技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明的半導(dǎo)體裝置及其讀出方法以及搭載有半導(dǎo)體裝置的IC卡能夠高速讀出存儲單元的電阻值的信息。本發(fā)明的一實施方式的半導(dǎo)體裝置具備存儲單元、生成參考電壓的電路、以及具有電連接于存儲單元的第一輸入端子以及電連接于參考電壓生成電路的第二輸入端子的讀取放大器。讀取放大器基于被施加于第一輸入端子且以對應(yīng)于存儲單元的電阻值的速度變化的讀取電壓、與被施加于第二輸入端子的參考電壓之間的比較，取得與存儲單元的電阻值相關(guān)的值。在讀取電壓變化的期間的至少一部分中，電路使參考電壓向與讀取電壓的變化方向相反的方向變化。

技術(shù)研發(fā)人員：東亮太郎;加藤佳一
受保護的技術(shù)使用者：松下知識產(chǎn)權(quán)經(jīng)營株式會社
文檔號碼：201610364708
技術(shù)研發(fā)日：2016.05.27
技術(shù)公布日：2016.12.21