時(shí)，根據(jù)公式2可得參考值K = 128，比較計(jì)數(shù)值P與參考值K，若計(jì)數(shù) 值P大于參考值K，表示頻率F大于設(shè)計(jì)頻率F’，校準(zhǔn)編碼單元38產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)Tr以降低 頻率F，若計(jì)數(shù)值P小于參考值K，表示頻率F小于設(shè)計(jì)頻率F’，校準(zhǔn)編碼單元38產(chǎn)生校準(zhǔn) 信號(hào)Tr以增加頻率F，若計(jì)數(shù)值P等于參考值K時(shí)，表示頻率F等于設(shè)計(jì)頻率F’，校準(zhǔn)編碼 單元38產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)Tr以維持頻率F。由于內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的頻率約有士25%的 誤差，在檢測到負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-的第四個(gè)上升緣75或正差動(dòng)信號(hào)D+的第四個(gè)下降緣77 (即 同步列數(shù)據(jù)域的第六位)后，才由內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40閂鎖第四個(gè)上升緣75或第四個(gè)下 降緣77后的第一至第四個(gè)位做為封包辨識(shí)元78，可避免因內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的頻率誤 差而無法辨識(shí)標(biāo)志封包，本實(shí)施例利用負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-的第四個(gè)上升緣75或正差動(dòng)信號(hào)D+ 的第四個(gè)下降緣77后的第一至第四個(gè)位做為封包辨識(shí)元以正確的辨識(shí)標(biāo)志封包，以及擷 取標(biāo)志封包固定三十二位的位周期做為校正USB裝置頻率的校準(zhǔn)基數(shù)，使辨識(shí)標(biāo)志封包與 計(jì)數(shù)頻率同步進(jìn)行，不需分成粗調(diào)和細(xì)調(diào)二個(gè)步驟，相較于美國專利公告第6407641號(hào)先 在同步列數(shù)據(jù)域粗調(diào)，再擷取標(biāo)志封包中二十位做為校正USB裝置頻率的校準(zhǔn)基數(shù)，本實(shí) 施例可得到更準(zhǔn)確的校正結(jié)果，并達(dá)到簡化電路和降低成本的目的。此外，根據(jù)公式3，當(dāng)參 考值K = 128時(shí)，校正分辨率C約等于士0. 78%，符合通用序列匯排流2. 0和1. 1的驅(qū)動(dòng)器 協(xié)議中，對低速狀態(tài)下使用頻率誤差為士 1.5%的規(guī)范，此時(shí)，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的設(shè)計(jì) 頻率F’為6MHz，換言之，藉由增加計(jì)數(shù)的位周期n，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40可使用較低頻率 的震蕩器，例如較低頻率的RC震蕩器，以進(jìn)一步降低成本。在一變化的實(shí)施例中，當(dāng)檢測單元67檢測到負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-的第四個(gè)上升緣75或 正差動(dòng)信號(hào)D+的第四個(gè)下降緣77時(shí)，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40閂鎖第四個(gè)上升緣75或第四 個(gè)下降緣77后的第二至第四個(gè)位” 110”或”001”，產(chǎn)生封包辨識(shí)元80，若封包辨識(shí)元80中 包含二個(gè)邏輯狀態(tài)為高(即邏輯狀態(tài)為1)或二個(gè)邏輯狀態(tài)為低(即邏輯狀態(tài)為0)的位， 則判定為標(biāo)志封包，反之，則判定為非標(biāo)志封包。如圖10所示，在又一實(shí)施例中，校正USB裝置頻率的方法流程圖82包括一辨識(shí)交 握封包的步驟84，藉由擷取交握封包固定十六位的位周期，做為校正USB裝置頻率的校準(zhǔn) 基數(shù)，增加計(jì)數(shù)的位周期n，得到較小的校正分辨率C。圖11是對應(yīng)圖10的校正USB裝置頻率的電路86，參考圖10及圖11，在步驟22 中，檢測單元32檢測USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中的E0P產(chǎn)生一重置信號(hào)R給計(jì)數(shù)器36以初始化 計(jì)數(shù)器36。在步驟24中，檢測單元87檢測到USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中的同步列數(shù)據(jù)域產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)T給計(jì)數(shù)器36。在步驟64中，計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā)信號(hào)T開始計(jì)數(shù)內(nèi)部可校準(zhǔn) 震蕩器40產(chǎn)生的頻率的數(shù)量，此時(shí)，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的頻率為F。在步驟84中，辨識(shí) 具有所述同步列數(shù)據(jù)域的當(dāng)前封包是否為交握封包，若所述當(dāng)前封包不是交握封包，則進(jìn) 行步驟62，計(jì)數(shù)器36停止計(jì)數(shù)，回到步驟22，若所述當(dāng)前封包為交握封包，則進(jìn)行步驟66， 檢測單元87檢測所述交握封包的E0P以結(jié)束觸發(fā)信號(hào)T，計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā)信號(hào)T的結(jié) 束而閂鎖其計(jì)數(shù)值產(chǎn)生計(jì)數(shù)值P。在步驟28中，校準(zhǔn)編碼單元38比較計(jì)數(shù)值P與參考值K 產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)Tr給內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40，使計(jì)數(shù)值P與參考值K相等。在本實(shí)施例中，步 驟84及步驟64系同步進(jìn)行。圖12是校正USB裝置頻率的波形圖90，參考圖10 圖12，在一實(shí)施例中，在USB 主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中的交握封包包括確認(rèn)(ACK)封包91、否定(NAK)封包93及拖延(STALL) 封包94，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40包括一設(shè)計(jì)頻率為F’的可調(diào)校電阻電容RC震蕩器，步驟84 藉由位于檢測單元87中的計(jì)數(shù)器88計(jì)數(shù)確認(rèn)封包91、否定封包93或拖延封包94的上升 緣96或下降緣97的數(shù)量產(chǎn)生一上升緣數(shù)量或下降緣數(shù)量，檢測單元87根據(jù)所述上升緣數(shù) 量或下降緣數(shù)量，辨識(shí)當(dāng)前封包是否為交握封包。當(dāng)檢測單元32檢測到E0P時(shí)，產(chǎn)生一重 置信號(hào)R，計(jì)數(shù)器88因應(yīng)重置信號(hào)R而被初始化。當(dāng)檢測單元87檢測到負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-的 第一個(gè)上升緣或正差動(dòng)信號(hào)D+的第一個(gè)下降緣時(shí)，初始化觸發(fā)信號(hào)T，計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā) 信號(hào)T的開始而開始計(jì)數(shù)頻率76的數(shù)量，計(jì)數(shù)器88因應(yīng)觸發(fā)信T號(hào)開始計(jì)數(shù)負(fù)差動(dòng)信號(hào) D-的上升緣96的數(shù)量或正差動(dòng)信號(hào)D+的下降緣97的數(shù)量，此時(shí)，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的 頻率為F，當(dāng)檢測單元87再次檢測到E0P時(shí)，結(jié)束觸發(fā)信號(hào)T，計(jì)數(shù)器88因應(yīng)觸發(fā)信號(hào)T的 結(jié)束而R鎖其計(jì)數(shù)值，產(chǎn)生一上升緣數(shù)量或一下降緣數(shù)量，檢測單元87根據(jù)所述上升緣或 下降緣數(shù)量辨識(shí)是否為交握封包，若所述上升緣或下降緣數(shù)量等于六，則判定為交握封包， 計(jì)數(shù)器36因應(yīng)觸發(fā)信號(hào)T的結(jié)束而閂鎖其計(jì)數(shù)值產(chǎn)生計(jì)數(shù)值P，反之，則判定為非交握封 包，計(jì)數(shù)器36停止計(jì)數(shù)，回到步驟22。校準(zhǔn)編碼單元38比較計(jì)數(shù)值P與參考值K以調(diào)整頻 率F。在本實(shí)施例中，負(fù)差動(dòng)信號(hào)D-從第一個(gè)上升緣到E0P出現(xiàn)的時(shí)間相當(dāng)于整個(gè)交握封 包的位周期，同樣，正差動(dòng)信號(hào)D+從第一個(gè)下降緣到E0P出現(xiàn)的時(shí)間相當(dāng)于整個(gè)交握封包 的位周期，因此計(jì)數(shù)的位周期n = 16，當(dāng)數(shù)據(jù)率M為1. 5MHz,以及設(shè)計(jì)頻率F，為12MHz時(shí)， 根據(jù)公式2可得參考值K = 128，比較計(jì)數(shù)值P與參考值K，若計(jì)數(shù)值P大于參考值K，表示 頻率F大于設(shè)計(jì)頻率F’，校準(zhǔn)編碼單元38產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)Tr以降低頻率F，若計(jì)數(shù)值P小于 參考值K，表示頻率F小于設(shè)計(jì)頻率F’，校準(zhǔn)編碼單元38產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)Tr以增加頻率F，若 計(jì)數(shù)值P等于參考值K時(shí)，表示頻率F等于設(shè)計(jì)頻率F’，校準(zhǔn)編碼單元38產(chǎn)生校準(zhǔn)信號(hào)Tr 以維持頻率F。本實(shí)施例藉由計(jì)數(shù)USB主機(jī)端數(shù)據(jù)串行中的上升緣數(shù)量或下降緣數(shù)量，以正 確的辨識(shí)交握封包，毋須產(chǎn)生封包辨識(shí)元，此外，根據(jù)公式3，當(dāng)參考值K = 128時(shí)，校正分辨 率C約等于士0. 78%，符合通用序列匯排流2. 0和1. 1的驅(qū)動(dòng)器協(xié)議中，對低速狀態(tài)下使用 頻率誤差為士 1.5%的規(guī)范，此時(shí)，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40的設(shè)計(jì)頻率F’為12MHz，換言之， 藉由正確辨識(shí)及擷取交握封包固定十六位的位周期做為校正USB裝置頻率的校準(zhǔn)基，使辨 識(shí)交握封包與計(jì)數(shù)頻率同步進(jìn)行，內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器40可使用較低頻率的震蕩器，例如較 低頻率的RC震蕩器，達(dá)到降低成本的目的。以上實(shí)施例僅供說明本發(fā)明之用，而非對本發(fā)明的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人 員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以作出各種變換或變化。因此，所有等同的技術(shù)方案也應(yīng)該屬于本發(fā)明的范疇，應(yīng)由各權(quán)利要求限定。
0124]組件符號(hào)說明0125]12標(biāo)志封包0126]14資料封包0127]16交握封包0128]20校正USB裝置頻率的方法流程圖0129]22-28步驟0130]30校正USB裝置頻率的電路0131]32檢測單元0132]34檢測單元0133]36計(jì)數(shù)器0134]38校準(zhǔn)編碼單元0135]39波形圖0136]40內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器0137]42第一個(gè)上升緣0138]43頻率0139]44第四個(gè)上升緣0140]46第一個(gè)下降緣0141]48第四個(gè)下降緣0142]50校正USB裝置頻率的方法流程圖0143]52步驟0144]54校正USB裝置頻率的電路0145]56鎖相回路0146]58校正USB裝置頻率的方法流程圖0147]60-64步驟0148]65校正USB裝置頻率的電路0149]66步驟0150]67檢測單元0151]68波形圖0152]70第一個(gè)上升緣0153]72第一個(gè)下降緣0154]74波形0155]75第四個(gè)上升緣0156]76頻率0157]77第四個(gè)下降緣0158]78封包辨識(shí)元0159]80封包辨識(shí)元0160]82校正USB裝置頻率的方法流程圖0161]84步驟
15
86校正USB裝置頻率的電路
87檢測單元
88計(jì)數(shù)器
90波形圖
91確認(rèn)封包
93否定封包
94拖延封包
96上升緣
97下降緣。
權(quán)利要求
一種校正USB裝置頻率的方法，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一頻率，所述方法其特征在于包括下列步驟第一步驟檢測一輸入數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化一計(jì)數(shù)器；第二步驟檢測所述數(shù)據(jù)串行中一同步列數(shù)據(jù)域以觸發(fā)所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量并產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；第三步驟比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值以調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值與所述參考值相等。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測所述數(shù)據(jù)串行中所述同步列數(shù)據(jù) 域的步驟包括檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)上升緣使所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)，以及檢測所述負(fù) 差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣以閂鎖所述計(jì)數(shù)值。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測所述數(shù)據(jù)串行中所述同步列數(shù)據(jù) 域的步驟包括檢測一正差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)下降緣使所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)，以及檢測所述正 差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣以閂鎖所述計(jì)數(shù)值。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率的 步驟包括當(dāng)所述計(jì)數(shù)值大于所述參考值時(shí)，降低所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，當(dāng)所述計(jì) 數(shù)值小于所述參考值時(shí)，增加所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，更包括倍頻所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率。
6.一種校正USB裝置頻率的電路，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一頻 率，所述電路其特征在于包括一計(jì)數(shù)器，用以計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量；一第一檢測單元，檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化所述計(jì)數(shù)器；一第二檢測單元，檢測所述數(shù)據(jù)串行中一同步列數(shù)據(jù)域以產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)，使所述計(jì) 數(shù)器開始計(jì)數(shù)產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；一校準(zhǔn)編碼單元，比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值產(chǎn)生一校準(zhǔn)信號(hào)調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震 蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值與所述參考值相等。
7.如權(quán)利要求6所述的電路，其特征在于，包括一鎖相回路以倍頻所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震 蕩器的頻率。
8.如權(quán)利要求6所述的電路，其特征在于，所述第二檢測單元檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第 一個(gè)上升緣以初始化所述觸發(fā)信號(hào)，以及檢測所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣以結(jié)束所述 觸發(fā)信號(hào)。
9.如權(quán)利要求6所述的電路，其特征在于，所述第二檢測單元檢測一正差動(dòng)信號(hào)的第 一個(gè)下降緣以初始化所述觸發(fā)信號(hào)，以及檢測所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣以結(jié)束所述 觸發(fā)信號(hào)。
10.一種校正USB裝置頻率的方法，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一頻 率，其特征在于所述方法包括下列步驟(a)檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化一計(jì)數(shù)器；(b)檢測所述數(shù)據(jù)串行中一同步列數(shù)據(jù)域以觸發(fā)所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量；(c)辨識(shí)包含所述同步列數(shù)據(jù)域的當(dāng)前封包是否為標(biāo)志封包，若所述當(dāng)前封包為標(biāo)志封包，則進(jìn)行步驟(d)，反之，則停止所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)并回到步驟(a)(d)檢測所述當(dāng)前封包的封包結(jié)尾以閂鎖所述計(jì)數(shù)器產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；(e)比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值以調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值 與所述參考值相等。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述步驟(b)包括檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)上升緣。
12.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述步驟(c)包括下列步驟 檢測所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣；閂鎖所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣后的第二至第四位產(chǎn)生一封包辨識(shí)元； 若所述封包辨識(shí)元中包含二個(gè)邏輯狀態(tài)為高的位，則判定為標(biāo)志封包。
13.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述步驟(c)包括下列步驟 檢測所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣；閂鎖所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣后的第一至第四位產(chǎn)生一封包辨識(shí)元； 若所述封包辨識(shí)元中包含三個(gè)邏輯狀態(tài)為高的位，則判定為標(biāo)志封包。
14.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述步驟(b)包括檢測一正差動(dòng)信號(hào)的第 一個(gè)下降緣。
15.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述步驟(c)包括下列步驟 檢測所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣；閂鎖所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣后的第二至第四位產(chǎn)生一封包辨識(shí)元； 若所述封包辨識(shí)元中包含二個(gè)邏輯狀態(tài)為低的位，則判定為標(biāo)志封包。
16.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述步驟(c)包括下列步驟 檢測所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣；閂鎖所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣后的第一至第四位產(chǎn)生一封包辨識(shí)元； 若所述封包辨識(shí)元中包含三個(gè)邏輯狀態(tài)為低的位，則判定為標(biāo)志封包。
17.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率 的步驟包括當(dāng)所述計(jì)數(shù)值大于所述參考值時(shí)，降低所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，當(dāng)所述 計(jì)數(shù)值小于所述參考值時(shí)，增加所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率。
18.—種校正USB裝置頻率的電路，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一頻 率，其特征在于所述電路包括一計(jì)數(shù)器，用以計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量；一第一檢測單元，檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化所述計(jì)數(shù)器； 一第二檢測單元，檢測所述數(shù)據(jù)串行中一標(biāo)志封包以產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)，使所述計(jì)數(shù)器 開始計(jì)數(shù)產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；一校準(zhǔn)編碼單元，比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值產(chǎn)生一校準(zhǔn)信號(hào)調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震 蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值與所述參考值相等。
19.如權(quán)利要求18所述的電路，其特征在于，所述第二檢測單元檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的 第一個(gè)上升緣以初始化所述觸發(fā)信號(hào)，檢測所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)上升緣使所述內(nèi)部可 校準(zhǔn)震蕩器產(chǎn)生一封包辨識(shí)元以供辨識(shí)所述標(biāo)志封包，以及檢測所述標(biāo)志封包的封包結(jié)尾 以結(jié)束所述觸發(fā)信號(hào)。
20.如權(quán)利要求18所述的電路，其特征在于，所述封包辨識(shí)元包括所述第四個(gè)上升緣 后的第一至第四個(gè)位。
21.如權(quán)利要求18所述的電路，其特征在于，所述封包辨識(shí)元包括所述第四個(gè)上升緣 后的第二至第四個(gè)位。
22.如權(quán)利要求18所述的電路，其特征在于，所述第二檢測單元檢測一正差動(dòng)信號(hào)的 第一個(gè)下降緣以初始化所述觸發(fā)信號(hào)，檢測所述正差動(dòng)信號(hào)的第四個(gè)下降緣使所述內(nèi)部可 校準(zhǔn)震蕩器產(chǎn)生一封包辨識(shí)元以供辨識(shí)所述標(biāo)志封包，以及檢測所述標(biāo)志封包的封包結(jié)尾 以結(jié)束所述觸發(fā)信號(hào)。
23.如權(quán)利要求22所述的電路，其特征在于，所述封包辨識(shí)元包括所述第四個(gè)下降緣 后的第一至第四個(gè)位。
24.如權(quán)利要求22所述的電路，其特征在于，所述封包辨識(shí)元包括所述第四個(gè)下降緣 后的第二至第四個(gè)位。
25.一種校正USB裝置頻率的方法，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一頻 率，所述方法其特征在于包括下列步驟(a)檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化一計(jì)數(shù)器；(b)檢測所述數(shù)據(jù)串行中一同步列數(shù)據(jù)域以觸發(fā)所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量；(c)辨識(shí)包含所述同步列數(shù)據(jù)域的當(dāng)前封包是否為交握封包，若所述當(dāng)前封包為交握 封包，則進(jìn)行步驟(d)，反之，則停止所述計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)并回到步驟(a)；(d)檢測所述當(dāng)前封包的封包結(jié)尾以閂鎖所述計(jì)數(shù)器產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；(e)比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值以調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值 與所述參考值相等。
26.如權(quán)利要求25所述的方法，其特征在于，所述步驟(b)包括檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的第一個(gè)上升緣。
27.如權(quán)利要求25所述的的方法，其特征在于，所述步驟(c)包括下列步驟 計(jì)數(shù)所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的上升緣數(shù)量；檢測所述當(dāng)前封包的封包結(jié)尾；其中，當(dāng)所述封包結(jié)尾出現(xiàn)時(shí)，若所述上升緣數(shù)量為六，則 所述當(dāng)前封包為交握封包。
28.如權(quán)利要求25所述的的方法，其特征在于，所述步驟(b)包括檢測一正差動(dòng)信號(hào)的 第一個(gè)下降緣。
29.如權(quán)利要求25所述的方法，其特征在于，所述步驟(c)包括下列步驟 計(jì)數(shù)所述正差動(dòng)信號(hào)的下降緣數(shù)量；檢測所述當(dāng)前封包的封包結(jié)尾；其中，當(dāng)所述封包結(jié)尾出現(xiàn)時(shí)，若所述下降緣數(shù)量為六，則所述當(dāng)前封包為交握封包。
30.如權(quán)利要求25所述的方法，其特征在于，所述調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率 的步驟包括當(dāng)所述計(jì)數(shù)值大于所述參考值時(shí)，降低所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，當(dāng)所述 計(jì)數(shù)值小于所述參考值時(shí)，增加所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率。
31.一種校正USB裝置頻率的電路，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一頻率，其特征在于所述電路包括一計(jì)數(shù)器，用以計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量；一第一檢測單元，檢測一輸入的數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化所述計(jì)數(shù)器； 一第二檢測單元，檢測所述數(shù)據(jù)串行中一交握封包以產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)，使所述計(jì)數(shù)器 開始計(jì)數(shù)產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；一校準(zhǔn)編碼單元，比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值產(chǎn)生一校準(zhǔn)信號(hào)調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震 蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值與所述參考值相等。
32.如權(quán)利要求31所述的電路，其特征在于，所述第二檢測單元檢測一負(fù)差動(dòng)信號(hào)的 第一個(gè)上升緣以初始化所述觸發(fā)信號(hào)，以及檢測所述交握封包的封包結(jié)尾以結(jié)束所述觸發(fā) 信號(hào)。
33.如權(quán)利要求31所述的電路，其特征在于，更包括一第二計(jì)數(shù)器位于所述第二檢測 單元中，以計(jì)數(shù)所述負(fù)差動(dòng)信號(hào)的上升緣數(shù)量。
34.如權(quán)利要求31所述的電路，其特征在于，所述第二檢測單元檢測一正差動(dòng)信號(hào)的 第一個(gè)下降緣以產(chǎn)生所述觸發(fā)信號(hào)，以及檢測所述交握封包的封包結(jié)尾以結(jié)束所述觸發(fā)信號(hào)。
35.如權(quán)利要求31所述的電路，其特征在于，更包括一第二計(jì)數(shù)器位于所述第二檢測 單元中，以計(jì)數(shù)所述正差動(dòng)信號(hào)的下降緣數(shù)量。
全文摘要
一種校正USB裝置頻率的方法，所述USB裝置包含一內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器以產(chǎn)生一頻率，所述方法其特征在于包括下列步驟檢測一輸入數(shù)據(jù)串行中的封包結(jié)尾以初始化一計(jì)數(shù)器；檢測所述數(shù)據(jù)串行中一同步列數(shù)據(jù)域以觸發(fā)所述計(jì)數(shù)器開始計(jì)數(shù)所述頻率的數(shù)量并產(chǎn)生一計(jì)數(shù)值；比較所述計(jì)數(shù)值與一參考值以調(diào)整所述內(nèi)部可校準(zhǔn)震蕩器的頻率，使所述計(jì)數(shù)值與所述參考值相等。本發(fā)明的校正USB裝置頻率的方法及電路具有快速、精確地校正USB裝置的頻率，簡化校正電路和降低成本的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)H03L7/00GK101931397SQ200910142550
公開日2010年12月29日 申請日期2009年6月23日 優(yōu)先權(quán)日2009年6月23日
發(fā)明者林慶舜, 江宗殷, 王俊淇 申請人:義隆電子股份有限公司