技術總結
本發(fā)明涉及半導體制造技術領域，尤其涉及一種電性地址與物理地址的對應關系的驗證方法，通過對轉換的物理地址所對應的單元和位于該單元周邊的單元的閾值電壓進行比較來驗證電性地址與物理地址的對應關系正確與否，以實現對電性地址與物理地址的對應關系的精確驗證，該方法對失效模式沒有嚴格的限定，且操作方便，快捷，從而有效提高了驗證效率和成功率。

技術研發(fā)人員：李桂花;羅旭;仝金雨;李品歡
受保護的技術使用者：武漢新芯集成電路制造有限公司
文檔號碼：201610620746
技術研發(fā)日：2016.08.02
技術公布日：2016.12.21