動態(tài)存儲器測試裝置及其測試方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種動態(tài)存儲器的測試裝置及測試方法。動態(tài)存儲器測試裝置包括系統(tǒng)整合式芯片，用以耦接至動態(tài)存儲器。系統(tǒng)整合式芯片包括控制單元以及內嵌式存儲裝置?？刂茊卧罱又羷討B(tài)存儲器。內嵌式存儲裝置儲存存儲器測試程序碼，其中，控制單元讀取存儲器測試程序碼并借助執(zhí)行存儲器測試程序碼以對動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。
【專利說明】
動態(tài)存儲器測試裝置及其測試方法
技術領域
[0001]本發(fā)明涉及一種動態(tài)存儲器測試裝置及測試方法，且特別是涉及一種利用系統(tǒng)整合式芯片進行外部動態(tài)存儲器測試的測試裝置及測試方法。
【背景技術】
[0002]請參見圖1，圖1繪示公知技術的動態(tài)存儲器測試裝置的方塊。在圖1中，控制器110耦接至動態(tài)存儲器120，并針對動態(tài)存儲器120執(zhí)行測試操作?？刂破?10是系統(tǒng)整合式芯片。在此架構下，當控制器110針對外部的動態(tài)存儲器進行測試時，控制器110會由動態(tài)存儲器120來讀取測試程序碼121，并通過執(zhí)行測試程序碼121來對動態(tài)存儲器120進行測試操作。
[0003]由上述的說明可以得知，圖1繪示的公知技術的動態(tài)存儲器測試裝置中，由于測試程序碼121被儲存在動態(tài)存儲裝置120，因此，動態(tài)存儲器120中用來儲存測試程序碼121的存儲區(qū)塊的內容不可以被破壞，也因此，要針對儲存測試程序碼121的存儲區(qū)塊進行測試是不可能的。也就是說，這樣的架構并無法針對動態(tài)存儲器120進行完整的測試操作。
[0004]再者，在動態(tài)存儲裝置120儲存測試程序碼121的存儲區(qū)塊無法被測試的前提下，一旦儲存測試程序碼121的存儲區(qū)塊有損壞的現(xiàn)象發(fā)生時，所儲存的測試程序碼121也必然是不正確的數(shù)據(jù)。當控制器110執(zhí)行錯誤的測試程序碼121時，將無法有效執(zhí)行測試操作，嚴重的還可能會造成系統(tǒng)死機或是重新開機的可能。

【發(fā)明內容】

[0005]本發(fā)明提供一種動態(tài)存儲器測試裝置及測試方法，可提升動態(tài)存儲器的測試效會K。
[0006]本發(fā)明的動態(tài)存儲器測試裝置包括系統(tǒng)整合式芯片，用以耦接至動態(tài)存儲器。系統(tǒng)整合式芯片包括控制單元以及內嵌式存儲裝置?？刂茊卧罱又羷討B(tài)存儲器。內嵌式存儲裝置儲存存儲器測試程序碼，其中，控制單元讀取存儲器測試程序碼并借助執(zhí)行存儲器測試程序碼以對動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。
[0007]在本發(fā)明的一實施例中，動態(tài)存儲器測試裝置還包括連接接口。連接接口耦接至內嵌式存儲裝置，其中，內嵌式存儲裝置借助連接接口耦接外部儲存單元，并由外部儲存單元讀取存儲器測試程序碼。
[0008]在本發(fā)明的一實施例中，上述的連接接口包括內部系統(tǒng)總線接口及通用串行總線接口的至少其中之一。
[0009]在本發(fā)明的一實施例中，上述的控制單元包括中央處理單元以及動態(tài)存儲器控制器。動態(tài)存儲器控制器耦接中央處理單元，其中，中央處理單元執(zhí)行存儲器測試程序碼以通過動態(tài)存儲器控制器對動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。
[0010]在本發(fā)明的一實施例中，上述的內嵌式存儲裝置包括靜態(tài)存儲器以及靜態(tài)存儲器控制器。靜態(tài)存儲器用以儲存存儲器測試程序碼。靜態(tài)存儲器控制器耦接靜態(tài)存儲器，靜態(tài)存儲器控制器接收存儲器測試程序碼，并將存儲器測試程序碼儲存于靜態(tài)存儲器中，并由靜態(tài)存儲器讀取存儲器測試程序碼以提供存儲器測試程序碼至中央處理單元。
[0011]在本發(fā)明的一實施例中，上述的靜態(tài)存儲器還包括儲存動態(tài)存儲器的初始化信息以及動態(tài)存儲器的測試模式啟動信息。
[0012]本發(fā)明提出的動態(tài)存儲器的測試方法，包括:提供系統(tǒng)整合式芯片，并使存儲器測試程序碼儲存于系統(tǒng)整合式芯片的內嵌式存儲裝置中；由內嵌式存儲裝置讀取存儲器測試程序；以及，執(zhí)行存儲器測試程序以對動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。
[0013]基于上述，本發(fā)明將測試程序碼放置在受測的動態(tài)存儲器的外部，如此一來，動態(tài)存儲器可以完整的被測試，且系統(tǒng)整合式芯片所執(zhí)行的測試程序碼也不會有可能發(fā)生錯誤的狀態(tài)，使動態(tài)存儲器的測試操作，可以無風險地有效被執(zhí)行。
[0014]為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文列舉實施例，并配合附圖做詳細說明如下。
【附圖說明】
[0015]圖1繪示的公知技術的動態(tài)存儲器測試裝置。
[0016]圖2繪示本發(fā)明一實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的示意圖。
[0017]圖3繪示本發(fā)明另一實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的示意圖。
[0018]圖4繪示本發(fā)明實施例的系統(tǒng)式整合芯片400的一實施方式。
[0019]圖5繪示本發(fā)明實施例中靜態(tài)存儲器的儲存內容的示意圖。
[0020]圖6繪示本發(fā)明實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的邏輯地址配置的示意圖。
[0021]圖7繪示本發(fā)明一實施例的動態(tài)存儲器測試的流程圖。
[0022]附圖符號說明
[0023]110:控制器
[0024]120:動態(tài)存儲器
[0025]121:測試程序碼
[0026]200:動態(tài)存儲器測試裝置
[0027]300:動態(tài)存儲器測試裝置
[0028]210:系統(tǒng)整合式芯片
[0029]310:系統(tǒng)整合式芯片
[0030]400:系統(tǒng)整合式芯片
[0031]220、320:動態(tài)存儲器
[0032]211、311、410:控制單元
[0033]TCODE:存儲器測試程序碼
[0034]D3:存儲器測試程序碼
[0035]212:內嵌式存儲裝置
[0036]312:內嵌式存儲裝置
[0037]313:連接接口
[0038]330:外部儲存單元
[0039]411:中央處理單元
[0040]412:動態(tài)存儲器控制器
[0041]420:內嵌式存儲裝置
[0042]422:靜態(tài)存儲器
[0043]Dl:初始化信息
[0044]D2:測試模式啟動信息
[0045]S710?S730:存儲器測試步驟
【具體實施方式】
[0046]請參照圖2，圖2繪示本發(fā)明一實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的示意圖。動態(tài)存儲器測試裝置200包括系統(tǒng)整合式芯片210。其中，系統(tǒng)整合式芯片210耦接動態(tài)存儲器220并可對動態(tài)存儲器220進行測試操作。動態(tài)存儲器220可以是動態(tài)隨機存儲器(DynamicRandom Access Memory, DRAM)。
[0047]系統(tǒng)整合式芯片210包括控制單元211以及內嵌式存儲裝置212。控制單元211耦接至動態(tài)存儲器220，內嵌式存儲裝置212則耦接至控制單元211。其中，關于動態(tài)存儲器220的測試方面，內嵌式存儲裝置212可儲存存儲器測試程序碼TC0DE，而當動態(tài)存儲器220的測試操作要進行時，控制單元211可由內嵌式存儲裝置212讀取其所儲存的存儲器測試程序碼TC0DE，并通過執(zhí)行存儲器測試程序碼TCODE來進行對動態(tài)存儲器220的測試操作。
[0048]在本實施例中，存儲器測試程序碼TCODE可以由系統(tǒng)整合式芯片210外部的元件來提供，其中，內嵌式存儲裝置212可以由外部元件來接收存儲器測試程序碼TC0DE，并將其儲存在內嵌式存儲裝置212中。當控制單元211要執(zhí)行動態(tài)存儲器220的測試操作時，內嵌式存儲裝置212則可提供其所儲存的存儲器測試程序碼TCODE至控制單元211以供控制單元211執(zhí)行相對應的動態(tài)存儲器220的測試操作。
[0049]值得注意的是，本發(fā)明實施例存儲器測試程序碼TCODE并非由受測的動態(tài)存儲器220所提供。也就是說，存儲器測試程序碼TCODE并不會占去動態(tài)存儲器220的部分存儲區(qū)域。當控制單元211對動態(tài)存儲器220進行測試操作時，可以完整地對動態(tài)存儲器220的所有的存儲區(qū)域進行測試。另外，本發(fā)明實施例存儲器測試程序碼TCODE可以由可靠的(測試過的)外部元件來提供，因此，存儲器測試程序碼TCODE可以確定是正確無誤的測試程序碼?？刂茊卧?11執(zhí)行存儲器測試程序碼TCODE可正確地執(zhí)行動態(tài)存儲器220的測試操作，系統(tǒng)整合式芯片210不至于會有發(fā)生死機會重新開機的可能。
[0050]請參照圖3，圖3繪示本發(fā)明另一實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的示意圖。動態(tài)存儲器測試裝置300包括系統(tǒng)整合式芯片310。其中，系統(tǒng)整合式芯片310耦接動態(tài)存儲器320并可對動態(tài)存儲器320進行測試操作。
[0051]系統(tǒng)整合式芯片310包括控制單元311、內嵌式存儲裝置312以及連接接口 313。與前述實施例不相同的，本實施例的內嵌式存儲裝置312還耦接至連接接口 313，且通過連接接口 313連接至外部儲存單元330。外部儲存單元330是不同于動態(tài)存儲器320的另一個儲存元件。外部儲存單元330中預先存有存儲器測試程序碼，并通過連接接口 313將存儲器測試程序碼提供給內嵌式存儲裝置312。
[0052]附帶一提的，連接接口 313可以是內部系統(tǒng)總線(Internal System Bus)或通用串行總線(Universal Serial Bus, USB)接口，而外部儲存單元330可以例如是快閃存儲器。此外，在本實施例中，系統(tǒng)整合式芯片310與動態(tài)存儲器320可以與外部儲存單元330架構在相同或不同的電路板上。
[0053]連接接口 313可以是系統(tǒng)式整合芯片310的內部系統(tǒng)總線接口形式，外部儲存單元330 (可以是NAND或是NOR型式的快閃存儲器所建構)中的存儲器測試程序碼直接讀取并存放于系統(tǒng)式整合芯片310的內嵌式存儲裝置312，并提供控制單元311執(zhí)行。在這樣的架構下，在本實施例的系統(tǒng)整合式芯片310、動態(tài)存儲器320以及外部儲存單元330都可以架構在相同的電路板上。
[0054]另外，連接接口 313也可以是耦接至外部USB接口形式，通過USB OTG(On-The-Go)接口將存儲器測試程序碼傳輸至系統(tǒng)式整合芯片310的內嵌式存儲裝置312中，并提供控制器311來執(zhí)行。值得一提的是，在這樣的架構下，外部的USB形式的連接接口 313可連接至不設置在同一電路板上的外部儲存單元330。
[0055]當然，連接接口 313也可以同時包括內部系統(tǒng)總線接口以及外部USB接口，使用者可以依據(jù)需求來選擇所需的接口進行連接。
[0056]以下請參照圖4，圖4繪示本發(fā)明實施例的系統(tǒng)式整合芯片400的一實施方式。系統(tǒng)式整合芯片400包括控制單元410以及內嵌式存儲裝置420?？刂茊卧?10包括中央處理單元411以及動態(tài)存儲器控制器412。內嵌式存儲裝置420則包括靜態(tài)存儲器控制器421以及靜態(tài)存儲器422。
[0057]靜態(tài)存儲器控制器421可由外部讀取存儲器測試程序碼TC0DE，并將存儲器測試程序碼TCODE儲存在靜態(tài)存儲器422中。當中央處理單元411要進行外部的動態(tài)存儲器進行測試時，中央處理單元411可通過靜態(tài)存儲器控制器421由靜態(tài)存儲器422中讀出存儲器測試程序碼TC0DE，中央處理單元411并可借助執(zhí)行存儲器測試程序碼TCODE來對外部的動態(tài)存儲器進行測試。
[0058]另外，當動態(tài)存儲器測試時，動態(tài)存儲器控制器412可依據(jù)存儲器測試程序碼TCODE的執(zhí)行操作來對受測的動態(tài)存儲器進行測試操作，例如對受測的動態(tài)存儲器執(zhí)行地址設定、數(shù)據(jù)寫入以及數(shù)據(jù)讀出等相關操作。
[0059]值得注意的是，本實施例中對應存儲器測試程序碼TCODE的存儲器測試操作可以是本領域技術人員所熟知的動態(tài)存儲器測試操作，沒有特定的限制。
[0060]此外，請參照圖5，圖5繪示本發(fā)明實施例中靜態(tài)存儲器的儲存內容的示意圖。其中，靜態(tài)存儲器422除可儲存存儲器測試程序D3外，尚可儲存關于動態(tài)存儲器的初始化信息Dl以及關于動態(tài)存儲器的測試模式啟動信息D2等。
[0061]由圖5可以得知，當中央處理單元411要進行動態(tài)存儲器的測試操作時，可以先由靜態(tài)存儲器422中讀取初始化信息D1，借此，中央處理單元411可先對受測的動態(tài)存儲器進行初始化的操作。接著，中央處理單元411再讀取靜態(tài)存儲器422中的動態(tài)存儲器的測試模式啟動信息D2，并借助測試模式啟動信息D2來啟動受測的動態(tài)存儲器的測試操作。最后，中央處理單元411讀取存儲器測試程序D3，并借此對受測的動態(tài)存儲器進行測試操作。
[0062]值得一提的，本發(fā)明實施例中，除可以對受測的動態(tài)存儲器進行數(shù)據(jù)寫入以及數(shù)據(jù)讀出的驗證操作以測試動態(tài)存儲器外，還可以通過初始化信息Dl來改變受測的動態(tài)存儲器內部的存取的時間信息(例如改變位線均衡延遲時間(BLEQ Delay Time (Bit lineequalizat1n Delay Time))，和/或改變動態(tài)存儲器的核心電壓(core voltage)來進行測試。如此一來，動態(tài)存儲器的測試時間可以縮短，另外，還可利用不同電壓進行動態(tài)存儲器的測試操作。
[0063]接著請參照圖6，圖6繪示本發(fā)明實施例的動態(tài)存儲器測試裝置的邏輯地址配置的示意圖。在圖6中，邏輯地址0x4000_0000以上的區(qū)域可以配置為其中的輸入輸出裝置(I/O)所使用的存儲地址，介于邏輯地址0x4000_0000至0x3000_0000間則可對應至受測的動態(tài)存儲器的實體地址；介于邏輯地址0x3000_0000至0χ1000_0000間則配置給輸入輸出裝置(I/o)以及介于邏輯地址0χ1000_0000至0x0001_0000間配置為只讀存儲器所使用的存儲地址。另外，介于邏輯地址0x0001_0000至0x0000_0000間則配置為內嵌式存儲裝置中的靜態(tài)存儲器所使用的地址。
[0064]在圖6的地址配置方式中，邏輯地址0x0001_0000至0x0000_0000間可用于對應靜態(tài)存儲器中儲存存儲器測試程序碼的實體地址。在當要對外部的動態(tài)存儲器進行測試時，可依據(jù)存儲器測試程序碼來將邏輯地址設定在邏輯地址0x4000_0000至0x3000_0000間，并借此對應至受測的動態(tài)存儲器的實體地址，并借此對受測的動態(tài)存儲器進行測試操作。
[0065]請參照圖7，圖7繪示本發(fā)明一實施例的動態(tài)存儲器測試的流程圖。首先，在步驟S710中，提供系統(tǒng)整合式芯片，并使存儲器測試程序碼儲存于系統(tǒng)整合式芯片的內嵌式存儲裝置中，并且，當要對待測的動態(tài)存儲器進行測試時，在步驟S720中由內嵌式存儲裝置讀取存儲器測試程序，并在步驟S730中，依據(jù)執(zhí)行存儲器測試程序來對動態(tài)存儲器進行測試操作。
[0066]關于本發(fā)明實施例中的實施細節(jié)，在前述的實施例及實施方式中已有詳盡的說明，以下恕不多贅述。
[0067]值得一提的是，通過上述實施例所說明的動態(tài)存儲器的測試方式，這種系統(tǒng)端的測試裝置及測試方法，在當發(fā)現(xiàn)動態(tài)存儲器有錯誤的情況發(fā)生時，可以即時的通過動態(tài)存儲器中的電子熔絲(e-Fuse)進行動態(tài)存儲器的修復操作，提升動態(tài)存儲器的妥善率。
[0068]綜上所述，本發(fā)明借助非受測動態(tài)存儲器作為儲存媒介來提供存儲器測試程序碼，并將存儲器測試程序碼儲存在系統(tǒng)整合式芯片中的內嵌式存儲裝置中。在要進行外部的動態(tài)存儲器的測試操作時，則使系統(tǒng)整合式芯片中的控制單元執(zhí)行存儲器測試程序碼，就可對受測的動態(tài)存儲器進行完整的測試操作。重點在于，受測的動態(tài)存儲器不需要提供部分的儲存區(qū)域來儲存存儲器測試程序碼，所有的動態(tài)存儲器的儲存區(qū)域都可以在測試過程中被測試到。另外，存儲器測試程序碼來自于可靠的儲存媒介，系統(tǒng)整合式芯片不會有因為執(zhí)行不可靠的存儲器測試程序碼而發(fā)生死機或重新啟動的風險。
【主權項】
1.一種動態(tài)存儲器測試裝置，包括: 一系統(tǒng)整合式芯片，耦接至該動態(tài)存儲器，包括: 一控制單元，親接至該動態(tài)存儲器；以及 一內嵌式存儲裝置，儲存一存儲器測試程序碼， 其中，該控制單元讀取該存儲器測試程序碼并借助執(zhí)行該存儲器測試程序碼以對該動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。2.如權利要求1所述的動態(tài)存儲器測試裝置，還包括: 一連接接口，耦接至該內嵌式存儲裝置， 其中，該內嵌式存儲裝置借助該連接接口耦接一外部儲存單元，并由該外部儲存單元讀取該存儲器測試程序碼。3.如權利要求2所述的動態(tài)存儲器測試裝置，其中該連接接口包括內部系統(tǒng)總線接口及通用串行總線接口的至少其中之一。4.如權利要求1所述的動態(tài)存儲器測試裝置，其中該控制單元包括: 一中央處理單元；以及 一動態(tài)存儲器控制器，耦接該中央處理單元， 其中，該中央處理單元執(zhí)行該存儲器測試程序碼以通過該動態(tài)存儲器控制器對該動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。5.如權利要求1所述的動態(tài)存儲器測試裝置，其中該內嵌式存儲裝置包括: 一靜態(tài)存儲器，用以儲存該存儲器測試程序碼；以及 一靜態(tài)存儲器控制器，耦接該靜態(tài)存儲器，該靜態(tài)存儲器控制器接收該存儲器測試程序碼，并將該存儲器測試程序碼儲存于該靜態(tài)存儲器中，該靜態(tài)存儲器控制器并從該靜態(tài)存儲器讀取該存儲器測試程序碼以提供該存儲器測試程序碼至該中央處理單元。6.如權利要求5所述的動態(tài)存儲器測試裝置，其中該靜態(tài)存儲器還包括儲存該動態(tài)存儲器的初始化信息以及該動態(tài)存儲器的測試模式啟動信息。7.一種動態(tài)存儲器的測試方法，包括: 提供一系統(tǒng)整合式芯片，并使一存儲器測試程序碼儲存于該系統(tǒng)整合式芯片的一內嵌式存儲裝置中； 由該內嵌式存儲裝置讀取該存儲器測試程序碼；以及 執(zhí)行該存儲器測試程序碼以對該動態(tài)存儲器執(zhí)行測試操作。8.如權利要求7所述的動態(tài)存儲器的測試方法，其中使該存儲器測試程序碼儲存于該系統(tǒng)整合式芯片的該內嵌式存儲裝置中的步驟包括: 將該存儲器測試程序碼儲存于該系統(tǒng)整合式芯片外的一外部儲存單元中； 通過該系統(tǒng)整合式芯片由該外部儲存單元讀取該存儲器測試程序碼，并將該存儲器測試程序碼儲存于該內嵌式存儲裝置中。
【文檔編號】G11C29/56GK105825898SQ201510007984
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2015年1月8日
【發(fā)明人】蕭啟維
【申請人】力晶科技股份有限公司