專利名稱:光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及用于將信號記錄到光盤中、或者用于將記錄在光盤中的信 號再生的光盤裝置。
背景技術(shù):
作為現(xiàn)有技術(shù),例如日本特開2000-132848號公報(專利文獻l)中公 開了光盤裝置。下面用圖1、圖7和圖8根據(jù)該現(xiàn)有技術(shù)例,將其一部分修 改進行說明。圖1 (a)表示現(xiàn)有技術(shù)例的光盤裝置的主要部分的剖面結(jié)構(gòu)。如圖1 (a)所示,現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置具有光檢測基板9和安裝在光檢測基板9 上的光源1。光源1為例如半導(dǎo)體激光器等。并且,該光盤裝置在來自光源 1的激光la的光路上具有校準(zhǔn)透鏡4、偏光性全息照相基板2、 1/4波長板 3和物鏡5。 1/4波長板3設(shè)置在偏光性全息照相基板2的背面。圖1 (b)為用包含激光la的光路并且與圖1 (a)的截面垂直的面剖 切圖1 (a)的光檢測基板9時的結(jié)構(gòu)的剖視圖。如圖1 (b)所示,光檢測 基板9上設(shè)置有具有與基板面傾斜約45°角的反射面的反射鏡10。從光源 1向反射鏡10的反射面照射的激光la被反射面反射向校準(zhǔn)透鏡4,由校準(zhǔn) 透鏡4變換成平行光。而且,從校準(zhǔn)透鏡4射出的平行光透過偏光性全息 照相基板2被1/4波長板3從直線偏振光(S波或P波)變換成圓形偏振光, 被物鏡5聚光后匯聚在光盤6的信號面6a上。被信號面6a反射的光經(jīng)過 物鏡5被1/4波長板3變換成直線偏振光(S波或P波)。該直線偏振光入 射到偏光性全息照相基板2的全息照相面2a上,該光被衍射,被分成以光 軸7為對稱軸的1次衍射光8和一l次衍射光8'。這些衍射光經(jīng)過校準(zhǔn)透 鏡4變成匯聚光,入射到光檢測基板9的檢測面9a上。另外,1/4波長板3 粘貼在偏光性全息照相基板2上,它們設(shè)置在與物鏡5相同的框體內(nèi),整 體地移動。檢測面9a位于與校準(zhǔn)透鏡4的焦平面位置(即光源1的假想發(fā) 光點位置)大致相同的位置上。圖7 (a)和圖7 (b)表示現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置的全息照相面2a和檢 測面9a的結(jié)構(gòu)。圖7 (a)為從光盤6—側(cè)看檢測面9a時的平面圖,同時 表示了檢測面9a上形成的光點。圖7 (b)為從光盤6 —側(cè)看全息照相面 2a時的平面圖。圖7 (b)中,全息照相面2a被在全息照相面2a與光軸7的交點20 上正交的2條直線(X軸、Y軸)分割成第1象限21、第2象限22、第3 象限23和第4象限24這4個象限。Y軸與光盤6的半徑方向平行,由光 盤6的信號面6a上形成的引導(dǎo)槽產(chǎn)生的衍射光80a、 80b沿Y軸方向移動 后重疊在全息照相面2a上的返回光80上。另外,圖7 (b)用虛線表示了 光點的外形。該光通過全息照相面2a時產(chǎn)生士l次衍射光,各衍射光分別 被分成4份,投射到檢測面9a上。如圖7 (a)所示,以在檢測面9a與光軸7的交點90上正交并且與X 軸、Y軸平行的2條直線作為x軸、y軸,在檢測面9a上y軸的正側(cè)配置 梯形循軌檢測單元91、 92、 93、 94。并且,在y軸的負側(cè),交錯地配置有 沿y軸成梳齒形狀的聚焦檢測單元95、 96。圖7 (a)中,電氣導(dǎo)通的檢測 單元附加相同的參照符號,本說明書中以下的記載也同樣。這些檢測單元 的外形形狀呈關(guān)于y軸大致對稱的形狀。另外,從光源l的發(fā)光點射出的 光la在與圖7的圖面平行的面內(nèi)與x軸平行前進,被反射鏡10反射向光 軸方向(通過點90與圖面正交的方向)。在圖7 (a)和圖7 (b)中,被全息照相面2a的第1象限21衍射的1 次衍射光匯聚在收斂于檢測單元91中的光點81S上,一l次衍射光匯聚在 橫跨檢測單元95與檢測單元96的邊界的光點81S'上。被第2象限22衍 射的1次衍射光匯聚在收斂于檢測單元92中的光點82S上,一l次衍射光 匯聚在橫跨檢測單元95與檢測單元96的邊界的光點82S'上。被第3象 限23衍射的1次衍射光匯聚在收斂于檢測單元93中的光點83S上,一l 次衍射光匯聚在橫跨檢測單元95與檢測單元96的邊界的光點83S'上。 被第4象限24衍射的1次衍射光匯聚在收斂于檢測單元94中的光點84S 上,一1次衍射光匯聚在橫跨檢測單元95與檢測單元96的邊界的光點84S' 上。另外,各聚光點中y軸方向上的焦線可以位于檢測面9a的任一側(cè),但 x軸方向上的焦線對于1次衍射光來說位于從全息照相面2a —側(cè)看去的檢 測面9a的里側(cè),對于一 1次衍射光來說位于從全息照相面2a —側(cè)看去的檢 測面9a的靠身邊一側(cè)。圖7(a)中使y軸方向上的焦線與x軸方向上的焦 線的位置一致(所謂沒有象散性聚光)。另外,上述日本特開2000-132848號公報中記載的裝置繼續(xù)將全息照 相面的每個象限分割成沿X軸的長方形形狀,以橫跨同一檢測單元95和檢 測單元96的邊界線的方式透過隔開一個的長方形區(qū)域的光匯聚在檢測面 9a的里面一側(cè),使透過存在于其間的隔開一個的長方形區(qū)域的光匯聚在檢 測面9a的靠身邊一側(cè)(1次衍射光時)。但是,由于是否將全息照相面分割 成長方形區(qū)域是與本發(fā)明的特征無關(guān)的事情,因此下面為了簡單用沒有長 方形區(qū)域的形態(tài)進行說明。另外,雖然后述的實施形態(tài)也用沒有將全息照 相面分割成長方形區(qū)域的形態(tài)進行說明,但將全息照相面分割成長方形區(qū) 域的實施形態(tài)也屬于本發(fā)明的技術(shù)范圍。圖7 (a)和圖7 (b)所示的結(jié)構(gòu)能夠用各檢測單元95、 96獲得以下6 個信號。假設(shè)Tl為檢測單元91獲得的信號、T2為檢測單元92獲得的信號、 T3為檢測單元93獲得的信號、T4為檢測單元94獲得的信號、Fl為檢測 單元95獲得的信號、F2為檢測單元96獲得的信號。利用這些檢測信號根據(jù)以下公式(1) (3)生成跟蹤光盤6的光軌 的循軌誤差信號TE、聚焦光盤6的信號面6a的聚焦誤差信號FE、再生光 盤6的信號面6a的再生信號RF。TE=T1+T2—T3—T4 …(1)FE=F1—F2 …(2)RF=F1+F2+T1+T2+T3+T4 …(3)這種現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置存在以下問題。圖8 (a)和圖8 (b)為表示現(xiàn)有技術(shù)例中相對于光盤6的信號面6a 匯聚光散焦時檢測面9a上的光點的樣子的圖。圖8 (a)為信號面6a離物 鏡5的距離比聚焦時近的情形的圖,圖8 (b)為信號面6a離物鏡5的距離 比聚焦時遠的情形的圖。另外,圖8 (a)和圖8 (b)只表示了檢測面9a 上y軸正方向上形成的1次衍射光的光點,一l次衍射光的光點為以圖7(a) 所示的點90為原點、與1次衍射光的光點大致點對稱的形狀。圖8 (a)中, 光點81S、 83S和84S的一部分分別入射到檢測單元92、 94和91中。圖8 (b)中光點81S、 82S和84S的一部分也分別入射到檢測單元94、 91和 93中。DVD-R和Blu-Ray光盤等已經(jīng)被商品化,在2個信號面夾著粘接層 構(gòu)成雙層結(jié)構(gòu)的所謂雙層盤的情況下,當(dāng)聚焦在一個信號面上時,假設(shè)粘 接層的厚度為d、折射率為n,則被另一個信號面反射回來的光僅在往返2d/n 散焦的狀態(tài)下回到檢測面9a上。因此,如圖8 (a)或圖8 (b)所示,記 錄再生對象信號面以外的信號面反射的光變成干擾光混入循軌誤差檢測器 中,妨礙正常的循軌控制,引起偏離光軌或光軌跳躍。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明就是鑒于這樣的問題,目的是要提供一種在記錄再生多層光盤 時不受聚焦的信號面以外的信號面反射的干擾光的影響,使控制誤差小、 穩(wěn)定地循軌成為可能的光盤裝置。為了達到上述目的,本發(fā)明的光盤裝置為具有光源、光分離元件、物鏡和光檢測器的光盤裝置,其特征在于上述物鏡使從上述光源射出的光 匯聚在光盤的信號面上,并且使該信號面反射的光入射到上述光分離元件 中;上述光分離元件具有包含從上述物鏡入射來的光的光軸位置的第1區(qū) 域和位于上述第1區(qū)域的周圍、離開上述光軸的位置上的第2區(qū)域,使入 射到上述第1區(qū)域內(nèi)的光和入射到上述第2區(qū)域內(nèi)的光分離并入射到上述 光檢測器中;上述光檢測器的檢測面具有檢測來自上述光分離元件的第1 區(qū)域的入射光的第1檢測區(qū)域;和設(shè)置在離開上述第1檢測區(qū)域的位置上 并檢測來自上述光分離元件的第2區(qū)域的入射光的第2檢測區(qū)域,使用上 述第2檢測區(qū)域檢測到的檢測信號檢測上述光盤的循軌誤差信號;當(dāng)上述 光盤具有多個信號面時,使被上述物鏡聚焦的信號面以外的信號面反射的 光中的、從上述光分離元件的第1區(qū)域入射到上述光檢測器中的光不會入 射到上述第2檢測區(qū)域中。如果采用這種結(jié)構(gòu),在使用具有多個信號面的所謂多層光盤進行記錄 再生時,來自與記錄再生對象信號面不同的信號面的反射光不會入射到用 來檢測循軌誤差信號的第2檢測區(qū)域中,因此能夠精度良好地檢測循軌誤
差信號。由此,能夠提供不受被聚焦的信號面以外的信號面反射的干擾光 的影響,使控制誤差小、穩(wěn)定地循軌成為可能的光盤裝置。在上述光盤裝置中,上述光檢測器最好使用上述第1檢測區(qū)域檢測到 的信號檢測上述光盤的聚焦誤差信號。并且,上述光盤裝置如果將上述光盤中上述物鏡聚焦的信號面與其他的信號面之間的距離表示為d,優(yōu)選以當(dāng)上述d在40u m 70n m的范圍 內(nèi)(d為55um時更好)時,使被上述其他的信號面反射的光中的、從上 述光分離元件的第1區(qū)域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2 檢測區(qū)域中的方式形成上述光分離元件。由此,在記錄再生信號面的間隔 被限定在40li m 70u m的范圍內(nèi)的DVD-R時,能夠不受被聚焦的信號面 以外的信號面反射的干擾光的影響,使控制誤差小、穩(wěn)定地循軌成為可能。 并且,上述光盤裝置如果將上述光盤中上述物鏡聚焦的信號面與其他 的信號面之間的距離表示為d,優(yōu)選以當(dāng)上述d在20nm 30um的范圍 內(nèi)(d為25um時更好)時,使被上述其他的信號面反射的光中的、從上 述光分離元件的第1區(qū)域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2 檢測區(qū)域中的方式形成上述光分離元件。由此,在記錄再生信號面的間隔 被限定在20y m 30um的范圍內(nèi)的Blu-Ray盤時,能夠不受被聚焦的信 號面以外的信號面反射的干擾光的影響,使控制誤差小、穩(wěn)定地循軌成為 可能。并且,上述光盤裝置如果將上述光盤中上述物鏡聚焦的信號面與其他 的信號面之間的距離表示為d,優(yōu)選以當(dāng)上述d在17um 23lim的范圍 內(nèi)(d為20ym時更好)時,使被上述其他的信號面反射的光中的、從上 述光分離元件的第1區(qū)域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2 檢測區(qū)域中的方式形成上述光分離元件。由此,在記錄再生信號面的間隔 被限定在17u m 23 y m的范圍內(nèi)的HD-DVD時,能夠不受被聚焦的信號 面以外的信號面反射的干擾光的影響,使控制誤差小、穩(wěn)定地循軌成為可 能。并且,上述光盤裝置優(yōu)選采用以下形態(tài)當(dāng)以沒被上述光分離元件分 離而入射到上述光檢測面中的光的光軸位置為原點,以通過上述原點、與 上述光盤的徑向平行的直線為y軸,以通過上述原點、與上述y軸正交的
直線為x軸時,沿上述y軸形成上述光檢測器中的第2檢測區(qū)域,上述第1 檢測區(qū)域以在x軸方向上分為2個而夾住上述第2檢測區(qū)域的方式形成。或者,上述光盤裝置也可以采用以下形態(tài)當(dāng)以沒被上述光分離元件分離而入射到上述光檢測面中的光的光軸位置為原點,以通過上述原點、與上述光盤的徑向平行的直線為y軸,以通過上述原點、與上述y軸正交 的直線為x軸時,沿上述y軸形成上述光檢測器中的第1檢測區(qū)域,上述 第2檢測區(qū)域以在x軸方向上分為2個而夾住上述第1檢測區(qū)域的方式形 成。并且,上述光盤裝置優(yōu)選上述第2檢測區(qū)域具有x軸方向上的長度相 對較小的第1部分和相對較大的第2部分。而且,如果將上述第2檢測區(qū) 域中的上述第1部分在x軸方向上的長度表示為wl、將上述第2部分在x 軸方向上的長度表示為w2,則在相對上述光盤的信號面散焦為0時形成于 上述第2檢測區(qū)域的光點中,位于上述第2部分上的光點優(yōu)選形成在上述 第2部分的y軸方向的大致中心、并且離y軸的距離大于w1/2的位置上。通過采用上述本發(fā)明,在記錄再生雙層光盤或多層光盤時,被記錄再 生對象信號面以外的信號面反射的光不會作為干擾光入射到光檢測器中。 因此,能夠從光檢測器檢測到的光信號中求取高精度的循軌誤差信號,能 夠?qū)崿F(xiàn)誤差小、穩(wěn)定的循軌控制。由此,即使在例如物鏡沿光盤徑向方向 偏心的情況下也能夠消除循軌控制時產(chǎn)生的光軌偏離等。
圖1為本發(fā)明的一個實施形態(tài)及現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置的剖面結(jié)構(gòu)圖。 圖2 (a)和圖2 (b)為表示本發(fā)明的一個實施形態(tài)的光盤裝置的全息 照相面和檢測面的結(jié)構(gòu)以及這些面上的光點配置的圖。圖3 (a)和圖3 (b)為表示本發(fā)明的一個實施形態(tài)的光盤裝置中散焦時檢測面上的光點的樣子的說明。圖4 (a)和圖4 (b)為用來說明本發(fā)明的一個實施形態(tài)的光盤裝置記 錄再生多層光盤時,來自記錄再生對象信號面以外的信號面的反射光不入 射到檢測面上的條件的圖。
圖5為表示本發(fā)明的其他實施形態(tài)的光盤裝置的檢測面的結(jié)構(gòu)和光點 配置的圖。圖6 (a)和圖6 (b)為表示圖5所示的本發(fā)明的其他實施形態(tài)的光盤 裝置中散焦時檢測面上的光點的樣子的說明圖。圖7 (a)和圖7 (b)為表示現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置的全息照相面和檢測 面的結(jié)構(gòu)以及這些面上的光點配置的圖。圖8 (a)和圖8 (b)為現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置中散焦時檢測面上的光點 的樣子的說明。
具體實施方式
下面參照圖1 圖6詳細說明本發(fā)明的一個實施形態(tài)的光盤裝置。另 外,對于與上述現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置共同的構(gòu)成要素添加相同的附圖標(biāo)記。本實施形態(tài)的光盤裝置與圖1所示的現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置一樣,具有 光檢測基板9和安裝在光檢測基板9上的光源1。光源1為例如半導(dǎo)體激光 器等。并且,該光盤裝置與現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置一樣,在從光源1射出的 激光la的光路上具有校準(zhǔn)透鏡4、偏光性全息照相基板2、 1/4波長板3和 物鏡5。 1/4波長板3設(shè)置在偏光性全息照相基板2的背面。但是,本實施 形態(tài)的光盤裝置中偏光性全息照相基板2的全息照相面2a的區(qū)域結(jié)構(gòu)和光 檢測基板9的檢測面9a上的檢測單元的配置與現(xiàn)有技術(shù)的光盤裝置不同。圖2 (a)和圖2 (b)表示本實施形態(tài)的光盤裝置的全息照相面2a和 檢測面9a的結(jié)構(gòu)。圖2 (a)為從光盤6—側(cè)看檢測面9a時的平面圖。圖 2 (b)為從光盤6—側(cè)看全息照相面2a時的平面圖。在本實施形態(tài)的光盤裝置中,偏光性全息照相基板2的全息照相面2a 用在全息照相面2a與光軸7的交點即原點20上正交的2條直線(X軸、Y 軸)分割成4個象限21、 22、 23和24。象限21 24分別被以下線段分割 成3個區(qū)域關(guān)于X軸對稱的2條圓弧71、 72;從圓弧71、 72的端點與 Y軸平行并且向遠離X軸的方向延伸的線段73、 74、 75、 76;以與圓弧71、 72的交點為兩端,與X軸垂直相交的線段77、 78。艮P,第l象限21被分成區(qū)域21a、 21b、 21c。第2象限22被分成區(qū)域 22a、 22b、 22c。第3象限23被分成區(qū)域23a、 23b、 23c。第4象限24被分成區(qū)域24a、 24b、 24"區(qū)域21c、 22c、 23c、 24c為與原點20相連的區(qū) 域。區(qū)域21a、 22a、 23a、 24a為在X軸方向上離開原點20的區(qū)域,換言 之,為X軸方向上與區(qū)域21c、 22c、 23c、 24c相鄰的區(qū)域。區(qū)域21b、 22b、 23b、 24b為在Y軸方向上離開原點20的區(qū)域,換言之,為Y軸方向上與 區(qū)域21c、 22c、 23c、 24c相鄰的區(qū)域。Y軸與光盤6的半徑方向平行,由光盤6的信號面6a上形成的引導(dǎo)槽 產(chǎn)生的衍射光80a、 80b沿Y軸方向移動后重疊在全息照相面2a上的返回 光80上。圖2 (a)中用虛線表示了光盤6為DVD-R或DVD-RW等窄間 距格式時從光盤6來的返回光的外形。該光通過全息照相面2a時產(chǎn)生土l 次衍射光。該衍射光被分別設(shè)置在4個象限中的3個區(qū)域分離,被分離成 12束光投射到光檢測基板9的檢測面9a上。即,第1象限21中的區(qū)域21 a 21c的全息相(光柵形態(tài))互不相同。因此,通過區(qū)域21a 21c的光向互 不相同的3個方向前進,投射到檢測面9a上3個互不相同的位置上。第2 象限22中的區(qū)域22a 22c、第3象限23中的區(qū)域23a 23c、第4象限24 中的區(qū)域24a 24c也同樣。另一方面,如圖2 (a)所示,以在檢測面9a與光軸7的交點即原點 90上正交并且與X軸、Y軸平行的2條直線作為x軸、y軸,在光檢測基 板9的檢測面9a上y軸的正側(cè)交錯地配置有沿y軸成梳齒形狀的聚焦檢測 單元95、 96。圖2 (a)中也將電氣導(dǎo)通的檢測單元附加相同的參照符號。 并且,在y軸的附近配置有循軌檢測單元97、 98。循軌檢測單元97、 98 以y軸為邊界、呈關(guān)于y軸對稱的形狀。循軌檢測單元97、 98中相當(dāng)于y 軸負側(cè)的一部分區(qū)域與其他區(qū)域相比向x軸的負方向或正方向突出。如圖3 (a)所示,循軌檢測單元97、 98在x軸方向上的寬度在離y軸的負方向 一端的高度為h的區(qū)域中為w2/2,在比該區(qū)域靠y軸的正方向一側(cè)的區(qū)域 中為wl/2。另外,w2〉wl。聚焦檢測單元95、 96以夾著循軌檢測單元97、 98的形態(tài)配置在離開 循軌檢測單元97、 98的位置上,其外形形狀關(guān)于y軸基本對稱。在y軸的 負方向側(cè)分散配置有方形檢測單元91、 92、 93、 94。另外,檢測單元91、 92、 93、 94中也將電氣導(dǎo)通的檢測單元附加相同的參照符號。另外,從光 源l的發(fā)光點射出的光la在與圖2的圖面平行的面內(nèi)與x軸平行前進,被
反射鏡10反射向光軸方向(通過原點卯與圖面正交的方向)。在全息照相面2a的區(qū)域21a中衍射的1次衍射光匯聚在收斂于循軌檢 測單元98中的光點81S上,一l次衍射光匯聚在收斂于檢測單元91的光 點81S'上。另外,光點81S和光點81S'位于關(guān)于原點90對稱的位置上。 并且,在區(qū)域21b中衍射的1次衍射光匯聚在收斂于循軌檢測單元97中的 光點81' S上,一l次衍射光匯聚在收斂于檢測單元91的光點81' S'上。 光點81' S和光點81' S'也位于關(guān)于原點90對稱的位置上。在區(qū)域21c 中衍射的1次衍射光匯聚在橫跨聚焦檢測單元95與96的邊界的光點81 " S上,一l次衍射光匯聚在收斂于檢測單元91中的光點81 " S'上。光點 81 " S和光點81 " S'也位于關(guān)于原點90對稱的位置上。同樣,在區(qū)域22a、 22c中衍射的1次衍射光匯聚在橫跨聚焦檢測單元 95與96的邊界的光點82S、 82 " S上,一l次衍射光匯聚在收斂于檢測單 元92的光點82S'、 82 " S'上。在區(qū)域22b中衍射的1次衍射光匯聚在收 斂于檢測單元97的光點82' S上,一1次衍射光匯聚在收斂于檢測單元92 的光點82' S'上。并且,在區(qū)域23a、 23c中衍射的1次衍射光匯聚在橫跨聚焦檢測單元 95與96的邊界的光點83S、 83 " S上,一l次衍射光匯聚在收斂于檢測單 元93的光點83S'、 83 " S'上。在區(qū)域23b中衍射的1次衍射光匯聚在收 斂于循軌檢測單元98中的光點83' S上,一l次衍射光匯聚在收斂于檢測 單元93的光點83' S'上。并且,在區(qū)域24a中衍射的1次衍射光匯聚在收斂于循軌檢測單元97 中的光點84S上,一1次衍射光匯聚在收斂于檢測單元94中的光點84S' 上。在區(qū)域24b中衍射的1次衍射光匯聚在收斂于循軌檢測單元98中的光 點84' S上,一1次衍射光匯聚在收斂于檢測單元94中的光點84' S'上。 在區(qū)域24c中衍射的1次衍射光匯聚在橫跨聚焦檢測單元95與96的邊界 的光點84 " S上,一l次衍射光匯聚在收斂于檢測單元94中的光點84 " S' 上。另外,1次衍射光形成的匯光點81S、 84S、 81' S、 82' S、 83' S、 84' S為大致在檢測面9a上形成焦點的光。匯光點81"S、 82S、 82 " S、 83S、 83" S、 84" S在y軸方向上的焦線可以位于檢測面9a的任一側(cè),但
x軸方向上的焦線位于從全息照相面2a —側(cè)看去的檢測面9a的里側(cè)。圖2 (a)中使y軸方向上的焦線與x軸方向上的焦線的位置一致(所謂沒有象 散性聚光)。因此,一1次衍射光形成的匯光點81S'、 84S'、 81' S'、 82' S'、 83' S'、 84' S'為大致在檢測面9a上形成焦點的光。匯光點81 "S'、 82S'、 82"S'、 83S'、 83"S'、 84 " S'在x軸方向上的焦線位于從全息 照相面2a —側(cè)看去的檢測面9a的靠身邊一側(cè),y軸方向上的焦線的位置也 與x軸方向上的焦線的位置一致。用圖2 (a)所示的各檢測單元能夠獲得以下8個信號。其中,假設(shè)T1 為檢測單元91獲得的信號、T2為檢測單元92獲得的信號、T3為檢測單元 93獲得的信號、T4為檢測單元94獲得的信號、Fl為聚焦檢測單元95獲 得的信號、F2為聚焦檢測單元96獲得的信號、Sl為循軌檢測單元97獲得 的信號、S2為循軌檢測單元98獲得的信號。利用這些檢測信號根據(jù)以下公式(4) (8)生成跟蹤DVD-RAM等 寬間距光盤的光軌的循軌誤差信號TE1、跟蹤DVD-R或DVD-RW等窄間 距光盤的光軌的循軌誤差信號TE2、跟蹤DVD-ROM等再生專用光盤的光 軌的循軌誤差信號TE3、聚焦光盤的信號面的聚焦誤差信號FE、再生光盤的信號面的再生信號RF。TE1=T1+T2—T3—T4 …(4)TE2 = S2—Sl …(5)TE3=T1+T3—T2—T4 …(6)FE=F1—F2 …(7)RF=T1+T2+T3+T4 …(8)光點81S、 84S由于能夠捕捉來自DVD-R或DVD-RW等窄間距格式 光盤的衍射光成份(80a、 80b),因此強度隨著光軌偏離產(chǎn)生變化。這是所 謂O次光與衍射光互相干涉引起的現(xiàn)象。另一方面,由于光點81' S、 82' S、 83' S、 84' S中不包含衍射光成份,因此強度不隨光軌偏離產(chǎn)生變化。 并且,當(dāng)物鏡5隨著循軌控制相對于光軸7 (即激光的高斯中心)移動時, 返回光80的強度分布也同時移動。這種現(xiàn)象用例如YX)光量增加、Y<0 光量減少或者Y<0光量增加、Y>0光量減少這樣的強度中心在全息照相 面2a上沿Y軸移動的形式表示。因此,光點84S與光點81' S、 82' S強度變化的方向互相相反,光點81S與光點83' S、 84' S強度變化的方向也 相反。因此,在消除了物鏡移動的影響的狀態(tài)下信號TE2只能夠檢測到光 軌偏離的信息。即,通過恰當(dāng)?shù)卣{(diào)整全息照相面2a上各象限中形成的3個 區(qū)域的面積比,信號TE2能夠完全消除物鏡5的透鏡的移動對光軌偏離的 影響。另外,DVD-RAM等間距在1.2um以上的大間距格式的光盤中返回光 80的強度分布大致均勻。因此,各光點中透鏡移動引起的光強度變化小, 信號TE1的偏差量也變小,因此可以將其用于檢測循軌誤差。而且, DVD-RAM時沒有雙層光盤的格式,因此不需要考慮干擾光的影響,用信 號TE1檢測循軌誤差就可以了。圖3 (a)和圖3 (b)為表示本實施形態(tài)中相對于光盤6的信號面匯聚 光的散焦為0時和散焦時檢測面9a上的光點的樣子的圖。圖3 (a)表示信 號面離物鏡5的距離比聚焦時近時的光點,圖3 (b)表示信號面離物鏡5 的距離比聚焦時遠時的光點。即,圖3 (a)為表示來自光盤6的記錄再生 對象信號面(散焦為0的信號面)的反射光形成的光點(參照標(biāo)記中附加 了 P的光點)和來自離物鏡5的距離比該信號面近的其他信號面的反射光 形成的光點(參照標(biāo)記中附加了S的光點)的圖。并且,圖3 (b)為表示 來自光盤6的記錄再生對象信號面(散焦為0的信號面)的反射光形成的 光點(參照標(biāo)記中附加了 P的光點)和來自離物鏡5的距離比該信號面遠 的其他信號面的反射光形成的光點(參照標(biāo)記中附加了 S的光點)的圖。 另外,圖3 (a)和圖3 (b)只表示了 1次衍射一側(cè)的光點,一l次衍射光 一側(cè)的光點為關(guān)于原點90與1次衍射光一側(cè)的光點大致對稱的形狀。圖3 (a)中,當(dāng)散焦時,無論哪個光點都不會進入檢測單元97和檢測 單元98中。例如,當(dāng)散焦為0時檢測單元97上位于點84P的光點由于散 焦量超過某一定值(單條光軌為5 1)向y軸的負方向移動,變成離開檢測 單元97的位置上的光點84S。有關(guān)S1的條件后面敘述。并且,檢測單元 98上位于點81P上的光點向y軸的正方向移動,變成離開檢測單元98的 位置上的光點81S。另外,圖3 (a)中,散焦為0時的光點實際上在檢測 面9a上位于焦點附近,因此由于光的衍射變成復(fù)雜的形狀,透過全息照相 面2a的各象限21 24的分割區(qū)域時不與與該分割區(qū)域重疊的形狀相似,
因此表示為圓形。這些光點不留在檢測單元97、 98中的原因有以下幾點光點84S、 81S 為全息照相面2a上在Y軸方向上離開其原點20的區(qū)域(區(qū)域24b、 21b) 產(chǎn)生的衍射光;檢測單元98中y軸的負方向一側(cè)的部分區(qū)域比y軸的正方 向一側(cè)的區(qū)域向x軸的正方向突出,點81P位于該突出的區(qū)域;點84P位 于檢測單元97的靠近y軸的負方向一側(cè)的端部附近的位置上等。并且,當(dāng)散焦為0時檢測單元97上位于點81' P的光點由于散焦量超 過上述一定的值(單條光軌為S1)向x軸的正方向移動,變成離開檢測單 元98的位置上的光點81' S。檢測單元97上位于點82' P上的光點向x 軸的負方向移動,變成離開檢測單元97的位置上的光點82' S。檢測單元 98上位于點83' P上的光點向x軸的負方向移動,變成離開檢測單元97 的位置上的光點83' S。檢測單元98上位于點84' P上的光點向x軸的正 方向移動,變成離開檢測單元98的位置上的光點84' S。這些光點不留在 檢測單元97、 98中的原因有以下幾點光點81' S、 82' S、 83' S、 84' S為全息照相面2a上在X軸方向上離開其原點20的區(qū)域(區(qū)域21a、 22a、 23a、 24a)產(chǎn)生的衍射光;檢測單元97、 98中光點81' P、 82' P、 83' P、 84' P所在的區(qū)域在x軸方向上的寬度wl/2小。另一方面,散焦為0時檢測單元96上位于點81 " P、點84 " P附近的 光點分別變成向x軸的正方向擴散了的光點81 " S、 84 " S。檢測單元96 上位于點82P和點83P附近的光點分別變成向x軸的負方向擴散了的光點 82S、 82 " S和光點83S、 83 " S。由于光點84 " S、 82S、 82 " S向遠離檢 測單元97、98的方向擴散,因此無論多大的散焦量都不會進入檢測單元97、 98中。雖然光點81 " S、 83S、 83 " S向檢測單元97、 98擴散,但只要散 焦量不超過一定值(單條光軌為S2),就不會進入檢測單元97、 98中。另 外,有關(guān)5 2的條件后面敘述。這些光點(81 " S、 82S、 82 " S、 83S、 83 " S、 84 " S)不進入檢測單元97、 98中的原因是它們的起點(散焦為0時的 光點位置)離開檢測單元97、 98。并且,圖3 (b)中也是當(dāng)散焦時哪個光點都不進入檢測單元97和檢測 單元98。例如,當(dāng)散焦為0時檢測單元97上位于點84P的光點超過一定 的散焦量(單條光軌為S1)時向y軸的正方向移動,變成離開檢測單元97 的位置上的光點84S。檢測單元98上位于點81P上的光點向y軸的負方向 移動,變成離開檢測單元97、 98的位置上的光點81S。這些光點不留在檢 測單元97、 98中的原因有以下幾點光點84S、 81S為全息照相面2a上在 Y軸方向上離開其原點20的區(qū)域(區(qū)域24b、 21b)產(chǎn)生的衍射光;檢測單 元97中y軸的負方向一側(cè)的部分區(qū)域比其他區(qū)域向x軸的負方向突出,點 84P位于該突出的區(qū)域;點81P位于檢測單元98的靠近y軸的負方向一側(cè) 的端部附近的位置上等。并且,當(dāng)散焦為0時檢測單元97上位于點81' P的光點由于散焦量超 過上述一定的值(單條光軌為S1)向x軸的負方向移動,變成離開檢測單 元97的位置上的光點81' S。檢測單元97上位于點82' P上的光點向x 軸的正方向移動,變成離開檢測單元98的位置上的光點82' S。檢測單元 98上位于點83' P上的光點向x軸的正方向移動,變成離開檢測單元98 的位置上的光點83' S。檢測單元98上位于點84' P上的光點向x軸的負 方向移動,變成離開檢測單元97的位置上的光點84' S。這些光點不留在 檢測單元97、 98中的原因有以下幾點光點81' S、 82' S、 83' S、 84' S為全息照相面2a上在X軸方向上離開其原點20的區(qū)域(區(qū)域21a、 22a、 23a、 24a)產(chǎn)生的衍射光;檢測單元97、 98中光點81' P、 82' P、 83' P、 84' P所在的區(qū)域在x軸方向上的寬度wl/2小。另一方面,散焦為0時檢測單元96上位于點81 " P、點84 " P附近的 光點分別變成向x軸的負方向擴散了的光點81 " S、 84 " S。檢測單元96 上位于點82P和點83P附近的光點分別變成向x軸的正方向擴散了的光點 82S、 82 " S和光點83S、 83 " S。由于光點81 " S、 83S、 83 " S向遠離檢 測單元97、98的方向擴散,因此無論多大的散焦量都不會進入檢測單元97、 98中。雖然光點84 " S、 82S、 82 " S向檢測單元97、 98擴散,但只要散 焦量不超過一定值(單條光軌為S2),就不會進入檢測單元97、 98中。這 些光點(81"S、 82S、 82"S、 83S、 83 " S、 84 " S)不進入檢測單元97、 98中的原因是它們的起點位于(散焦為0時的光點位置)離開檢測單元97、 98的位置上。在雙層光盤的情況下,當(dāng)聚焦在一個層上時,在另一層中反射回來的 光在單側(cè)d/n、往返2d/n散焦的距離的狀態(tài)下回到檢測面9a上。雙層光盤
為DVD-R或Blu-Ray盤等已經(jīng)商品化、2個信號面夾著厚度為d、折射率 為n的粘接層的雙層結(jié)構(gòu)的光盤。d的值在DVD-R格式中規(guī)定為40 u m< d<70nm, Blu-Ray格式規(guī)定為20 um<d<30 u m, HD-DVD格式規(guī)定為 17um<d<23um。如果該散焦量(單側(cè)為d/n)在下式(9)的范圍內(nèi)的 話,貝U光盤6中想要再生的信號面以外的信號面反射的光不會成為干擾光 混入檢測單元97、 98中。SKd力i〈S2 …(9)上述實施形態(tài)中只要以適當(dāng)?shù)谋壤M行設(shè)計,能夠容易地滿足公式 (9)。例如,假設(shè)n二1.51nm、 40u m<d<70u m的話,只要使SK26.5 um、 S2〉46.4lim地決定wl、 w2等的比例就可以。并且,即使不能完 全滿足公式(9),只要使厚度的中間值(DVD-R的大小為55ym、 Blu-Ray 的大小為25um、 HD-DVD的大小為20um)產(chǎn)生的干擾光不入射到檢測 單元97、 98中就可以,對于中間值以外的厚度應(yīng)該具有一定的容許。這樣 一來,如果采用上述實施形態(tài),被光盤中作為再生或者記錄對象的信號面 前后dum的其他信號面反射的光不會入射到檢測單元97、 98中。因此, 通過采用由檢測單元97、98檢測到的檢測信號生成的信號TE2作為循軌誤 差信號,能夠使雙層光盤中的循軌控制穩(wěn)定,能夠消除循軌控制時光軌偏 離或光軌跳躍。下面說明散焦時光點不進入檢測單元97、 98的檢測單元97、 98的尺 寸條件。如用圖3 (a)和圖3 (b)說明過的那樣,散焦為0時檢測單元98 中位于點81P上的光點在單條光軌產(chǎn)生S 1的散焦的情況下變成向y軸的 負方向或正方向移動的光點81S。同樣,如用圖3 (a)和圖3 (b)說明過 的那樣,散焦為0時檢測單元98中位于點84P上的光點在單條光軌產(chǎn)生S 1的散焦的情況下變成向y軸的負方向或正方向移動的光點84S。為了使該 光點81S和84S不進入檢測單元97、 98,需要滿足以下條件。艮P,如圖4 (a)所示,假設(shè)檢測單元97、 98中寬度變寬的區(qū)域在y 軸方向上的長度為h,散焦為0時的光點81P、 84P最好位于檢測單元97、 98中離y軸負方向的端部h/2的距離上。并且,這些光點81P、 84P在檢測 單元97、 98的寬度變寬的區(qū)域中離y軸的距離大于w1/2的位置上。
并且,當(dāng)單條光軌的散焦量為S 1時檢測面9a上全孔徑點的直徑Dl 由下述公式(10)求出。另外,NA為物鏡5的數(shù)值孔徑,fc為校準(zhǔn)透鏡4 的焦距,fcl)為物鏡5的焦距。并且假設(shè)Sl二dl/n。 dl為雙層光盤的最小 層間厚度,在例如DVD-R或DVD-RW的情況下為40 u m以下。n為光盤 6的盤基材的折射率。Dl = 2Xf 。 XNAX2X 5 1/fcX (fc/f 0)2=fc/;U X4XNAXdl/n .,,(10)并且,當(dāng)單條光軌的散焦量為S 1時,上述光點81P、 84P不進入檢測 單元97、 98的條件滿足下述公式(11)。另外,如圖4 (b)所示,a為全 息照相面2a中區(qū)域21c與區(qū)域21b的邊界在y軸上離原點20的距離。h/2 < Dl x a/(f ^ XNA) …(11) 上式(11)的條件可以表示成下式(12)。 h/a < 4Xfc/f,Xdl/n …U2)由于滿足該公式(12)并且散焦為0時的光點81P、 84P位于檢測單元 97、98的x軸方向上的寬度變寬的區(qū)域中離y軸的距離大于wl/2的位置上, 因此單條光軌的散焦量超過S1時,光點81S、 84S不進入檢測單元97、 98 中。而且,如參照圖3 (a)說明過的那樣,圖4 U)所示的光點81 "P為 信號面離物鏡5越近越向x軸的正方向擴大的光點81 " S。在單條光軌的 散焦量為6 2的情況下,該光點81 " S不進入檢測單元97的條件滿足下式 (13)。另外,如圖4 (a)所示,c為光點81 "P到檢測單元97的x軸方 向上的距離。并且,假設(shè)S2二d2/n。 d2為雙層光盤的最大層間厚度,在例 如DVD-R或DVD-RW的情況下為70 u m以下。D2為單條光軌的散焦量 為S 2時檢測面9a上的全孔徑點的直徑。c > D2=fc/f々X4XNAXd2/n …(13) 同樣,當(dāng)滿足該條件時,圖3 (b)所示的光點84"P在單條光軌的散
焦量為S 2時形成的光點84 " S也不進入檢測單元98。并且,如圖3 (b)所示,圖4 (a)所示的光點82' P為信號面離物鏡 5越遠越往x軸的正方向移動的光點82' S。當(dāng)單條光軌的散焦為S 1時, 該光點82' S不進入檢測單元98的條件滿足下式(14)。另外,如圖4 (b) 所示,P為全息照相面2a上原點20到區(qū)域21c與區(qū)域21a的邊界的x軸 方向上的距離。3/4Xwl < D1X 3/(f^ XNA) …(14)上述公式(14)的條件可以表示為下式(15)。< 16/3xfc/lVxdl/n ".(15)另外,上述實施形態(tài)中使循軌誤差信號用信號光的檢測單元為檢測單 元97、 98,在檢測單元97上配置光點84S、 81' S、 82' S,在檢測單元 98上配置光點81S、 83' S、 84' S地構(gòu)成全息照相面2a。但是,這僅僅只 是一個例子,這些光點以怎樣的組合配置在檢測單元97、 98上可以是各種 各樣的形態(tài)。并且,雖然上述實施形態(tài)說明了光盤6為雙層光盤時的情況,但對于4 層或8層等多層光盤也同樣,能夠獲得同樣的效果。并且,雖然上述實施形態(tài)將光源1和檢測面9a構(gòu)成在同一塊基板上, 但也可以是將它們分開的結(jié)構(gòu),甚至可以是采用2個校準(zhǔn)透鏡、往路和回 路分開使用的結(jié)構(gòu),能夠獲得的效果不會改變。而且,上述實施形態(tài)的特征是僅使全息照相面2a上離開原點20的區(qū) 域即區(qū)域21a 24a或區(qū)域21b 24b產(chǎn)生的光點匯聚在循軌檢測單元上。 只要具有與此相同的特征,其他的形態(tài)也能夠產(chǎn)生同樣的效果。例如,上述實施形態(tài)將循軌檢測單元97、 98配置在在x軸方向上靠近 原點的位置,將聚焦檢測單元95、 96配置在比循軌檢測單元97、 98靠x 軸的正側(cè)和x軸的負側(cè)。但是,也可以考慮與此相反,將聚焦誤差信號檢 測用的檢測單元95、 96配置在在x軸方向上靠近原點的位置,將循軌誤差 信號檢測用的檢測單元97配置在x軸的正側(cè)、將檢測單元98配置在x軸 的負側(cè)的結(jié)構(gòu)。此時的結(jié)構(gòu)例作為本發(fā)明的其他實施形態(tài)表示在圖5中。圖5只有檢 測單元和光點的位置不同,其他全部與圖2相同,其詳細說明省略。并且, 圖6 (a)和圖6 (b)為表示在圖5所示的檢測單元配置的情況下,相對于 光盤6的信號面的匯聚光的散焦為0時和散焦時檢測面9a上的光點的樣子 的圖。圖6 (a)表示信號面離物鏡5的距離比聚焦時近時的光點,圖6 (b) 表示信號面離物鏡5的距離比聚焦時遠時的光點。艮P,圖6 (a)為表示來 自光盤6的記錄再生對象信號面(散焦為0的信號面)的反射光形成的光 點(參照標(biāo)記中附加了 P的光點)和來自離物鏡5的距離比該信號面近的 其他信號面的反射光形成的光點(參照標(biāo)記中附加了 S的光點)的圖。并 且,圖6 (b)為表示來自光盤6的記錄再生對象信號面(散焦為0的信號 面)的反射光形成的光點(參照標(biāo)記中附加了 P的光點)和來自離物鏡5 的距離比該信號面遠的其他信號面的反射光形成的光點(參照標(biāo)記中附加 了 S的光點)的圖。另外,圖6 (a)和圖6 (b)只表示了 1次衍射一側(cè)的 光點,一l次衍射光一側(cè)的光點為關(guān)于原點90與1次衍射光一側(cè)的光點大 致對稱的形狀。在圖5所示的檢測單元配置的情況下,也如圖6 (a)和圖6 (b)所示, 通過使散焦量超過一定的量,使循軌檢測單元97和循軌檢測單元98上的 光點跑到其外部,只要散焦量不超過定值,聚焦檢測單元95、 96上的光 點就不會進入循軌檢測單元97、 98。因此,圖5所示的檢測單元的配置也 能夠獲得與圖2所示的檢測單元的配置完全相同的效果。而且,全息照相面2a中區(qū)域的分割并不僅限于圖2 (b)所示的形態(tài)。 例如,靠近原點20的區(qū)域21c 24c的形狀并不局限于圖2 (b)所示的形 狀,只要靠近原點20,可以采取任意的形狀。本發(fā)明的光盤裝置通過將全息照相面上離開原點的區(qū)域產(chǎn)生的光點匯 聚在循軌檢測單元上能夠?qū)崿F(xiàn)穩(wěn)定的循軌控制,因此能夠提高尤其是多層 光盤的記錄再生精度,可以作為各種與光盤有關(guān)的設(shè)備使用。
權(quán)利要求
1. 一種光盤裝置,具有光源、光分離元件、物鏡和光檢測器,其特征在于上述物鏡使從上述光源射出的光匯聚在光盤的信號面上,并且使該信號面反射的光入射到上述光分離元件中;上述光分離元件具有包含從上述物鏡入射來的光的光軸位置的第1區(qū)域和在上述第1區(qū)域的周圍位于離開上述光軸的位置上的第2區(qū)域,使入射到上述第1區(qū)域內(nèi)的光和入射到上述第2區(qū)域內(nèi)的光分離并入射到上述光檢測器中;上述光檢測器的檢測面具有檢測來自上述光分離元件的第1區(qū)域的入射光的第1檢測區(qū)域;和設(shè)置在離開上述第1檢測區(qū)域的位置上,并檢測來自上述光分離元件的第2區(qū)域的入射光的第2檢測區(qū)域,使用上述第2檢測區(qū)域的檢測信號檢測上述光盤的循軌誤差信號;當(dāng)上述光盤具有多個信號面時,被上述物鏡聚焦的信號面以外的信號面反射的光中的、從上述光分離元件的第1區(qū)域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2檢測區(qū)域中。
2. 如權(quán)利要求1所述的光盤裝置,其特征在于上述光檢測器使用上 述第1檢測區(qū)域檢測到的信號,檢測上述光盤的聚焦誤差信號。
3. 如權(quán)利要求1所述的光盤裝置,其特征在于如果將上述光盤中上 述物鏡聚焦的信號面與其他的信號面之間的距離表示為d,則以當(dāng)上述d 在40um 70iim的范圍內(nèi)時,使被上述其他的信號面反射的光中的、從 上述光分離元件的第1區(qū)域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第 2檢測區(qū)域中的方式,形成上述光分離元件。
4. 如權(quán)利要求3所述的光盤裝置,其特征在于以當(dāng)上述d為55um 時,使被上述其他的信號面反射的光中的、從上述光分離元件的第1區(qū)域 入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2檢測區(qū)域中的方式,形成 上述光分離元件。
5. 如權(quán)利要求l所述的光盤裝置,其特征在于如果將上述光盤中上 述物鏡聚焦的信號面與其他的信號面之間的距離表示為d,則以當(dāng)上述d在20um 30nm的范圍內(nèi)時,使被上述其他的信號面反射的光中的、從 上述光分離元件的第1區(qū)域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第 2檢測區(qū)域中的方式,形成上述光分離元件。
6. 如權(quán)利要求5所述的光盤裝置,其特征在于以當(dāng)上述d為25um 時,使被上述其他的信號面反射的光中的、從上述光分離元件的第1區(qū)域 入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2檢測區(qū)域中的方式,形成 上述光分離元件。
7. 如權(quán)利要求l所述的光盤裝置,其特征在于如果將上述光盤中上 述物鏡聚焦的信號面與其他的信號面之間的距離表示為d,則以當(dāng)上述d 在17ym 23um的范圍內(nèi)時,使被上述其他的信號面反射的光中的、從 上述光分離元件的第1區(qū)域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第 2檢測區(qū)域中的方式,形成上述光分離元件。
8. 如權(quán)利要求7所述的光盤裝置,其特征在于以當(dāng)上述d為20um 時,使被上述其他的信號面反射的光中的、從上述光分離元件的第1區(qū)域 入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2檢測區(qū)域中的方式,形成 上述光分離元件。
9. 如權(quán)利要求1 8中的任一項所述的光盤裝置,其特征在于當(dāng)以 沒被上述光分離元件分離而入射到上述光檢測面中的光的光軸位置為原 點,以通過上述原點、與上述光盤的徑向平行的直線為y軸,以通過上述 原點、與上述y軸正交的直線為x軸時,沿上述y軸形成上述光檢測器中 的第2檢測區(qū)域,上述第1檢測區(qū)域以在x軸方向上分為2個而夾住上述 第2檢測區(qū)域的方式形成。
10. 如權(quán)利要求1 8中的任一項所述的光盤裝置,其特征在于當(dāng)以 沒被上述光分離元件分離而入射到上述光檢測面中的光的光軸位置為原點,以通過上述原點、與上述光盤的徑向平行的直線為y軸,以通過上述 原點、與上述y軸正交的直線為x軸時,沿上述y軸形成上述光檢測器中 的第1檢測區(qū)域,上述第2檢測區(qū)域以在x軸方向上分為2個而夾住上述 第1檢測區(qū)域的方式形成。
11. 如權(quán)利要求1 10中的任一項所述的光盤裝置,其特征在于上 述第2檢測區(qū)域具有x軸方向上的長度相對較小的第1部分和相對較大的 第2部分。
12. 如權(quán)利要求ll所述的光盤裝置,其特征在于如果將上述第2檢 測區(qū)域中的上述第1部分在x軸方向上的長度表示為wl、將上述第2部分 在x軸方向上的長度表示為vv2,則在相對上述光盤的信號面散焦為0時形 成于上述第2檢測區(qū)域的光點中,位于上述第2部分上的光點形成在上述 第2部分的y軸方向的大致中心、并且離y軸的距離大于w1/2的位置上。
全文摘要
本發(fā)明涉及光盤裝置,在記錄再生多層光盤時,不受聚焦的信號面以外的信號面反射的干擾光的影響,使控制誤差小、穩(wěn)定地循軌成為可能。為此,本發(fā)明的光盤裝置的光分離元件具有包含從物鏡入射來的光的光軸位置(20)的第1區(qū)域(21c~24c)和位于上述第1區(qū)域的周圍、離開上述光軸的位置上的第2區(qū)域(21a~24a、21b~24b)。光檢測器的檢測面(9a)具有檢測來自上述第1區(qū)域的入射光的第1檢測區(qū)域(97、98)和檢測來自上述第2區(qū)域的入射光的第2檢測區(qū)域(95、96)。用第2檢測區(qū)域檢測循軌誤差信號。當(dāng)上述光盤具有多個信號面時,使被聚焦的信號面以外的信號面反射的光中的、從上述第1區(qū)域入射到上述光檢測器中的光不會入射到上述第2檢測區(qū)域中。
文檔編號G11B7/135GK101401159SQ200780009108
公開日2009年4月1日 申請日期2007年3月13日 優(yōu)先權(quán)日2006年3月14日
發(fā)明者百尾和雄, 西脅青兒, 麻田潤一 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社