本發(fā)明涉及一種電源智能過流保護(hù)方法及系統(tǒng)，屬于過流保護(hù)。

背景技術(shù)：

1、在電子領(lǐng)域，各種電子設(shè)備對(duì)過流保護(hù)的需求日益迫切，例如，隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展，芯片的集成度越來越高，工作電壓和電流越來越小，然而，即使是微小的過電流也可能對(duì)芯片造成永久性損壞，因此，在集成電路設(shè)計(jì)中，通常會(huì)集成過流保護(hù)電路，以防止因電流過大而燒毀芯片，如手機(jī)、平板電腦、筆記本電腦等，這些設(shè)備內(nèi)部包含了大量的電子元件和電池，在充電和使用過程中，如果出現(xiàn)過流情況，可能會(huì)損壞電池、充電器或設(shè)備本身，過流保護(hù)裝置可以確保設(shè)備在安全的電流范圍內(nèi)工作，延長設(shè)備的使用壽命，在工業(yè)生產(chǎn)中，自動(dòng)化設(shè)備通常需要在惡劣的環(huán)境下運(yùn)行，并且對(duì)可靠性要求很高，過流保護(hù)可以防止因電機(jī)過載、短路等故障導(dǎo)致設(shè)備損壞，保證生產(chǎn)的連續(xù)性和穩(wěn)定性。

2、目前，常使用熱敏電阻來過流保護(hù)，這是因?yàn)闊崦綦娮栌龅綔囟葧?huì)阻值發(fā)生變化，而電流的變化會(huì)使得熱敏電阻的溫度發(fā)生變化，從而引起熱敏電阻的阻值發(fā)生變化，增大的阻值可以對(duì)增大的電流進(jìn)行抑制，從而阻止過流現(xiàn)象，然而在這樣的裝置下，實(shí)際場(chǎng)景中仍會(huì)出現(xiàn)過流故障，這可能與熱敏電阻的大小不能完全抑制過流等原因有關(guān)，這就需要選取合適的熱敏電阻，然而再數(shù)值大的熱敏電阻也不能保障可以完全抑制過流的大小。因此，亟待一種解決方案可以通過預(yù)防性的過流保護(hù)來減輕熱敏電阻不能完全抑制過流的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供一種電源智能過流保護(hù)方法及系統(tǒng)，其主要目的在于通過預(yù)防性的過流保護(hù)來減輕熱敏電阻不能完全抑制過流的問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的一種電源智能過流保護(hù)方法，包括：

3、構(gòu)建待保護(hù)電路的過流保護(hù)系統(tǒng)，并獲取所述待保護(hù)電路的歷史過流因素，計(jì)算所述待保護(hù)電路的預(yù)定電流值，并判斷所述待保護(hù)電路的當(dāng)前電流值是否超出所述預(yù)定電流值，其中，所述過流保護(hù)系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)采集器、數(shù)據(jù)處理器及熱敏電阻，所述歷史過流因素包括電壓異常因素、負(fù)載異常因素及短路異常因素；

4、在所述待保護(hù)電路的當(dāng)前電流值未超出所述預(yù)定電流值時(shí)，根據(jù)所述當(dāng)前電流值，對(duì)所述熱敏電阻進(jìn)行阻值臨時(shí)調(diào)整，得到臨時(shí)調(diào)整電阻；

5、根據(jù)所述電壓異常因素，利用所述數(shù)據(jù)采集器采集所述待保護(hù)電路的歷史電源電壓，根據(jù)所述負(fù)載異常因素，利用所述數(shù)據(jù)采集器采集所述待保護(hù)電路的歷史電路負(fù)載，根據(jù)所述短路異常因素，利用所述數(shù)據(jù)采集器采集所述待保護(hù)電路的短路相關(guān)因素；

6、在所述數(shù)據(jù)處理器中，利用所述歷史電源電壓分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電源電壓，基于所述歷史電路負(fù)載，分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電路負(fù)載，基于所述短路相關(guān)因素，分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電路電流；

7、利用所述規(guī)劃電源電壓、所述規(guī)劃電路負(fù)載及所述規(guī)劃電路電流，判斷所述待保護(hù)電路是否會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流；

8、在所述待保護(hù)電路不會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流時(shí)，對(duì)所述臨時(shí)調(diào)整電阻進(jìn)行阻值撤銷處理，得到撤銷阻值電阻，以通過所述臨時(shí)調(diào)整電阻與所述撤銷阻值電阻對(duì)所述待保護(hù)電路進(jìn)行過流預(yù)保護(hù)，得到過流預(yù)保護(hù)結(jié)果；

9、在所述待保護(hù)電路會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流時(shí)，識(shí)別所述待保護(hù)電路會(huì)出現(xiàn)電路過流時(shí)的過流時(shí)刻，依據(jù)所述過流時(shí)刻對(duì)所述待保護(hù)電路進(jìn)行過流保護(hù)處理，得到第一過流保護(hù)結(jié)果；

10、在所述待保護(hù)電路的當(dāng)前電流值超出所述預(yù)定電流值時(shí)，利用所述熱敏電阻對(duì)所述待保護(hù)電路進(jìn)行過流保護(hù)處理，得到第二過流保護(hù)結(jié)果；

11、通過所述過流預(yù)保護(hù)結(jié)果、所述第一過流保護(hù)結(jié)果及所述第二過流保護(hù)結(jié)果完成對(duì)所述待保護(hù)電路的過流保護(hù)，得到所述待保護(hù)電路的過流保護(hù)結(jié)果。

12、可選的，所述構(gòu)建待保護(hù)電路的過流保護(hù)系統(tǒng)，包括：

13、統(tǒng)計(jì)所述待保護(hù)電路在歷史時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流時(shí)的時(shí)序電流序列；

14、識(shí)別所述時(shí)序電流序列中的未過流時(shí)刻與過流時(shí)刻；

15、從所述未過流時(shí)刻中選取所述過流時(shí)刻的最近時(shí)刻；

16、從所述時(shí)序電流序列中提取所述最近時(shí)刻對(duì)應(yīng)的最近電流；

17、從所述最近電流中選取最小電流；

18、從預(yù)設(shè)的熱敏電阻樣本中選取動(dòng)作電流為所述最小電流的熱敏電阻；

19、構(gòu)建與所述熱敏電阻并聯(lián)的并聯(lián)電阻；

20、在所述熱敏電阻的輸入端構(gòu)建所述熱敏電阻的熱敏開關(guān)，并在所述并聯(lián)電阻的輸入端構(gòu)建所述并聯(lián)電阻的并聯(lián)開關(guān)；

21、利用所述熱敏開關(guān)與所述并聯(lián)開關(guān)生成所述熱敏電阻與所述并聯(lián)電阻之間的并聯(lián)電路；

22、將預(yù)設(shè)的輸出采集器的輸入端與待保護(hù)電路連接，得到所述輸出采集器與所述待保護(hù)電路之間的第一連接關(guān)系；

23、將所述輸出采集器的輸出端與預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)處理器的輸入端連接，得到所述輸出采集器與所述數(shù)據(jù)處理器之間的第二連接關(guān)系；

24、將所述數(shù)據(jù)處理器的輸出端分別與所述熱敏開關(guān)、所述并聯(lián)開關(guān)進(jìn)行連接，得到所述數(shù)據(jù)處理器與所述并聯(lián)電路之間的第三連接關(guān)系；

25、利用所述第一連接關(guān)系、所述第二連接關(guān)系及所述第三連接關(guān)系確定所述待保護(hù)電路的過流保護(hù)系統(tǒng)。

26、可選的，所述根據(jù)所述當(dāng)前電流值，對(duì)所述熱敏電阻進(jìn)行阻值臨時(shí)調(diào)整，得到臨時(shí)調(diào)整電阻，包括：

27、判斷所述當(dāng)前電流值是否大于所述熱敏電阻接收的歷史電流值的最大電流值；

28、在所述當(dāng)前電流值不大于所述熱敏電阻接收的歷史電流值的最大電流值時(shí)，將所述過流保護(hù)系統(tǒng)中的并聯(lián)開關(guān)置于開通狀態(tài)、熱敏開關(guān)置于關(guān)斷狀態(tài)后，將所述當(dāng)前電流值流經(jīng)所述過流保護(hù)系統(tǒng)中的并聯(lián)電阻，以保持所述熱敏電阻處于不動(dòng)作狀態(tài)；

29、在所述當(dāng)前電流值大于所述熱敏電阻接收的歷史電流值的最大電流值時(shí)，將所述過流保護(hù)系統(tǒng)中的并聯(lián)開關(guān)置于關(guān)斷狀態(tài)、熱敏開關(guān)置于開通狀態(tài)后，將所述當(dāng)前電流值流經(jīng)所述熱敏電阻，以通過所述當(dāng)前電流值增大所述熱敏電阻的阻值，得到臨時(shí)調(diào)整電阻。

30、可選的，所述根據(jù)所述短路異常因素，利用所述數(shù)據(jù)采集器采集所述待保護(hù)電路的短路相關(guān)因素，包括：

31、根據(jù)所述短路異常因素，獲取所述數(shù)據(jù)采集器中的歷史電源電壓與歷史電路負(fù)載；

32、分別對(duì)所述歷史電源電壓與所述歷史電路負(fù)載進(jìn)行歸一化處理，得到歸一化電壓與歸一化負(fù)載；

33、利用下述公式提取所述歸一化電壓的電壓特征值：

34、；

35、其中，表示電壓特征值，表示歸一化電壓的數(shù)量，表示第i個(gè)時(shí)刻的歸一化電壓，、表示歸一化電壓的均值，表示歸一化電壓的方差，表示方差的二分之一次方，表示與的差異；

36、提取所述歸一化負(fù)載的負(fù)載特征值；

37、將所述電壓特征值與所述負(fù)載特征值作為所述待保護(hù)電路的短路相關(guān)因素。

38、可選的，所述利用所述歷史電源電壓分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電源電壓，包括：

39、獲取所述歷史電源電壓對(duì)應(yīng)的歸一化電壓；

40、利用下述公式計(jì)算所述歸一化電壓的遺忘門特征：

41、；

42、其中，表示遺忘門特征，表示在遺忘門的權(quán)值，表示在輪的規(guī)劃電源電壓，表示歸一化電壓，表示在遺忘門的權(quán)值，表示遺忘門的偏置，表示激活函數(shù)；

43、利用下述公式計(jì)算所述歸一化電壓的輸入門特征：

44、；

45、其中，表示輸入門特征，表示在輸入門的權(quán)值，表示在輪的規(guī)劃電源電壓，表示歸一化電壓，表示在輸入門的權(quán)值，表示輸入門的偏置，表示激活函數(shù)；

46、利用下述公式計(jì)算所述歸一化電壓的輸出門特征：

47、；

48、其中，表示輸出門特征，表示在輸出門的權(quán)值，表示在輪的規(guī)劃電源電壓，表示歸一化電壓，表示在輸出門的權(quán)值，表示輸出門的偏置，表示激活函數(shù)；

49、根據(jù)所述遺忘門特征、所述輸入門特征及所述輸出門特征，利用下述公式計(jì)算所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電源電壓：

50、；

51、；

52、其中，表示規(guī)劃電源電壓，表示遺忘門特征，表示輸入門特征，表示輸出門特征，表示記憶單元的當(dāng)前細(xì)胞狀態(tài)，表示記憶單元的上一時(shí)刻細(xì)胞狀態(tài)，表示在輪的規(guī)劃電源電壓，表示歸一化電壓，表示在記憶單元的權(quán)值，表示記憶單元的偏置，表示激活函數(shù)，表示在記憶單元的權(quán)值。

53、可選的，所述基于所述歷史電路負(fù)載，分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電路負(fù)載，包括：

54、獲取所述歷史電路負(fù)載對(duì)應(yīng)的歸一化負(fù)載；

55、將所述歸一化負(fù)載輸入至預(yù)設(shè)的雙向長短期記憶神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中；

56、根據(jù)所述歸一化負(fù)載，通過所述雙向長短期記憶神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中的遺忘門、輸入門、輸出門及記憶單元輸出所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電路負(fù)載。

57、可選的，所述基于所述短路相關(guān)因素，分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電路電流，包括：

58、獲取所述短路相關(guān)因素中的電壓特征值與負(fù)載特征值；

59、拼接所述電壓特征值與所述負(fù)載特征值，得到拼接特征值；

60、根據(jù)所述拼接特征值，利用下述公式計(jì)算所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的隱含層特征：

61、；

62、其中，表示第個(gè)隱含層特征，表示輸入層與隱含層之間的線性映射函數(shù)，表示輸入層接收的拼接特征值中第j個(gè)特征值，表示與連接的隱含層的第個(gè)節(jié)點(diǎn)的權(quán)值，表示隱含層的偏置，表示的數(shù)量；

63、根據(jù)所述隱含層特征，利用下述公式計(jì)算所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的電流預(yù)警概率：

64、；

65、其中，表示輸出層輸出的第k個(gè)電流預(yù)警概率，表示隱含層與輸出層之間的線性映射函數(shù)，表示第個(gè)隱含層特征，表示與連接的輸出層的第個(gè)節(jié)點(diǎn)的權(quán)值，表示輸出層的偏置，表示的數(shù)量；

66、將所述電流預(yù)警概率中最大預(yù)警概率對(duì)應(yīng)的最大預(yù)警電流作為所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電路電流。

67、可選的，所述利用所述規(guī)劃電源電壓、所述規(guī)劃電路負(fù)載及所述規(guī)劃電路電流，判斷所述待保護(hù)電路是否會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流，包括：

68、判斷所述規(guī)劃電源電壓、所述規(guī)劃電路負(fù)載及所述規(guī)劃電路電流中是否存在異常電源電壓、異常電路負(fù)載及異常規(guī)劃電路電流；

69、在所述規(guī)劃電源電壓、所述規(guī)劃電路負(fù)載及所述規(guī)劃電路電流中存在異常電源電壓、異常電路負(fù)載及異常電路電流時(shí)，判定所述待保護(hù)電路會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流；

70、在所述規(guī)劃電源電壓、所述規(guī)劃電路負(fù)載及所述規(guī)劃電路電流中不存在異常電源電壓、異常電路負(fù)載及異常規(guī)劃電路電流時(shí)，利用所述規(guī)劃電源電壓與所述規(guī)劃電路負(fù)載計(jì)算所述未來時(shí)段內(nèi)的分析電路電流；

71、判斷所述分析電路電流是否為所述異常電路電流；

72、在所述分析電路電流為所述異常電路電流時(shí)，判定所述待保護(hù)電路會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流；

73、在所述分析電路電流不為所述異常電路電流時(shí)，判定所述待保護(hù)電路不會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流。

74、可選的，所述依據(jù)所述過流時(shí)刻對(duì)所述待保護(hù)電路進(jìn)行過流保護(hù)處理，得到第一過流保護(hù)結(jié)果，包括：

75、獲取所述過流時(shí)刻的預(yù)備時(shí)刻；

76、在所述預(yù)備時(shí)刻時(shí)，循環(huán)對(duì)所述待保護(hù)電路的電路過流檢測(cè)，得到過流檢測(cè)結(jié)果；

77、在所述過流檢測(cè)結(jié)果為不會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流時(shí)，在所述預(yù)備時(shí)刻，將所述過流保護(hù)系統(tǒng)中的并聯(lián)開關(guān)置于開通狀態(tài)、熱敏開關(guān)置于關(guān)斷狀態(tài)后，將所述待保護(hù)電路的電流流經(jīng)所述過流保護(hù)系統(tǒng)中的并聯(lián)電阻，以保持所述熱敏電阻處于不動(dòng)作狀態(tài)；

78、在所述過流檢測(cè)結(jié)果為會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流時(shí)，在所述預(yù)備時(shí)刻，將所述過流保護(hù)系統(tǒng)中的并聯(lián)開關(guān)置于關(guān)斷狀態(tài)、熱敏開關(guān)置于開通狀態(tài)后，將所述待保護(hù)電路的電流流經(jīng)所述熱敏電阻，以通過所述待保護(hù)電路的電流控制所述熱敏電阻完成對(duì)所述待保護(hù)電路的過流保護(hù)處理，得到第一過流保護(hù)結(jié)果。

79、為了解決上述問題，本發(fā)明還提供一種電源智能過流保護(hù)系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：

80、過流判斷模塊，用于構(gòu)建待保護(hù)電路的過流保護(hù)系統(tǒng)，并獲取所述待保護(hù)電路的歷史過流因素，計(jì)算所述待保護(hù)電路的預(yù)定電流值，并判斷所述待保護(hù)電路的當(dāng)前電流值是否超出所述預(yù)定電流值，其中，所述過流保護(hù)系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)采集器、數(shù)據(jù)處理器及熱敏電阻，所述歷史過流因素包括電壓異常因素、負(fù)載異常因素及短路異常因素；

81、阻值調(diào)整模塊，用于在所述待保護(hù)電路的當(dāng)前電流值未超出所述預(yù)定電流值時(shí)，根據(jù)所述當(dāng)前電流值，對(duì)所述熱敏電阻進(jìn)行阻值臨時(shí)調(diào)整，得到臨時(shí)調(diào)整電阻；

82、因素采集模塊，用于根據(jù)所述電壓異常因素，利用所述數(shù)據(jù)采集器采集所述待保護(hù)電路的歷史電源電壓，根據(jù)所述負(fù)載異常因素，利用所述數(shù)據(jù)采集器采集所述待保護(hù)電路的歷史電路負(fù)載，根據(jù)所述短路異常因素，利用所述數(shù)據(jù)采集器采集所述待保護(hù)電路的短路相關(guān)因素；

83、電流分析模塊，用于在所述數(shù)據(jù)處理器中，利用所述歷史電源電壓分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電源電壓，基于所述歷史電路負(fù)載，分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電路負(fù)載，基于所述短路相關(guān)因素，分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電路電流；

84、未來判斷模塊，用于利用所述規(guī)劃電源電壓、所述規(guī)劃電路負(fù)載及所述規(guī)劃電路電流，判斷所述待保護(hù)電路是否會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流；

85、預(yù)保護(hù)模塊，用于在所述待保護(hù)電路不會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流時(shí)，對(duì)所述臨時(shí)調(diào)整電阻進(jìn)行阻值撤銷處理，得到撤銷阻值電阻，以通過所述臨時(shí)調(diào)整電阻與所述撤銷阻值電阻對(duì)所述待保護(hù)電路進(jìn)行過流預(yù)保護(hù)，得到過流預(yù)保護(hù)結(jié)果；

86、第一保護(hù)模塊，用于在所述待保護(hù)電路會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流時(shí)，識(shí)別所述待保護(hù)電路會(huì)出現(xiàn)電路過流時(shí)的過流時(shí)刻，依據(jù)所述過流時(shí)刻對(duì)所述待保護(hù)電路進(jìn)行過流保護(hù)處理，得到第一過流保護(hù)結(jié)果；

87、第二保護(hù)模塊，用于在所述待保護(hù)電路的當(dāng)前電流值超出所述預(yù)定電流值時(shí)，利用所述熱敏電阻對(duì)所述待保護(hù)電路進(jìn)行過流保護(hù)處理，得到第二過流保護(hù)結(jié)果；

88、過流保護(hù)模塊，用于通過所述過流預(yù)保護(hù)結(jié)果、所述第一過流保護(hù)結(jié)果及所述第二過流保護(hù)結(jié)果完成對(duì)所述待保護(hù)電路的過流保護(hù)，得到所述待保護(hù)電路的過流保護(hù)結(jié)果。

89、為了解決上述問題，本發(fā)明還提供一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括：

90、至少一個(gè)處理器；以及，

91、與所述至少一個(gè)處理器通信連接的存儲(chǔ)器；其中，

92、所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有可被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行的指令，所述指令被所述至少一個(gè)處理器執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)上述所述的電源智能過流保護(hù)方法。

93、為了解決上述問題，本發(fā)明還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有至少一個(gè)指令，所述至少一個(gè)指令被電子設(shè)備中的處理器執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)上述所述的電源智能過流保護(hù)方法。

94、相比于背景技術(shù)所述問題，本發(fā)明實(shí)施例通過構(gòu)建待保護(hù)電路的過流保護(hù)系統(tǒng)，以用于在未預(yù)測(cè)到過流故障時(shí)，使得電路中的電流不經(jīng)過熱敏電阻，從而使得熱敏電阻不會(huì)阻值增大，本發(fā)明實(shí)施例通過根據(jù)所述當(dāng)前電流值，對(duì)所述熱敏電阻進(jìn)行阻值臨時(shí)調(diào)整，得到臨時(shí)調(diào)整電阻，以用于在所述當(dāng)前電流值大于以往電流值且小于所述預(yù)定電流值時(shí)，表示電流相比于以往電流發(fā)生了異常增大，此時(shí)若電流繼續(xù)增大則可能會(huì)產(chǎn)生過流現(xiàn)象，因此將電流流經(jīng)熱敏電阻，通過熱敏電阻來臨時(shí)抑制電流，等到后續(xù)利用數(shù)據(jù)處理器分析得到電流沒有問題后再接觸熱敏電阻對(duì)電流的抑制，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)過流現(xiàn)象的預(yù)防性保護(hù)，進(jìn)一步的，本發(fā)明實(shí)施例通過根據(jù)所述短路異常因素，利用所述數(shù)據(jù)采集器采集所述待保護(hù)電路的短路相關(guān)因素，以用于利用所述歷史電源電壓與所述歷史電路負(fù)載預(yù)測(cè)未來時(shí)段內(nèi)是否會(huì)發(fā)生短路故障，本發(fā)明實(shí)施例通過利用所述歷史電源電壓分析所述待保護(hù)電路在未來時(shí)段內(nèi)的規(guī)劃電源電壓，以用于利用歷史數(shù)據(jù)分析未來時(shí)段內(nèi)的電壓走勢(shì)，本發(fā)明實(shí)施例通過利用所述規(guī)劃電源電壓、所述規(guī)劃電路負(fù)載及所述規(guī)劃電路電流，判斷所述待保護(hù)電路是否會(huì)在未來時(shí)段內(nèi)出現(xiàn)電路過流，以用于基于歷史數(shù)據(jù)判斷未來時(shí)段內(nèi)是否會(huì)發(fā)生過流現(xiàn)象，從而再會(huì)發(fā)生過流現(xiàn)象之前開啟熱敏電阻，這樣可以實(shí)現(xiàn)過流預(yù)防性保護(hù)，并且在電流還未變成極高的過流電流值時(shí)，對(duì)數(shù)值相對(duì)較小的正常電流值進(jìn)行抑制，減輕了熱敏電阻不能完全抑制過流電流的問題，本發(fā)明實(shí)施例通過依據(jù)所述過流時(shí)刻對(duì)所述待保護(hù)電路進(jìn)行過流保護(hù)處理，以用于在即將發(fā)生過流現(xiàn)象之前對(duì)相對(duì)較小的電流值進(jìn)行抑制，從而通過預(yù)防性的過流保護(hù)來減輕熱敏電阻不能完全抑制過流的問題。因此本發(fā)明提出的電源智能過流保護(hù)方法，可通過預(yù)防性的過流保護(hù)來減輕熱敏電阻不能完全抑制過流的問題。