專利名稱：電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試儀，具體地說(shuō)是涉及一種用于自動(dòng)測(cè)試電池管理芯片的測(cè)試儀。
背景技術(shù)：
目前電池管理芯片廣泛應(yīng)用于可攜式裝置中，用來(lái)提高電池的效能。電池管理芯片的feis Gauge IC(計(jì)量元件)自帶EEPROM(可擦寫可編程只讀存儲(chǔ)器)，EEPROM內(nèi)部?jī)?chǔ)存著結(jié)構(gòu)信息，如電芯的化學(xué)特性、自我放電率、補(bǔ)償因素、量測(cè)校正、設(shè)計(jì)的電壓和容量。通過(guò)可編程的自我放電率和其它儲(chǔ)存在EEPROM內(nèi)的補(bǔ)償因素，配合時(shí)間、電流量及溫度，精確的調(diào)整使用中或待命狀態(tài)的剩余容量。同時(shí)該類feis GaugeIC也會(huì)自動(dòng)依EEPROM設(shè)定來(lái)修正電芯容量，或經(jīng)由從接近滿電量到接近空電量的一個(gè)放電周期來(lái)修正真正的電芯容量。目前，完成EEPROM值的寫入和量測(cè)校正過(guò)程一般采用廠商所提供的專用治具和軟件， 還需配套電源供應(yīng)器及負(fù)載機(jī)等相關(guān)設(shè)備，數(shù)據(jù)比對(duì)、寫碼、較驗(yàn)等都需要測(cè)試人員在計(jì)算機(jī)上逐步進(jìn)行，花費(fèi)時(shí)間較長(zhǎng)，過(guò)程麻煩。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，該電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀可直接對(duì)電池管理芯片中的數(shù)據(jù)進(jìn)行取樣、比對(duì)、寫值、補(bǔ)償和量測(cè)校正等，而且一次性自動(dòng)化完成，又且成本低、易于推廣。本發(fā)明為了解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是一種電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，由單片機(jī)、按鍵開關(guān)模塊、結(jié)果提示模塊、恒流/恒壓負(fù)載模塊和直流電供應(yīng)模塊構(gòu)成，所述直流電供應(yīng)模塊供電給所述單片機(jī)， 所述按鍵開關(guān)模塊操控所述單片機(jī)，所述單片機(jī)控制所述結(jié)果提示模塊和恒流/恒壓負(fù)載模塊，所述單片機(jī)與被測(cè)電池間通過(guò)通訊線相連接，所述按鍵開關(guān)模塊具有測(cè)試模式和參數(shù)修改模式選擇按鍵，操作人員選擇參數(shù)修改模式可修改參數(shù)，所述測(cè)試模式具有測(cè)試開關(guān)和校正開關(guān)，操作人員觸發(fā)測(cè)試開關(guān)，測(cè)試開關(guān)將測(cè)試指令傳遞給單片機(jī)，單片機(jī)通過(guò)通訊線讀取電池管理芯片中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，并根據(jù)單片機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)器中的參數(shù)對(duì)電池管理芯片中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)、寫碼和校驗(yàn)，測(cè)試完畢后單片機(jī)控制所述結(jié)果提示模塊提示測(cè)試結(jié)果，操作人員觸發(fā)校正開關(guān)，校正開關(guān)將校正指令傳遞給單片機(jī)，所述恒流/恒壓負(fù)載模塊接電池的“P+”和“P-”接口，電池管理芯片中的計(jì)量元件計(jì)量參數(shù)，單片機(jī)通過(guò)通訊線讀取參數(shù)，單片機(jī)對(duì)讀取到的參數(shù)進(jìn)行處理后將校正數(shù)據(jù)寫入電池管理芯片中，校正完畢后單片機(jī)控制所述結(jié)果提示模塊提示校正結(jié)果。本發(fā)明采用的進(jìn)一步技術(shù)方案是所述測(cè)試結(jié)果提示模塊為L(zhǎng)ED模塊。所述LED模塊為雙色LED模塊。所述單片機(jī)為78F0500單片機(jī)。該類單片機(jī)自帶內(nèi)部8M晶振和1 功能模塊，使得外圍電路的設(shè)計(jì)十分簡(jiǎn)單，且體積小，應(yīng)用過(guò)程無(wú)需計(jì)算機(jī)，一機(jī)既可完成全部測(cè)試動(dòng)作。
所述恒流/恒壓負(fù)載模塊內(nèi)具有三端穩(wěn)壓芯片。所述三端穩(wěn)壓芯片為L(zhǎng)M317三端穩(wěn)壓芯片。本發(fā)明的有益效果是本發(fā)明的電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀由單片機(jī)、 按鍵開關(guān)模塊、結(jié)果提示模塊、恒流/恒壓負(fù)載模塊和直流電供應(yīng)模塊構(gòu)成，直流電供應(yīng)模塊供電給單片機(jī)，按鍵開關(guān)模塊操控單片機(jī)，單片機(jī)控制結(jié)果提示模塊和恒流/恒壓負(fù)載模塊，單片機(jī)與被測(cè)電池間通過(guò)通訊線相連接，只需觸發(fā)按鍵開關(guān)模塊即可自動(dòng)對(duì)電池管理芯片中的數(shù)據(jù)進(jìn)行取樣、比對(duì)、寫值、補(bǔ)償、量測(cè)校正等，操作簡(jiǎn)單、自動(dòng)化程度高，大大提高了生產(chǎn)效率，而且易于維護(hù)、方便修改測(cè)試參數(shù)和軟件升級(jí)，可通過(guò)對(duì)恒流/恒壓負(fù)載模塊的修改來(lái)實(shí)現(xiàn)不同產(chǎn)品的參數(shù)的補(bǔ)償和量測(cè)校正等，又且成本低、易于推廣。


圖1為本發(fā)明的原理示意圖。
具體實(shí)施例方式實(shí)施例一種電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，由單片機(jī)1、按鍵開關(guān)模塊2、 結(jié)果提示模塊3、恒流/恒壓負(fù)載模塊4和直流電供應(yīng)模塊5構(gòu)成，所述直流電供應(yīng)模塊5 供電給所述單片機(jī)1，所述按鍵開關(guān)模塊2操控所述單片機(jī)1，所述單片機(jī)1控制所述結(jié)果提示模塊3和恒流/恒壓負(fù)載模塊4，所述單片機(jī)1與被測(cè)電池6間通過(guò)通訊線相連接，所述按鍵開關(guān)模塊具有測(cè)試模式和參數(shù)修改模式選擇按鍵，操作人員選擇參數(shù)修改模式可修改參數(shù)，所述測(cè)試模式具有測(cè)試開關(guān)和校正開關(guān)，操作人員觸發(fā)測(cè)試開關(guān)，測(cè)試開關(guān)將測(cè)試指令傳遞給單片機(jī)，單片機(jī)通過(guò)通訊線讀取電池管理芯片中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，并根據(jù)單片機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)器中的參數(shù)對(duì)電池管理芯片中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)、寫碼和校驗(yàn)，測(cè)試完畢后單片機(jī)控制所述結(jié)果提示模塊提示測(cè)試結(jié)果，操作人員觸發(fā)校正開關(guān)，校正開關(guān)將校正指令傳遞給單片機(jī)，所述恒流/恒壓負(fù)載模塊接電池的“P+”和“P-”接口，電池管理芯片中的計(jì)量元件計(jì)量參數(shù)，單片機(jī)通過(guò)通訊線讀取參數(shù)，單片機(jī)對(duì)讀取到的參數(shù)進(jìn)行處理后將校正數(shù)據(jù)寫入電池管理芯片中，校正完畢后單片機(jī)控制所述結(jié)果提示模塊提示校正結(jié)果。所述測(cè)試結(jié)果提示模塊為L(zhǎng)ED模塊。所述LED模塊為雙色LED模塊。測(cè)試成功或校正成功時(shí)LED綠燈亮，測(cè)試失敗或校正失敗時(shí)LED紅燈亮。所述單片機(jī)為78F0500單片機(jī)。該類單片機(jī)自帶內(nèi)部8M晶振和1 功能模塊，使得外圍電路的設(shè)計(jì)十分簡(jiǎn)單，且體積小，應(yīng)用過(guò)程無(wú)需計(jì)算機(jī)，一機(jī)既可完成全部測(cè)試動(dòng)作。所述恒流/恒壓負(fù)載模塊內(nèi)具有三端穩(wěn)壓芯片。所述三端穩(wěn)壓芯片為L(zhǎng)M317三端穩(wěn)壓芯片。本發(fā)明應(yīng)用范圍廣，可對(duì)市面上流行的多種電池管理芯片進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單、自動(dòng)化程度高，大大提高了生產(chǎn)效率，而且易于維護(hù)、方便修改測(cè)試參數(shù)和軟件升級(jí)， 可通過(guò)對(duì)恒流/恒壓負(fù)載模塊的修改來(lái)實(shí)現(xiàn)不同產(chǎn)品的參數(shù)的補(bǔ)償、量測(cè)校正等，又且成本低、易于推廣。本發(fā)明的操作過(guò)程如下1、通電后，單片機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)，通過(guò)按鍵開關(guān)模塊選擇參數(shù)修改模式，在參數(shù)修改模式中可對(duì)通訊協(xié)議、測(cè)試項(xiàng)目、比對(duì)數(shù)據(jù)、較驗(yàn)數(shù)據(jù)等進(jìn)行修改，設(shè)置完畢后，單片機(jī)自動(dòng)將參數(shù)信息存入其內(nèi)部自帶的Flash ROM中。2、用通訊線連接單片機(jī)和被測(cè)電池，在測(cè)試模式中，觸發(fā)測(cè)試開關(guān)，測(cè)試開關(guān)將測(cè)試指令傳遞給單片機(jī)，單片機(jī)首先通過(guò)通訊線讀取電池管理芯片中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，并根據(jù)單片機(jī)內(nèi)Flash ROM中的參數(shù)對(duì)電池管理芯片中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)、寫碼和校驗(yàn)，測(cè)試完畢后單片機(jī)控制所述結(jié)果提示模塊提示測(cè)試結(jié)果，若LED綠燈亮則表示“寫碼成功”，若LED紅燈亮則表示“測(cè)試失敗”。3、若上一步提示“寫碼成功”的話，則觸發(fā)校正開關(guān)進(jìn)入校正，校正開關(guān)將校正指令傳遞給單片機(jī)，所述恒流/恒壓負(fù)載模塊接電池的“P+”和“P-”接口，電池管理芯片中的計(jì)量元件計(jì)量參數(shù)，單片機(jī)通過(guò)通訊線讀取參數(shù)，單片機(jī)對(duì)讀取到的參數(shù)進(jìn)行處理后將校正數(shù)據(jù)寫入電池管理芯片中，校正完畢后單片機(jī)控制所述結(jié)果提示模塊提示校正結(jié)果，若 LED綠燈亮則表示“校正成功”，若LED紅燈亮則表示“校正失敗”。
權(quán)利要求
1.一種電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，其特征在于由單片機(jī)(1)、按鍵開關(guān)模塊O)、結(jié)果提示模塊(3)、恒流/恒壓負(fù)載模塊⑷和直流電供應(yīng)模塊(5)構(gòu)成，所述直流電供應(yīng)模塊( 供電給所述單片機(jī)(1)，所述按鍵開關(guān)模塊( 操控所述單片機(jī)(1)，所述單片機(jī)(1)控制所述結(jié)果提示模塊C3)和恒流/恒壓負(fù)載模塊G)，所述單片機(jī)(1)與被測(cè)電池(6)間通過(guò)通訊線相連接，所述按鍵開關(guān)模塊具有測(cè)試模式和參數(shù)修改模式選擇按鍵，操作人員選擇參數(shù)修改模式可修改參數(shù)，所述測(cè)試模式具有測(cè)試開關(guān)和校正開關(guān)，操作人員觸發(fā)測(cè)試開關(guān)，測(cè)試開關(guān)將測(cè)試指令傳遞給單片機(jī)，單片機(jī)通過(guò)通訊線讀取電池管理芯片中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，并根據(jù)單片機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)器中的參數(shù)對(duì)電池管理芯片中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)、寫碼和校驗(yàn)，測(cè)試完畢后單片機(jī)控制所述結(jié)果提示模塊提示測(cè)試結(jié)果，操作人員觸發(fā)校正開關(guān)，校正開關(guān)將校正指令傳遞給單片機(jī)，所述恒流/恒壓負(fù)載模塊接電池的“P+”和 “P-”接口，電池管理芯片中的計(jì)量元件計(jì)量參數(shù)，單片機(jī)通過(guò)通訊線讀取參數(shù)，單片機(jī)對(duì)讀取到的參數(shù)進(jìn)行處理后將校正數(shù)據(jù)寫入電池管理芯片中，校正完畢后單片機(jī)控制所述結(jié)果提示模塊提示校正結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，其特征在于所述測(cè)試結(jié)果提示模塊為L(zhǎng)ED模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，其特征在于所述LED 模塊為雙色LED模塊。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，其特征在于所述單片機(jī)為78F0500單片機(jī)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，其特征在于所述恒流/恒壓負(fù)載模塊內(nèi)具有三端穩(wěn)壓芯片。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，其特征在于所述三端穩(wěn)壓芯片為L(zhǎng)M317三端穩(wěn)壓芯片。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀，該電池管理芯片的自動(dòng)寫碼校正測(cè)試儀由單片機(jī)、按鍵開關(guān)模塊、結(jié)果提示模塊、恒流/恒壓負(fù)載模塊和直流電供應(yīng)模塊構(gòu)成，直流電供應(yīng)模塊供電給單片機(jī)，按鍵開關(guān)模塊操控單片機(jī)，單片機(jī)控制結(jié)果提示模塊和恒流/恒壓負(fù)載模塊，單片機(jī)與被測(cè)電池間通過(guò)通訊線相連接，只需觸發(fā)按鍵開關(guān)模塊即可自動(dòng)對(duì)電池管理芯片中的數(shù)據(jù)進(jìn)行取樣、比對(duì)、寫值、補(bǔ)償、量測(cè)校正等，操作簡(jiǎn)單、自動(dòng)化程度高，大大提高了生產(chǎn)效率，而且易于維護(hù)、方便修改測(cè)試參數(shù)和軟件升級(jí)，可通過(guò)對(duì)恒流/恒壓負(fù)載模塊的修改來(lái)實(shí)現(xiàn)不同產(chǎn)品的參數(shù)的補(bǔ)償和量測(cè)校正等，又且成本低、易于推廣。
文檔編號(hào)G11C29/00GK102237142SQ20101016375
公開日2011年11月9日 申請(qǐng)日期2010年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月27日
發(fā)明者吳祖榆 申請(qǐng)人:天宇通訊科技(昆山)有限公司