專利名稱:存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及存儲(chǔ)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其是涉及一種存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù):
存儲(chǔ)設(shè)備是用于儲(chǔ)存信息的設(shè)備,通常是將信息數(shù)字化后再以利用電、磁或光學(xué) 等方式的媒體加以存儲(chǔ)。而隨著信息化程度的不斷提高以及數(shù)據(jù)量的飛速增長(zhǎng),存儲(chǔ)設(shè)備 在網(wǎng)絡(luò)中的重要性也愈來(lái)愈高。
用戶在選取存儲(chǔ)設(shè)備之前,需要對(duì)所選購(gòu)的存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,根據(jù)測(cè)試結(jié)果判 斷該存儲(chǔ)設(shè)備是否為適合自身業(yè)務(wù)需要的合適產(chǎn)品。
然而,目前對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方案中,存在不少不足之處。例如,一種測(cè)試軟件通 常僅針對(duì)一種系統(tǒng)環(huán)境,測(cè)試軟件對(duì)系統(tǒng)環(huán)境具有較強(qiáng)的依賴性,測(cè)試方案的通用性較低, 提高了對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備測(cè)試的難度;并且現(xiàn)有的測(cè)試軟件通常僅能提供一定條件下產(chǎn)品的測(cè)試 結(jié)果,如僅能提供具有80塊硬盤的產(chǎn)品的測(cè)試結(jié)果,而對(duì)于其他條件下的產(chǎn)品,如具有40 塊硬盤的產(chǎn)品,利用該測(cè)試軟件得到的測(cè)試結(jié)果的可利用價(jià)值很低,測(cè)試速度也比較慢。
現(xiàn)有各測(cè)試方案所測(cè)試的具體參數(shù),參差不齊,比較單一,不能有效地對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備 進(jìn)行全面的測(cè)試并反映出存儲(chǔ)設(shè)備的實(shí)際性能,無(wú)法滿足用戶的需要。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是,能夠?qū)Ω鞣N存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行全面、有針對(duì)性的測(cè)試,提 高性能測(cè)試速度及準(zhǔn)確性。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,
首先,利用腳本語(yǔ)句構(gòu)建性能測(cè)試平臺(tái);
然后,通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái),選取、設(shè)置測(cè)試項(xiàng)目,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
所述測(cè)試項(xiàng)目包括性能測(cè)試,通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái)選取、設(shè)置性能測(cè)試項(xiàng)目,對(duì) 存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行性能測(cè)試;
在性能測(cè)試中,所述性能測(cè)試平臺(tái)上運(yùn)行的線程的并發(fā)數(shù)為存儲(chǔ)設(shè)備中物理盤總 數(shù)的一半;讀寫數(shù)據(jù)量為測(cè)試存儲(chǔ)緩存的110% 130%。
所述性能測(cè)試包括每秒讀寫操作測(cè)試和吞吐量測(cè)試,在每秒讀寫操作測(cè)試中,按 照512Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù),在吞吐量測(cè)試中,按照1024KByte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù) 據(jù)。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明還提供了一種存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括 測(cè)試服務(wù)器和存儲(chǔ)設(shè)備,每個(gè)所述測(cè)試服務(wù)器通過(guò)測(cè)試網(wǎng)絡(luò)與至少一臺(tái)存儲(chǔ)設(shè)備相連接;
所述測(cè)試服務(wù)器上運(yùn)行有利用腳本語(yǔ)句構(gòu)建的性能測(cè)試平臺(tái);
所述測(cè)試服務(wù)器通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái)通選取、設(shè)置測(cè)試項(xiàng)目,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行 測(cè)試。
所述測(cè)試項(xiàng)目包括性能測(cè)試,通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái)選取、設(shè)置性能測(cè)試項(xiàng)目,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行性能測(cè)試;
在性能測(cè)試中,所述性能測(cè)試平臺(tái)上運(yùn)行的線程的并發(fā)數(shù)為存儲(chǔ)設(shè)備中物理盤總 數(shù)的一半;讀寫數(shù)據(jù)量為測(cè)試存儲(chǔ)緩存的110% 130%。
所述性能測(cè)試包括每秒讀寫操作測(cè)試和吞吐量測(cè)試,在每秒讀寫操作測(cè)試中,按 照512Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù),在吞吐量測(cè)試中,按照1024KByte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù) 據(jù)。
本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,利用腳本語(yǔ)句構(gòu)建性能測(cè)試平臺(tái),由于腳本語(yǔ)言 易于修改和掌握,構(gòu)建的性能測(cè)試平臺(tái)可以讓測(cè)試人員很方便和快速的根據(jù)測(cè)試對(duì)象修改 已完成測(cè)試,從而使性能測(cè)試平臺(tái)能夠適用于多種系統(tǒng)環(huán)境,降低了測(cè)試對(duì)系統(tǒng)環(huán)境的依 賴性和測(cè)試的技術(shù)難度,大大增強(qiáng)測(cè)試靈活性和效率。
本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,能夠適用于多種條件下存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試,準(zhǔn)確反 映存儲(chǔ)設(shè)備的性能,為用戶在采購(gòu)存儲(chǔ)設(shè)備時(shí)提供專業(yè)級(jí)的測(cè)試數(shù)據(jù)參考;并且,本發(fā)明的 存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,通過(guò)測(cè)試項(xiàng)目的選取和設(shè)置,能夠全面反映存儲(chǔ)設(shè)備的性能、功能、 穩(wěn)定性、可靠性和兼容性,可以根據(jù)需要調(diào)整測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試順序,或者部分測(cè)試項(xiàng)目,能 夠?qū)Ω鞣N存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行全面、有針對(duì)性的測(cè)試,滿足用戶的需要。
本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法通過(guò)對(duì)性能測(cè)試平臺(tái)上關(guān)鍵參數(shù)的設(shè)置,來(lái)控制性 能測(cè)試中數(shù)據(jù)的讀寫,提高了性能測(cè)試的效率,加快了測(cè)試速度。
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
圖1為本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法一實(shí)施方式的流程示意圖2為本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)一實(shí)施方式示意圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法一實(shí)施方式如圖1所示,
首先,利用腳本語(yǔ)句構(gòu)建性能測(cè)試平臺(tái);
然后,通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái),選取、設(shè)置測(cè)試項(xiàng)目,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試;所述測(cè) 試項(xiàng)目包括性能測(cè)試、功能性測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試和壓力測(cè)試、可靠性測(cè)試、兼容性測(cè)試。
本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,利用腳本語(yǔ)句構(gòu)建性能測(cè)試平臺(tái),由于腳本語(yǔ)言 易于修改和掌握,構(gòu)建的性能測(cè)試平臺(tái)可以讓測(cè)試人員很方便和快速的根據(jù)測(cè)試對(duì)象修改 已完成測(cè)試,從而使性能測(cè)試平臺(tái)能夠適用于多種系統(tǒng)環(huán)境,降低了測(cè)試對(duì)系統(tǒng)環(huán)境的依 賴性和測(cè)試的技術(shù)難度,大大增強(qiáng)測(cè)試靈活性和效率。
本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,能夠適用于多種條件下存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試,準(zhǔn)確反 映存儲(chǔ)設(shè)備的性能,為用戶在采購(gòu)存儲(chǔ)設(shè)備時(shí)提供專業(yè)級(jí)的測(cè)試數(shù)據(jù)參考;并且,本發(fā)明的 存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,通過(guò)測(cè)試項(xiàng)目的選取和設(shè)置,能夠全面反映存儲(chǔ)設(shè)備的性能、功能、 穩(wěn)定性、可靠性和兼容性,可以根據(jù)需要調(diào)整測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試順序,或者部分測(cè)試項(xiàng)目,能 夠?qū)Ω鞣N存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行全面、有針對(duì)性的測(cè)試,滿足用戶的需要。
第一實(shí)施例進(jìn)行性能測(cè)試。
在性能測(cè)試中,所述平臺(tái)上運(yùn)行的線程的并發(fā)數(shù)為存儲(chǔ)設(shè)備中物理盤總數(shù)的一半(例如當(dāng)存儲(chǔ)設(shè)備中的物理盤有8個(gè)時(shí),可以同時(shí)運(yùn)行4個(gè)線程);
所述性能測(cè)試的讀寫數(shù)據(jù)量為測(cè)試存儲(chǔ)緩存的110% 130% (如110%、120%、 130% );
所述性能測(cè)試包括每秒讀寫操作(InputOutput Operations PerSecond, I OPS) 測(cè)試和吞吐量測(cè)試,在IOPS測(cè)試中,按照512 Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù),在吞吐量測(cè)試 中,按照1024K Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù)。
在IOPS測(cè)試中,對(duì)512字節(jié)的數(shù)據(jù)庫(kù)的讀寫次數(shù)(count)可以為10萬(wàn),在吞吐量 測(cè)試中,對(duì)1024K字節(jié)數(shù)據(jù)塊的讀寫次數(shù)可以為5000,從而使讀寫數(shù)據(jù)量基本為5GB。
示例性的,測(cè)試IOPS時(shí)腳本語(yǔ)句可以表示如下
time dd if = /dev/zero of = /testsvct/test, io bs = 512 count = 100k
time dd of = /dev/null if = /testsvct/test, io bs = 512 count = 100k
測(cè)試吞吐量時(shí)腳本語(yǔ)句可以表示如下
time dd if = /dev/zero of = /testsvct/test, io bs = 1024k count = 5000
time dd of = /dev/null if = /testsvct/test, io bs = 1024k count = 5000
通過(guò)上述對(duì)讀寫數(shù)據(jù)量(5GB)、IOPS測(cè)試(512Byte)和吞吐量(1024KByte)測(cè)試 中關(guān)鍵參數(shù)的設(shè)置,能夠提高測(cè)試速度。
本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法通過(guò)對(duì)性能測(cè)試平臺(tái)上關(guān)鍵參數(shù)的設(shè)置,來(lái)控制性 能測(cè)試中數(shù)據(jù)的讀寫,提高了性能測(cè)試的效率,加快了測(cè)試速度。
由于在性能測(cè)試中所述性能測(cè)試平臺(tái)運(yùn)行的線程的并發(fā)數(shù)為存儲(chǔ)設(shè)備中物理盤 總數(shù)的一半,增強(qiáng)了其測(cè)試的實(shí)用性和準(zhǔn)確性,由于所述性能測(cè)試的讀寫數(shù)據(jù)量為測(cè)試存 儲(chǔ)緩存的110% 130%,從而能得到較高的性能測(cè)試速度及準(zhǔn)確性;
由于通常物理磁盤的最小單位扇區(qū)的數(shù)據(jù)塊大小為512Byte,因此本發(fā)明的存儲(chǔ) 設(shè)備的測(cè)試方法在IOPS測(cè)試中,按照512Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù),增加了 IOPS測(cè)試的 廣泛性和實(shí)用性;
由于通常流媒體等應(yīng)用和通用大文件軟件的讀寫塊大小IMB為單位,因此存儲(chǔ)設(shè) 備的測(cè)試方法在吞吐量測(cè)試中,按照1024K Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù),增加吞吐量測(cè)試 的廣泛性和準(zhǔn)確性。
本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法基于以上各類參數(shù)的確定,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備的每次性能 測(cè)試測(cè)試時(shí)間很短,一般小于5分鐘。
可見,本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法可以很好地對(duì)多種類型的存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行性 能測(cè)試,如文件服務(wù)器(File Server)、網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器(Web Server)和在線交易處理服務(wù)器 (OLTP),也可以對(duì)同一存儲(chǔ)設(shè)備在不同條件下進(jìn)行性能測(cè)試,如對(duì)具有80塊硬盤的存儲(chǔ)設(shè) 備或者測(cè)試具有40塊硬盤時(shí)的存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行性能測(cè)試。
第二實(shí)施例進(jìn)行功能性測(cè)試。
所述功能性測(cè)試包括基本功能測(cè)試和管理功能測(cè)試,
所述基本功能測(cè)試包括如下的至少一項(xiàng)或其組合
主柜機(jī)箱高度盤位、擴(kuò)展柜機(jī)箱高度盤位、系統(tǒng)模塊化程度、控制器數(shù)量、標(biāo)配/ 最大高速緩存容量、控制器CPU、主機(jī)通道接口規(guī)格、主機(jī)通道接口數(shù)量、磁盤擴(kuò)展通道、磁 盤擴(kuò)展通道數(shù)量、主柜最大硬盤數(shù)量、最大存儲(chǔ)容量、擴(kuò)展柜類型、最大擴(kuò)展柜數(shù)量、
獨(dú)立冗余磁盤陣列(RAID)級(jí)別、最大RAID數(shù)量、單RAID最大硬盤數(shù)量、單RAID 最大容量、RAID在線擴(kuò)容、RAID熱備盤、擴(kuò)展柜熱備盤、全局熱備盤、最大LUN數(shù)量、LUN在線擴(kuò)容、⑶I管理、CLI管理、指示燈、系統(tǒng)設(shè)備監(jiān)控能力、性能監(jiān)控、日志管理功能、遠(yuǎn)程管理能力;
所述管理功能測(cè)試包括如下的至少一項(xiàng)或其組合
系統(tǒng)硬件測(cè)試、磁盤組DG測(cè)試、虛擬磁盤VD測(cè)試、主機(jī)測(cè)試、選項(xiàng)測(cè)試、系統(tǒng)設(shè)置測(cè)試和失效轉(zhuǎn)移/自動(dòng)恢復(fù)FailOver/FaiIBack測(cè)試。
進(jìn)一步的,上述基本功能測(cè)試中還可以包括主機(jī)箱尺寸測(cè)試、主機(jī)箱重量測(cè)試、擴(kuò)展柜尺寸測(cè)試和擴(kuò)展柜重量測(cè)試。
基本功能測(cè)試的測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試結(jié)果的一個(gè)示例如表I所示。
表1:
權(quán)利要求
1.一種存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,其特征在于,首先,利用腳本語(yǔ)句構(gòu)建性能測(cè)試平臺(tái);然后,通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái),選取、設(shè)置測(cè)試項(xiàng)目,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目包括性能測(cè)試,通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái)選取、設(shè)置性能測(cè)試項(xiàng)目,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行性能測(cè)試;在性能測(cè)試中,所述性能測(cè)試平臺(tái)上運(yùn)行的線程的并發(fā)數(shù)為存儲(chǔ)設(shè)備中物理盤總數(shù)的一半;讀寫數(shù)據(jù)量為測(cè)試存儲(chǔ)緩存的110% 130%。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,其特征在于,所述性能測(cè)試包括每秒讀寫操作測(cè)試和吞吐量測(cè)試,在每秒讀寫操作測(cè)試中,按照512 Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù),在吞吐量測(cè)試中,按照1024K Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目包括還包括功能性測(cè)試,所述功能性測(cè)試包括基本功能測(cè)試和管理功能測(cè)試;所述基本功能測(cè)試包括如下的至少一項(xiàng)或其組合主柜機(jī)箱高度盤位、擴(kuò)展柜機(jī)箱高度盤位、系統(tǒng)模塊化程度、控制器數(shù)量、標(biāo)配/最大高速緩存容量、控制器CPU、主機(jī)通道接口規(guī)格、主機(jī)通道接口數(shù)量、磁盤擴(kuò)展通道、磁盤擴(kuò)展通道數(shù)量、主柜最大硬盤數(shù)量、最大存儲(chǔ)容量、擴(kuò)展柜類型、最大擴(kuò)展柜數(shù)量、獨(dú)立冗余磁盤陣列RAID級(jí)別、最大RAID數(shù)量、單RAID最大硬盤數(shù)量、單RAID最大容量、RAID在線擴(kuò)容、RAID熱備盤、擴(kuò)展柜熱備盤、全局熱備盤、最大LUN數(shù)量、LUN在線擴(kuò)容、⑶I管理、CLI 管理、指示燈、系統(tǒng)設(shè)備監(jiān)控能力、性能監(jiān)控、日志管理功能、遠(yuǎn)程管理能力;所述管理功能測(cè)試包括如下的至少一項(xiàng)或其組合系統(tǒng)硬件測(cè)試、磁盤組測(cè)試、虛擬磁盤測(cè)試、主機(jī)測(cè)試、選項(xiàng)測(cè)試、系統(tǒng)設(shè)置測(cè)試和失效轉(zhuǎn)移/自動(dòng)恢復(fù)測(cè)試。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述系統(tǒng)硬件測(cè)試包括硬件狀態(tài)測(cè)試、系統(tǒng)日志測(cè)試和系統(tǒng)告警測(cè)試;所述磁盤組測(cè)試包括磁盤組建立刪除測(cè)試、使用不同條帶大小建立磁盤組的測(cè)試、磁盤組屬性修改測(cè)試和RAID重建測(cè)試;所述虛擬磁盤測(cè)試包括虛擬磁盤創(chuàng)建刪除測(cè)試、虛擬磁盤屬性修改測(cè)試、虛擬磁盤呈現(xiàn)測(cè)試、虛擬磁盤擴(kuò)展測(cè)試、最大虛擬磁盤數(shù)量測(cè)試、大于2TB的虛擬磁盤測(cè)試和數(shù)據(jù)完整性測(cè)試;所述主機(jī)測(cè)試包括添加刪除主機(jī)測(cè)試、修改主機(jī)屬性測(cè)試和挑戰(zhàn)握手認(rèn)證協(xié)議測(cè)試;所述選項(xiàng)測(cè)試包括密碼修改測(cè)試、刷新選項(xiàng)測(cè)試、系統(tǒng)健康狀況報(bào)警設(shè)置測(cè)試和系統(tǒng)升級(jí)測(cè)試;所述系統(tǒng)設(shè)置測(cè)試包括網(wǎng)絡(luò)設(shè)置測(cè)試、巨型幀測(cè)試、系統(tǒng)初始化測(cè)試和命令行測(cè)試。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目還包括穩(wěn)定性測(cè)試和壓力測(cè)試,通過(guò)在預(yù)定時(shí)間內(nèi)對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備保持一定數(shù)據(jù)流量的輸入輸出,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行穩(wěn)定性測(cè)試和壓力測(cè)試。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目還包括可靠性測(cè)試,所述可靠性測(cè)試包括如下的至少一項(xiàng)或其組合反復(fù)開關(guān)機(jī)測(cè)試、掉電測(cè)試、故障硬盤測(cè)試和電纜掉線測(cè)試。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目還包括兼容性測(cè)試,所述兼容性測(cè)試用于測(cè)試存儲(chǔ)設(shè)備在不同操作系統(tǒng)中的兼容性。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,所述操作系統(tǒng)包括Windows系統(tǒng)、AIX系統(tǒng)和Linux系統(tǒng),所述兼容性測(cè)試包括啟動(dòng)測(cè)試和讀寫功能測(cè)試。
10.一種存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括測(cè)試服務(wù)器和存儲(chǔ)設(shè)備,每個(gè)所述測(cè)試服務(wù)器通過(guò)測(cè)試網(wǎng)絡(luò)與至少一臺(tái)存儲(chǔ)設(shè)備相連接;所述測(cè)試服務(wù)器上運(yùn)行有利用腳本語(yǔ)句構(gòu)建的性能測(cè)試平臺(tái);所述測(cè)試服務(wù)器通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái)通選取、設(shè)置測(cè)試項(xiàng)目,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目包括性能測(cè)試,通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái)選取、設(shè)置性能測(cè)試項(xiàng)目,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行性能測(cè)試;在性能測(cè)試中,所述性能測(cè)試平臺(tái)上運(yùn)行的線程的并發(fā)數(shù)為存儲(chǔ)設(shè)備中物理盤總數(shù)的一半;讀寫數(shù)據(jù)量為測(cè)試存儲(chǔ)緩存的110% 130%。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,其特征在于,所述性能測(cè)試包括每秒讀寫操作測(cè)試和吞吐量測(cè)試,在每秒讀寫操作測(cè)試中,按照512 Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù),在吞吐量測(cè)試中,按照1024K Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目包括還包括功能性測(cè)試,所述功能性測(cè)試包括基本功能測(cè)試和管理功能測(cè)試;所述基本功能測(cè)試包括如下的至少一項(xiàng)或其組合主柜機(jī)箱高度盤位、擴(kuò)展柜機(jī)箱高度盤位、系統(tǒng)模塊化程度、控制器數(shù)量、標(biāo)配/最大高速緩存容量、控制器CPU、主機(jī)通道接口規(guī)格、主機(jī)通道接口數(shù)量、磁盤擴(kuò)展通道、磁盤擴(kuò)展通道數(shù)量、主柜最大硬盤數(shù)量、最大存儲(chǔ)容量、擴(kuò)展柜類型、最大擴(kuò)展柜數(shù)量、獨(dú)立冗余磁盤陣列RAID級(jí)別、最大RAID數(shù)量、單RAID最大硬盤數(shù)量、單RAID最大容量、RAID在線擴(kuò)容、RAID熱備盤、擴(kuò)展柜熱備盤、全局熱備盤、最大LUN數(shù)量、LUN在線擴(kuò)容、⑶I管理、CLI 管理、指示燈、系統(tǒng)設(shè)備監(jiān)控能力、性能監(jiān)控、日志管理功能、遠(yuǎn)程管理能力;所述管理功能測(cè)試包括如下的至少一項(xiàng)或其組合系統(tǒng)硬件測(cè)試、磁盤組測(cè)試、虛擬磁盤測(cè)試、主機(jī)測(cè)試、選項(xiàng)測(cè)試、系統(tǒng)設(shè)置測(cè)試和失效轉(zhuǎn)移/自動(dòng)恢復(fù)測(cè)試。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目還包括穩(wěn)定性測(cè)試和壓力測(cè)試,通過(guò)在預(yù)定時(shí)間內(nèi)對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備保持一定數(shù)據(jù)流量的輸入輸出,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行穩(wěn)定性測(cè)試和壓力測(cè)試。
15.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目還包括可靠性測(cè)試,所述可靠性測(cè)試包括如下的至少一項(xiàng)或其組合反復(fù)開關(guān)機(jī)測(cè)試、掉電測(cè)試、故障硬盤測(cè)試和電纜掉線測(cè)試。
16.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試項(xiàng)目還包括兼容性測(cè)試,所述兼容性測(cè)試用于測(cè)試存儲(chǔ)設(shè)備在不同操作系統(tǒng)中的兼容性。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的方法,其特征在于,所述操作系統(tǒng)包括Windows系統(tǒng)、AIX 系統(tǒng)和Linux系統(tǒng),所述兼容性測(cè)試包括啟動(dòng)測(cè)試和讀寫功能測(cè)試。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法,首先,利用腳本語(yǔ)句構(gòu)建性能測(cè)試平臺(tái);然后,通過(guò)所述性能測(cè)試平臺(tái),選取、設(shè)置測(cè)試項(xiàng)目,對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。所述測(cè)試項(xiàng)目包括性能測(cè)試,在性能測(cè)試中,所述性能測(cè)試平臺(tái)上運(yùn)行的線程的并發(fā)數(shù)為存儲(chǔ)設(shè)備中物理盤總數(shù)的一半;讀寫數(shù)據(jù)量為測(cè)試存儲(chǔ)緩存的110%~130%;所述性能測(cè)試包括每秒讀寫操作測(cè)試和吞吐量測(cè)試,在每秒讀寫操作測(cè)試中,按照512Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù),在吞吐量測(cè)試中,按照1024K Byte大小的數(shù)據(jù)塊傳輸數(shù)據(jù)。本發(fā)明還公開了一種存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試系統(tǒng)。本發(fā)明的存儲(chǔ)設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng),能夠?qū)Ω鞣N存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行全面、有針對(duì)性的測(cè)試,提高性能測(cè)試速度及準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)G11C29/08GK103000228SQ201110265039
公開日2013年3月27日 申請(qǐng)日期2011年9月8日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月8日
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