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一種發(fā)光二極管的襯底剝離結(jié)構(gòu)、制作方法及剝離方法與流程

文檔序號(hào):12479098閱讀:810來源:國知局
一種發(fā)光二極管的襯底剝離結(jié)構(gòu)、制作方法及剝離方法與流程

本發(fā)明涉及發(fā)光二極管技術(shù)領(lǐng)域,尤其是指一種發(fā)光二極管的襯底剝離結(jié)構(gòu)、制作方法及剝離方法。



背景技術(shù):

在生長藍(lán)綠發(fā)光二極管時(shí),一般采用藍(lán)寶石作為臨時(shí)襯底,采用藍(lán)寶石臨時(shí)襯底剝離技術(shù)。藍(lán)寶石臨時(shí)襯底剝離技術(shù)可以使得襯底重復(fù)利用,也可以使得剝離的外延結(jié)構(gòu)用于制作垂直結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管,垂直結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管明顯地改善發(fā)光二極管的熱傳導(dǎo)效果。因此,藍(lán)寶石剝離技術(shù)是改善發(fā)光二極管光衰,提高發(fā)光二極管使用壽命的關(guān)鍵技術(shù)。

然而,現(xiàn)有技術(shù)中,發(fā)光二極管的外延結(jié)構(gòu)直接生長在藍(lán)寶石臨時(shí)襯底上,在剝離藍(lán)寶石臨時(shí)襯底時(shí),容易損壞藍(lán)寶石臨時(shí)襯底而無法重復(fù)利用。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于提供一種發(fā)光二極管的襯底剝離結(jié)構(gòu)、制作方法及剝離方法,以使襯底剝離不被損壞,獲得較高的剝離良率。

為達(dá)成上述目的,本發(fā)明的解決方案為:

一種發(fā)光二極管的襯底剝離結(jié)構(gòu),在臨時(shí)襯底表面形成SiO2圖形層,在SiO2圖形層上形成倒梯形孔洞,倒梯形孔洞貫穿至臨時(shí)襯底的表面而裸露臨時(shí)襯底;在SiO2圖形層上、倒梯形孔洞側(cè)壁及裸露的臨時(shí)襯底上蒸鍍AlN緩沖層;在AlN緩沖層上外延發(fā)光二極管的外延結(jié)構(gòu)。

進(jìn)一步,在外延結(jié)構(gòu)表面形成金屬反射鏡,金屬反射鏡鍵合在Si基板上。

進(jìn)一步,SiO2圖形層的厚度為1-2.5um。

進(jìn)一步,外延結(jié)構(gòu)包括第一型導(dǎo)電層、有源區(qū)、電子阻擋層、第二型導(dǎo)電層和歐姆接觸層,第一型導(dǎo)電層形成在AlN緩沖層上,有源區(qū)形成在第一型導(dǎo)電層上,電子阻擋層形成在有源區(qū),第二型導(dǎo)電層形成在電子阻擋層上,歐姆接觸層形成在第二型導(dǎo)電層上;臨時(shí)襯底為Al2O3、SiC、Si、GaN、AlN中的一種。

一種發(fā)光二極管的襯底剝離結(jié)構(gòu)的制作方法,包括以下步驟:

一,在臨時(shí)襯底上蒸鍍SiO2圖形層,通過ICP蝕刻在SiO2圖形層上蝕刻形成倒梯形孔洞,倒梯形孔洞貫穿至臨時(shí)襯底的表面;

二,采用磁控濺射PVD在SiO2圖形層上、倒梯形孔洞側(cè)壁及裸露的臨時(shí)襯底上蒸鍍AlN緩沖層;

三,采用MOCVD在AlN緩沖層上外延發(fā)光二極管的外延結(jié)構(gòu)。

進(jìn)一步,在外延結(jié)構(gòu)表面形成金屬反射鏡,金屬反射鏡鍵合在Si基板上。

進(jìn)一步,SiO2圖形層的厚度為1-2.5um。

進(jìn)一步,外延結(jié)構(gòu)包括第一型導(dǎo)電層、有源區(qū)、電子阻擋層、第二型導(dǎo)電層和歐姆接觸層,第一型導(dǎo)電層形成在AlN緩沖層上,有源區(qū)形成在第一型導(dǎo)電層上,電子阻擋層形成在有源區(qū),第二型導(dǎo)電層形成在電子阻擋層上,歐姆接觸層形成在第二型導(dǎo)電層上;臨時(shí)襯底為Al2O3、SiC、Si、GaN、AlN中的一種。

一種發(fā)光二極管的襯底剝離方法,包括以下步驟:

一,在臨時(shí)襯底上蒸鍍SiO2圖形層,通過ICP蝕刻在SiO2圖形層上蝕刻形成倒梯形孔洞,倒梯形孔洞貫穿至臨時(shí)襯底的表面;

二,采用磁控濺射PVD在SiO2圖形層上、倒梯形孔洞側(cè)壁及裸露的臨時(shí)襯底上蒸鍍AlN緩沖層;

三,采用MOCVD在AlN緩沖層上外延發(fā)光二極管的外延結(jié)構(gòu);

四,在外延結(jié)構(gòu)表面制作金屬反射鏡,將金屬反射鏡鍵合在Si基板上;

五,通過濕法腐蝕溶液腐蝕臨時(shí)襯底與外延結(jié)構(gòu)之間的SiO2圖形層,剝離掉臨時(shí)襯底;

六,采用ICP蝕刻掉AlN緩沖層,裸露出外延結(jié)構(gòu),在外延結(jié)構(gòu)表面制作第一電極,在Si基板背面制作第二電極。

進(jìn)一步,SiO2圖形層的厚度為1-2.5um。

進(jìn)一步,外延結(jié)構(gòu)包括第一型導(dǎo)電層、有源區(qū)、電子阻擋層、第二型導(dǎo)電層和歐姆接觸層,第一型導(dǎo)電層形成在AlN緩沖層上,有源區(qū)形成在第一型導(dǎo)電層上,電子阻擋層形成在有源區(qū),第二型導(dǎo)電層形成在電子阻擋層上,歐姆接觸層形成在第二型導(dǎo)電層上;臨時(shí)襯底為Al2O3、SiC、Si、GaN、AlN中的一種。

采用上述方案后,本發(fā)明在臨時(shí)襯底表面形成SiO2圖形層,在SiO2圖形層上形成倒梯形孔洞,在SiO2圖形層上蒸鍍AlN緩沖層,AlN緩沖層上形成外延結(jié)構(gòu)。

SiO2圖形層上形成倒梯形孔洞使得SiO2圖形層仍為連續(xù)的SiO2材料層,實(shí)現(xiàn)后續(xù)采用濕法腐蝕去除SiO2圖形層,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)剝離,剝離速率快,且剝離的成品率高,不會(huì)損壞臨時(shí)襯底。

在形成倒梯形孔洞的SiO2圖形層上蒸鍍AlN緩沖層,在SiO2圖形層表面以及倒梯形孔洞側(cè)壁和底部形成AlN緩沖層,有效保護(hù)SiO2圖形層在后續(xù)外延生長過程的升溫變化而避免SiO2圖形層的倒梯形孔洞被破壞,避免后續(xù)外延生長過程底層愈合不同,形成不連續(xù)的外延材料,導(dǎo)致發(fā)光二極管內(nèi)量子效率嚴(yán)重下降。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2是本發(fā)明在臨時(shí)襯底表面形成SiO2圖形層示意圖;

圖3是本發(fā)明在SiO2圖形層上制作倒梯形孔洞示意圖;

圖4是本發(fā)明在SiO2圖形層表面形成AlN緩沖層示意圖;

圖5是本發(fā)明在AlN緩沖層上生長外延層示意圖。

標(biāo)號(hào)說明

臨時(shí)襯底1 SiO2圖形層2

倒梯形孔洞21 AlN緩沖層3

外延結(jié)構(gòu)4 第一型導(dǎo)電層41

有源區(qū)42 電子阻擋層4

第二型導(dǎo)電層44 歐姆接觸層45

Si基板6 鍵合層7。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做詳細(xì)描述。

請(qǐng)參閱圖1至圖5所述,本發(fā)明揭示的一種發(fā)光二極管的襯底剝離結(jié)構(gòu),在臨時(shí)襯底1表面形成SiO2圖形層2,在SiO2圖形層2上形成倒梯形孔洞21,倒梯形孔洞21貫穿至臨時(shí)襯底1的表面而裸露臨時(shí)襯底;在SiO2圖形層2上、倒梯形孔洞21側(cè)壁及裸露的臨時(shí)襯底1上蒸鍍AlN緩沖層3;在AlN緩沖層3上外延發(fā)光二極管的外延結(jié)構(gòu)4。SiO2圖形層2的厚度優(yōu)選為1-2.5um。臨時(shí)襯底1為Al2O3、SiC、Si、GaN、AlN中的一種。

本實(shí)施例中,外延結(jié)構(gòu)4包括第一型導(dǎo)電層41、有源區(qū)42、電子阻擋層43、第二型導(dǎo)電層44和歐姆接觸層45,第一型導(dǎo)電層41形成在AlN緩沖層3上,有源區(qū)42形成在第一型導(dǎo)電層41上,電子阻擋層43形成在有源區(qū)42,第二型導(dǎo)電層44形成在電子阻擋層43上,歐姆接觸層45形成在第二型導(dǎo)電層44上。

在外延結(jié)構(gòu)4表面形成金屬反射鏡5,金屬反射鏡5鍵合在Si基板6上,在金屬反射鏡5與Si基板6之間形成鍵合層7。

本發(fā)明還揭示所述發(fā)光二極管的襯底剝離結(jié)構(gòu)的制作方法,包括以下步驟:

一,如圖2及圖3所示,在臨時(shí)襯底1上蒸鍍SiO2圖形層2,通過ICP蝕刻在SiO2圖形層2上蝕刻形成倒梯形孔洞21,倒梯形孔洞21貫穿至臨時(shí)襯底1的表面。

二,如圖4所示,采用磁控濺射PVD在SiO2圖形層2上、倒梯形孔洞21側(cè)壁及裸露的臨時(shí)襯底1上蒸鍍AlN緩沖層3。

三,采用MOCVD在AlN緩沖層3上外延發(fā)光二極管的外延結(jié)構(gòu)4,本實(shí)施例中,外延結(jié)構(gòu)4包括第一型導(dǎo)電層41、有源區(qū)42、電子阻擋層43、第二型導(dǎo)電層44和歐姆接觸層45,第一型導(dǎo)電層41形成在AlN緩沖層3上,有源區(qū)42形成在第一型導(dǎo)電層41上,電子阻擋層43形成在有源區(qū)42,第二型導(dǎo)電層44形成在電子阻擋層43上,歐姆接觸層45形成在第二型導(dǎo)電層44上。

在外延結(jié)構(gòu)4表面形成金屬反射鏡5,金屬反射鏡5鍵合在Si基板6上,在金屬反射鏡5與Si基板6之間形成鍵合層7。

本發(fā)明還揭示一種發(fā)光二極管的襯底剝離方法,包括以下步驟:

一,如圖2及圖3所示,在臨時(shí)襯底1上蒸鍍SiO2圖形層2,通過ICP蝕刻在SiO2圖形層2上蝕刻形成倒梯形孔洞21,倒梯形孔洞21貫穿至臨時(shí)襯底1的表面。

二,如圖4所示,采用磁控濺射PVD在SiO2圖形層2上、倒梯形孔洞21側(cè)壁及裸露的臨時(shí)襯底1上蒸鍍AlN緩沖層3。

三,如圖5所示,采用MOCVD在AlN緩沖層3上外延發(fā)光二極管的外延結(jié)構(gòu)4,本實(shí)施例中,外延結(jié)構(gòu)4包括第一型導(dǎo)電層41、有源區(qū)42、電子阻擋層43、第二型導(dǎo)電層44和歐姆接觸層45,第一型導(dǎo)電層41形成在AlN緩沖層3上,有源區(qū)42形成在第一型導(dǎo)電層41上,電子阻擋層43形成在有源區(qū)42,第二型導(dǎo)電層44形成在電子阻擋層43上,歐姆接觸層45形成在第二型導(dǎo)電層44上。

四,在外延結(jié)構(gòu)4表面形成金屬反射鏡5,金屬反射鏡5鍵合在Si基板6上,在金屬反射鏡5與Si基板6之間形成鍵合層7。

五,通過濕法腐蝕溶液腐蝕臨時(shí)襯底1與外延結(jié)構(gòu)4之間的SiO2圖形層2,剝離掉臨時(shí)襯底1。

六,采用ICP蝕刻掉AlN緩沖層3,裸露出外延結(jié)構(gòu)4,在第一型導(dǎo)電層41表面制作第一電極,在Si基板6背面制作第二電極。

以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,并非對(duì)本案設(shè)計(jì)的限制,凡依本案的設(shè)計(jì)關(guān)鍵所做的等同變化,均落入本案的保護(hù)范圍。

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