本實(shí)用新型涉及IC結(jié)構(gòu)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種五引腳IC結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù):
現(xiàn)有技術(shù)中常見(jiàn)的IC結(jié)構(gòu)一般設(shè)有8引腳、10引腳甚至更多,這些IC在實(shí)際使用中的多數(shù)情況下都會(huì)有引腳空置的現(xiàn)象,造成引腳材料的浪費(fèi)。圖1示出的是現(xiàn)有技術(shù)中常見(jiàn)的8引腳IC結(jié)構(gòu),塑封體1’內(nèi)設(shè)有基島2’,基島2’為一個(gè)單片,基島2’兩側(cè)的引腳3’數(shù)量多,且引腳3’與基島2’之間間隔設(shè)置,造成IC的長(zhǎng)度和寬度尺寸都比較大,使用時(shí)需要更大的安裝空間。
同時(shí),隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,目前應(yīng)用于各類(lèi)型驅(qū)動(dòng)電路中的IC都比較復(fù)雜,需要封裝兩個(gè)芯片,而現(xiàn)有IC結(jié)構(gòu)內(nèi)的基島2’為單片,生產(chǎn)時(shí)必須將兩個(gè)芯片分別進(jìn)行封裝,再通過(guò)外部引線連接,加工工藝復(fù)雜且不良率高,無(wú)法滿足新型IC的生產(chǎn)需要。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型提出一種五引腳IC結(jié)構(gòu),該五引腳IC結(jié)構(gòu)具有5個(gè)輸入端/輸出端,減少引腳浪費(fèi),塑封體內(nèi)設(shè)有兩個(gè)基島,同時(shí)滿足單芯片或雙芯片的IC生產(chǎn)需求。
本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是,設(shè)計(jì)一種五引腳IC結(jié)構(gòu),包括:塑封體、設(shè)于塑封體內(nèi)的基島、及設(shè)于塑封體兩側(cè)的引腳。基島由上下間隔設(shè)置的上基島和下基島構(gòu)成,引腳由橫向設(shè)于塑封體右側(cè)的三個(gè)右引腳和橫向設(shè)于塑封體左側(cè)的兩個(gè)左引腳構(gòu)成。右引腳伸入塑封體內(nèi)且與基島之間留有間隙,兩個(gè)左引腳中位于上部的左引腳伸入塑封體內(nèi)與上基島連接,兩個(gè)左引腳中位于下部的左引腳一端伸入塑封體內(nèi)與下基島連接。
其中,上基島和下基島中至少有一個(gè)設(shè)有芯片,芯片通過(guò)內(nèi)引線連接至對(duì)應(yīng)的右引腳上。
在一實(shí)施例中,上基島和下基島上均設(shè)有芯片,兩個(gè)芯片之間通過(guò)內(nèi)引線連接。
在另一實(shí)施例中,上基島或下基島上設(shè)有芯片。
優(yōu)選的,兩個(gè)左引腳中至少有一個(gè)為散熱引腳,散熱引腳的寬度大于右引腳。
優(yōu)選的,上基島和下基島的兩側(cè)邊緣分別設(shè)有凸出部。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn):
1、適用于具有5個(gè)或5個(gè)以下輸出端的IC結(jié)構(gòu),減少現(xiàn)有技術(shù)中的引腳浪費(fèi);
2、IC內(nèi)設(shè)有兩個(gè)基島,適合單芯片或雙芯片的IC生產(chǎn)需求,
3、左引腳連接在基島上,取消基島左側(cè)與引腳之間間距,縮小IC的整體寬度;
4、將與基島連接的左引腳設(shè)置為散熱引腳,提高IC的散熱效率,使其保持更穩(wěn)定的工作狀態(tài)。
附圖說(shuō)明
下面結(jié)合實(shí)施例和附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明,其中:
圖1是現(xiàn)有技術(shù)中8引腳IC的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本實(shí)用新型中5引腳IC的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是圖2中的A-A剖面示意圖;
圖4是圖2中的B-B剖面示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖2、3所示,本實(shí)用新型提出的五引腳IC結(jié)構(gòu),包括:塑封體1、基島及引腳?;鶏u由上下并列設(shè)置在塑封體1內(nèi)的上基島2和下基島3構(gòu)成,上基島2和下基島3之間設(shè)有間距,上基島2和下基島3中至少有一個(gè)設(shè)有芯片4,生產(chǎn)時(shí)針對(duì)不同結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品,可同時(shí)在兩個(gè)基島上封裝芯片4制成雙芯片IC,兩個(gè)芯片4之間通過(guò)內(nèi)引線在塑封體1內(nèi)部進(jìn)行連接,IC封裝的結(jié)構(gòu)更緊湊穩(wěn)定,也可以在上基島2或下基島3上封裝芯片4制成單芯片IC。
引腳由橫向設(shè)于塑封體1右側(cè)的三個(gè)右引腳5和橫向設(shè)于塑封體1左側(cè)的兩個(gè)左引腳6構(gòu)成。右引腳5伸入塑封體1內(nèi)且與基島之間留有間距,基島上的芯片4通過(guò)內(nèi)引線連接到相應(yīng)的右引腳5上,兩個(gè)左引腳6中位于上部的左引腳伸入塑封體1內(nèi)與上基島2連接,兩個(gè)左引腳6中位于下部的左引腳一端伸入塑封體1內(nèi)與下基島3連接。引腳分布在塑封體1的左右兩側(cè)且數(shù)量少,減小了IC的整體長(zhǎng)度,左引腳6直接連接到基島上,減小了IC的寬度,使用時(shí)需要的安裝空間更小。左引腳6和右引腳5露在塑封體外側(cè)的端部向后折彎形成焊接腳,焊接腳超出塑封體的背面以方便IC的焊接安裝。
為了提高IC的散熱性能,兩個(gè)左引腳6中至少有一個(gè)為散熱引腳,散熱引腳的寬度大于右引腳5,在本實(shí)施例中,兩個(gè)左引腳6均為散熱引腳,左引腳6的寬度是右引腳5的兩倍。較優(yōu)的,上基島2和下基島3的兩側(cè)邊緣分別設(shè)有凸出部,上基島2的凸出部位于右側(cè)上部和左側(cè)下部,下基島3的凸出部位于右側(cè)下部和左側(cè)上部,這樣可以增加基島與塑封體1之間的接觸面積,塑封體1封裝的穩(wěn)定性更好。
以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本實(shí)用新型,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。