技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種太陽能硅片的表面缺陷檢測裝置，包含抓取部件、環(huán)形軌道、檢測部件、驅(qū)動系統(tǒng)和控制系統(tǒng)，其中檢測部件包含拍照部件一和拍照部件二，所述拍照部件一設(shè)于所述吸盤的下方，所述拍照部件一的位置適配所述吸盤的轉(zhuǎn)動軌跡，所述拍照部件一用于拍攝硅片的底面，所述拍照部件二用于拍攝所述硅片的頂面。采用本裝置能夠通過所述吸盤對所述硅片只需一次取放及旋轉(zhuǎn)即可實現(xiàn)對所述硅片正、反面的拍攝，以便對所述硅片進行外觀尺寸及瑕疵的檢測，無需將所述硅片進行翻面，簡化抓取機構(gòu)的結(jié)構(gòu)，操作過程短，效率高，檢測方便，減少機械損耗，避免硅片產(chǎn)品額外損失，提高外觀質(zhì)量，降低成本。

技術(shù)研發(fā)人員：曹志明;張春雷;席勁松;譚平;唐星;趙成龍
受保護的技術(shù)使用者：成都福譽科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.05.31
技術(shù)公布日：2017.07.28