集成電路及用于測(cè)試集成電路的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請(qǐng)案涉及集成電路。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著集成電路(IC)變得更復(fù)雜，IC上的組件的數(shù)目增加。組件的數(shù)目的此增加要求生產(chǎn)后測(cè)試需為更廣泛的以測(cè)試IC上的更大數(shù)目個(gè)組件。生產(chǎn)后測(cè)試的部分用于測(cè)試IC中的門及其它組件。一種測(cè)試方法包含測(cè)試組件的第一測(cè)試及測(cè)試IC上的用戶特定項(xiàng)的第二測(cè)試。用戶特定項(xiàng)可為IC上的編程或邏輯。
[0003]制作1C，其中其區(qū)域的一部分專用于生產(chǎn)后測(cè)試。IC的此部分通常稱為“經(jīng)設(shè)計(jì)用于測(cè)試”邏輯或DFT邏輯。DFT邏輯在生產(chǎn)之后經(jīng)起始且執(zhí)行指令以對(duì)IC中的組件執(zhí)行測(cè)試且輸出測(cè)試的結(jié)果。DFT邏輯可用掉IC的區(qū)域的10%到20%且僅用于生產(chǎn)后測(cè)試目的。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本文中揭示集成電路及用于測(cè)試集成電路的方法。集成電路的實(shí)施例包含微處理器及可由所述微處理器存取的存儲(chǔ)器。所述集成電路還包含可重新配置邏輯，其中用于測(cè)試所述微處理器及存儲(chǔ)器中的至少一者的第一測(cè)試程序可加載到所述可重新配置邏輯上。至少一個(gè)其它程序可在所述第一測(cè)試程序運(yùn)行之后加載到所述可重新配置邏輯中。
【附圖說(shuō)明】
[0005]圖1是集成電路的實(shí)施例的框圖。
[0006]圖2是描述在圖1的IC上進(jìn)行的測(cè)試過(guò)程的實(shí)施例的流程圖。
[0007]圖3是描述在圖2的IC上進(jìn)行的測(cè)試過(guò)程的實(shí)施例的流程圖，其中將第二測(cè)試程序加載到可重新配置邏輯中。
[0008]圖4是描述用于測(cè)試IC的實(shí)施例的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]本文中揭示集成電路(IC)及測(cè)試IC的方法。IC具有在生產(chǎn)之后對(duì)IC中的組件執(zhí)行測(cè)試的邏輯。此邏輯有時(shí)稱為“經(jīng)設(shè)計(jì)用于測(cè)試”邏輯或DFT邏輯。常規(guī)IC中的DFT邏輯為用掉IC的區(qū)域的一部分的硬接線邏輯。硬接線邏輯為制作到IC中且在制作之后不可被改變的邏輯。本文中所揭示的IC使用可重新配置邏輯作為DFT邏輯?？芍匦屡渲眠壿嬘袝r(shí)稱為可重新配置計(jì)算、自適應(yīng)邏輯及自適應(yīng)計(jì)算?？芍匦屡渲眠壿嫲蓜?dòng)態(tài)地重新接線的邏輯?？芍匦屡渲眠壿嫷囊恍?shí)施例包含配備有可經(jīng)編程以使用軟件工具執(zhí)行硬件功能的存儲(chǔ)器單元陣列的邏輯電路。在一些實(shí)施例中，所述可重新配置邏輯能夠基于邏輯配置而運(yùn)行程序。在一些實(shí)施例中，所述可重新配置邏輯在完成所述測(cè)試之后用于其它目的。所述其它目的包含調(diào)試1C、運(yùn)行定制代碼、修復(fù)存儲(chǔ)器及將新功能性添加到1C。
[0010]常規(guī)IC設(shè)計(jì)者不愿在IC上使用可重新配置邏輯，這是因?yàn)榭芍匦屡渲眠壿嫴皇欠浅Ｃ芗那沂褂肐C的大量區(qū)域。因此，含有相對(duì)小數(shù)目個(gè)門及可重新配置邏輯所使用的其它組件占用IC的相對(duì)大量的區(qū)域。如下文所描述，本文中所描述的IC上的可重新配置邏輯用于許多目的，因此可重新配置邏輯所使用的區(qū)域是極具動(dòng)態(tài)的且服務(wù)于IC的許多目的。
[0011]圖1中展示IC 100的實(shí)施例的框圖。IC 100包含微處理器102、存儲(chǔ)器104及可重新配置邏輯106。IC 100不包含硬接線的DFT邏輯，這是因?yàn)镈FT邏輯經(jīng)編程到可重新配置邏輯106中。在一些實(shí)施例中，DFT邏輯為能夠加載到可重新配置邏輯106中的程序。如上文所描述，常規(guī)IC通常使其區(qū)域的一部分專用于硬接線的DFT邏輯。微處理器102為常規(guī)微處理器。同樣地，存儲(chǔ)器104可為常規(guī)IC所使用的常規(guī)存儲(chǔ)器。微處理器102、存儲(chǔ)器104及可重新配置邏輯106全部都可借助常規(guī)數(shù)據(jù)發(fā)射技術(shù)及裝置(未展示)彼此通信。
[0012]可重新配置邏輯106有時(shí)稱為可重新配置計(jì)算?？芍匦屡渲眠壿?06的密度不和常規(guī)邏輯電路或?qū)Ｓ眉呻娐芬粯痈?。然而，可重新配置邏?06能夠通過(guò)“加載”新邏輯電路來(lái)改變。加載新電路有時(shí)稱為將新電路加載到可重新配置邏輯106的構(gòu)架上。
[0013]加載到可重新配置邏輯106中的邏輯電路能夠運(yùn)行代碼。在一些實(shí)施例中，代碼運(yùn)行對(duì)存儲(chǔ)器104及/或處理器102的測(cè)試。所述測(cè)試在生產(chǎn)IC 100之后運(yùn)行且用作初始測(cè)試。在常規(guī)IC中，用于這些測(cè)試的代碼存儲(chǔ)于常規(guī)IC的DFT邏輯部分中。關(guān)于常規(guī)DFT邏輯的問(wèn)題之一為:其僅用于在生產(chǎn)之后測(cè)試常規(guī)1C。決不再次使用常規(guī)IC的用于DFT邏輯的區(qū)域。因此，常規(guī)IC包含服務(wù)于一次性目的的經(jīng)制作區(qū)域。
[0014]除許多其它功能之外，圖1的IC 100上的可重新配置邏輯106還執(zhí)行常規(guī)DFT邏輯的功能。舉例來(lái)說(shuō)，在生產(chǎn)IC 100之后，將測(cè)試代碼加載到可重新配置邏輯106中。更具體地說(shuō)，可重新配置邏輯106經(jīng)配置以運(yùn)行有時(shí)稱為第一測(cè)試代碼的測(cè)試代碼。在一些實(shí)施例中，用于將可重新配置邏輯配置為運(yùn)行第一測(cè)試的代碼從外部源輸入到IC100。在其它實(shí)施例中，用以配置可重新配置邏輯106的代碼存儲(chǔ)于IC 100中。舉例來(lái)說(shuō)，所述代碼可在制作期間經(jīng)輸入或制作到IC 100或可重新配置邏輯106中。在一些實(shí)施例中，用于配置可重新配置邏輯106的代碼存儲(chǔ)于位于IC 100上或可連接到IC 100的只讀存儲(chǔ)器(ROM)中。
[0015]在執(zhí)行第一測(cè)試之后或執(zhí)行第一測(cè)試時(shí)，輸出來(lái)自第一測(cè)試的數(shù)據(jù)或以其它方式使其可用于分析。在一些實(shí)施例中，由IC 100中的組件或由加載到可重新配置邏輯106上的運(yùn)行第二測(cè)試的不同代碼分析測(cè)試結(jié)果。第一測(cè)試可指示IC 100上的一些組件不正確地起作用?？山柚诳芍匦屡渲眠壿?06上運(yùn)行的第二測(cè)試或調(diào)試程序進(jìn)一步分析這些組件。
[0016]用以測(cè)試IC 100的步驟的實(shí)例在圖2的流程圖200中經(jīng)展示且如下文所描述。過(guò)程以將第一測(cè)試程序加載到可重新配置邏輯106中(如框202中所展示)開始。第一測(cè)試程序是將可重新配置邏輯106配置為運(yùn)行第一測(cè)試程序的代碼。如上文所描述，可從外部源加載第一測(cè)試程序或第一測(cè)試程序可將存儲(chǔ)于IC上。第一測(cè)試程序還可最初在制作IC100時(shí)制作到可重新配置邏輯106中。
[0017]在步驟204中，在可重新配置邏輯106上運(yùn)行第一測(cè)試程序。外部指令或來(lái)自微處理器102的指令可致使開始執(zhí)行第一測(cè)試程序。第一測(cè)試程序可測(cè)試IC 100上的多個(gè)不同功能及組件。舉例來(lái)說(shuō)，第一測(cè)試程序可測(cè)試組件(例如微處理器102及存儲(chǔ)器104)的速度。第一測(cè)試程序還可測(cè)試模擬值，例如放大器及類似物的增益。第一測(cè)試程序還可測(cè)試存儲(chǔ)器104以確定哪些位不正確地運(yùn)作及存儲(chǔ)器104的不正確地運(yùn)作的其它部分。在一些實(shí)施例中，第一測(cè)試的結(jié)果存儲(chǔ)于IC 100上，例如存儲(chǔ)于存儲(chǔ)器102中。在其它實(shí)施例中，將第一測(cè)試的結(jié)果從IC 100發(fā)送到外部裝置(未展示)，例如測(cè)試設(shè)備。
[0018]在框206處，分析來(lái)自第一測(cè)試程序的結(jié)果。可在不同位置處且由不同裝置完成結(jié)果的分析。在一些實(shí)施例中，外部測(cè)試裝置接收并分析數(shù)據(jù)。在其它實(shí)施例中，第一測(cè)試程序分析結(jié)果。在這些實(shí)施例中，通常從IC 100輸出分析，使得可對(duì)IC 100采取適當(dāng)行動(dòng)。舉例來(lái)說(shuō)，IC 100可被確定為經(jīng)拒斥裝置且可被拋棄。在下文描述的其它實(shí)施例中，可調(diào)試及修復(fù)IC 100。
[0019]在許多實(shí)施例中，不再需要可重新配置邏輯106用于測(cè)試目的。因此，在一些實(shí)施例中，將其它程序加載到可重新配置邏輯106中使得利用IC 100的用于可重新配置邏輯106的區(qū)域。
[0020]上文所描述的實(shí)施例為使用可重新配置邏輯106的IC 100的一些基本實(shí)施例?，F(xiàn)在將描述其它更復(fù)雜實(shí)施例。參考圖3的流程圖250，圖3展示其中將第二測(cè)試程序