本發(fā)明涉及DDR測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理方法及處理系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有的DDR(雙倍速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器)測(cè)試數(shù)據(jù)采用人工處理，測(cè)試人員依照測(cè)試波形，依次抄錄數(shù)據(jù)，并寫(xiě)入Excel表格內(nèi)，耗費(fèi)大量時(shí)間，尤其是當(dāng)DDR顆粒數(shù)較多時(shí)。另外，首先，現(xiàn)有測(cè)試數(shù)據(jù)處理需要依據(jù)直接測(cè)試數(shù)據(jù)，生成間接測(cè)試數(shù)據(jù)，此過(guò)程人工輸入公式或計(jì)算，可能存在錯(cuò)誤，導(dǎo)致最終判定異常；其次，需要人工判定直接測(cè)試數(shù)據(jù)以及間接測(cè)試數(shù)據(jù)是否全部符合要求，兩者均符合要求方可認(rèn)定成功，可能存在人為錯(cuò)誤，導(dǎo)致最終判定異常，且需要大量時(shí)間；最后，不同人員人工輸入測(cè)試結(jié)果，存在測(cè)試結(jié)果不統(tǒng)一問(wèn)題，比如小數(shù)點(diǎn)位數(shù)設(shè)置，是否帶單位，字體描述等等。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)DDR進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試波形采用人工處理導(dǎo)致存在工作量大及容易出現(xiàn)錯(cuò)誤的缺陷，提供一種DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理方法及處理系統(tǒng)。

本發(fā)明是通過(guò)下述技術(shù)方案來(lái)解決上述技術(shù)問(wèn)題：

一種DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理方法，包括以下步驟：

S1、將在測(cè)試數(shù)據(jù)文件夾中的所有DDR測(cè)試波形的原始數(shù)據(jù)文件執(zhí)行遍歷并形成樹(shù)形列表；

S2、將所述原始數(shù)據(jù)進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換并采用第一參數(shù)進(jìn)行篩選，將篩選出的數(shù)據(jù)作為直接測(cè)試數(shù)據(jù)；

S3、將所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)采用第二參數(shù)轉(zhuǎn)換為間接測(cè)試數(shù)據(jù)；

S4、將所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)和所述間接測(cè)試數(shù)據(jù)分別與對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比。

較佳地，在步驟S4之前，還包括：

步驟S34、對(duì)所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)和所述間接測(cè)試數(shù)據(jù)分別進(jìn)行行列變換和格式轉(zhuǎn)換。

較佳地，在步驟S4之后，還包括：

步驟S5、輸出測(cè)試報(bào)告。

較佳地，所述第一參數(shù)包括標(biāo)準(zhǔn)高電平值，標(biāo)準(zhǔn)低電平值，頻率，占空比，上升斜率，下降斜率最大值和最小值，所述第二參數(shù)包括上沖、下沖、正沖和負(fù)沖；所述第二參數(shù)采用所述第一參數(shù)獲得。

一種DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理系統(tǒng)，包括：

遍歷模塊、用于將在測(cè)試數(shù)據(jù)文件夾中的所有DDR測(cè)試波形的原始數(shù)據(jù)文件執(zhí)行遍歷并形成樹(shù)形列表；

篩選模塊、用于將所述原始數(shù)據(jù)文件進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換并采用第一參數(shù)進(jìn)行篩選，將篩選出的數(shù)據(jù)作為直接測(cè)試數(shù)據(jù)；

測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊、用于將所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)采用第二參數(shù)轉(zhuǎn)換為間接測(cè)試數(shù)據(jù)；

對(duì)比模塊、用于將所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)和所述間接測(cè)試數(shù)據(jù)分別與對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比。

較佳地，所述DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理系統(tǒng)還包括格式轉(zhuǎn)換模塊，所述格式轉(zhuǎn)換模塊用于對(duì)所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)和所述間接測(cè)試數(shù)據(jù)分別進(jìn)行行列變換和格式轉(zhuǎn)換。

較佳地，所述DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理系統(tǒng)還包括測(cè)試報(bào)告生成模塊，所述測(cè)試報(bào)告生成模塊用于在對(duì)比完成之后輸出測(cè)試報(bào)告。

較佳地，所述第一參數(shù)包括標(biāo)準(zhǔn)高電平值，標(biāo)準(zhǔn)低電平值，頻率，占空比，上升斜率，下降斜率最大值和最小值，所述第二參數(shù)包括上沖、下沖、正沖和負(fù)沖。

本發(fā)明的積極進(jìn)步效果在于：本發(fā)明的DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理方法及處理系統(tǒng)可以對(duì)DDR波形數(shù)據(jù)文件進(jìn)行數(shù)據(jù)自動(dòng)提取，以及對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行自動(dòng)判定并自動(dòng)輸出測(cè)試報(bào)告，可靠性高。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明一較佳實(shí)施例的DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理方法的流程圖。

圖2為本發(fā)明一較佳實(shí)施例的DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面通過(guò)實(shí)施例的方式進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明，但并不因此將本發(fā)明限制在所述的實(shí)施例范圍之中。

如圖1所示，一種DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理方法，包括以下步驟：

步驟101、將所有DDR測(cè)試波形的原始數(shù)據(jù)文件執(zhí)行遍歷并形成樹(shù)形列表。在示波器對(duì)DDR測(cè)試完成后，保存對(duì)應(yīng)測(cè)試波形與CSV格式數(shù)據(jù)文檔。然后執(zhí)行對(duì)上述測(cè)試波形的原始數(shù)據(jù)文件的遍歷，形成樹(shù)形列表。

步驟102、將所述原始數(shù)據(jù)進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換并采用第一參數(shù)進(jìn)行篩選，將篩選出的數(shù)據(jù)作為直接測(cè)試數(shù)據(jù)。所述第一參數(shù)包括標(biāo)準(zhǔn)高電平值，標(biāo)準(zhǔn)低電平值，頻率，占空比，上升斜率，下降斜率、最大值、最小值等。比如可以將CSV格式數(shù)據(jù)文檔轉(zhuǎn)換為Excel格式文檔。

步驟103、將所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)采用第二參數(shù)轉(zhuǎn)換為間接測(cè)試數(shù)據(jù)。所述第二參數(shù)包括上沖、下沖、正沖和負(fù)沖等，比如，所述上沖是指一波形中的最大值減去標(biāo)準(zhǔn)高電平值得到的值，所述下沖是指一波形中的最小值減去標(biāo)準(zhǔn)高電平值得到的值，正沖是指標(biāo)準(zhǔn)高電平值減去回沖高電平值值得到的值，負(fù)沖是指回沖低電平值減去標(biāo)準(zhǔn)低電平值得到的值。此外，間接測(cè)試數(shù)據(jù)的獲得還需要對(duì)所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行單位換算。

步驟104、對(duì)所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)和所述間接測(cè)試數(shù)據(jù)分別進(jìn)行行列變換和格式轉(zhuǎn)換。

步驟105、將所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)和所述間接測(cè)試數(shù)據(jù)分別與對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比。通過(guò)將直接測(cè)試數(shù)據(jù)、間接測(cè)試數(shù)據(jù)分別與對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比已確認(rèn)對(duì)DDR的測(cè)試是否合格。通過(guò)自動(dòng)判斷，減少了人為判斷造成的遺漏，導(dǎo)致結(jié)論判斷出錯(cuò)。

步驟106、輸出測(cè)試報(bào)告。采用統(tǒng)一的模板輸出測(cè)試報(bào)告，保證了測(cè)試報(bào)告的一致性。

如圖2所示，一種DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理系統(tǒng)，包括遍歷模塊11、篩選模塊12、測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊13、對(duì)比模塊15、格式轉(zhuǎn)換模塊14和測(cè)試報(bào)告生成模塊16。

遍歷模塊11用于將所有DDR測(cè)試波形的原始數(shù)據(jù)執(zhí)行遍歷并形成樹(shù)形列表。篩選模塊12用于將所述原始數(shù)據(jù)進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換并采用第一參數(shù)進(jìn)行篩選，將篩選出的數(shù)據(jù)作為直接測(cè)試數(shù)據(jù)。測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊13用于將所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)采用第二參數(shù)轉(zhuǎn)換為間接測(cè)試數(shù)據(jù)。所述格式轉(zhuǎn)換模塊14用于對(duì)所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)和所述間接測(cè)試數(shù)據(jù)分別進(jìn)行行列變換和格式轉(zhuǎn)換。所述對(duì)比模塊15用于將所述直接測(cè)試數(shù)據(jù)和所述間接測(cè)試數(shù)據(jù)分別與對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比。所述測(cè)試報(bào)告生成模塊16用于在對(duì)比完成之后輸出測(cè)試報(bào)告。所述第一參數(shù)包括最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)高電平值、標(biāo)準(zhǔn)低電平值、頻率、占空比、上升斜率和下降斜率，所述第二參數(shù)包括上沖、下沖、正沖和負(fù)沖。所述第二參數(shù)采用所述第一參數(shù)獲得。

本發(fā)明的DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件的處理方法及系統(tǒng)可以對(duì)DDR測(cè)試波形數(shù)據(jù)文件進(jìn)行數(shù)據(jù)自動(dòng)提取，以及對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行自動(dòng)判定并自動(dòng)輸出測(cè)試報(bào)告，處理效率高且可靠性高。

雖然以上描述了本發(fā)明的具體實(shí)施方式，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，這僅是舉例說(shuō)明，本發(fā)明的保護(hù)范圍是由所附權(quán)利要求書(shū)限定的。本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不背離本發(fā)明的原理和實(shí)質(zhì)的前提下，可以對(duì)這些實(shí)施方式做出多種變更或修改，但這些變更和修改均落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。