專利名稱：一種自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在集成電路的測(cè)試過(guò)程中，將唯一的符合一定規(guī)律 的序列號(hào)碼自動(dòng)下載到集成電路芯片內(nèi)部的存儲(chǔ)器指定區(qū)域的方法，屬 于集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
某些具有特殊功能的集成電路芯片如身份識(shí)別芯片等需要對(duì)生產(chǎn)加 工的每一個(gè)芯片進(jìn)行唯一性標(biāo)識(shí)，這種唯一性標(biāo)識(shí)就是芯片序列號(hào)碼 (serial number,簡(jiǎn)稱SN)。芯片序列號(hào)碼的作用是為每一個(gè)芯片的質(zhì) 量追蹤提供標(biāo)識(shí)，也可以作為辨別芯片真?zhèn)蔚囊粋€(gè)依據(jù)。用戶可以根據(jù) 芯片的SN信息査到該芯片的生產(chǎn)加工信息和出廠測(cè)試數(shù)據(jù)。在芯片的使 用階段，利用專門的讀卡器讀出芯片中存儲(chǔ)的唯一序列號(hào)碼，按照一定 的解碼方法可以得到芯片的質(zhì)量信息。
目前，普遍采取的一種唯一性標(biāo)識(shí)方法是在芯片內(nèi)部集成的存儲(chǔ)器 的指定位置中存貯一組二進(jìn)制序列號(hào)碼。序列號(hào)碼的數(shù)據(jù)格式，如字節(jié) 數(shù)、二進(jìn)制位數(shù)、編碼方式等需要滿足相關(guān)的統(tǒng)一規(guī)范的要求。序列號(hào) 碼包含的信息也要符合統(tǒng)一的規(guī)定，通常包含的信息有該芯片的設(shè)計(jì) 生產(chǎn)廠家代碼，該芯片的測(cè)試時(shí)間，該芯片所在晶圓的批號(hào)和編號(hào)，該 芯片在晶圓上的XY坐標(biāo)等。通常，在芯片生產(chǎn)加工后的測(cè)試階段，將序 列號(hào)碼寫入到芯片中指定的存儲(chǔ)器區(qū)域內(nèi)，然后檢査序列號(hào)碼的準(zhǔn)確性 和唯一性。
在申請(qǐng)?zhí)枮?00710048343.5的中國(guó)發(fā)明專利申請(qǐng)中，公開(kāi)了一種集 成電路隨機(jī)序列號(hào)碼產(chǎn)生的方法。該方法中，利用集成電路生產(chǎn)制造過(guò) 程中由于邊緣效應(yīng)，離子注入和表面態(tài)效應(yīng)以及載流子遷移率的變化等 不理想因素會(huì)造成的元器件的不匹配性，將高增益放大電路檢測(cè)元器件 間的不匹配并轉(zhuǎn)化為與之相對(duì)應(yīng)的數(shù)字電平，由于元器件之間的這種不 匹配性隨機(jī)性很強(qiáng)，因此使用多個(gè)放大電路單元可以實(shí)現(xiàn)了多位隨機(jī)序 列號(hào)碼的產(chǎn)生。
但是，就本發(fā)明人所知，目前尚沒(méi)有在集成電路的測(cè)試過(guò)程中，將200710175583. 1
說(shuō)明書(shū)第2/6頁(yè)
唯一的符合一定規(guī)律的序列號(hào)碼自動(dòng)下載到集成電路芯片內(nèi)部的存儲(chǔ)器
指定區(qū)域的成熟方法問(wèn)世。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法。利 用該方法，可以針對(duì)每一個(gè)芯片生成唯一的序列號(hào)碼，并將該序列號(hào)碼 下載到該芯片內(nèi)部存儲(chǔ)器中的指定區(qū)域。
為實(shí)現(xiàn)上述的發(fā)明目的，本發(fā)明采用下述的技術(shù)方案
一種自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法，其特征在于包括如下的步
驟
(1) 在集成電路芯片的測(cè)試過(guò)程中采集每個(gè)芯片與集成電路序列號(hào) 碼有關(guān)的信息；
(2) 按照預(yù)定的編碼方式，將所述與集成電路序列號(hào)碼有關(guān)的信息轉(zhuǎn) 換成預(yù)定格式的集成電路序列號(hào)碼；
(3) 將所述集成電路序列號(hào)碼下載到集成電路芯片內(nèi)部存儲(chǔ)器中的 指定區(qū)域；
(4) 檢査下載的所述集成電路序列號(hào)碼的準(zhǔn)確性和唯一性。
其中，所述步驟(l)中，通過(guò)基于IEEE 488標(biāo)準(zhǔn)的GPIB接口板控制 集成電路測(cè)試系統(tǒng)與全自動(dòng)探針臺(tái)進(jìn)行通信，實(shí)時(shí)讀取當(dāng)前被測(cè)芯片的 時(shí)間、批號(hào)、片號(hào)和坐標(biāo)信息。
所述步驟(2)中，先將獲取的每一芯片的信息進(jìn)行從十進(jìn)制到二進(jìn)制 的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，然后將所述信息按照生產(chǎn)廠家代碼、測(cè)試芯片的年月曰、 晶圓的批號(hào)、芯片在晶圓上的X和Y坐標(biāo)的順序填入規(guī)定位置，從而生 成預(yù)定格式的集成電路序列號(hào)碼。
所述步驟(3)中，在所述集成電路芯片通過(guò)所有測(cè)試項(xiàng)目后才進(jìn)行集 成電路序列號(hào)碼下載操作。
所述步驟(3)中，將被測(cè)芯片的序列號(hào)碼下載流程轉(zhuǎn)化成集成電路測(cè) 試系統(tǒng)可執(zhí)行的序列號(hào)碼下載測(cè)試圖形，并且加載到測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試圖 形存儲(chǔ)器中；
所述集成電路測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行所述序列號(hào)碼下載測(cè)試圖形，完成序列 號(hào)碼向被測(cè)集成電路芯片內(nèi)部存儲(chǔ)器中指定區(qū)域的寫入。
所述序列號(hào)碼下載測(cè)試圖形為使得被測(cè)芯片內(nèi)部的指定存儲(chǔ)器處 于寫入狀態(tài)，芯片的指定存儲(chǔ)器進(jìn)入寫入狀態(tài)的管腳輸入1;向指定存儲(chǔ)
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器發(fā)出存儲(chǔ)序列號(hào)碼的指定地址，芯片的地址管腳輸入存儲(chǔ)序列號(hào)碼的 指定地址；向指定存儲(chǔ)器發(fā)送生成的被測(cè)芯片的序列號(hào)碼，芯片的數(shù)據(jù) 管腳輸入相應(yīng)的序列號(hào)碼數(shù)據(jù)；同時(shí)監(jiān)控芯片的輸出管腳的輸出狀態(tài)； 時(shí)序信息包括芯片的工作頻率，寫入控制管腳、地址、數(shù)據(jù)管腳的信號(hào) 變化的時(shí)間。
所述步驟(4)中，集成電路測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行測(cè)試圖形，將被測(cè)芯片的指 定存儲(chǔ)器設(shè)置為讀取狀態(tài)，輸入指定存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)序列號(hào)碼的指定位置 的起始地址，讀取指定存儲(chǔ)器區(qū)域的內(nèi)容，與正確的序列號(hào)碼內(nèi)容比較， 如果相同則芯片的序列號(hào)碼下載正確，否則錯(cuò)誤。
本發(fā)明所提供的集成電路序列號(hào)碼自動(dòng)下載方法可以在同一個(gè)操作 流程中完成芯片測(cè)試和序列號(hào)碼下載，減少了操作環(huán)節(jié)，節(jié)省了芯片的 測(cè)試時(shí)間。


下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。
圖1為一個(gè)典型的芯片序列號(hào)碼的數(shù)據(jù)格式示意圖，
圖2為集成電路測(cè)試系統(tǒng)可執(zhí)行的序列號(hào)碼下載測(cè)試圖形的示意圖。
具體實(shí)施例方式
集成電路芯片序列號(hào)碼的下載過(guò)程包括如下的步驟采集序列號(hào)碼 信息一生成序列號(hào)碼一序列號(hào)碼寫入芯片一檢查序列號(hào)碼正確性。在這 個(gè)過(guò)程中，需要解決的主要技術(shù)問(wèn)題包括如下的幾個(gè)方面如何在芯片 的測(cè)試過(guò)程中采集每一芯片的質(zhì)量信息；如何按照規(guī)定的編碼方式，將 該芯片的相關(guān)信息轉(zhuǎn)換成規(guī)定格式的序列號(hào)碼；如何將生成的序列號(hào)碼 下載到該芯片內(nèi)部存儲(chǔ)器中的指定區(qū)域；如何檢查下載的序列號(hào)碼的準(zhǔn) 確性和唯一性。下面分別對(duì)此展開(kāi)詳細(xì)的說(shuō)明。
芯片的測(cè)試需要集成電路測(cè)試系統(tǒng)和全自動(dòng)探針臺(tái)共同完成。集成 電路測(cè)試系統(tǒng)連接測(cè)試適配器通過(guò)探針與晶圓接觸，運(yùn)行電路的測(cè)試程 序，依據(jù)集成電路的測(cè)試方法和測(cè)試條件，對(duì)每一芯片的某些管腳施加 一定的電壓或電路，測(cè)試某些管腳的電壓或電流，記錄測(cè)試結(jié)果，并根 據(jù)預(yù)先設(shè)定的合格范圍，判定該芯片的性能是否符合要求。全自動(dòng)探針 臺(tái)控制晶圓平移，保證晶圓上的每一芯片都能被測(cè)試，同時(shí)記錄每片晶 圓的批號(hào)和編號(hào)以及每一芯片在晶圓上的XY坐標(biāo)。
在芯片的測(cè)試過(guò)程中，每個(gè)被測(cè)芯片的測(cè)試時(shí)間、所在晶圓的批號(hào) 和編號(hào)、在晶圓上的XY坐標(biāo)等信息是不斷更新的。如何能夠高效實(shí)時(shí)的
采集到這些信息，是主要的技術(shù)難題之一。在本發(fā)明中，通過(guò)以IEEE 488 為標(biāo)準(zhǔn)的GPIB接口板控制集成電路測(cè)試系統(tǒng)與全自動(dòng)探針臺(tái)進(jìn)行通信， 實(shí)時(shí)讀取當(dāng)前被測(cè)芯片的時(shí)間，批號(hào)，片號(hào)，坐標(biāo)等信息。這里的GPIB 接口板可以采用現(xiàn)有的多種產(chǎn)品，例如NI公司的AT — GPIB/TNT ISA/EISA, Agilent的82350A等。
以IEEE 488為標(biāo)準(zhǔn)的GPIB(General Purpose Interface Bus)通用 標(biāo)準(zhǔn)總線接口板具有8位數(shù)字并行通訊接口，傳送速率1M字節(jié)/s以上， 采用3條握手信號(hào)線。IEEE 488是世界上通用的電子儀器儀表接口標(biāo)準(zhǔn)， 在各行各業(yè)電子儀器設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。GPIB接口板有發(fā)送者 (Talkers),接收者(Listeners)和控制者(Controllers)。發(fā)送者發(fā)出數(shù) 據(jù)信息，接收者接收數(shù)字信息，控制者通常是計(jì)算機(jī)，負(fù)責(zé)管理總線上 的數(shù)據(jù)流并向設(shè)備發(fā)送GPIB命令。
本方法中，將通過(guò)GPIB接口從全自動(dòng)探針臺(tái)獲取的每一芯片的相關(guān) 信息按照序列號(hào)碼的生成算法生成具有特定格式的芯片系列號(hào)。這里的 序列號(hào)碼生成算法是先將獲取的每一芯片的相關(guān)信息進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換， 通常通過(guò)GPIB接口輸入的數(shù)據(jù)為10進(jìn)制數(shù)，需要轉(zhuǎn)換成2進(jìn)制數(shù)，然 后將相關(guān)信息按照序列號(hào)碼的格式填入規(guī)定位置，從而生成具有特定格 式的芯片系列號(hào)。
例如某系列芯片的序列號(hào)碼為48位二進(jìn)制數(shù)，數(shù)據(jù)格式如圖1所示。 l表示芯片的生產(chǎn)廠家代碼(3位)，2、 3、 4分別表示測(cè)試芯片的年(7 位，只記錄后兩位公元年歷)月(4位)日(5位)，5、 6分別表示晶圓 的批號(hào)(13位)和編號(hào)(4位)，7、 8表示芯片在晶圓上的X (6位)和 Y (6位)坐標(biāo)。例如某芯片的生產(chǎn)廠家代號(hào)為"001"，在2003年12月 30日經(jīng)過(guò)測(cè)試，晶圓是第123批的第15枚，坐標(biāo)為(23， 21)，則該芯 片的序列號(hào)碼為"001 0000011 1100 11110 0000001111011 1111 010111 010101"。
集成電路測(cè)試系統(tǒng)在每個(gè)芯片的全部測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試完成后，將生成 的芯片序列號(hào)碼實(shí)時(shí)寫入到被測(cè)芯片中指定的存儲(chǔ)器區(qū)域內(nèi)。這里的指 定存儲(chǔ)器區(qū)域是這樣的被測(cè)芯片內(nèi)部可能具有RAM、 R0M、 EEPR0M等多 個(gè)存儲(chǔ)器模塊，如果芯片的序列號(hào)碼要求存儲(chǔ)在EEPROM中，則EEPROM
為指定存儲(chǔ)器區(qū)域。如果某芯片存儲(chǔ)序列號(hào)碼的指定存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)空間 為lk，則指定存儲(chǔ)器包括lk個(gè)存儲(chǔ)單元，可存儲(chǔ)lk個(gè)二進(jìn)制數(shù)，全部
存儲(chǔ)空間的地址為[83FF: 8000] (16進(jìn)制)。如果要求存儲(chǔ)48位二進(jìn)制 序列號(hào)碼的存儲(chǔ)地址為[803F: 8010] (16進(jìn)制)，則指定存儲(chǔ)器的[803F: 8010]為指定存儲(chǔ)器區(qū)域。
在序列號(hào)碼下載過(guò)程中，本發(fā)明專門增加了測(cè)試項(xiàng)識(shí)別功能。測(cè)試 項(xiàng)識(shí)別功能要求必須在芯片通過(guò)所有測(cè)試項(xiàng)目后才進(jìn)行芯片序列號(hào)碼下 載操作，這樣有效地提高了芯片序列號(hào)碼的下載效率。在芯片的測(cè)試過(guò) 程中，如果芯片的某項(xiàng)功能測(cè)試不合格，那么該芯片的測(cè)試中止，后續(xù) 的測(cè)試項(xiàng)目不再進(jìn)行，該芯片被判定為不合格。因?yàn)椴缓细竦男酒辉?進(jìn)行后續(xù)的生產(chǎn)流程，不會(huì)進(jìn)入使用階段，所以不合格的芯片不需要下 載序列號(hào)碼。測(cè)試系統(tǒng)在本方法控制的下只是對(duì)所有項(xiàng)目測(cè)試合格的芯 片進(jìn)行序列號(hào)碼下載操作，這樣就可以節(jié)約時(shí)間，提高下載效率。
在本方法中，將被測(cè)芯片的序列號(hào)碼下載流程轉(zhuǎn)化成集成電路測(cè)試
系統(tǒng)可執(zhí)行的序列號(hào)碼下載測(cè)試圖形，并且加載到測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試圖形 存儲(chǔ)器中。測(cè)試圖形由測(cè)試向量和時(shí)序信息共同組成。測(cè)試向量是指被 測(cè)芯片每個(gè)周期的輸入輸出信號(hào)狀態(tài)，由字符來(lái)表示，通常1/0用來(lái)表 示輸入狀態(tài)，L/H/用來(lái)表示輸出狀態(tài)。時(shí)序信息包括器件的工作頻率， 以及在一個(gè)周期內(nèi)輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)變化的時(shí)間和對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行采樣比較 的時(shí)間等。圖2顯示了測(cè)試圖形的一個(gè)具體實(shí)例，其中輸入信號(hào)A的測(cè) 試向量為[IO]，輸出信號(hào)B的測(cè)試向量為[HL]; t,i。d為信號(hào)周期，tdriV6 為一個(gè)周期內(nèi)輸入信號(hào)變化的時(shí)間，t。，^為一個(gè)周期內(nèi)對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行 采樣的時(shí)間。
由于每個(gè)芯片需要下載的序列號(hào)碼各不相同，所以每個(gè)芯片需要執(zhí) 行的測(cè)試圖形也各不相同。
下載序列號(hào)碼的測(cè)試圖形是使得被測(cè)芯片內(nèi)部的指定存儲(chǔ)器處于 寫入狀態(tài)，芯片的指定存儲(chǔ)器進(jìn)入寫入狀態(tài)的管腳輸入1 (高電平有效)； 向指定存儲(chǔ)器發(fā)出存儲(chǔ)序列號(hào)碼的指定地址，芯片的地址管腳輸入存儲(chǔ) 序列號(hào)碼的指定地址；向指定存儲(chǔ)器發(fā)送生成的被測(cè)芯片的序列號(hào)碼， 芯片的數(shù)據(jù)管腳輸入相應(yīng)的序列號(hào)碼數(shù)據(jù)；同時(shí)監(jiān)控芯片的輸出管腳的 輸出狀態(tài)；時(shí)序信息包括芯片的工作頻率，寫入控制管腳、地址、數(shù)據(jù) 管腳的信號(hào)變化的時(shí)間等，具體的時(shí)間值根據(jù)芯片的性能在軟件中設(shè)定。
被測(cè)芯片的序列號(hào)碼下載基本流程是發(fā)出控制信號(hào)使得被測(cè)芯片 內(nèi)部的指定存儲(chǔ)器處于寫入狀態(tài)，向指定存儲(chǔ)器發(fā)出存儲(chǔ)序列號(hào)碼的指 定位置的起始地址，向指定存儲(chǔ)器發(fā)送生成的被測(cè)芯片的序列號(hào)碼。測(cè) 試系統(tǒng)可執(zhí)行的測(cè)試圖形由被測(cè)芯片各個(gè)管腳的信號(hào)狀態(tài)和信號(hào)變化的 時(shí)間信息共同組成。測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行序列號(hào)碼下載的測(cè)試圖形，完成序列 號(hào)碼向被測(cè)芯片中的指定存儲(chǔ)器區(qū)域的寫入。
為了保證寫入被測(cè)芯片的序列號(hào)碼的正確性與唯一性，在序列號(hào)碼 下載結(jié)束后自動(dòng)檢查芯片內(nèi)存儲(chǔ)的序列號(hào)碼。集成電路測(cè)試系統(tǒng)讀取已 寫入到芯片中的實(shí)際序列號(hào)碼，并將其與原始序列號(hào)碼進(jìn)行比對(duì)，來(lái)判 斷芯片中寫入的序列號(hào)碼是否正確。具體的實(shí)現(xiàn)過(guò)程是集成電路測(cè)試系 統(tǒng)運(yùn)行相應(yīng)的測(cè)試圖形，將被測(cè)芯片的指定存儲(chǔ)器設(shè)置為讀取狀態(tài)，輸 入指定存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)序列號(hào)碼的指定位置的起始地址，讀取指定存儲(chǔ)器 區(qū)域的內(nèi)容，與正確的序列號(hào)碼內(nèi)容比較，如果相同則芯片的序列號(hào)碼 下載正確，否則錯(cuò)誤。
上面雖然通過(guò)實(shí)施例描繪了本發(fā)明，但本領(lǐng)域普通技術(shù)人員知道， 本發(fā)明有許多變形和變化而不脫離本發(fā)明的精神，所附的權(quán)利要求將包 括這些變形和變化。
權(quán)利要求
1.一種自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法，其特征在于包括如下的步驟(1)在集成電路芯片的測(cè)試過(guò)程中采集每個(gè)芯片與集成電路序列號(hào)碼有關(guān)的信息；(2)按照預(yù)定的編碼方式，將所述與集成電路序列號(hào)碼有關(guān)的信息轉(zhuǎn)換成預(yù)定格式的集成電路序列號(hào)碼(3)將所述集成電路序列號(hào)碼下載到集成電路芯片內(nèi)部存儲(chǔ)器中的指定區(qū)域；(4)檢查下載的所述集成電路序列號(hào)碼的準(zhǔn)確性和唯一性。
2. 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法，其特征 在于-所述步驟(l)中，通過(guò)基于IEEE 488標(biāo)準(zhǔn)的GPIB接口板控制集成電 路測(cè)試系統(tǒng)與全自動(dòng)探針臺(tái)進(jìn)行通信，實(shí)時(shí)讀取當(dāng)前被測(cè)芯片的時(shí)間、 批號(hào)、片號(hào)和坐標(biāo)信息。
3. 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法，其特征 在于所述步驟(2)中，先將獲取的每一芯片的信息進(jìn)行從十進(jìn)制到二進(jìn)制 的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，然后將所述信息按照生產(chǎn)廠家代碼、測(cè)試芯片的年月日、 晶圓的批號(hào)、芯片在晶圓上的X和Y坐標(biāo)的順序填入規(guī)定位置，從而生 成預(yù)定格式的集成電路序列號(hào)碼。
4. 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法，其特征 在于所述步驟(3)中，在所述集成電路芯片通過(guò)所有測(cè)試項(xiàng)目后才進(jìn)行集 成電路序列號(hào)碼下載操作。
5. 如權(quán)利要求1所述的自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法，其特征 在于所述步驟(3)中，將被測(cè)芯片的序列號(hào)碼下載流程轉(zhuǎn)化成集成電路測(cè)試系統(tǒng)可執(zhí)行的序列號(hào)碼下載測(cè)試圖形，并且加載到測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試圖形存儲(chǔ)器中；所述集成電路測(cè)試系統(tǒng)執(zhí)行所述序列號(hào)碼下載測(cè)試圖形，完成序列 號(hào)碼向被測(cè)集成電路芯片內(nèi)部存儲(chǔ)器中指定區(qū)域的寫入。
6. 如權(quán)利要求5所述的自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法，其特征在于-所述序列號(hào)碼下載測(cè)試圖形為使得被測(cè)芯片內(nèi)部的指定存儲(chǔ)器處 于寫入狀態(tài)，芯片的指定存儲(chǔ)器進(jìn)入寫入狀態(tài)的管腳輸入1;向指定存儲(chǔ)器發(fā)出存儲(chǔ)序列號(hào)碼的指定地址，芯片的地址管腳輸入存儲(chǔ)序列號(hào)碼的 指定地址；向指定存儲(chǔ)器發(fā)送生成的被測(cè)芯片的序列號(hào)碼，芯片的數(shù)據(jù) 管腳輸入相應(yīng)的序列號(hào)碼數(shù)據(jù)；同時(shí)監(jiān)控芯z片的輸出管腳的輸出狀態(tài)； 時(shí)序信息包括芯片的工作頻率，寫入控制管腳、地址、數(shù)據(jù)管腳的信號(hào) 變化的時(shí)間。
7. 如權(quán)利要求l所述的自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法，其特征在于.-所述步驟(4)中，集成電路測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行測(cè)試圖形，將被測(cè)芯片的指 定存儲(chǔ)器設(shè)置為讀取狀態(tài)，輸入指定存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)序列號(hào)碼的指定位置 的起始地址，讀取指定存儲(chǔ)器區(qū)域的內(nèi)容，與正確的序列號(hào)碼內(nèi)容比較， 如果相同則芯片的序列號(hào)碼下載正確，否則錯(cuò)誤。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種自動(dòng)下載集成電路序列號(hào)碼的方法，包括如下的步驟(1)在集成電路芯片的測(cè)試過(guò)程中采集每個(gè)芯片與集成電路序列號(hào)碼有關(guān)的信息；(2)按照預(yù)定的編碼方式，將與集成電路序列號(hào)碼有關(guān)的信息轉(zhuǎn)換成預(yù)定格式的集成電路序列號(hào)碼；(3)將集成電路序列號(hào)碼下載到集成電路芯片內(nèi)部存儲(chǔ)器中的指定區(qū)域；(4)檢查下載的集成電路序列號(hào)碼的準(zhǔn)確性和唯一性。利用本方法，可以在同一個(gè)操作流程中完成芯片測(cè)試和序列號(hào)碼下載，減少了操作環(huán)節(jié)，節(jié)省了芯片的測(cè)試時(shí)間。
文檔編號(hào)H01L21/82GK101364529SQ20071017558
公開(kāi)日2009年2月11日 申請(qǐng)日期2007年9月30日 優(yōu)先權(quán)日2007年9月30日
發(fā)明者煒 劉, 吉國(guó)凡, 博 孫, 楊 孫, 琳 張, 爾 李, 炯 柳, 慧 王, 石志剛, 鋼 肖, 偉 趙, 趙智昊, 蘭 金 申請(qǐng)人:北京華大泰思特半導(dǎo)體檢測(cè)技術(shù)有限公司