專利名稱：存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法以及存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說(shuō)，本發(fā)明涉及一種存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法、以及采用了該存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法。
背景技術(shù)：
半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件(例如，閃存或嵌入式存儲(chǔ)器等)不斷地朝著高集成度和高容量存儲(chǔ)單元的方向發(fā)展。在閃存設(shè)計(jì)中，通常采用各種錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法來(lái)提高閃存芯片的成品率。存儲(chǔ)器(例如嵌入式存儲(chǔ)器)的可測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)可包括直接測(cè)試、用嵌入式CPU進(jìn)行測(cè)試和內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)(Built-in Self Test，BIST)。 內(nèi)建自測(cè)BIST技術(shù)是在設(shè)計(jì)時(shí)在電路中植入相關(guān)功能電路用于提供自我測(cè)試功能的技術(shù)，以此降低器件測(cè)試對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的依賴程度?，F(xiàn)在，高度集成的電路被廣泛應(yīng)用，測(cè)試這些電路需要高速的混合信號(hào)測(cè)試設(shè)備。內(nèi)建自測(cè)BIST技術(shù)可以通過(guò)實(shí)現(xiàn)自我測(cè)試從而減少對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的需求。并且，存儲(chǔ)器的內(nèi)建自測(cè)(Memory Built-in Self Test, MB I ST)技術(shù)通常采用一種或多種算法為測(cè)試存儲(chǔ)器一種或多種缺陷類型而特別設(shè)計(jì)。隨著，存儲(chǔ)器尺寸的逐步增大，希望能夠提高存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)的速度、提高存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)的耐久力(耐久力特性表現(xiàn)于存儲(chǔ)器的閾值電壓區(qū)間，它與編程次數(shù)有密切的關(guān)系；具體地說(shuō)，存儲(chǔ)器可以經(jīng)受的最大編程次數(shù)被稱為耐久力)監(jiān)控效率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在上述缺陷，提供一種能夠提高存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)的速度、提高存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)的耐久力監(jiān)控效率的存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法。根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供了一種存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法，其包括按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置測(cè)試讀取操作的時(shí)鐘頻率，測(cè)試的時(shí)鐘頻率和存儲(chǔ)器的時(shí)鐘頻率完全一致，以達(dá)到最短的測(cè)試時(shí)間；執(zhí)行內(nèi)部讀取操作，以針對(duì)存儲(chǔ)器的每個(gè)扇區(qū)或者每行存儲(chǔ)單元或者每列存儲(chǔ)單元判斷當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失?。辉诋?dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取成功的情況下，輸出第一信號(hào)；以及在當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取失敗的情況下，輸出第二信號(hào)。優(yōu)選地，所述存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法用于高效測(cè)試有冗余功能的嵌入式存儲(chǔ)器。優(yōu)選地，所述讀取操作的時(shí)鐘頻率是按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置。優(yōu)選地，所述第一信號(hào)是信號(hào)“ I ”，并且所述第二信號(hào)是信號(hào)“O”。根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供了一種存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法，其包括按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置測(cè)試讀取操作的時(shí)鐘頻率；執(zhí)行內(nèi)部讀取操作，以針對(duì)存儲(chǔ)器的每個(gè)扇區(qū)或者每行存儲(chǔ)單元或者每列存儲(chǔ)單元判斷當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失敗；在當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取成功的情況下，輸出第一信號(hào)；在當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取失敗的情況下，輸出第二信號(hào)；判斷是否存儲(chǔ)器的所有扇區(qū)或者所有存儲(chǔ)單元行或者所有存儲(chǔ)單元列都完成了內(nèi)部讀取操作；如果判斷完成存儲(chǔ)器的所有扇區(qū)的內(nèi)部讀取操作，則判斷輸出信號(hào)是否都是第一信號(hào)；如果判斷輸出信號(hào)都是第一信號(hào)，則得出存儲(chǔ)器通過(guò)測(cè)試的判斷結(jié)果；以及如果判斷輸出信號(hào)并非都是的第一信號(hào)，則根據(jù)輸出第二信號(hào)的次數(shù)判斷出錯(cuò)扇區(qū)或者存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的數(shù)量是否超出冗余扇區(qū)或者冗余存儲(chǔ)單元行或者冗余存儲(chǔ)單元列的數(shù)量，并且根據(jù)判斷輸出的第二信號(hào)位置可以明確知道錯(cuò)扇區(qū)或者存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的具體位置，從而進(jìn)行冗余修補(bǔ)。優(yōu)選地，所述存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法用于高效測(cè)試有冗余功能的嵌入式存儲(chǔ)器。優(yōu)選地，所述讀取操作的時(shí)鐘頻率按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置。優(yōu)選地，所述第一信號(hào)是信號(hào)“ I ”，并且所述第二信號(hào)是信號(hào)“O”。根據(jù)本發(fā)明，能夠提高存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)的速度、提高存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)的耐久力監(jiān)控效率。此外，根據(jù)本發(fā)明，可以有效地及早發(fā)現(xiàn)冗余存儲(chǔ)單元，對(duì)冗余存儲(chǔ)單元數(shù)量作出判斷，確定錯(cuò)扇區(qū)或者存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的具體位置，并且進(jìn)行冗余修補(bǔ)，從而避免嚴(yán)重的存儲(chǔ)器操作錯(cuò)誤。


結(jié)合附圖，并通過(guò)參考下面的詳細(xì)描述，將會(huì)更容易地對(duì)本發(fā)明有更完整的理解 并且更容易地理解其伴隨的優(yōu)點(diǎn)和特征，其中圖I示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法的流程圖。圖2示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法的流程圖。需要說(shuō)明的是，附圖用于說(shuō)明本發(fā)明，而非限制本發(fā)明。注意，表示結(jié)構(gòu)的附圖可能并非按比例繪制。并且，附圖中，相同或者類似的元件標(biāo)有相同或者類似的標(biāo)號(hào)。
具體實(shí)施例方式為了使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚和易懂，下面結(jié)合具體實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明的內(nèi)容進(jìn)行詳細(xì)描述。<第一實(shí)施例>圖I示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法的流程圖。如圖I所示，根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法包括第一步驟SI :按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置測(cè)試讀取操作的時(shí)鐘頻率，測(cè)試的時(shí)鐘頻率和存儲(chǔ)器的時(shí)鐘頻率完全一致，以達(dá)到最短的測(cè)試時(shí)間。第二步驟S2 :執(zhí)行內(nèi)部讀取操作，以針對(duì)存儲(chǔ)器的每個(gè)扇區(qū)判斷當(dāng)前扇區(qū)的讀取成功還是失敗?？蛇x地，在第二步驟S2中，可執(zhí)行內(nèi)部讀取操作，以針對(duì)存儲(chǔ)器的每行存儲(chǔ)單元或者每列存儲(chǔ)單元來(lái)判斷當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失敗。在當(dāng)前扇區(qū)的讀取成功的情況下，執(zhí)行第三步驟S3，其中輸出第一信號(hào)以表示當(dāng)前扇區(qū)(或者，在判斷當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失敗的情況下，判斷當(dāng)前的存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列)的內(nèi)部讀取成功。
在當(dāng)前扇區(qū)的讀取失敗的情況下，執(zhí)行第四步驟S4，其中輸出第二信號(hào)以表示當(dāng)前扇區(qū)(或者，在判斷當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失敗的情況下，判斷當(dāng)前的存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列)的內(nèi)部讀取失敗。優(yōu)選地，所述第一信號(hào)是信號(hào)“1”，并且所述第二信號(hào)是信號(hào)“O”?？商鎿Q地，當(dāng)然可以使得所述第一信號(hào)是信號(hào)“0”，而所述第二信號(hào)是信號(hào)“ I”。優(yōu)選地，在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，上述存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法用于測(cè)試嵌入式存儲(chǔ)器，例如閃存?！吹诙?shí)施例〉圖2示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法的流程圖。如圖2所示，根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法包括 第一步驟SI :設(shè)置讀取操作的時(shí)鐘頻率，例如高速的時(shí)鐘頻率。具體地說(shuō)，如圖2所示，可按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置測(cè)試讀取操作的時(shí)鐘頻率，測(cè)試的時(shí)鐘頻率和存儲(chǔ)器的時(shí)鐘頻率完全一致，以達(dá)到最短的測(cè)試時(shí)間。優(yōu)選地，所述讀取操作的時(shí)鐘頻率處于20MHz至25MHz的范圍內(nèi)。進(jìn)一步優(yōu)選地，所述讀取操作的時(shí)鐘頻率是20MHz (即，周期為50ns)或25MHz (即，周期為40ns)。第二步驟S2 :執(zhí)行內(nèi)部讀取操作，以針對(duì)存儲(chǔ)器的每個(gè)扇區(qū)判斷當(dāng)前扇區(qū)的讀取成功還是失敗?？蛇x地，在第二步驟S2中，可執(zhí)行內(nèi)部讀取操作，以針對(duì)存儲(chǔ)器的每行存儲(chǔ)單元或者每列存儲(chǔ)單元來(lái)判斷當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失敗。在當(dāng)前扇區(qū)的讀取成功的情況下，執(zhí)行第三步驟S3，其中輸出第一信號(hào)以表示當(dāng)前扇區(qū)(或者，在判斷當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失敗的情況下，判斷當(dāng)前的存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列)的內(nèi)部讀取成功。在當(dāng)前扇區(qū)的讀取失敗的情況下，執(zhí)行第四步驟S4，其中輸出第二信號(hào)以表示當(dāng)前扇區(qū)(或者，在判斷當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失敗的情況下，判斷當(dāng)前的存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列)的內(nèi)部讀取失敗。優(yōu)選地，所述第一信號(hào)是信號(hào)“1”，并且所述第二信號(hào)是信號(hào)“O”?？商鎿Q地，當(dāng)然可以使得所述第一信號(hào)是信號(hào)“0”，而所述第二信號(hào)是信號(hào)“ I”。上述步驟與第一實(shí)施例相同。此后，執(zhí)行第五步驟S5 :判斷是否存儲(chǔ)器的所有扇區(qū)(或者所有存儲(chǔ)單元行或者所有存儲(chǔ)單元列)都完成了內(nèi)部讀取操作。如果第五步驟S5中判斷沒(méi)有完成存儲(chǔ)器的所有扇區(qū)(或者所有存儲(chǔ)單元行或者所有存儲(chǔ)單元列)的內(nèi)部讀取操作，則針對(duì)下一個(gè)扇區(qū)(或者下一個(gè)存儲(chǔ)單元行或者下一個(gè)存儲(chǔ)單元列)執(zhí)行上述步驟。如果第五步驟S5中判斷完成存儲(chǔ)器的所有扇區(qū)(或者所有存儲(chǔ)單元行或者所有存儲(chǔ)單元列)的內(nèi)部讀取操作，則在第六步驟S6中判斷輸出信號(hào)是否都是第三步驟S3輸出的第一信號(hào)(換言之，判斷第四步驟S4中是否輸出了第二信號(hào))。如果第六步驟S6中判斷輸出信號(hào)都是第三步驟S3輸出的第一信號(hào)，程序進(jìn)入第七步驟S7，其中得出存儲(chǔ)器通過(guò)測(cè)試的判斷結(jié)果。如果第六步驟S6中判斷輸出信號(hào)并非都是第三步驟S3輸出的第一信號(hào)(即，程序在第四步驟S4中輸出了第二信號(hào))，程序進(jìn)入第八步驟S8，其中根據(jù)在第四步驟S4中輸出了第二信號(hào)的次數(shù)判斷出錯(cuò)扇區(qū)(或者存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列)的數(shù)量是否超出冗余扇區(qū)(或者冗余存儲(chǔ)單元行或者冗余存儲(chǔ)單元列)的數(shù)量。根據(jù)第八步驟S8的判斷結(jié)果，可以有效地及早發(fā)現(xiàn)冗余存儲(chǔ)單元不夠的情況，從而避免嚴(yán)重的存儲(chǔ)器操作錯(cuò)誤；并且，優(yōu)選地，在第八步驟S8中，可根據(jù)判斷輸出的第二信號(hào)位置可以明確知道錯(cuò)扇區(qū)或者存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的具體位置，從而進(jìn)行冗余修補(bǔ)。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，能夠提高存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)的速度、提高存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)的耐久力監(jiān)控效率。此外，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，可以有效地及早發(fā)現(xiàn)冗余存儲(chǔ)單元，對(duì)冗余存儲(chǔ)單元數(shù)量作出判斷，確定錯(cuò)扇區(qū)或者存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的具體位置，并且進(jìn)行冗余修補(bǔ)，從而避免嚴(yán)重的存儲(chǔ)器操作錯(cuò)誤。優(yōu)選地，在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，上述存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法用于高效測(cè)試有冗余功能的嵌入式存儲(chǔ)器，例如閃存。
可以理解的是，雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例披露如上，然而上述實(shí)施例并非用以限定本發(fā)明。對(duì)于任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍情況下，都可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案作出許多可能的變動(dòng)和修飾，或修改為等同變化的等效實(shí)施例。因此，凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所做的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化及修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案保護(hù)的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法，其特征在于包括 按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置測(cè)試讀取操作的時(shí)鐘頻率； 執(zhí)行內(nèi)部讀取操作，以針對(duì)存儲(chǔ)器的每個(gè)扇區(qū)或者每行存儲(chǔ)單元或者每列存儲(chǔ)單元判斷當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失??； 在當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取成功的情況下，輸出第一信號(hào)；以及 在當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取失敗的情況下，輸出第二信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法，其特征在于所述存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法用于高效測(cè)試有冗余功能的嵌入式存儲(chǔ)器。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法，其特征在于，按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置測(cè)試讀取操作的時(shí)鐘頻率，測(cè)試的時(shí)鐘頻率和存儲(chǔ)器的時(shí)鐘頻率完全一致，以達(dá)到最短的測(cè)試時(shí)間。
4.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法，其特征在于，所述第一信號(hào)是信號(hào)“ I ”，并且所述第二信號(hào)是信號(hào)“O”。
5.一種存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法，其特征在于包括 按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置測(cè)試讀取操作的時(shí)鐘頻率； 執(zhí)行內(nèi)部讀取操作，以針對(duì)存儲(chǔ)器的每個(gè)扇區(qū)或者每行存儲(chǔ)單元或者每列存儲(chǔ)單元判斷當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取成功還是失??； 在當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取成功的情況下，輸出第一信號(hào); 在當(dāng)前扇區(qū)或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元行或者當(dāng)前存儲(chǔ)單元列的讀取失敗的情況下，輸出第二信號(hào); 判斷是否存儲(chǔ)器的所有扇區(qū)或者所有存儲(chǔ)單元行或者所有存儲(chǔ)單元列都完成了內(nèi)部讀取操作； 如果判斷完成存儲(chǔ)器的所有扇區(qū)的內(nèi)部讀取操作，則判斷輸出信號(hào)是否都是第一信號(hào); 如果判斷輸出信號(hào)都是第一信號(hào)，則得出存儲(chǔ)器通過(guò)測(cè)試的判斷結(jié)果；以及如果判斷輸出信號(hào)并非都是的第一信號(hào)，則根據(jù)輸出第二信號(hào)的次數(shù)判斷出錯(cuò)扇區(qū)或者存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的數(shù)量是否超出冗余扇區(qū)或者冗余存儲(chǔ)單元行或者冗余存儲(chǔ)單元列的數(shù)量，并且根據(jù)判斷輸出的第二信號(hào)位置可以明確知道錯(cuò)扇區(qū)或者存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的具體位置，從而進(jìn)行冗余修補(bǔ)。
6.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法，其特征在于所述存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法用于高效測(cè)試有冗余功能的嵌入式存儲(chǔ)器。
7.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法，其特征在于，按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置測(cè)試讀取操作的時(shí)鐘頻率，測(cè)試的時(shí)鐘頻率和存儲(chǔ)器的時(shí)鐘頻率完全一致，以達(dá)到最短的測(cè)試時(shí)間。
8.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法，其特征在于，所述第一信號(hào)是信號(hào)“ I”，并且所述第二信號(hào)是信號(hào)“O”。
全文摘要
存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)方法以及存儲(chǔ)器錯(cuò)誤檢查方法。按照存儲(chǔ)器最高讀取操時(shí)鐘頻率設(shè)置測(cè)試讀取操作的時(shí)鐘頻率，測(cè)試的時(shí)鐘頻率和存儲(chǔ)器的時(shí)鐘頻率完全一致，以達(dá)到最短的測(cè)試時(shí)間；執(zhí)行內(nèi)部讀取操作，以判斷讀取成功還是失?。辉谧x取成功的情況下，輸出第一信號(hào)；在讀取失敗的情況下，輸出第二信號(hào)；判斷是否都完成了內(nèi)部讀取操作；如果判斷完成存儲(chǔ)器的所有扇區(qū)的內(nèi)部讀取操作，則判斷輸出信號(hào)是否都是第一信號(hào)；如果判斷輸出信號(hào)并非都是的第一信號(hào)，則根據(jù)輸出第二信號(hào)的次數(shù)判斷出錯(cuò)扇區(qū)或存儲(chǔ)單元行或存儲(chǔ)單元列的數(shù)量是否超出數(shù)量，并且根據(jù)判斷輸出的第二信號(hào)位置可以明確知道錯(cuò)扇區(qū)或者存儲(chǔ)單元行或者存儲(chǔ)單元列的具體位置，從而進(jìn)行冗余修補(bǔ)。
文檔編號(hào)G11C29/12GK102750989SQ20121026181
公開(kāi)日2012年10月24日 申請(qǐng)日期2012年7月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月26日
發(fā)明者錢亮 申請(qǐng)人:上海宏力半導(dǎo)體制造有限公司