專利名稱：存儲器件及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的示例性實(shí)施例涉及一種存儲器件，且更具體而言，涉 及一種存儲器件及其測試方法。
背景技術(shù)：
隨著存儲器件同存儲器件制造技術(shù)的進(jìn)步一起變得更加高度集成，可能要用昂貴的測試設(shè)備長時間地測試制造出的存儲器件。測試方法之中的壓縮測試或并行測試用于減少測試存儲器件所花費(fèi)的時間。在下文中描述壓縮測試。以高速測試數(shù)千個單元與以高可靠性測試這些單元同樣重要。尤其地，不僅用于開發(fā)存儲器件所花費(fèi)的時間直接影響產(chǎn)品的生產(chǎn)成本，而且用于測試存儲器件所花費(fèi)的時間也直接影響產(chǎn)品的生產(chǎn)成本。因此，期望減少測試時間。一般而言，當(dāng)對存儲器件的存儲芯片的每個單元進(jìn)行測試以確定存儲芯片是否具有故障時，生產(chǎn)成本高，且用于測試存儲器件所需的時間長。本文中，利用壓縮測試模式來減少用于測試存儲器件所花費(fèi)的時間。根據(jù)壓縮測試方法，將相同的數(shù)據(jù)寫入多個單元中，然后在讀取數(shù)據(jù)時，使用異或邏輯門(即，XOR邏輯門)。當(dāng)從所述多個單元讀取到相同的數(shù)據(jù)時，可以返回“1”，由此判定存儲器件已通過壓縮測試。否則，如果從單元中的任一個讀取到不同的數(shù)據(jù)，可以返回“0”，由此判定存儲器件未通過壓縮測試。這樣的并行測試需要一次激活許多存儲體且執(zhí)行數(shù)據(jù)讀取/寫入操作。根據(jù)現(xiàn)有的測試技術(shù)，從數(shù)個存儲體輸出的數(shù)據(jù)經(jīng)過上述壓縮程序，且經(jīng)由與存儲體相對應(yīng)的各個接口焊盤輸出。然后測試設(shè)備響應(yīng)于從接口焊盤輸出的數(shù)據(jù)而對存儲器件作出通過/未通過決定。舉例而言，當(dāng)假設(shè)一個芯片包括8個存儲體(bank)且通過從8個存儲體輸出數(shù)據(jù)來執(zhí)行壓縮測試時，經(jīng)由8個接口焊盤輸出數(shù)據(jù)。如果測試設(shè)備包括64個接口焊盤，則測試設(shè)備一次也只能測試8個芯片。簡言之，測試設(shè)備的接口焊盤的數(shù)目一般等于一個芯片中所包括的存儲體的數(shù)目，或等于一個芯片中的用于一次測試所激活的存儲體的數(shù)目。由于不可能一次對許多芯片全部進(jìn)行測試，因此可能花費(fèi)長時間來執(zhí)行現(xiàn)有的壓縮測試。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的示例性實(shí)施例涉及一種在執(zhí)行壓縮測試時通過減少一個芯片中的輸出數(shù)據(jù)的接ロ焊盤的數(shù)目而一次對許多芯片全部進(jìn)行測試的存儲器件。根據(jù)本發(fā)明的ー個不例性實(shí)施例，一種存儲器件包括第一存儲體、第二存儲體、多個接ロ焊盤以及數(shù)據(jù)輸出単元，所述數(shù)據(jù)輸出單元被配置成經(jīng)由多個接ロ焊盤之中的至少ー個接ロ焊盤輸出所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)，且隨后經(jīng)由所述ー個接ロ焊盤輸出所述第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)。所述數(shù)據(jù)輸出單元可以包括選擇信息發(fā)生器，所述選擇信息發(fā)生器被配置成響應(yīng)于讀取命令而產(chǎn)生選擇信息；以及線選擇器，所述線選擇器被配置成響應(yīng)于所述選擇信息而從多個全局線之中選擇全局線組，且將加載到所述選中的全局線組上的壓縮 數(shù)據(jù)傳送至所述ー個接ロ焊盤。所述選擇信息發(fā)生器可以包括初歩信息發(fā)生電路，所述初步信息發(fā)生電路被配置成響應(yīng)于所述讀取命令而產(chǎn)生初步選擇信息；以及信息發(fā)生電路，所述信息發(fā)生電路被配置成基于所述初步選擇信息而產(chǎn)生所述選擇信息。根據(jù)本發(fā)明的另ー個示例性實(shí)施例，一種存儲器件包括多個存儲體組，每個存儲體組包括至少ー個存儲體；多個接ロ焊盤；以及數(shù)據(jù)輸出単元，所述數(shù)據(jù)輸出單元被配置成在壓縮測試操作期間ー次將所述多個存儲體組之中的一個存儲體組的壓縮數(shù)據(jù)輸出至所述多個接ロ焊盤之中的至少ー個接ロ焊盤，其中所述多個存儲體組之中的不同的存儲體組的壓縮數(shù)據(jù)被順序地輸出。所述數(shù)據(jù)輸出單元包括選擇信息發(fā)生器，所述選擇信息發(fā)生器被配置成響應(yīng)于讀取命令而產(chǎn)生選擇信息；以及線選擇器，所述線選擇器被配置成響應(yīng)于所述選擇信息而從多個全局線之中選擇全局線組，且將加載到所述選中的全局線組上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至所述至少一個接ロ焊盤。根據(jù)本發(fā)明的又一個示例性實(shí)施例，一種用于測試存儲器件的方法包括以下步驟施加讀取命令；響應(yīng)于所述讀取命令而從第一存儲體讀取數(shù)據(jù)和從第二存儲體讀取數(shù)據(jù)；將從所述第一存儲體讀取的數(shù)據(jù)和從所述第二存儲體讀取的數(shù)據(jù)壓縮以由此產(chǎn)生壓縮數(shù)據(jù)；響應(yīng)于所述讀取命令而將所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至多個接ロ焊盤之中的至少ー個接ロ焊盤；第二次施加所述讀取命令；以及響應(yīng)于所述讀取命令的第二次激活而將所述第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至所述至少一個接ロ焊盤。根據(jù)本發(fā)明的再一個示例性實(shí)施例，一種用于測試存儲器件的方法包括以下步驟施加讀取命令；響應(yīng)于所述讀取命令而從多個存儲體讀取數(shù)據(jù)；將從所述多個存儲體讀取的數(shù)據(jù)壓縮；響應(yīng)于所述讀取命令而將所述多個存儲體之中的至少ー個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至多個接ロ焊盤之中的至少ー個接ロ焊盤；第二次施加所述讀取命令；以及響應(yīng)于所述讀取命令的第二次激活而將所述多個存儲體之中的至少ー個其它的存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至所述多個接ロ焊盤之中的所述至少一個接ロ焊盤。根據(jù)本發(fā)明的又一個示例性實(shí)施例，ー種存儲系統(tǒng)包括存儲體控制器，所述存儲體控制器被配置成接收存儲體地址和測試信號，且響應(yīng)于所述存儲體地址和測試信號而傳送讀取命令；多個存儲體，所述多個存儲體被配置成接收所述讀取命令且輸出正常數(shù)據(jù)；多個壓縮電路，所述多個壓縮電路被配置成在所述測試信號被使能時接收正常數(shù)據(jù)且產(chǎn)生壓縮數(shù)據(jù)；多個全局線，所述多個全局線被配置成傳送正常數(shù)據(jù)或壓縮數(shù)據(jù)；多個接ロ焊盤，其中，所述多個接ロ焊盤之中的選中的接ロ焊盤耦接至測試設(shè)備；以及數(shù)據(jù)輸出単元，所述數(shù)據(jù)輸出單元被配置成接收加載到所述多個全局線上的數(shù)據(jù)，經(jīng)由所述選中的接口焊盤輸出所述多個存儲體之中的至少一個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)，且隨后經(jīng)由所述選中的接口焊盤輸出所述多個存儲體之中的至少一個其它的存儲體的壓縮數(shù)據(jù)。


圖I是說明根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實(shí)施例的存儲器件的框圖。

圖2是說明圖I中所示的數(shù)據(jù)輸出單元130的框圖。圖3示出圖2所示的線選擇器220的結(jié)構(gòu)。圖4是用于說明數(shù)據(jù)輸出單元130的操作的時序圖。圖5是說明根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性實(shí)施例的存儲器件的框圖。圖6是說明圖5所示的數(shù)據(jù)輸出單元350的框圖。圖7示出圖6中所示的線選擇器420的結(jié)構(gòu)。圖8是用于說明數(shù)據(jù)輸出單元350的操作的時序圖。圖9是說明根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性實(shí)施例的數(shù)據(jù)輸出單元350的一部分的框圖。
具體實(shí)施例方式下面將參考附圖更詳細(xì)地描述本發(fā)明的示例性實(shí)施例。然而，本發(fā)明可以不同形式實(shí)施且不應(yīng)解釋為限于本文中提出的實(shí)施例。更確切而言，提供這些實(shí)施例以使得本發(fā)明清楚且完整，且向本領(lǐng)域技術(shù)人員充分傳達(dá)本發(fā)明的范圍。在本發(fā)明中，相同的附圖標(biāo)記表示本發(fā)明的各個附圖和實(shí)施例中的相同部分。圖I是說明根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實(shí)施例的存儲器件的框圖。參見圖I，存儲器件包括第一存儲體110、第二存儲體120、多個接口焊盤101和102、以及數(shù)據(jù)輸出單元130。數(shù)據(jù)輸出單元130經(jīng)由多個接口焊盤101和102之中的一個接口焊盤來輸出第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)，然后經(jīng)由多個接口焊盤101和102之中的另一個接口焊盤來輸出第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)。在圖I的所述示例性實(shí)施例中，示出在正常模式下從第一存儲體110和第二存儲體120中的每個讀取16比特的數(shù)據(jù)以及在測試模式下讀取8比特的數(shù)據(jù)的情況。更具體而言，響應(yīng)于讀取命令RDCMD而從第一存儲體110和第二存儲體120中的每個讀取16比特的數(shù)據(jù)。另外，為每個存儲體提供壓縮電路CO和Cl，壓縮電路CO和Cl將16比特的數(shù)據(jù)壓縮為8比特的壓縮數(shù)據(jù)。因此，此壓縮方案可被稱作2:1壓縮。在圖I中，“X16”表示讀取數(shù)據(jù)的數(shù)目，即16個比特；而“X8 ”表示壓縮數(shù)據(jù)的數(shù)目，即8個比特。當(dāng)存儲器件執(zhí)行下文中被稱為正常操作的一般數(shù)據(jù)輸出操作時，在下文中將從第一存儲體110和第二存儲體120讀取且經(jīng)由多個接口焊盤101和102輸出至存儲器件外部的數(shù)據(jù)稱作正常數(shù)據(jù)。正常數(shù)據(jù)經(jīng)由全局線GICKO: 15>從第一存儲體110或第二存儲體120輸出至數(shù)據(jù)輸出單元130，而不經(jīng)過壓縮電路CO和Cl。此外，當(dāng)存儲器件利用壓縮數(shù)據(jù)執(zhí)行在下文中被稱作壓縮測試操作的測試操作時，將從第一存儲體110和第二存儲體120讀取且由壓縮電路CO和Cl壓縮的數(shù)據(jù)稱作“壓縮數(shù)據(jù)”。下面，參見圖I描述存儲器件的操作。
當(dāng)存儲器件執(zhí)行正常操作時，測試信號PT被禁止，當(dāng)存儲器件執(zhí)行“壓縮測試操作”時，測試信號PT被使能。本文中，分開描述存儲器件執(zhí)行正常操作的情況和存儲器件執(zhí)行壓縮測試操作的情況。(I)當(dāng)存儲器件執(zhí)行正常操作時當(dāng)測試信號PT被禁止時，存儲體控制器103響應(yīng)于讀取命令RDCMD來控制存儲器件以從存儲體地址BANK ADD所指定的一個存儲體讀取數(shù)據(jù)。換言之 ，由存儲體地址BANKADD指定的一個存儲體被激活。例如，如果存儲體地址BANK ADD對應(yīng)于第一存儲體110，則從第一存儲體110而非從第二存儲體120讀取數(shù)據(jù)。參見圖1，當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，從存儲體地址BANK ADD所指定的一個存儲體讀取16比特的數(shù)據(jù)。從一個存儲體讀取的16比特的正常數(shù)據(jù)不經(jīng)過壓縮電路CO和Cl，而是加載到多個全局線GI0〈0:15>上。這里，16比特的正常數(shù)據(jù)分別加載到十六個全局線GI0〈0:15>上。全局線GICKO: 15>的數(shù)據(jù)傳送至數(shù)據(jù)輸出單元130，且在經(jīng)由接口焊盤101和102輸出至存儲器件外部之前在數(shù)據(jù)輸出單元130中經(jīng)歷并行到串行的轉(zhuǎn)換。下面描述存儲器件的示例性正常操作。在第一個示例性的正常操作中，當(dāng)施加讀取命令RDCMD而測試信號PT被禁止、且存儲體地址BANK ADD指定第一存儲體110時，第一存儲體110被激活且從第一存儲體110讀取16比特的數(shù)據(jù)。16比特的數(shù)據(jù)分別加載到全局線GI0〈0:15>上。加載到全局線GICKO:7>上的正常數(shù)據(jù)和加載到全局線GI0〈8:15>上的正常數(shù)據(jù)經(jīng)歷并行到串行轉(zhuǎn)換。接著，加載到全局線GI0〈0:7>上的正常數(shù)據(jù)可以經(jīng)由接口焊盤101順序地輸出至存儲器件的外部，加載到全局線GI0〈8:15>上的正常數(shù)據(jù)可以經(jīng)由接口焊盤102順序地輸出至存儲器件的外部。替代地，可以經(jīng)由接口焊盤101和102中的一個順序地輸出正常數(shù)據(jù)的全部16個比特。在第二個示例性的正常操作中，當(dāng)施加讀取命令RDCMD而測試信號PT被禁止、且存儲體地址BANK ADD指定第二存儲體120時，第二存儲體120被激活且從第二存儲體120讀取16比特的數(shù)據(jù)。從第二存儲體120讀取的16比特的數(shù)據(jù)分別加載到全局線GICKO: 15>上。隨后，從第二存儲體120讀取的16比特的正常數(shù)據(jù)經(jīng)歷與從第一存儲體110讀取的16比特的正常數(shù)據(jù)相同的過程(即，并行到串行轉(zhuǎn)換)，且經(jīng)由接口焊盤101和102中的一個或更多個輸出至存儲器件的外部。由于本發(fā)明涉及存儲器件在壓縮測試操作期間的操作，且由于在正常操作期間輸出數(shù)據(jù)的過程對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言是熟知的，因此本文中不再提供對正常操作的進(jìn)一步描述。(2)當(dāng)存儲器件執(zhí)行壓縮測試操作時當(dāng)測試信號PT被使能時，存儲體控制器103響應(yīng)于讀取命令RDCMD來控制存儲器件以從第一存儲體110和第二存儲體120讀取數(shù)據(jù)，而不管存儲體地址BANK ADD如何。換言之，第一存儲體110及第二存儲體120都被激活。因此，參見圖I，當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，從第一存儲體110和第二存儲體120兩者讀取總計32比特的數(shù)據(jù)。也就是說，響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活而從第一存儲體110和第二存儲體120中的每個讀取16比特的數(shù)據(jù)。在壓縮電路CO中將從第一存儲體110讀取的16比特的數(shù)據(jù)壓縮為8比特的壓縮數(shù)據(jù)。同時，在壓縮電路Cl中將從第二存儲體120讀取的16比特的數(shù)據(jù)壓縮為8比特的壓縮數(shù)據(jù)。簡言之，產(chǎn)生16比特的壓縮數(shù)據(jù)。第一存儲體110的8比特的壓縮數(shù)據(jù)分別加載到全局線GI0〈0:7>上。此外，第二存儲體120的8比特的壓縮數(shù)據(jù)分別加載到全局線GI0〈8:15>上。接著，加載到全局線GI0〈0:15>上的16比特的數(shù)據(jù)被傳送至數(shù)據(jù)輸出單元130?？傊?，響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活而經(jīng)由全局線GI0〈0:15> —次將第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)和第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)全部傳送。數(shù)據(jù)輸出單元130經(jīng)由接口焊盤101和102中的一個將第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)傳送至存儲器件的外部。例如，數(shù)據(jù)輸出單元130可以響 應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活而經(jīng)由多個接口焊盤101和102之中的第一接口焊盤101來傳送加載到第零至第七全局線GICKO :7>上的第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)。隨后，響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次激活而經(jīng)由用于輸出第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)的同一接口焊盤來將第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)輸出至存儲器件的外部。例如，數(shù)據(jù)輸出單元130可以響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次激活而經(jīng)由第一接口焊盤101來傳送加載到第八至第十五全局線GI0〈8:15>上的第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)。簡言之，經(jīng)由相同的接口焊盤(例如，第一接口焊盤101)但以不同的輸出定時來輸出第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)和第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)。為此，數(shù)據(jù)輸出單元130響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活而將加載到第零至第七全局線GI0〈0:7>上的第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤101，且響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次激活而將加載到第八至第十五全局線GI0〈8:15>上的第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤101。盡管上文的說明描述的是僅使用第一接口焊盤101來輸出壓縮數(shù)據(jù)的情況，但輸出壓縮數(shù)據(jù)的接口焊盤的數(shù)目可以根據(jù)存儲器件是如何設(shè)計的而改變。換言之，根據(jù)本發(fā)明的存儲器件不一定僅經(jīng)由一個接口焊盤輸出壓縮數(shù)據(jù)，而是可以經(jīng)由多個接口焊盤之中的接口焊盤的子集來輸出壓縮數(shù)據(jù)。根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)，包括兩個存儲體的存儲器件在壓縮測試操作期間使用兩個接口焊盤。例如，在已知的存儲器件中，全局線GICKO :7>對應(yīng)于接口焊盤101，全局線GI0〈8:15>對應(yīng)于接口焊盤102。因此，當(dāng)利用包括8個接口焊盤的測試設(shè)備對已知存儲器件執(zhí)行壓縮測試時，每次測試時間僅可以測試這些已知存儲器件中的4個。另一方面，根據(jù)圖I的存儲器件，可以利用一個接口焊盤101順序地輸出第一存儲體Iio的壓縮數(shù)據(jù)和第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)。這是因?yàn)?，對于各存儲體而言，壓縮數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤101的時刻是分開的，且存儲器件可以被設(shè)計為將加載到全局線GI0〈0:15>上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至目標(biāo)接口焊盤101。因此，使用一個接口焊盤101來測試一個存儲器件。因此，可以利用具有8個接口焊盤的同一測試設(shè)備來同時測試根據(jù)本發(fā)明的8個存儲器件。簡言之，本發(fā)明的技術(shù)的優(yōu)勢在于，與現(xiàn)有技術(shù)相比它可以同時測試更多的存儲器件。一般而言，將多個存儲器件與測試設(shè)備連接/斷開連接要花費(fèi)長的時間。因而，因?yàn)闇y試設(shè)備能夠一次測試更多的存儲器件，因而可以減少連接/斷開連接的時間，這樣可使總測試時間減少。圖2是說明圖I中所示的數(shù)據(jù)輸出單元130的框圖。
參見圖2，數(shù)據(jù)輸出單元130包括選擇信息發(fā)生器211和線選擇器220。選擇信息發(fā)生器211響應(yīng)于讀取命令RDCMD而產(chǎn)生選擇信息INF。線選擇器220響應(yīng)于選擇信息INF而從多個全局線GI0〈0:15>之中選擇全局線的子集，且將加載到選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至特定的接口焊盤。例如，如圖2所示，線選擇器220選擇第零至第七全局線GI0〈0: 7>或第八至第十五全局線，且將加載到選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至第一接口焊盤101。此外，數(shù)據(jù)輸出單元130包括管道鎖存器(pipe latch) PO和Pl，管道鎖存器PO和Pl用于將經(jīng)由對應(yīng)的線(例如，第零至第七全局線GI0〈0:7>)并行傳送的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù)，且將串行數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤101和102。圖3示出圖2所示的線選擇器220的結(jié)構(gòu)。如圖3所示，線選擇器220可以包括多個線選擇器單元。每個線選擇器單元可以被配置成響應(yīng)于選擇信息INF和測試信號PT 而從多個全局線GI0〈0:15>之中的全局線中選擇一個，且將加載到選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至與對應(yīng)的接口焊盤相耦接的輸出線。例如，如圖3所示，線選擇器單元可基于選擇信息INF和測試信號PT來選擇第零全局線GI0〈0>或第八全局線GI0〈8>，且將加載到選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至與第一接口焊盤101相耦接的輸出線0UT〈0>。圖4是用于說明數(shù)據(jù)輸出單元130的操作的時序圖。圖4示出在讀取命令RDCMD的第一次激活之后當(dāng)選擇信息INF處于第一邏輯電平(例如，邏輯低電平)時，可以經(jīng)由第一接口焊盤101順序地輸出從第一存儲體110讀取且加載到第零至第七全局線GI0〈0:7>上的8比特的壓縮數(shù)據(jù)。另外，圖4還示出在讀取命令RDCMD的第二次激活之后當(dāng)選擇信息INF處于第二邏輯電平(例如，邏輯高電平)時，可以經(jīng)由第一接口焊盤101順序地輸出從第二存儲體120讀取且加載到第八至第十五全局線GI0〈8:15>上的8比特的壓縮數(shù)據(jù)。下面參照圖2至圖4進(jìn)一步描述數(shù)據(jù)輸出單元130的操作。在壓縮測試操作期間使用選擇信息發(fā)生器211。每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，選擇信息發(fā)生器211產(chǎn)生或更新選擇信息INF。選擇信息INF是當(dāng)線選擇器220選擇要使用的全局線時所使用的信號。每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，選擇信息INF的值改變。如圖4中所示，在壓縮測試操作期間，第一次施加讀取命令RDCMD時的選擇信息INF與第二次施加讀取命令RDCMD時的選擇信息INF具有不同的值。例如，當(dāng)施加第一次讀取命令RDCMD時，選擇信息INF可以表示邏輯值“O”，當(dāng)施加第二次讀取命令RDCMD時，選擇信息INF可以表示邏輯值“ I ”。為此，每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，選擇信息發(fā)生器211改變選擇信息INF的邏輯值。選擇信息發(fā)生器211可以包括接收讀取命令RDCMD作為輸入且輸出選擇信息INF的T觸發(fā)器。圖2中所示的選擇信息發(fā)生器210僅僅是一個實(shí)例。此外，由于在圖2中選擇信息INF必須具有兩個不同的值，因此選擇信息INF可以是表示一個比特的單個數(shù)字信號。另夕卜，也可將復(fù)位信號RST輸入至選擇信息發(fā)生器211。復(fù)位信號RST是用于將選擇信息INF初始化為特定的邏輯電平——例如，表示“ I ”的邏輯高電平——的信號。線選擇器220在壓縮測試操作期間將基于選擇信息INF從多個全局線GI0〈0:15>之中選中的全局線的壓縮數(shù)據(jù)傳送至多個輸出線0UT〈0:7>。加載到輸出線0UT〈0:7>上的數(shù)據(jù)在管道鎖存器PO中經(jīng)歷并行到串行轉(zhuǎn)換，且經(jīng)由第一接口焊盤101輸出至存儲器件的外部。
在上述實(shí)例中，當(dāng)選擇信息INF表示邏輯值“O”時，即當(dāng)?shù)谝淮问┘幼x取命令RDCMD時，加載在全局線GI0〈0:7>上的數(shù)據(jù)即第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至輸出線0UT〈0:7>。當(dāng)選擇信息INF表示邏輯值“I”時，即當(dāng)?shù)诙问┘幼x取命令RDCMD時，加載在全局線GI0〈8:15>上的數(shù)據(jù)即第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至輸出線0UT〈0:7>。當(dāng)測試信號PT被禁止時，在正常操作期間線選擇器220將加載在全局線GICKO: 7>上的數(shù)據(jù)即正常數(shù)據(jù)傳送至輸出線0UT〈0:7>，而不管選擇信息INF如何。因此，在正常操作期間，加載在全局線GICKO: 7>上的數(shù)據(jù)經(jīng)由管道鎖存器PO從第一接口焊盤101輸出，且加載在全局線GI0〈8:15>上的數(shù)據(jù)經(jīng)由管道鎖存器Pl從第二接口焊盤102輸出。每個信號的邏輯值和傳送關(guān)系可以根據(jù)存儲器件是如何設(shè)計的 而有所不同。數(shù)據(jù)輸出單元130的功能是每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時選擇不同的全局線，并且將加載在選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至多個接口焊盤101和102之中的一個接口焊盤。本文中，第一接口焊盤101是用于輸出全部的壓縮數(shù)據(jù)的焊盤，因此第一接口焊盤101與測試設(shè)備連接。圖5是說明根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性實(shí)施例的存儲器件的框圖。圖5中所示的存儲器件利用與圖I中所示的存儲器件相同的原理。參見圖5，存儲器件包括多個存儲體310至340、多個壓縮電路CO至C3、多個接口焊盤301至304、以及數(shù)據(jù)輸出單元350。數(shù)據(jù)輸出單元350被配置成在壓縮測試操作期間經(jīng)由多個接口焊盤301至304之中的至少一個接口焊盤順序地輸出多個存儲體310至340中的每個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)。圖5示出響應(yīng)于讀取命令RDCMD而從存儲體310至340中的每個讀取16比特的數(shù)據(jù)(在圖5中，X16表示讀取16比特的數(shù)據(jù))的情況。如圖5所示，將壓縮電路CO至C3分別提供給存儲體310至340中的每個。壓縮電路CO至C3將16比特的數(shù)據(jù)壓縮為4比特的壓縮數(shù)據(jù)(在圖5中，X4表示產(chǎn)生4比特的壓縮數(shù)據(jù))。因此，此壓縮方案可以被稱為4:1壓縮。當(dāng)存儲器件執(zhí)行正常操作時，將從存儲體310至340讀取且經(jīng)由多個接口焊盤301至304輸出至存儲器件外部的數(shù)據(jù)稱為正常數(shù)據(jù)。正常數(shù)據(jù)從存儲體310至340經(jīng)由全局線GL0〈0:15>輸出至數(shù)據(jù)輸出單元350，而不經(jīng)過壓縮電路CO至C3。此外，當(dāng)存儲器件利用壓縮數(shù)據(jù)執(zhí)行被稱為壓縮測試操作的測試操作時，將從存儲體310至340讀取且在壓縮電路CO至C3中壓縮的數(shù)據(jù)稱為“壓縮數(shù)據(jù)”。下面，參見圖5描述存儲器件的操作。當(dāng)存儲器件執(zhí)行正常操作時，測試信號PT被禁止。當(dāng)存儲器件執(zhí)行壓縮測試操作時，測試信號PT被使能。在下文中，分開描述存儲器件執(zhí)行正常操作的情況和存儲器件執(zhí)行壓縮測試操作的情況。(I)當(dāng)存儲器件執(zhí)行正常操作時當(dāng)測試信號PT被禁止時，存儲體控制器305響應(yīng)于讀取命令RDCMD來控制存儲器件以從存儲體地址BANK ADD所指定的一個存儲體讀取數(shù)據(jù)。換言之，根據(jù)存儲體地址BANKADD來激活第一存儲體310至第四存儲體340之中的一個存儲體。參見圖5，當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，從存儲體地址BANK ADD所指定的存儲體讀取16比特的數(shù)據(jù)。從所述一個存儲體輸出的16比特的正常數(shù)據(jù)不經(jīng)過壓縮電路CO至C3，而是被加載到多個全局線GI0〈0:15>上。這里，16比特的正常數(shù)據(jù)分別加載到16個全局線GI0<0:15>上。全局線GI0〈0:15>的數(shù)據(jù)被傳送至數(shù)據(jù)輸出單元350，且在經(jīng)由接口焊盤301至304輸出至存儲器件的外部之前在數(shù)據(jù)輸出單元350中經(jīng)歷并行到串行的轉(zhuǎn)換。下面描述根據(jù)圖5的示例性實(shí)施例的存儲器件的正常操作。在第一個示例性的正常操作中，當(dāng)施加讀取命令RDCMD而測試信號PT被禁止，且存儲體地址BANK ADD指定第一存儲體310時，第一存儲體310被激活且從第一存儲體310讀取16比特的數(shù)據(jù)。16比特的數(shù)據(jù)分別加載到全局線GI0〈0:15>上。加載到全局線GI0〈0:3>、GI0〈4:7>、GI0〈8:11>和GI0〈12:15>上的正常數(shù)據(jù)經(jīng)歷并行到串行的轉(zhuǎn)換。接著，加載在全局線GI0〈0:3>上的正常數(shù)據(jù)可以經(jīng)由接口焊盤301順序地輸出至存儲器件的外部，加載在全局線GI0〈4:7>上的正常數(shù)據(jù)可以經(jīng)由接口焊盤302順 序地輸出至存儲器件的外部，加載在全局線GI0〈8:11>上的正常數(shù)據(jù)可以經(jīng)由接口焊盤303順序地輸出至存儲器件的外部，且加載在全局線GI0〈12:15>上的正常數(shù)據(jù)可以經(jīng)由接口焊盤304順序地輸出至存儲器件的外部。替代地，可以經(jīng)由多個接口焊盤301至304之中的選中的接口焊盤順序地輸出全部的16比特的正常數(shù)據(jù)。也就是說，接口焊盤301至304不一定全部用于正常操作。在第二個示例性的正常操作中，當(dāng)施加讀取命令RDCMD而測試信號PT被禁止、且存儲體地址BANK ADD指定第二存儲體320時，第二存儲體320被激活且從第二存儲體320讀取16比特的數(shù)據(jù)。所述16比特的數(shù)據(jù)未經(jīng)壓縮，因而為正常數(shù)據(jù)。在從第二存儲體320讀取之后，所述16比特的正常數(shù)據(jù)分別加載到全局線GI0〈0:15>上。隨后，加載到全局線GI0<0:15>上的16比特的正常數(shù)據(jù)經(jīng)歷與從第一存儲體310讀取的16比特的正常數(shù)據(jù)相同的過程(即，并行到串行的轉(zhuǎn)換)，且經(jīng)由接口焊盤301至304中的一個或更多個輸出至存儲器件的外部?？梢杂门c上文所描述的方式相同的方式從第三存儲體330和第四存儲體340讀取和輸出正常數(shù)據(jù)。由于本發(fā)明涉及存儲器件在壓縮測試操作期間的操作，且由于在正常操作期間輸出數(shù)據(jù)的過程對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言是熟知的，因此本文中不再提供對正常操作的進(jìn)一步描述。(2)當(dāng)存儲器件執(zhí)行壓縮測試操作時當(dāng)測試信號PT被使能時，存儲體控制器305可以響應(yīng)于讀取命令RDCMD來控制存儲器件以從全部的存儲體310至340讀取全部的數(shù)據(jù)，而不管存儲體地址BANK ADD如何。換言之，可以激活全部的存儲體310至340。因此，參見圖5，當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，從全部的存儲體310至340中讀取總計64比特的數(shù)據(jù)。也就是說，可以響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活而從第一存儲體310至第四存儲體340中的每個讀取16比特的數(shù)據(jù)。從第一存儲體310至第四存儲體340中的每個讀取的16比特的數(shù)據(jù)各自分別由對應(yīng)的壓縮電路CO至C3壓縮為4比特的壓縮數(shù)據(jù)。簡言之，產(chǎn)生16比特的壓縮數(shù)據(jù)(每個存儲體產(chǎn)生4比特)。第一存儲體310的4比特的壓縮數(shù)據(jù)分別加載到全局線GI0〈0:3>上。此外，第二至第四存儲體320、330和340中的每個的4比特的壓縮數(shù)據(jù)分別加載到全局線GI0〈4:7>、GI0〈8:11>和GI0〈12:15>上。接著，加載到全局線GI0〈0:15>上的16比特的數(shù)據(jù)傳送至數(shù)據(jù)輸出單元350?？傊?，響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活而經(jīng)由全局線GI0〈0:15> —次全部傳送第一存儲體310至第四存儲體340全部的壓縮數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)輸出單元350經(jīng)由接口焊盤301至304中的一個或更多個而將第一存儲體310的壓縮數(shù)據(jù)傳送至存儲器件的外部。例如，數(shù)據(jù)輸出單元350可以響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活而經(jīng)由多個接口焊盤301至304之中的第一接口焊盤301來傳送加載在第零至第三全局線GI0〈0:3>上的第一存儲體310的壓縮數(shù)據(jù)。隨后，響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次、第三次和第四次激活而經(jīng)由至少一個接口焊盤將每個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至存儲器件的外部。更具體而言，可以響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次激活而經(jīng)由接口焊盤301輸出第二存儲體320的壓縮數(shù)據(jù)，可以響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第三次激活而經(jīng)由接口焊盤301輸出第三存儲體330的壓縮數(shù)據(jù)，且可以響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第四次激活而經(jīng)由接口焊盤301輸出第四存儲體340的壓縮數(shù)據(jù)。簡 言之，經(jīng)由同一接口焊盤(例如，第一接口焊盤301)順序地輸出第一存儲體310的壓縮數(shù)據(jù)至第四存儲體340的壓縮數(shù)據(jù)。為此，數(shù)據(jù)輸出單元350響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活而將加載在第零至第三全局線GICKO:3>上的第一存儲體310的壓縮數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤301。接著，數(shù)據(jù)輸出單元350響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次激活而將加載在第四至第七全局線GI0〈4:7>上的第二存儲體320的壓縮數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤301。接著，數(shù)據(jù)輸出單元350響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第三次激活而將加載在第八至第i^一全局線GI0〈8:11>上的第三存儲體330的壓縮數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤301。最后，數(shù)據(jù)輸出單元350響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第四次激活而將加載在第十二至第十五全局線GI0〈12:15>上的第四存儲體340的壓縮數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤301。這里，讀取命令RDCMD的第四次激活發(fā)生在讀取命令的第三次激活之后的時間，讀取命令的第三次激活發(fā)生在讀取命令的第二次激活之后的時間，讀取命令的第二次激活發(fā)生在讀取命令的第一次激活之后的時間。另外，讀取命令的第一次至第四次激活中的每個之間所經(jīng)過的時間可以相同或不同。根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)，包括四個存儲體的存儲器件在壓縮測試操作期間利用四個接口焊盤以一次將四個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)全部輸出。然而，根據(jù)圖5的存儲器件，可以利用一個接口焊盤順序地輸出存儲體310至340中的每個的壓縮數(shù)據(jù)。也就是說，圖5所示的存儲器件的效果與圖I所示的存儲器件的效果相似。換言之，可通過對加載有壓縮數(shù)據(jù)的線進(jìn)行選擇且順序地輸出壓縮數(shù)據(jù)來減少壓縮測試操作所需的接口焊盤的數(shù)目。如上所述，當(dāng)在施加激活命令之后第一次施加讀取命令RDCMD時，多個存儲體310至340的壓縮數(shù)據(jù)共同地加載到全局線GI0〈0:15>上。本文中，可以經(jīng)由存儲體控制器305將讀取命令RDCMD傳送至存儲體310至340，這可能要考慮RAS至CAS延遲時間(tRCD)。RAS至CAS延遲時間(tRCD)是指從施加行激活命令的時刻至施加列激活命令的時刻之間的時間的最小量。圖6是說明圖5所示的數(shù)據(jù)輸出單元350的框圖。參見圖6，數(shù)據(jù)輸出單元350包括選擇信息發(fā)生器410和線選擇器420。選擇信息發(fā)生器410響應(yīng)于讀取命令RDCMD而產(chǎn)生選擇信息INF〈0:3>。線選擇器420響應(yīng)于選擇信息INF〈0: 3>而從多個全局線GICKO: 15>中選擇全局線的子集，且將加載在選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至至少一個接口焊盤。例如，如圖6中所示，線選擇器420選擇第零至第三全局線GI0〈0:3>、第四至第七全局線GI0〈4:7>、第八至第十一全局線GI0〈8:11>或第十二至第十五全局線GI0〈12:15>之一，且將加載在選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至第一接口焊盤301。此外，數(shù)據(jù)輸出單元350包括管道鎖存器PO至P3，管道鎖存器PO至P3用于將經(jīng)由對應(yīng)的線(例如，第零至第三全局線GI0〈0:3>)并行傳送的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù)，且將串行數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤301至304。圖7示出圖6所示的線選擇器420的結(jié)構(gòu)。如圖7所示，線選擇器420可以包括多個線選擇器單元。每個線選擇器單元可以被配置成響應(yīng)于選擇信息INF〈0:3>和測試信號PT而從多個全局線GICKO: 15>之中的全局線選擇一個，且 將加載在選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至與對應(yīng)的接口焊盤相耦接的輸出線。例如，如圖7所示，線選擇器單元可以基于選擇信息INF〈0:3>和測試信號PT來選擇第零全局線GI0〈0>、第四全局線GI0〈4>、第八全局線GI0〈8>、或第十二全局線GI0〈12>之一，且將加載在選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至與第一接口焊盤301耦接的輸出線0UT〈0>。圖8是說明數(shù)據(jù)輸出單元350的操作的時序圖。圖8示出在讀取命令RDCMD的第一次激活之后當(dāng)選擇信息INF〈0>處于第一邏輯電平(例如，邏輯高電平)時，可以經(jīng)由第一接口焊盤301順序地輸出從第一存儲體310讀取且加載在第零至第三全局線GICKO :3>上的4比特的壓縮數(shù)據(jù)。另外，圖8還示出在讀取命令RDCMD的第二次激活之后當(dāng)選擇信息INF〈1>處于第一邏輯電平(例如，邏輯高電平)時，可以經(jīng)由第一接口焊盤301順序地輸出從第二存儲體320讀取且加載在第四至第七全局線GI0〈4:7>上的4比特的壓縮數(shù)據(jù)。此外，圖8還示出在讀取命令RDCMD的第三次激活之后當(dāng)選擇信息INF〈2>處于第一邏輯電平(例如，邏輯高電平)時，可以經(jīng)由第一接口焊盤301順序地輸出從第三存儲體330讀取且加載在第八至第十一全局線GI0〈8:11>上的4比特的壓縮數(shù)據(jù)。最后，圖8示出在讀取命令RDCMD的第四次激活之后當(dāng)選擇信息INF〈3>處于第一邏輯電平(例如，邏輯高電平)時，可以經(jīng)由第一接口焊盤301順序地輸出從第四存儲體340讀取且加載在第十二至第十五全局線GI0〈12:15>上的4比特的壓縮數(shù)據(jù)。在下文中，參見圖6至圖8描述數(shù)據(jù)輸出單元350的操作。在壓縮測試操作期間使用選擇信息發(fā)生器410。每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，選擇信息發(fā)生器410產(chǎn)生或更新選擇信息INF〈0:3>。選擇信息INF〈0:3>是當(dāng)線選擇器420選擇要使用的全局線時所使用的信號。每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，選擇信息INF〈0:3>的值改變。選擇信息發(fā)生器410包括初步信息發(fā)生電路411，所述初步信息發(fā)生電路411響應(yīng)于讀取命令RDCMD而產(chǎn)生初步信息PRE_INF〈0: 1> ；以及信息發(fā)生電路412，所述信息發(fā)生電路412基于初步信息PRE_INF〈0:1>而產(chǎn)生選擇信息INF〈0:3>。如圖8中所示，在壓縮測試操作期間，當(dāng)施加第一次至第四次讀取命令RDCMD時，選擇信息INF〈0:3>具有不同的值。例如，當(dāng)?shù)谝淮问┘幼x取命令RDCMD時，選擇信息INF〈0:3>可以為(1，0，0，0)，這表示信號INF〈0>被激活，而信號INF〈1>、INF〈2>和INF〈3>不被激活。當(dāng)?shù)诙问┘幼x取命令RDCMD時，選擇信息INF〈0:3>可以為(0，1，0，O)，這表示信號INF〈1>被激活，而信號INF〈0>、INF〈2>及INF〈3>不被激活。此外，當(dāng)?shù)谌问┘幼x取命令RDCMD時，選擇信息INF〈0:3>可以為(0，0，I，O)，這表示信號INF〈2>被激活，而信號INF〈0>、INF<1>及INF〈3>不被激活，當(dāng)?shù)谒拇问┘幼x取命令RDCMD時，選擇信息INF〈0:3>可以為(O，O，O，I)，這表示信號INF〈3>被激活，而信號INF〈0>、INF〈1>及INF〈2>不被激活。為此，每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時，初步信息發(fā)生電路411改變初步信息PRE_INF<0:1>的邏輯值。初步信息發(fā)生電路411可以包括第一 T觸發(fā)器Tl，所述第一 T觸發(fā)器Tl接收讀取命令RDCMD作為輸入且輸出初步信息PRE_INF〈0> ；以及第二 T觸發(fā)器T2，所述第二 T觸發(fā)器T2接收初步信息PRE_INF〈0>作為輸入且輸出初步信息PRE_INF〈1>。在此情況下，當(dāng)?shù)谝淮问┘幼x取命令RDCMD時，產(chǎn)生邏輯值為(0，O)的初步信息PRE_INF，這表示信號PRE_INF〈0>和信號PRE_INF〈1>兩者都不被激活。當(dāng)?shù)诙?、第三次及第四次施加讀取命令RDCMD時，初步信息PRE_INF〈0:1>分別具有以下邏輯值(I，O)，這表示信號PRE_INF〈0>被激活而信號PRE_INF〈1>不被激活；(0，I)，這表示信號PRE_INF〈0>不被激活而信號PRE_INF〈1>被激活；以及(1，I)，這表示信號PRE_INF〈0>和信號PRE_INF〈1>兩者都被 激活。信息發(fā)生電路412基于初步信息PRE_INF〈0:1>的邏輯值而產(chǎn)生選擇信息INF〈0:3>。信息發(fā)生電路412可以是通過將初步信息PRE_INF〈0:1>譯碼而產(chǎn)生選擇信息INF〈0:3>的譯碼器。圖6中所示的選擇信息發(fā)生器410僅僅是一個實(shí)例。選擇信息發(fā)生器410產(chǎn)生具有數(shù)個信號的選擇信息，所述數(shù)個信號允許由線選擇器420區(qū)別數(shù)個存儲體，并且，每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時選擇信息發(fā)生器410改變選擇信息的值。由于在圖6中選擇信息INF〈0:3>必須具有四個不同的值，因此選擇信息INF〈0:3>可以具有總共表示兩個比特的四個數(shù)字信號。另外，還可以將復(fù)位信號RST輸入至選擇信息發(fā)生器410。復(fù)位信號RST是用于將T觸發(fā)器Tl和T2的輸出信號PRE_INF〈0>和PRE_INF〈1>初始化為特定的邏輯電平(例如，表示“I”的邏輯高電平)的信號。線選擇器420在壓縮測試操作期間將基于選擇信息INF〈0:3>而從多個全局線GI0〈0:15>之中選中的全局線的壓縮數(shù)據(jù)傳送至多個輸出線0UT〈0:3>。加載在輸出線0UT〈0: 3>上的數(shù)據(jù)在管道鎖存器PO中經(jīng)歷并行到串行的轉(zhuǎn)換，且經(jīng)由第一接口焊盤301輸出至存儲器件的外部。在上述實(shí)例中，當(dāng)選擇信息INF〈0:3>為(1，0，0，0)時，即當(dāng)?shù)谝淮问┘幼x取命令RDCMD時，加載在全局線GICKO:3>上的數(shù)據(jù)即第一存儲體310的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至輸出線0UT〈0:3>。當(dāng)選擇信息INF〈0:3>為(0，1，0，0)時，即當(dāng)?shù)诙问┘幼x取命令RDCMD時，力口載在全局線GI0〈4:7>上的數(shù)據(jù)即第二存儲體320的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至輸出線0UT〈0:3>。當(dāng)選擇信息INF〈0:3>為(0，0，1，0)時，即當(dāng)?shù)谌问┘幼x取命令RDCMD時，加載在全局線GI0<8:11>上的數(shù)據(jù)即第三存儲體330的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至輸出線0UT〈0:3>。當(dāng)選擇信息INF〈0:3>為(0,0,0,1)時，即當(dāng)?shù)谒拇问┘幼x取命令RDCMD時，加載在全局線GI0〈12:15>上的數(shù)據(jù)即第四存儲體340的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至輸出線0UT〈0:3>。當(dāng)測試信號PT被禁止時，線選擇器420在正常操作期間將加載在全局線GICKO: 3>上的數(shù)據(jù)即正常數(shù)據(jù)傳送至輸出線0UT〈0:3>，而不管選擇信息INF〈0:3>如何。因此，在正常操作期間，經(jīng)由管道鎖存器PO從第一接口焊盤301輸出加載在全局線GI0〈0:3>上的數(shù)據(jù)，且分別經(jīng)由管道鎖存器P1、P2和P3從接口焊盤302、303及304輸出加載在全局線GI0〈4:7>、GI0〈8:11> 和 GI0<12:15> 上的數(shù)據(jù)。每個信號的邏輯值和傳送關(guān)系可以根據(jù)存儲器件是如何設(shè)計的而有所不同。數(shù)據(jù)輸出單元350的功能是每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時選擇不同的全局線，且將加載在選中的全局線上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至多個接口焊盤301至304之中的至少一個接口焊盤。本文中，所述至少一個接口焊盤是第一接口焊盤301，其用來輸出全部的壓縮數(shù)據(jù)，因此，第一接口焊盤301與測試設(shè)備連接。圖9是說明根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性實(shí)施例的數(shù)據(jù)輸出單元350的一部分的框圖。圖9示出響應(yīng)于讀取命令RDCMD的單次激活而允許輸出兩個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)輸出單元350。在圖9中，假設(shè)一個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至第一接口焊盤301，而另一個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至第二接口焊盤302。這可以根據(jù)數(shù)據(jù)輸出單元350是如 何設(shè)計的而有所不同。例如，可以在同一持續(xù)時間中輸出第一存儲體310和第二存儲體320的壓縮數(shù)據(jù)，且可以在同一持續(xù)時間中輸出第三存儲體330和第四存儲體340的壓縮數(shù)據(jù)。壓縮數(shù)據(jù)到達(dá)數(shù)據(jù)輸出單元350的路徑結(jié)構(gòu)和操作類似于參照圖5至圖8所描述的路徑結(jié)構(gòu)和操作。圖6的示例性實(shí)施例與圖9的示例性實(shí)施例之間的差異在于將加載在全局線GICKO: 15>上的數(shù)據(jù)傳送至接口焊盤301至304的方式。在下文中描述此差異。圖9的數(shù)據(jù)輸出單元350包括圖2的選擇信息發(fā)生器210和圖9的線選擇器420 ’。選擇信息發(fā)生器210的結(jié)構(gòu)和操作與參照圖2所描述的結(jié)構(gòu)和操作相同，因此此處省略對所述結(jié)構(gòu)和操作的進(jìn)一步描述。在測試信號PT被使能的壓縮測試操作期間，線選擇器420’將基于選擇信息INF而從多個全局線GI0〈0:15>之中選中的全局線的壓縮數(shù)據(jù)傳送至第零至第三輸出線0UT<0:3>或第四至第七輸出線0UT〈4:7>。加載在第零至第三輸出線0UT〈0:3>上的數(shù)據(jù)在管道鎖存器PO中經(jīng)歷并行到串行的轉(zhuǎn)換且經(jīng)由第一接口焊盤301輸出，而加載在第四至第七輸出線0UT〈4:7>上的數(shù)據(jù)在管道鎖存器Pl中經(jīng)歷并行至串行的轉(zhuǎn)換且經(jīng)由第二接口焊盤302輸出。在上述實(shí)例中，響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活，在選擇信息INF具有第一邏輯電平(例如，邏輯低電平“O”)的情況下，加載在第零至第三全局線GI0〈0:3>上的數(shù)據(jù)即第一存儲體310的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至第零至第三輸出線0UT〈0:3>，且加載在第四至第七全局線GI0〈4:7>上的數(shù)據(jù)即第二存儲體320的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至第四至第七輸出線0UT〈4:7>。隨后，響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次激活，在選擇信息INF具有第二邏輯電平(例如，邏輯高電平“I”)的情況下，加載在第八至第十一全局線GI0〈8:11>上的數(shù)據(jù)即第三存儲體330的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至第零至第三輸出線0UT〈0:3>，且加載在第十二至第十五全局線GI0〈12:15>上的數(shù)據(jù)即第四存儲體340的壓縮數(shù)據(jù)被傳送至第四至第七輸出線 0UT〈4:7>。通過此過程，經(jīng)由管道鎖存器PO和第一接口焊盤301順序地輸出加載在全局線GI0〈0: 3>和GI0〈8:11>上的數(shù)據(jù)。此外，經(jīng)由管道鎖存器Pl和第二接口焊盤302順序地輸出加載在全局線GI0〈4:7>和GI0〈12:15>上的數(shù)據(jù)。簡言之，可以響應(yīng)于讀取命令RDCMD的單次激活而在同一持續(xù)時間中輸出多個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)。在此情況下，可以將多個接口焊盤之中的多于一個的接口焊盤(例如,第一和第二接口焊盤301和302)連接至測試設(shè)備。在壓縮測試操作期間，隨著一個存儲器件所使用的接口焊盤的數(shù)目增加，可以減少用于測試存儲器件所花費(fèi)的時間。相反，隨著一個存儲器件所使用的接口焊盤的數(shù)目減小，可以增加由同一測試設(shè)備同時測試的存儲器件的數(shù)目。在下文中，回到圖I至圖4來描述根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實(shí)施例的用于測試存儲器件的方法。根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實(shí)施例的存儲器件測試方法包括施加讀取命令RDCMD ;響應(yīng)于讀取命令RDCMD而從第一存儲體110和第二存儲體120讀取數(shù)據(jù)；將第一存儲體110和第二存儲體120輸出的數(shù)據(jù)壓縮以由此產(chǎn)生壓縮數(shù)據(jù)；響應(yīng)于讀取命令RDCMD而將第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)輸出至多個接口焊盤101及102之中的至少一個接口焊盤101 ;第二次施加讀取命令RDCMD ；以及響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次激活而將第二 存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)輸出至至少一個接口焊盤101。當(dāng)?shù)谝淮问┘幼x取命令RDCMD時，將第一存儲體110和第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)傳送至全局線GI0〈0:15>。此外，當(dāng)?shù)谝淮问┘幼x取命令RDCMD時，第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)、即局線GI0<0:15>的壓縮數(shù)據(jù)之中的加載在全局線GI0〈0:7>上的數(shù)據(jù)經(jīng)歷并行到串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換且被傳送至至少一個接口焊盤101。當(dāng)?shù)诙问┘幼x取命令RDCMD時，第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)、即全局線GI0〈0:15>的壓縮數(shù)據(jù)之中的加載在全局線GI0〈8:15>上的數(shù)據(jù)經(jīng)歷并行至串行的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換且被傳送至至少一個接口焊盤101。簡言之，在經(jīng)由至少一個接口焊盤101輸出第一存儲體110的壓縮數(shù)據(jù)之后，經(jīng)由所述至少一個接口焊盤101輸出第二存儲體120的壓縮數(shù)據(jù)。在下文中，回到圖5至圖9描述根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實(shí)施例的用于測試存儲器件的方法。根據(jù)本發(fā)明的另一個示例性實(shí)施例的用于測試存儲器件的方法包括施加讀取命令RDCMD ;響應(yīng)于讀取命令RDCMD而從多個存儲體讀取數(shù)據(jù)；壓縮從存儲體讀取的數(shù)據(jù)；響應(yīng)于讀取命令RDCMD而將多個存儲體之中的至少一個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至多個接口焊盤之中的至少一個接口焊盤；第二次施加讀取命令RDCMD ;以及響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次激活而將多個存儲體之中的至少一個其它的存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至多個接口焊盤之中的所述至少一個接口焊盤。因此，可以順序地輸出多個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)(即，一次一個地輸出每個存儲體的壓縮數(shù)據(jù))，或可以將存儲體分組以使得可同時輸出同一組中的存儲體的壓縮數(shù)據(jù)。例如，參見圖5和圖9，第一存儲體310和第二存儲體320可以形成第一組，而第三存儲體330和第四存儲體340形成第二組。當(dāng)?shù)谝淮问┘幼x取命令RDCMD時，將多個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)傳送至多個全局線GI0〈0:15>。簡言之，在同一持續(xù)時間中將多個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)傳送至多個全局線GI0〈0:15>。在下文中，描述順序地輸出每個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)的情況和同時輸出一組存儲體的壓縮數(shù)據(jù)的情況。當(dāng)一次一個地輸出多個存儲體中的每個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)時，每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時輸出壓縮數(shù)據(jù)。因此，分別響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次至第四次激活而經(jīng)由接口焊盤301順序地輸出第一存儲體310至第四存儲體340的壓縮數(shù)據(jù)。當(dāng)將兩個存儲體分組在一起時(在此情況下，第一存儲體組包括第一存儲體和第二存儲體，且第二存儲體組包括第三存儲體和第四存儲體)，每當(dāng)施加讀取命令RDCMD時輸出一個存儲體組中的兩個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)。因此，響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第一次激活而將包括第一存儲體310和第二存儲體320的第一存儲體組的壓縮數(shù)據(jù)輸出至接口焊盤301和302，且響應(yīng)于讀取命令RDCMD的第二次激活而將包括第三存儲體330和第四存儲體340的第二存儲體組的壓縮數(shù)據(jù)輸出至接口焊盤301和302。就每個接口焊盤來考慮所述過程，可以經(jīng)由接口焊盤301順序地輸出第一存儲體310的壓縮數(shù)據(jù)和第三存儲體330的壓縮數(shù)據(jù)。此外，可以經(jīng)由接口焊盤302順序地輸出第二存儲體320的壓縮數(shù)據(jù)和第四存儲體340的壓縮數(shù)據(jù)。根據(jù)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的存儲器件測試方法具有的優(yōu)勢在于，在對 多個存儲器件執(zhí)行壓縮測試操作時，此方法可以通過減少每個存儲器件所需的接口焊盤的數(shù)目來一次測試許多存儲器件。根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)，壓縮測試是通過響應(yīng)于連續(xù)輸入的讀取命令而順序地輸出多個存儲體之中的一個或更多個存儲體的輸出數(shù)據(jù)來執(zhí)行的。由于可以減小對每個芯片執(zhí)行壓縮測試的接口焊盤的數(shù)目，因此可以一次對許多芯片執(zhí)行壓縮測試，這樣可以使執(zhí)行壓縮測試的時間減少。雖然已參照具體的實(shí)施例描述了本發(fā)明，但對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言明顯的是，在不脫離所附權(quán)利要求書所限定的本發(fā)明的精神和范圍的前提下，可以做出各種變化和修改。
權(quán)利要求
1.一種存儲器件，包括 第一存儲體； 第二存儲體； 多個接ロ焊盤；以及 數(shù)據(jù)輸出単元，所述數(shù)據(jù)輸出單元被配置成經(jīng)由所述多個接ロ焊盤之中的ー個接ロ焊盤輸出所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)，且隨后經(jīng)由所述ー個接ロ焊盤輸出所述第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求I所述的存儲器件，其中，所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)響應(yīng)于讀取命令的第一次激活而被輸出，所述第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)響應(yīng)于所述讀取命令的第二次激活而被輸出。
3.如權(quán)利要求2所述的存儲器件，其中，所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)和所述第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)響應(yīng)于所述讀取命令的第一次激活而被傳送至多個全局線。
4.如權(quán)利要求3所述的存儲器件，其中，所述數(shù)據(jù)輸出單元包括 選擇信息發(fā)生器，所述選擇信息發(fā)生器被配置成響應(yīng)于所述讀取命令的第一次激活和所述讀取命令的第二次激活而產(chǎn)生選擇信息；和 線選擇器，所述線選擇器被配置成響應(yīng)于所述選擇信息而從所述多個全局線之中選擇全局線組，且將加載到所述選中的全局線組上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至所述ー個接ロ焊盤。
5.如權(quán)利要求4所述的存儲器件，其中，所述線選擇器接收測試信號且基于所述測試信號而從所述多個全局線之中選擇所述全局線組。
6.如權(quán)利要求4所述的存儲器件，其中，每當(dāng)所述讀取命令被激活時，所述選擇信息發(fā)生器更新所述選擇信息。
7.如權(quán)利要求4所述的存儲器件，其中，所述線選擇器響應(yīng)于基于所述讀取命令的第一次激活而產(chǎn)生的選擇信息來將所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)傳送至所述ー個接ロ焊盤，且響應(yīng)于基于所述讀取命令的第二次激活而產(chǎn)生的選擇信息來將所述第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)傳送至所述ー個接ロ焊盤。
8.如權(quán)利要求4所述的存儲器件，其中，所述選擇信息發(fā)生器包括T觸發(fā)器，所述T觸發(fā)器被配置成每當(dāng)所述讀取命令被激活時改變所述選擇信息，且每當(dāng)復(fù)位信號被激活時將所述選擇信息復(fù)位至預(yù)定值。
9.如權(quán)利要求4所述的存儲器件，其中，所述選擇信息發(fā)生器包括 初歩信息發(fā)生電路，所述初步信息發(fā)生電路被配置成響應(yīng)于所述讀取命令的第一次激活和所述讀取命令的第二次激活而產(chǎn)生初步選擇信息；以及 信息發(fā)生電路，所述信息發(fā)生電路被配置成基于所述初步選擇信息而產(chǎn)生所述選擇信O
10.如權(quán)利要求9所述的存儲器件，其中，所述選擇信息包括多個信號。
11.如權(quán)利要求4所述的存儲器件，其中，所述數(shù)據(jù)輸出單元還包括管道鎖存器，所述管道鎖存器被配置成在經(jīng)由所述ー個接ロ焊盤輸出所述壓縮數(shù)據(jù)之前將加載到所述選中的全局線組上的所述壓縮數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù)。
12.如權(quán)利要求2所述的存儲器件，其中，所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)和所述第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)是通過響應(yīng)于所述讀取命令的第一次激活而分別將所述第一存儲體輸出的數(shù)據(jù)和所述第二存儲體輸出的數(shù)據(jù)壓縮而獲得的。
13.如權(quán)利要求I所述的存儲器件，還包括 第一壓縮電路，所述第一壓縮電路被配置成在測試信號被使能時將從所述第一存儲體讀取的數(shù)據(jù)壓縮；以及 第二壓縮電路，所述第二壓縮電路被配置成在所述測試信號被使能時將從所述第二存儲體讀取的數(shù)據(jù)壓縮。
14.一種存儲器件，包括 多個存儲體組，每個存儲體組包括至少ー個存儲體； 多個接ロ焊盤；以及 數(shù)據(jù)輸出単元，所述數(shù)據(jù)輸出單元被配置成在壓縮測試操作期間ー次將所述多個存儲體組之中的一個存儲體組的壓縮數(shù)據(jù)輸出至所述多個接ロ焊盤之中的至少ー個接ロ焊盤，其中，所述多個存儲體組之中的不同的存儲體組的壓縮數(shù)據(jù)被順序地輸出。
15.如權(quán)利要求14所述的存儲器件，其中，每當(dāng)施加讀取命令時，經(jīng)由所述至少一接ロ焊盤輸出所述多個存儲體組之中的ー個存儲體組的壓縮數(shù)據(jù)。
16.如權(quán)利要求14所述的存儲器件，其中，所述多個存儲體組的壓縮數(shù)據(jù)響應(yīng)于讀取命令的第一次激活而被傳送至多個全局線。
17.如權(quán)利要求14所述的存儲器件，其中，所述多個存儲體組中的每個存儲體組所包括的存儲體的數(shù)目與用于在所述壓縮測試操作期間輸出所述壓縮數(shù)據(jù)的接ロ焊盤的數(shù)目相對應(yīng)。
18.如權(quán)利要求16所述的存儲器件，其中，所述數(shù)據(jù)輸出單元包括 選擇信息發(fā)生器，所述選擇信息發(fā)生器被配置成響應(yīng)于所述讀取命令而產(chǎn)生選擇信息；以及 線選擇器，所述線選擇器被配置成響應(yīng)于所述選擇信息而從所述多個全局線之中選擇全局線組，且將加載到所述選中的全局線組上的壓縮數(shù)據(jù)傳送至所述至少一個接ロ焊盤。
19.如權(quán)利要求18所述的存儲器件，其中，每當(dāng)所述讀取命令被激活時，所述選擇信息發(fā)生器更新所述選擇信息。
20.一種用于測試存儲器件的方法，包括以下步驟 施加讀取命令； 響應(yīng)于所述讀取命令而從第一存儲體讀取數(shù)據(jù)和從第二存儲體讀取數(shù)據(jù)； 將從所述第一存儲體讀取的數(shù)據(jù)和從所述第二存儲體讀取的數(shù)據(jù)壓縮，以由此產(chǎn)生壓縮數(shù)據(jù)； 響應(yīng)于所述讀取命令而將所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至多個接ロ焊盤之中的至少ー個接ロ焊盤； 第二次施加所述讀取命令；以及 響應(yīng)于所述讀取命令的第二次激活而將所述第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至所述至少一個接ロ焊盤。
21.如權(quán)利要求20所述的方法，其中，當(dāng)?shù)谝淮问┘铀鲎x取命令吋，將所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)和所述第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)傳送至多個全局線。
22.如權(quán)利要求20所述的方法，其中，當(dāng)?shù)谝淮问┘铀鲎x取命令吋，將加載到所述多個全局線上的壓縮數(shù)據(jù)之中的所述第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)傳送至所述至少一個接ロ焊盤，以及 當(dāng)?shù)诙问┘铀鲎x取命令吋，將加載到所述多個全局線上的壓縮數(shù)據(jù)之中的所述第ニ存儲體的壓縮數(shù)據(jù)傳送至所述至少一個接ロ焊盤。
23.一種用于測試存儲器件的方法，包括以下步驟 施加讀取命令； 響應(yīng)于所述讀取命令而從多個存儲體讀取數(shù)據(jù)； 將從所述多個存儲體讀取的所述數(shù)據(jù)壓縮； 響應(yīng)于所述讀取命令而將所述多個存儲體之中的至少ー個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至多個接ロ焊盤之中的至少ー個接ロ焊盤； 第二次施加所述讀取命令；以及 響應(yīng)于所述讀取命令的所述第二次激活而將所述多個存儲體之中的至少ー個其它的存儲體的壓縮數(shù)據(jù)輸出至所述多個接ロ焊盤之中的所述至少ー個接ロ焊盤。
24.如權(quán)利要求23所述的方法，其中，當(dāng)?shù)谝淮问┘铀鲎x取命令吋，將所述多個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)傳送至多個全局線。
25.如權(quán)利要求23所述的方法，其中，用于輸出所述壓縮數(shù)據(jù)的接ロ焊盤的數(shù)目與輸出所述壓縮數(shù)據(jù)的存儲體的數(shù)目相對應(yīng)。
26.—種存儲系統(tǒng),包括 存儲體控制器，所述存儲體控制器被配置成接收存儲體地址和測試信號，且響應(yīng)于所述存儲體地址和所述測試信號而傳送讀取命令； 多個存儲體，所述多個存儲體被配置成接收所述讀取命令且輸出正常數(shù)據(jù)； 多個壓縮電路，所述多個壓縮電路被配置成在所述測試信號被使能時接收所述正常數(shù)據(jù)且產(chǎn)生壓縮數(shù)據(jù)； 多個全局線，所述多個全局線被配置成傳送所述正常數(shù)據(jù)或所述壓縮數(shù)據(jù)； 多個接ロ焊盤，其中，所述多個接ロ焊盤之中的選中的接ロ焊盤耦接至測試設(shè)備；以及數(shù)據(jù)輸出単元，所述數(shù)據(jù)輸出單元被配置成接收加載到所述多個全局線上的數(shù)據(jù)，經(jīng)由所述選中的接ロ焊盤輸出所述多個存儲體之中的至少ー個存儲體的壓縮數(shù)據(jù)，且隨后經(jīng)由所述選中的接ロ焊盤輸出所述多個存儲體之中的至少ー個其它的存儲體的壓縮數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明提供一種存儲器件，包括第一存儲體、第二存儲體、多個接口焊盤和數(shù)據(jù)輸出單元，數(shù)據(jù)輸出單元被配置成經(jīng)由所述多個接口焊盤之中的至少一個接口焊盤輸出第一存儲體的壓縮數(shù)據(jù)，且隨后經(jīng)由所述一個接口焊盤輸出第二存儲體的壓縮數(shù)據(jù)。
文檔編號G11C29/56GK102682856SQ201110434860
公開日2012年9月19日 申請日期2011年12月22日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月9日
發(fā)明者李康悅 申請人:海力士半導(dǎo)體有限公司