技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
X射線檢測器組件包括具有下表面和上表面的聚合襯底，以及設(shè)置在襯底的上表面上的X射線檢測器。X射線檢測器包括設(shè)置在襯底上的薄膜晶體管陣列，設(shè)置在薄膜晶體管陣列上的有機(jī)光電二極管和設(shè)置在有機(jī)光電二極管上的閃爍體。金屬阻擋層基本上在閃爍體的上表面上，基本上在閃爍體、有機(jī)光電二極管和薄膜晶體管陣列的外圍延伸的邊緣上，并且基本上在襯底的下表面上延伸。

技術(shù)研發(fā)人員：J·J·劉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：通用電氣公司
技術(shù)研發(fā)日：2015.07.22
技術(shù)公布日：2017.08.18