1.用于微分遷移譜質(zhì)譜聯(lián)用的接口裝置，用于連接微分遷移譜和質(zhì)譜，包括聚焦電極(6)、金屬毛細(xì)管(7)、緊固螺釘(8)、密封墊圈(10)，其特征在于：
金屬毛細(xì)管(7)一端穿過帶通孔的緊固螺釘(8)伸入到質(zhì)譜的進(jìn)樣腔體內(nèi)，另一端穿過聚焦電極(6)，位于微分遷移譜的聚焦電極(5)下方，緊固螺釘(8)螺合于質(zhì)譜進(jìn)樣腔的進(jìn)樣口處，于緊固螺釘(8)和進(jìn)樣口之間設(shè)有密封墊圈(10)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微分遷移譜質(zhì)譜聯(lián)用接口裝置，其特征在于：
微分遷移譜包括依次設(shè)置的電離源(1)、微分遷移譜引出電極(3)、微分遷移譜分離極板(4)、微分遷移譜聚焦電極(5)，于遠(yuǎn)離電離源(1)的微分遷移譜聚焦電極(5)一側(cè)設(shè)有中部帶通孔的平板狀聚焦電極(6)，質(zhì)譜包括中部帶通孔的平板狀質(zhì)譜聚焦電極(9)，質(zhì)譜聚焦電極(9)中部通孔為質(zhì)譜進(jìn)樣腔的進(jìn)樣口；
金屬毛細(xì)管(7)一端穿過聚焦電極(6)的中部通孔或插入聚焦電極(6)的中部通孔內(nèi)，設(shè)于微分遷移譜聚焦電極(5)下方；
聚焦電極(6)與質(zhì)譜聚焦電極(9)平行、通孔同軸放置；于進(jìn)樣口在緊固螺釘(8)的作用下固定金屬毛細(xì)管(7)，同時(shí)擠壓密封墊圈(10)使進(jìn)樣口密封；微分遷移譜引出電極(3)、微分遷移譜分離極板(4)、微分遷移譜聚焦電極(5)均為中部帶有通孔的平板狀電極，它們之間平行、間隔、通孔同軸放置，微分遷移譜聚焦電極(5)的通孔與金屬毛細(xì)管(7)密閉連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微分遷移譜質(zhì)譜聯(lián)用接口裝置，其特征在于：
待測樣品(17)通過微分遷移譜進(jìn)樣管路(2)進(jìn)入微分遷移譜電離區(qū)域，在電離源(1)的作用下產(chǎn)生特征離子；
于平行設(shè)置的微分遷移譜引出電極(3)、微分遷移譜分離極板(4)、微分遷移譜聚焦電極(5)上施加直流電壓，構(gòu)成微分遷移譜工作電場，對(duì)目標(biāo)特征離子進(jìn)行選擇與整形；
通過微分遷移譜工作電場的目標(biāo)特征離子進(jìn)入金屬毛細(xì)管(7)，尾氣(15)經(jīng)過排氣管路(16)排出。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微分遷移譜質(zhì)譜聯(lián)用接口裝置，其特征在于：
沿特征離子運(yùn)動(dòng)方向，在質(zhì)譜聚焦電極(9)之后依次設(shè)置管狀引出電極(11)、Skimmer錐孔電極(12)，質(zhì)譜聚焦電極(9)、管狀引出電極(11)、Skimmer錐孔電極(12)相互平行、間隔、離子通孔同軸設(shè)置；
于Skimmer錐孔電極(12)上設(shè)有差分接口小孔(13)，差分接口小孔(13)直接與質(zhì)譜(14)相連，即特征離子通過Skimmer錐孔電極(12)上的差分接口小孔(13)直接引入質(zhì)譜(14)中進(jìn)行檢測。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微分遷移譜質(zhì)譜聯(lián)用接口裝置，其特征在于：金屬毛細(xì)管(7)的內(nèi)徑為25～250μm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微分遷移譜質(zhì)譜聯(lián)用接口裝置，其特征在于：
于兩塊平行放置的微分遷移譜分離極板(4)上，其一施加非對(duì)稱場射頻電場與補(bǔ)償電壓，其二接地，形成微分遷移譜所需工作電場；
于微分遷移譜所使用的電離源(1)為真空紫外光電離源、63Ni放射性源或者大氣壓放電電離源。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微分遷移譜質(zhì)譜聯(lián)用接口裝置，其特征在于：
于Skimmer錐孔電極(12)上設(shè)置的差分接口小孔(13)直徑在0.2～2mm范圍內(nèi)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微分遷移譜質(zhì)譜聯(lián)用接口裝置，其特征在于：
密封墊圈(10)的厚度為1～7mm，以確保其密封性能。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的微分遷移譜質(zhì)譜聯(lián)用接口裝置，其特征在于：
聚焦電極(6)、金屬毛細(xì)管(7)、質(zhì)譜聚焦電極(9)、管狀引出電極(11)與Skimmer錐孔電極(12)中心部位設(shè)置的離子通孔與Skimmer錐孔電極(12)上設(shè)置的差分接口小孔(13)處于同一軸線上。