本發(fā)明屬于電子封裝設備相關領域，更具體地，涉及一種面向片式元件多節(jié)點檢測的卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)。

背景技術：

元器件表面貼裝技術(Surface Mount Technology，簡稱SMT)是電子制造的主流技術，要保證其工藝精細化和產(chǎn)品高可靠性，離不開高質(zhì)量、高效率檢測技術。在從貼裝元器件上線到組件組裝完畢下線的整個SMT組裝流程中，檢測主要被設置在三個主要節(jié)點：即組裝前的來料檢測、組裝過程中檢測、以及組裝后的組件檢測。

現(xiàn)有技術中關于來料檢測環(huán)節(jié)的電子元件檢測方案中，大多都是從檢測功能角度和結(jié)構(gòu)組成角度進行設計。例如，CN105555123A中公開了一種面向料盤的SMD抽檢及清點設備，其可完成SMD料盤上元件的快速抽檢及檢后回收，此外還能快速準確地完成料盤上元件個數(shù)的清點和分切。但該技術方案主要是從滿足元件抽檢和清點的角度提出相應的結(jié)構(gòu)組成，卻未提供檢測環(huán)節(jié)中涉及元件精確定位及轉(zhuǎn)移的具體實施方式。相應地，本領域亟需針對上述技術問題尋求更為完善的解決方案，以滿足目前日益提高的工藝要求。

技術實現(xiàn)要素：

針對現(xiàn)有技術的以上缺陷或改進需求，本發(fā)明提供了一種面向片式元件多節(jié)點檢測的卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)，其中通過對該卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)的整體構(gòu)造組成及其關鍵組件進行重新設計，不僅可實現(xiàn)待檢片式元件的高效進給，而且能夠結(jié)合需求對整個進給過程中的多節(jié)點執(zhí)行高精度的全面檢測；此外，本發(fā)明還分別針對元件拾取環(huán)節(jié)、元件返回放置環(huán)節(jié)均設計了不同的優(yōu)化補償算法，同時對轉(zhuǎn)移精度也提出了評價算法，相應能夠進一步確保在連續(xù)檢測過程中實現(xiàn)片式元件的精確拾取和返回放置操作。

為實現(xiàn)上述目的，按照本發(fā)明，提供了一種面向片式元件多節(jié)點檢測的卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)，該卷到卷系統(tǒng)包括底座，以及安裝在該底座上的料卷輸送裝置、元件拾取裝置、夾持裝置以及上視檢測裝置，其特征在于：

所述料卷輸送裝置包括放料模塊、收料模塊、揭膜模塊和覆膜模塊，其中物料從該放料模塊以卷到卷的方式朝著該收料模塊執(zhí)行單向進給，并在進給過程中首先經(jīng)由所述揭膜模塊揭開表面所封裝的薄膜且露出待檢測的片式元件，然后在完成檢測后再經(jīng)由所述覆膜模塊對該片式元件重新予以覆膜封裝；

所述元件拾取裝置包括拾取頭和下視觀測相機，其中該拾取頭具有XYZ三軸自由度和繞著Z軸旋轉(zhuǎn)的W向自由度，并用于將待檢測的片式元件執(zhí)行拾取以轉(zhuǎn)移到所述夾持裝置予以檢測，然后將完成檢測的片式元件返回放置至所述料卷輸送裝置的料帶料槽內(nèi)；該下視觀測相機固連于所述拾取頭且可隨之一同沿著X軸和Y軸運動，并用于對所述拾取頭所拾取/返回放置的片式元件執(zhí)行下視拍攝以獲得位置及姿態(tài)信息；

所述夾持裝置設置處于所述料卷輸送位置的水平一側(cè)，并用于將所述拾取頭所轉(zhuǎn)移過來的片式元件予以夾持和通電處理，然后對其電學性能執(zhí)行檢測，從而判斷此片式元件的電學性能是否滿足需求；

所述上視檢測裝置設置處于所述料卷輸送裝置與所述夾持裝置之間，并用于對所述拾取頭所拾取/返回放置的片式元件執(zhí)行上視拍攝以獲得其位置及姿態(tài)信息。

作為進一步優(yōu)選地，所述夾持裝置呈板式結(jié)構(gòu)，并在其表面兩側(cè)各自安裝有可伸縮的彈性頂針，該彈性頂針用于將所述拾取頭轉(zhuǎn)移至此的片式元件接觸抵壓，然后與電學性能檢測儀器相連通，由此執(zhí)行電學性能的檢測。

作為進一步優(yōu)選地，對于所述下視觀測相機而言，當待檢測的片式元件被所述拾取頭執(zhí)行拾取或者完成檢測的片式元件被所述拾取頭執(zhí)行返回放置時，該片式元件均完全處于該下視觀測相機的視野范圍之內(nèi)；此外，對于所述上視檢測裝置而言，其優(yōu)選為上視觀測相機，并且在旋轉(zhuǎn)零位狀態(tài)下其視野正中心正好與所述拾取頭的中心保持一致。

作為進一步優(yōu)選地，當所述拾取頭將待檢測的片式元件執(zhí)行拾取以轉(zhuǎn)移到所述夾持裝置予以檢測時，優(yōu)選依照下列公式對其拾取操作執(zhí)行位置補償：

其中，分別是預設的拾取基準點N₁的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是執(zhí)行位置補償后的實際拾取點N₂的X軸坐標值和Y軸坐標值；k_Dx、k_Dy分別用于表示X軸方向、Y軸方向上針對所述下視相機的補償比例因子，其可通過對所述下視觀測相機執(zhí)行視覺標定而獲得；分別是待檢測的片式元件幾何中心的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是所述下視觀測相機所拍攝的圖像中心的X軸坐標值和Y軸坐標值；此外，δ_x1,δ_y1分別用于表示所述拾取頭在拾取狀態(tài)下相對旋轉(zhuǎn)零位狀態(tài)在X軸方向、Y軸方向上的位置變化，其可通過對所述上視觀測相機執(zhí)行實際標定而獲得。

作為進一步優(yōu)選地，當所述拾取頭將已完成檢測的片式元件返回放置至所述料卷輸送裝置的料帶料槽內(nèi)時，優(yōu)選依照下列公式組對其返回放置操作執(zhí)行位置補償：

其中，分別是預設的返回放置基準點M₁的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是執(zhí)行位置補償后的實際返回放置點M₂的X軸坐標值和Y軸坐標值；k_Ex、k_Ey分別用于表示X軸方向、Y軸方向上針對所述上視相機的補償比例因子，其可通過對所述上視觀測相機執(zhí)行視覺標定而獲得；分別是所述已完成檢測的片式元件幾何中心的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是所述上視觀測相機所拍攝的圖像中心的X軸坐標值和Y軸坐標值；θ用來表示片式元件相對所述料卷輸送裝置的料帶在進給方向上的偏角，且0≤θ≤90°；此外，假設所述拾取頭在此返回放置操作位置下以10°為間隔旋轉(zhuǎn)一周，其運動軌跡將擬合獲得一斜橢圓，其中，R_a、R_b分別用來表示該斜橢圓的長軸和短軸，C_x、C_y分別用于表示該斜橢圓圓心的坐標，γ用于表示該斜橢圓相對標準橢圓的旋轉(zhuǎn)角，上述5個參數(shù)作為斜橢圓擬合結(jié)果得到。

作為進一步優(yōu)選地，當所述拾取頭將已完成檢測的片式元件返回放置至所述料卷輸送裝置的料帶料槽內(nèi)時，優(yōu)選依照下列公式組首先計算得出所述片式元件的最大允許偏轉(zhuǎn)角其中a、b分別表示所述已完成檢測的片式元件的長和寬，m、h分別表示此時該片式元件將被返回放置的料帶料槽的長和寬：

并且在該最大允許偏轉(zhuǎn)角時，依照下列簡化公式對其返回放置操作執(zhí)行位置補償：

其中，θ用來表示片式元件相對所述料卷輸送裝置的料帶在進給方向上的偏角，且0≤θ≤90°；分別是預設的返回放置基準點M₁的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是執(zhí)行位置補償后的實際返回放置點M₂的X軸坐標值和Y軸坐標值；k_Ex、k_Ey分別用于表示X軸方向、Y軸方向上的補償比例因子，其可通過對所述上視觀測相機執(zhí)行視覺標定而獲得；分別是所述已完成檢測的片式元件幾何中心的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是所述上視觀測相機所拍攝的圖像中心的X軸坐標值和Y軸坐標值。

作為進一步優(yōu)選地，上述卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)還包括中央處理單元，該中央處理單元用于對片式元件執(zhí)行位置補償后所達到的轉(zhuǎn)移精度進行評價，并且優(yōu)選依照下列公式組來計算轉(zhuǎn)移精度評價值k_x、k_y：

其中，a、b分別表示所述已完成檢測的片式元件的長和寬，m、h分別表示此時該片式元件將被返回放置的料帶料槽的長和寬；E_x、E_y分別用來表示被返回放置至所述料帶料槽內(nèi)的片式元件在X軸方向、Y軸方向相對于此料帶料槽中心的偏差值；β用來表示被返回放置至所述料帶料槽內(nèi)的片式元件在相對于物料進給方向的夾角；此外，k_x、k_y的值越小，則表明轉(zhuǎn)移精度越高。

總體而言，通過本發(fā)明所構(gòu)思的以上技術方案與現(xiàn)有技術相比，主要具備下列技術優(yōu)點：

1、其中通過對該卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)的整體構(gòu)造組成及其關鍵組件進行重新設計，不僅可實現(xiàn)待檢片式元件的高效進給，而且能夠結(jié)合需求對整個進給過程中的多節(jié)點執(zhí)行高精度的全面檢測；

2、本發(fā)明還分別針對元件拾取環(huán)節(jié)、元件返回放置環(huán)節(jié)分別獨立設計了不同的優(yōu)化補償算法，其中在涉及到拾取頭對元件的定位拾取環(huán)節(jié)時，通過引入下視觀測相機，下視觀測相機采圖獲取片式元件位姿信息，結(jié)合元件位姿信息與下視視覺補償方法計算出補償偏差，基于拾取基準點驅(qū)動拾取頭補償相應偏差以完成對元件幾何中心的定位拾??；

3、此外，在涉及到拾取頭對元件的精確放回料槽環(huán)節(jié)時，通過引入上視觀測相機來消除拾取過程造成的誤差，上視觀測相機采圖獲取片式元件位姿信息來計算出補償偏差，由此可以保證拾取頭對元件準確放回；

4、本發(fā)明中還專門針對對轉(zhuǎn)移精度提出了評價算法，由此能夠定量評價采用上述視覺補償方法對不同規(guī)格元件進行誤差補償后所達到的轉(zhuǎn)移精度效果。

附圖說明

圖1是按照本發(fā)明優(yōu)選實施例所構(gòu)建的面向片式元件多節(jié)點檢測的卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)的整體構(gòu)造示意圖；

圖2是按照本發(fā)明的整體轉(zhuǎn)移過程的工藝流程圖；

圖3是按照本發(fā)明優(yōu)選實施方式的轉(zhuǎn)移精度量化評價示意圖；

圖4是示范性解釋說明按照本發(fā)明的下視觀測相機的原理示意圖；

圖5是示范性解釋說明按照本發(fā)明的上視觀測相機的原理示意圖。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。此外，下面所描述的本發(fā)明各個實施方式中所涉及到的技術特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互組合。

圖1是按照本發(fā)明優(yōu)選實施例所構(gòu)建的面向片式元件多節(jié)點檢測的卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)的整體構(gòu)造示意圖。如圖1所示，該卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)主要包括底座1，以及安裝在該底座上的料卷輸送裝置2、元件拾取裝置3、夾持裝置4以及上視檢測裝置5等組件，下面將對其逐一進行具體說明。

料卷輸送裝置2可包括放料模塊21、收料模塊26、揭膜模塊22和覆膜模塊27，其中物料從該放料模塊21以卷到卷的方式朝著該收料模塊26執(zhí)行單向進給(圖中顯示為沿著Y軸方向)，并在進給過程中首先經(jīng)由揭膜模塊22揭開表面所封裝的薄膜且露出待檢測的片式元件24，然后在完成檢測后再經(jīng)由覆膜模塊27對該片式元件重新予以覆膜封裝。

元件拾取裝置3主要包括拾取頭32和下視觀測相機31，其中該拾取頭32可具有XYZ三軸自由度和繞著Z軸旋轉(zhuǎn)的W向自由度，并用于將待檢測的片式元件執(zhí)行拾取以轉(zhuǎn)移到夾持裝置4予以檢測，主要是涉及電學性能方面的質(zhì)量檢測，然后將完成檢測的片式元件返回放置至所述料卷輸送裝置的料帶料槽內(nèi)。該下視觀測相機31固連于拾取頭32且可隨之一同沿著X軸和Y軸運動，并用于對所述拾取頭所拾取/返回放置的片式元件執(zhí)行下視拍攝以獲得位置及姿態(tài)信息。

夾持裝置4設置處于所述料卷輸送位置的水平一側(cè)，并用于將拾取頭32)所轉(zhuǎn)移過來的片式元件予以夾持和通電處理，然后對其電學性能執(zhí)行檢測，從而判斷此片式元件的電學性能是否滿足需求。更具體地，該夾持裝置譬如呈板式結(jié)構(gòu)，并在其表面兩側(cè)各自安裝有可伸縮的彈性頂針，該彈性頂針用于將所述拾取頭轉(zhuǎn)移至此的片式元件接觸抵壓，然后與電學性能檢測儀器相連通，由此執(zhí)行電學性能的檢測。片式元件在該夾持裝置中的位置可優(yōu)選設計為與其在料帶上的位置相垂直。

此外，上視檢測裝置5譬如設置處于料卷輸送裝置2與夾持裝置之間，并用于對所述拾取頭所拾取/返回放置的片式元件執(zhí)行上視拍攝以獲得其位置及姿態(tài)信息。

換而言之，如圖1中所示，在整個系統(tǒng)中一共包括3個觀測位即觀測位A、觀測位B和觀測位C；按照本發(fā)明的一個優(yōu)選實施方式，下視觀測相機31對應于觀測位A和觀測位B，并且當待檢測的片式元件被所述拾取頭執(zhí)行拾取或者完成檢測的片式元件被所述拾取頭執(zhí)行返回放置時，該片式元件均完全處于該下視觀測相機的視野范圍之內(nèi)。上視檢測裝置5在本發(fā)明中優(yōu)選為上視觀測相機，其對應于觀測位C，并且在旋轉(zhuǎn)零位狀態(tài)下其視野正中心正好與所述拾取頭的中心保持一致。

更具體地，如圖4中所示，為下視觀測相機在下視觀測位B處對元件的觀測示意圖，借助該示意圖具體講解下視視覺補償方法。下視相機坐標系為X_DO_DY_D，片式元件幾何中心為點下視采圖圖像中心為點該點隨下視觀測位固定而固定且拾取頭與下視相機間距固定。故只要基于當前觀測位對帶下視視覺拾取裝置(3)進行該固定間距的距離移動，就可以把拾取頭運動到圖中點N_D1，該點在世界坐標系中對應于點取N₁為拾取基準點。但是由于圖1所示位置布局拾取頭從料帶位到夾具位要旋轉(zhuǎn)90°且拾取頭自身旋轉(zhuǎn)引入位置偏差，實際拾取基準點對應與圖中點

類似的，如圖5中所示，為拾取頭在上視觀測位B處對元件的觀測示意圖，借助該示意圖具體講解上視視覺補償方法。上視相機坐標系為X_EO_EY_E，拾取頭幾何中心與上視采圖圖像中心重合于點拾取頭旋轉(zhuǎn)軌跡中心即為圖中橢圓中心點N_E。上視采圖時元件在圖中位置處，元件中心為點與料槽的角度偏差為θ。

此外，本發(fā)明中還針對拾取環(huán)節(jié)、返回放置環(huán)節(jié)分別獨立地設計了具體算法處理來執(zhí)行位置補償，以便更進一步地提高轉(zhuǎn)移精度。當然，在本發(fā)明的上述基礎方案基礎上，也可以選擇其他適當?shù)膬?yōu)化算法，或者是將各環(huán)節(jié)的優(yōu)化算法合并處理。

按照本發(fā)明的一個優(yōu)選實施方式，當所述拾取頭32將待檢測的片式元件執(zhí)行拾取以轉(zhuǎn)移到所述夾持裝置4予以檢測時，優(yōu)選依照下列公式對其拾取操作執(zhí)行位置補償：

其中，分別是預設的拾取基準點N₁的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是執(zhí)行位置補償后的實際拾取點N₂的X軸坐標值和Y軸坐標值；k_Dx、k_Dy分別用于表示X軸方向、Y軸方向上針對所述下視相機的補償比例因子，其可通過對所述下視觀測相機執(zhí)行視覺標定而獲得；分別是待檢測的片式元件幾何中心的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是所述下視觀測相機所拍攝的圖像中心的X軸坐標值和Y軸坐標值；此外，δ_x1,δ_y1分別用于表示所述拾取頭在拾取狀態(tài)下相對旋轉(zhuǎn)零位狀態(tài)在X軸方向、Y軸方向上的位置變化，其可通過對所述上視觀測相機執(zhí)行實際標定而獲得。

按照本發(fā)明的另一優(yōu)選實施方式，當所述拾取頭32將已完成檢測的片式元件返回放置至所述料卷輸送裝置的料帶料槽內(nèi)時，優(yōu)選依照下列公式組對其返回放置操作執(zhí)行位置補償：

其中，分別是預設的返回放置基準點M₁的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是執(zhí)行位置補償后的實際返回放置點M₂的X軸坐標值和Y軸坐標值；k_Ex、k_Ey分別用于表示X軸方向、Y軸方向上的補償比例因子，其可通過對所述上視觀測相機執(zhí)行視覺標定而獲得；分別是所述已完成檢測的片式元件幾何中心的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是所述上視觀測相機所拍攝的圖像中心的X軸坐標值和Y軸坐標值；θ用來表示片式元件相對所述料卷輸送裝置的料帶在進給方向上的偏角，且0≤θ≤90°；此外，假設所述拾取頭在此返回放置操作位置下以10°為間隔旋轉(zhuǎn)一周，其運動軌跡將擬合獲得一斜橢圓(譬如，該斜橢圓的一般參數(shù)方程在本領域中通?？杀硎緸閤＝R_acost*cosγ-R_bsint*sinγ+C_x，y＝R_acosθ*sinγ+R_bsinθ*cosγ+C_y，其中，R_a、R_b分別用來表示該橢圓的長軸和短軸，C_x、C_y分別用于表示該橢圓圓心的坐標，γ用于表示該橢圓相對標準橢圓的旋轉(zhuǎn)角，上述5個參數(shù)均作為斜橢圓擬合結(jié)果得到；t(0≤t≤2π)為橢圓的離心角，是該斜橢圓參數(shù)方程的自變量參數(shù)，在所述工況中t的值即為θ)。

更進一步地，當所述拾取頭32將已完成檢測的片式元件返回放置至所述料卷輸送裝置的料帶料槽內(nèi)時，可以依照下列公式組首先計算得出所述片式元件的最大允許偏轉(zhuǎn)角其中a、b分別表示所述已完成檢測的片式元件的長和寬，m、h分別表示此時該片式元件將被返回放置的料帶料槽的長和寬：

并且在該最大允許偏轉(zhuǎn)角時，依照下列簡化公式對其返回放置操作執(zhí)行位置補償：

其中，θ用來表示片式元件相對所述料卷輸送裝置的料帶在進給方向上的偏角，且0≤θ≤90°；分別是預設的返回放置基準點M₁的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是執(zhí)行位置補償后的實際返回放置點M₂的X軸坐標值和Y軸坐標值；k_Ex、k_Ey分別用于表示X軸方向、Y軸方向上針對所述上視相機的補償比例因子，其可通過對所述上視觀測相機執(zhí)行視覺標定而獲得；分別是所述已完成檢測的片式元件幾何中心的X軸坐標值和Y軸坐標值，分別是所述上視觀測相機所拍攝的圖像中心的X軸坐標值和Y軸坐標值。而當該最大允許偏轉(zhuǎn)角時，則仍然保持上述未簡化的公式對其其返回放置操作執(zhí)行位置補償。

參看圖3，顯示了按照本發(fā)明優(yōu)選實施方式的轉(zhuǎn)移精度量化評價示意圖。在該圖中，Δx表示Xz軸方向的誤差邊界，Δy表示Y軸方向向的誤差邊界，a、b、m、h分別為片式元件和料槽的長寬，β為元件相對料槽的偏轉(zhuǎn)角。則

以封裝尺寸為0201的貼片電阻元件為例，元器件尺寸長寬高為0.6mm×0.3mm×0.3mm，該SMD所對應元器件槽的尺寸為0.7mm×0.4mm。當元件相對槽的偏轉(zhuǎn)角β＝0時，累計誤差允許邊界最大，則可求得最大累計誤差允許邊界，即Δx_max＝0.05mm，Δy_max＝0.05mm。那么在元件從夾具位到料槽轉(zhuǎn)移時，轉(zhuǎn)移過程中造成的X向和Y向累計偏差均需小于50μm,才能保證成功放回。

相應地，按照本發(fā)明的又一優(yōu)選實施方式，上述卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)還可以包括中央處理單元，該中央處理單元用于對片式元件執(zhí)行位置補償后所達到的轉(zhuǎn)移精度進行評價，并且優(yōu)選依照下列公式組來計算轉(zhuǎn)移精度評價值k_x、k_y：

其中，a、b分別表示所述已完成檢測的片式元件的長和寬，m、h分別表示此時該片式元件將被返回放置的料帶料槽的長和寬；E_x、E_y分別用來表示被返回放置至所述料帶料槽內(nèi)的片式元件在X軸方向、Y軸方向相對于此料帶料槽中心的偏差值；β用來表示被返回放置至所述料帶料槽內(nèi)的片式元件在相對于物料進給方向的夾角；此外，k_x、k_y的值越小，則表明轉(zhuǎn)移精度越高。

下面將參照圖2對按照本發(fā)明的整體轉(zhuǎn)移工藝進行解釋說明。

首先，料卷輸送裝置2預先將待檢測的片式元件24進給到下視觀測相機31的視野范圍內(nèi)，移動下視觀測相機31到下視觀測位A采圖，并利用圖像處理獲取片式元件的幾何中心

接著，將帶入補償計算公式得到料帶處實際拾取點坐標；然后拾取頭移動到完成對待檢片式元件定位拾取，并移動到夾具處拾取基準點放置元件，從而將元件轉(zhuǎn)移到夾持裝置4處；

接著，夾持裝置4上兩側(cè)的頂針伸出，將被檢片式元件接通于檢測回路，實現(xiàn)對片式元件電學性能的檢測；待片式元件檢測完畢，頂針縮回，移動下視觀測相機31至下視觀測位B采圖，并利用圖像處理獲取元件的幾何中心

接著，將帶入補償計算公式得到夾具處實際拾取點坐標；拾取頭移動到完成對已檢片式元件定位拾取，并將合格的片式元件轉(zhuǎn)移放回料帶23的空料槽中，將不合格的片式元件丟棄；其中對于需要放回料帶上料槽的片式元件，在放回前還需將拾取頭移動到上視觀測位C，利用上視視覺裝置5對拾取頭上的片式元件采圖并通過圖像處理獲取片式元件的幾何中心和元件相對料帶進給方向偏角θ(0≤θ≤90°)；

接著，根據(jù)θ和元件允許最大偏轉(zhuǎn)角判斷上視糾偏環(huán)節(jié)的角度偏差補償可否省略。若則可省略對元件的角度糾偏，將帶入不帶旋轉(zhuǎn)糾偏的上視視覺補償計算公式，得到料帶處實際放置點坐標；若則拾取頭(32)通過W軸向旋轉(zhuǎn)完成元件的角度偏差補償，并將帶入帶旋轉(zhuǎn)糾偏的上視視覺補償計算公式，得到料帶處實際放置點坐標。拾取頭移動到實際放置點由此完成對片式元件的準確放回。

綜上，本發(fā)明通過對該卷到卷轉(zhuǎn)移系統(tǒng)的整體構(gòu)造組成及其關鍵組件進行重新設計，不僅可實現(xiàn)待檢片式元件的高效進給，而且能夠結(jié)合需求對整個進給過程中的多節(jié)點執(zhí)行高精度的全面檢測；此外，本發(fā)明還分別針對元件拾取環(huán)節(jié)、元件返回放置環(huán)節(jié)均設計了不同的優(yōu)化補償算法，同時對轉(zhuǎn)移精度也提出了評價算法，相應能夠進一步確保在連續(xù)檢測過程中實現(xiàn)片式元件的精確拾取和返回放置操作。

本領域的技術人員容易理解，以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。