專利名稱：光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種光盤機(jī)技術(shù)，特別有關(guān)于一種光盤機(jī)射 頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路。
背景技術(shù)：
圖l為一光盤機(jī)循軌時(shí)所需要的兩個(gè)信號(hào)， 一個(gè)為循軌誤差零
越信號(hào)(Tracking Error Zero Cross, TEZC)，另一個(gè)為射頻零越 信號(hào)(Radio Frequency Zero Cross, RFZC)。在此圖例中，該光 盤機(jī)正進(jìn)行一跨軌動(dòng)作，例如光學(xué)讀取頭由盤片的內(nèi)圏跳到外 圏。此時(shí)，該光盤;^L所產(chǎn)生的一射頻漣波信號(hào)(Radio Frequency Ripple, RFRP)，如圖l所示，是一個(gè)類似弦波的波形，其波峰部 分為盤片的軌道(track)所在，其波谷部分為盤片的軌道與軌道之 間沒有數(shù)據(jù)的部分。另外，光盤機(jī)會(huì)產(chǎn)生該射頻漣波信號(hào)RFRP 的 一 平均準(zhǔn)位Z C ，并且將該射頻漣波信號(hào)R F R P與該平均準(zhǔn)位Z C 作比較，以產(chǎn)生上述射頻零越信號(hào)RFZC。此外，該光盤機(jī)的光學(xué) 讀取頭所偵測到的一循軌誤差信號(hào)(Tracking Error, TE)，如圖l 所示，亦為類似弦波的波形。在光學(xué)讀取頭位于盤片的軌道上、 或盤片的軌道與軌道之間時(shí)，該循軌誤差信號(hào)TE為零。將該循軌 誤差信號(hào)T E與零準(zhǔn)位("0")作比較，可得上述循軌誤差零越信號(hào) TEZC。參閱圖l,光盤機(jī)判斷盤片軌道的方法為在偵測到該循 軌誤差零越信號(hào)TEZC由高準(zhǔn)位切換至低準(zhǔn)位、或由低準(zhǔn)位切換至 高準(zhǔn)位時(shí)，判斷該射頻零越信號(hào)RFZC是否為高準(zhǔn)位，若該射頻零 越信號(hào)RFZC為高準(zhǔn)位，則代表此處為盤片的軌道所在。以圖l為 例，標(biāo)示102即為盤片的軌道所在。
在上述判斷盤片軌道的方法中，該平均準(zhǔn)位ZC的準(zhǔn)確與否會(huì)
顯著影響軌道判斷的準(zhǔn)確度。圖2為盤片有刮傷(defect)或指紋 (fingerprint defect)時(shí)，上述射頻漣波信號(hào)RFRP的波形。圖2的 信號(hào)RF為光學(xué)讀取頭掃描盤片時(shí)所得到的射頻信號(hào)(RF)。該射頻 信號(hào)RF與盤片的反射率有關(guān)。在此圖例中，射頻漣波信號(hào)RFRP 的生成方式為將該射頻信號(hào)RF的下緣進(jìn)行取反相而得。以下解釋 盤片上的刮傷與指紋對該射頻漣波信號(hào)RFRP的影響。當(dāng)盤片有刮 傷時(shí)，盤片的涂層受損，光學(xué)讀取頭偵測不到盤片反射率的變化 (參照射頻信號(hào)RF的區(qū)域202)，因此該射頻漣波信號(hào)RFRP在刮傷 區(qū)域202內(nèi)維持在高準(zhǔn)位。當(dāng)盤片上有指紋時(shí)，指紋會(huì)影響盤片的 反射率(參照射頻信號(hào)RF的區(qū)域204)，該射頻漣波信號(hào)RFRP亦會(huì) 有變動(dòng)。如圖2所示，該射頻漣波信號(hào)RFRP在指紋區(qū)域204內(nèi)的 平均值會(huì)向上漂移。由圖2可知，在盤片有刮傷或指紋的情況下， 該平均準(zhǔn)位ZC會(huì)依盤片的損壞狀況而漂移。因此，產(chǎn)生該平均準(zhǔn) 位ZC的電路必須要能跟得上這種因?yàn)楸P片刮傷或指紋而產(chǎn)生的信 號(hào)漂移，才能確保所提供的平均準(zhǔn)位ZC的準(zhǔn)確度。
圖3為傳統(tǒng)的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路300。該電路300 以電荷泵(charge pump)實(shí)現(xiàn) 一峰值保持器(peak hold)302以及 一底部保持器(bottom hold)304。該峰值保持器302以及該底部保 持器304接收上述射頻漣波信號(hào)RFRP后，會(huì)分別輸出該射頻漣波 信號(hào)的波峰值PH以及該波谷值BH。 一運(yùn)算電路306計(jì)算該波峰以 及波谷值(PH與BH)的平均值(PH+BH)/2 。該平均值即該射頻漣波 信號(hào)RFRP的平均準(zhǔn)位ZC 。 一比較器308比較該射頻漣波信號(hào) R F R P以及該平均準(zhǔn)位Z C ，以求得上述射頻零越信號(hào)R F Z C 。
由于電荷泵電路的反應(yīng)速度很快，電路300可以很準(zhǔn)確地計(jì)算 出該平均準(zhǔn)位ZC。然而，采用電荷泵電路的缺點(diǎn)是價(jià)格過于昂貴。

發(fā)明內(nèi)容
為解決現(xiàn)有技術(shù)中的上述問題，本發(fā)明將提供 一 個(gè)價(jià)格低廉，
但卻同樣可以提供準(zhǔn)確平均準(zhǔn)位zc的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路。
本發(fā)明提出一種光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其中包括一 可變低通濾波器、 一比較器、以及一控制電路。其中，比較器耦 接于該可變低通濾波器，控制電路亦耦接于該可變低通濾波器。
根據(jù)一光盤機(jī)所產(chǎn)生的一射頻漣波(Radio Frequency Ripple, RFRP)，該可變低通濾波器產(chǎn)生該射頻漣波的 一 平均準(zhǔn)位(Zero Cross, ZC)。該射頻漣波以及該平均準(zhǔn)位經(jīng)該比較器比較的結(jié)果 是為一射頻零越信號(hào)(Radio Frequency Zero Cross, RFZC)。在 該光盤機(jī)偵測到盤片上有指紋(fingerprint defect)時(shí)，該控制電 路會(huì)調(diào)整該可變低通濾波器的 一 截止頻率(cut - off frequency), 以調(diào)整該可變低通濾波器產(chǎn)生該平均準(zhǔn)位的速度。因此，該可變 低通濾波器產(chǎn)生該平均準(zhǔn)位的速度得以追上該射頻漣波因?yàn)橹讣y 干擾所產(chǎn)生的偏移。
此外，本發(fā)明所提供的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路的可變 低通濾波器可為電阻-電容低通濾波器(RC low - pass filter),其 中包括一電容以及多個(gè)電阻。所述電阻具有不同的電阻值。該控 制電路通過將不同的上述電阻耦接該電容來組成具有不同截止頻 率的低通濾波器。
本發(fā)明所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，該可變低通濾 波器包括一電容、 一第一電阻、 一第一開關(guān)、多個(gè)第二電阻、對 應(yīng)所述第二電阻的多個(gè)第二開關(guān)、以及一第三開關(guān)，該第一電阻 以及所述第二電阻的電阻值皆不相同，該可變低通濾波器的輸入 端經(jīng)由該第 一開關(guān)耦^接該第 一 電阻的第 一端，該第 一 電阻的第二 端與該電容耦接于該可變低通濾波器的輸出端，該可變低通濾波
器的輸入端更經(jīng)由該第三開關(guān)耦接所述第二電阻的第一端，所述 第二電阻的第二端分別經(jīng)由對應(yīng)的第二開關(guān)耦接該電容，該控制 電路控制上述第一開關(guān)、第二開關(guān)、以及第三開關(guān)，以調(diào)整該可 變低通濾波器的截止頻率。
本發(fā)明所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，在盤片正常的 狀態(tài)下，該控制電路是控制該第一開關(guān)為導(dǎo)通、并且控制該第三 開關(guān)為不導(dǎo)通。
本發(fā)明所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，在該光盤機(jī)偵 測到盤片上有指紋時(shí)，該控制電路是控制該第 一 開關(guān)為不導(dǎo)通、 該第三開關(guān)為導(dǎo)通、并且根據(jù)指紋對盤片信號(hào)的損害程度決定所 述第二開關(guān)的導(dǎo)通狀況，以設(shè)定該可變低通濾波器的該截止頻率。
本發(fā)明所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，該可變低通濾 波器更包括一第四開關(guān)，耦接于所述電阻與該電容之間，該第四 開關(guān)的原始狀態(tài)為導(dǎo)通，在該光盤機(jī)偵測到盤片上有刮傷時(shí)，該 控制電路將該第四開關(guān)切換成不導(dǎo)通，以停止對該電容充放電， 使該平均準(zhǔn)位維持在定值。
由于盤片有刮傷時(shí)，光盤機(jī)無法讀取到信號(hào)，因此，本發(fā)明 的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路在光盤機(jī)偵測到盤片有刮傷，選 擇維持現(xiàn)有的平均準(zhǔn)位，直到盤片正常后才繼續(xù)計(jì)算新的平均準(zhǔn) 位。本發(fā)明所提供的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路的可變低通濾 波器更包括一開關(guān)，耦接于所述電阻與該電容之間。該開關(guān)的原
始狀態(tài)為導(dǎo)通。在該光盤機(jī)偵測到盤片上有刮傷(defect)時(shí)，該控 制電路會(huì)將該開關(guān)切換成不導(dǎo)通，以停止對該電容充放電，使該 平均準(zhǔn)位維持在目前的電壓值。
本發(fā)明更提供一種光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其中包括 一電阻-電容低通濾波器、 一比較器、以及一控制電路。接收一 光盤機(jī)所產(chǎn)生的一射頻漣波后，該電阻-電容低通濾波器計(jì)算出
該射頻漣波的一平均準(zhǔn)位。該比較器耦接于該電阻-電容低通濾 波器，用以比較該射頻漣波以及該平均準(zhǔn)位后，輸出一射頻零越 信號(hào)。控制電路耦接于該電阻-電容低通濾波器。其中，該電阻 -電容低通濾波器更包括一開關(guān)，耦接于該電阻-電容低通濾波 器的電阻與該電容之間，該開關(guān)的原始狀態(tài)為導(dǎo)通。在該光盤機(jī) 偵測到盤片上有刮傷時(shí)，該控制電路切換該開關(guān)至不導(dǎo)通，以停 止對該電阻-電容低通濾波器的電容充放電，使該平均準(zhǔn)位維持 在定值。
本發(fā)明所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，價(jià)格低廉，但 卻同樣可以提供準(zhǔn)確平均準(zhǔn)位。


圖1為光盤機(jī)循軌時(shí)所需要的循軌誤差零越信號(hào)(TEZC)與射 頻零越信號(hào)(RFZC);
圖2為盤片有刮傷或指紋時(shí)，射頻漣波信號(hào)的波形；
圖3為傳統(tǒng)的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路；
圖4為本發(fā)明的 一 實(shí)施例；
圖5為本發(fā)明的一實(shí)施例；
圖6為本發(fā)明的一實(shí)施例；
圖7為本發(fā)明的一實(shí)施例。
具體實(shí)施例方式
為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂， 下文特舉出較佳實(shí)施例，并配合所附圖式作詳細(xì)說明。
圖4為本發(fā)明的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路的 一 實(shí)施例，光 盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路400包括一可變低通濾波器402、 一比 較器404以及一控制電路406。該可變低通濾波器402接收光盤機(jī)
讀取盤片時(shí)所產(chǎn)生的一射頻漣波(Radio Frequency Ripple ， RFRP)后，產(chǎn)生該射頻漣波RFRP的一平均準(zhǔn)位(Zero Cross, ZC)。 該比較器4 0 4比較該射頻漣波R F R P以及該平均準(zhǔn)位Z C后，輸出一 射頻零越信號(hào)RFZC。在光盤機(jī)偵測到盤片上有指紋時(shí)，該控制電 路406會(huì)調(diào)整該可變低通濾波器402的截止頻率(cut - off frequency)，以調(diào)整該可變低通濾波器402產(chǎn)生該平均準(zhǔn)位ZC的速 度。于一實(shí)施例中，控制電路406會(huì)加快可變低通濾波器402的截 止頻率，因此，該可變低通濾波器402產(chǎn)生該平均準(zhǔn)位ZC的速度 得以追上該射頻漣波RFRP因?yàn)橹讣y干擾所產(chǎn)生的偏移。本發(fā)明所 計(jì)算的平均準(zhǔn)位ZC非常準(zhǔn)確。因此，本發(fā)明可以確保光盤機(jī)搜尋 盤片軌道的準(zhǔn)確度。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述可變低通濾波器402可為電阻-電容低通濾波器(RC low - pass filter),其中包括一電容以及多個(gè) 電阻。所述電阻具有不同的電阻值。該控制電路406通過將不同的 上述電阻耦接該電容來組成具有不同截止頻率的低通濾波器。
圖5為本發(fā)明的一光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路的另 一實(shí)施 例，光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路500采用的可變低通濾波器502 包括一電容C、 一第一電阻Ri、 一第一開關(guān)Si、多個(gè)第二電阻(1121、
R22、 R23以及R24)、對應(yīng)所述第二電阻的多個(gè)第二開關(guān)(S21、 S22、 S23以及S24)、以及一第三開關(guān)S3。該第一電阻Rl以及所述第二電
阻(R21、 R22、 R23以及R24)彼此具有不同的電阻值。該可變低通濾 波器502的輸入端504經(jīng)由該第 一 開關(guān)Si耦接該第 一 電阻Ri的第 一端。該第 一 電阻Ri的第二端與該電容C耦接于該可變低通濾波器 502的輸出端506。該可變低通濾波器502的輸入端504更經(jīng)由該第
三開關(guān)S3耦接所述第二電阻(Ru、 R22、 R23以及R24)的第一端。所 述第二電阻(R21、 R22、 R23以及R24)的第二端分別經(jīng)由對應(yīng)的第二 開關(guān)(S21、 S22、 S23以及S24)耦接該電容C。 一控制電路508負(fù)責(zé)控
制上述第一開關(guān)(Sl)、第二開關(guān)(S2b S22、 S23、 S24)以及第三開關(guān)
(S3)，以調(diào)整該可變低通濾波器502的截止頻率。在盤片正常的狀 態(tài)下，該控制電路508控制該第一開關(guān)Si為導(dǎo)通、并且控制該第三 開關(guān)S3為不導(dǎo)通。此時(shí)，該可變低通濾波器502為該第一電阻Ri 以及該電容C所組成的電容-電阻低通濾波器。在該光盤機(jī)偵測到 盤片上有指紋時(shí)，該控制電路508令該第一開關(guān)Si為不導(dǎo)通、該第 三開關(guān)S3為導(dǎo)通、并且根據(jù)指紋對盤片信號(hào)的損害程度決定所述
第二開關(guān)的導(dǎo)通狀況(Su、 S22、 S23以及S24),以設(shè)定該可變低通 濾波器的截止頻率，因?yàn)榈诙娮?R21、 R22、 R23以及R24)具有不 同的電阻值，所以第二開關(guān)(Su、S22、S23以及S24)不同的導(dǎo)通狀
況會(huì)產(chǎn)生不同的可變低通濾波器的截止頻率，例如，當(dāng)損害程度 越嚴(yán)重時(shí)，則必須導(dǎo)通第二開關(guān)中的一個(gè)或幾個(gè)，以使電阻值較
小的電阻導(dǎo)通。此時(shí)，該可變低通濾波器502為導(dǎo)通的第二開關(guān)
(S21、 S22、 S23或S24)所對應(yīng)的第二電阻(R21、 R22、 R23或R24)與該
電容c所組成的電容-電阻低通濾波器。
如圖5所示，于一實(shí)施方式中，控制電路508包括一與邏輯門 (AND gate)510、以及一譯碼器512。在指紋補(bǔ)償功能被致能時(shí)， 一指紋補(bǔ)償致能信號(hào)Fing—en為高準(zhǔn)位。此時(shí)，若光盤機(jī)偵測到盤 片上有指紋，則信號(hào)FDFT切換至高準(zhǔn)位，該與邏輯門510輸出一
高準(zhǔn)位信號(hào)以令該第一開關(guān)Si為不導(dǎo)通、且該第三開關(guān)S3為導(dǎo)通。
光盤機(jī)會(huì)根據(jù)指紋對盤片信號(hào)的損害程度產(chǎn)生信號(hào)BWSEL[l:O], 以決定導(dǎo)通哪個(gè)第二開關(guān)。該譯碼器512根據(jù)該信號(hào)BWSEL[1:0]
控制所述第二開關(guān)(Su、 S22、 S23以及S24),進(jìn)而使該可變低通濾
波器502具有適當(dāng)?shù)慕刂诡l率。
圖6為本發(fā)明所提出的一種光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路 600,其中包括一電阻-電容低通濾波器602、 一比較器604以及 一控制電路606。該電阻-電容低通濾波器602接收光盤機(jī)所產(chǎn)生
的 一 射頻漣波RFRP后，輸出該射頻漣波RFRP的 一 平均準(zhǔn)位ZC 。 該比較器604耦接于電阻-電容低通濾波器602，用以比較該射頻 漣波RFRP以及該平均準(zhǔn)位ZC,以產(chǎn)生一射頻零越信號(hào)RFZC。其 中，該電阻-電容低通濾波器602更包括一開關(guān)S,耦接于該電阻 -電容低通濾波器的電阻R與電容C之間。該開關(guān)S的原始狀態(tài)為 導(dǎo)通。在刮傷補(bǔ)償功能被致能時(shí)， 一刮傷補(bǔ)償致能信號(hào)DFT一en為 高準(zhǔn)位。在光盤機(jī)偵測到盤片上有刮傷時(shí)，信號(hào)DFT切換至高準(zhǔn) 位，耦接于電阻-電容低通濾波器602的控制電路606將該開關(guān)S 切換成不導(dǎo)通，以停止對該電容C充放電，使該平均準(zhǔn)位ZC維持 在目前的大小。因此，該平均準(zhǔn)位ZC不會(huì)有不必要的大幅度變化 (例如，隨著刮傷時(shí)的射頻漣波(圖2的范圍202)向上大幅偏移)，可 改善平均準(zhǔn)位ZC的準(zhǔn)確度。
圖7為本發(fā)明的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路的另 一 實(shí)施例， 為圖5所示的電路的改良。與圖5相較，光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生 電路700釆用的一可變低通濾波器702更包括一第四開關(guān)S4。所述
電阻(Rl、 R21、 R22、 R23以及R24)皆更須經(jīng)由該第四開關(guān)S4方能耦 接至該電容C。該第四開關(guān)S4的原始狀態(tài)為導(dǎo)通。在光盤機(jī)偵測到
盤片上有刮傷時(shí)， 一控制電路704會(huì)將該第四開關(guān)S4切換成不導(dǎo) 通，以停止對該電容C充放電，使該平均準(zhǔn)位ZC維持在現(xiàn)有的大
如圖7所示，方塊704為控制電路的一實(shí)施方式。在刮傷補(bǔ)償 功能被致能時(shí)， 一刮傷補(bǔ)償致能信號(hào)DFT^en為高準(zhǔn)位。此時(shí)，若 光盤機(jī)偵測到盤片上有刮傷，則信號(hào)DFT切換至高準(zhǔn)位， 一與邏 輯門706輸出 一 高準(zhǔn)位信號(hào)以令該第四開關(guān)S4為不導(dǎo)通，導(dǎo)致該電 容C停止充放電，該平均準(zhǔn)位ZC維持在現(xiàn)有的大小。
以上所述僅為本發(fā)明較佳實(shí)施例，然其并非用以限定本發(fā)明 的范圍，任何熟悉本項(xiàng)技術(shù)的人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范
圍內(nèi)，可在此基礎(chǔ)上做進(jìn)一步的改進(jìn)和變化，因此本發(fā)明的保護(hù) 范圍當(dāng)以本申請的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
附圖中符號(hào)的簡單說明如下 102:軌道所在
202:盤片有刮傷時(shí)的射頻漣波
204:盤片有指紋時(shí)的射頻漣波
300:傳統(tǒng)的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路
302:峰值保持器
304:底部保持器
306:運(yùn)算電路
308:比較器
400:本發(fā)明的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路 402:可變低通濾波器 404:比較器 406:控制電路
500:本發(fā)明的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路
502:可變低通濾波器
504:可變低通濾波器502的輸入端
506:可變低通濾波器502的輸出端
508:控制電路
510:與邏輯門
512:譯碼器
600:光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路 602:電阻-電容低通濾波器 604:比較器 606:控制電路
700:本發(fā)明的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路
702:可變低通濾波器
704:控制電路
706:與邏輯門
BH:射頻漣波的波谷值
BWSEL[1:0]:信號(hào)線，用以決定第二開關(guān)的導(dǎo)通狀況 C:電容
DFT:信號(hào)線，用以警示盤片上刮傷
DFT—en:刮傷補(bǔ)償致能信號(hào)
FDFT:信號(hào)線，用以警示盤片上指紋
Fing_en:指紋補(bǔ)償致能信號(hào)
PH:射頻漣波的波峰值
Ri、 R21、 R22、 R23以及R24:電阻
RFRP:射頻漣波
RFZC:射頻零越信號(hào)
Sl、S21、S22、S23、S24、 S3以及S4:開關(guān)
TE:循軌誤差信號(hào) TEZC:循軌誤差零越信號(hào) ZC:射頻漣波的平均準(zhǔn)位.
權(quán)利要求
1. 一種光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其特征在于，該光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路包括一可變低通濾波器，用以接收一光盤機(jī)所產(chǎn)生的一射頻漣波，產(chǎn)生該射頻漣波的一平均準(zhǔn)位；一比較器，耦接于該可變低通濾波器，用以比較該射頻漣波以及該平均準(zhǔn)位，以產(chǎn)生一射頻零越信號(hào)；以及一控制電路，耦接于該可變低通濾波器，在該光盤機(jī)偵測到盤片上有指紋時(shí)，調(diào)整該可變低通濾波器的一截止頻率，以調(diào)整該可變低通濾波器產(chǎn)生該平均準(zhǔn)位的速度。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其 特征在于，該可變低通濾波器為電阻-電容低通濾波器。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其 特征在于，該可變低通濾波器包括一電容以及多個(gè)電阻，所述電 阻具有不同的電阻值，該控制電路通過將不同的上述電阻耦接該 電容來組成具有該截止頻率的低通濾波器。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其 特征在于，該可變低通濾波器包括一電容、 一第一電阻、 一第一 開關(guān)、多個(gè)第二電阻、對應(yīng)所述第二電阻的多個(gè)第二開關(guān)、以及 一第三開關(guān)，該第一電阻以及所述第二電阻的電阻值皆不相同， 該可變低通濾波器的輸入端經(jīng)由該第 一 開關(guān)耦接該第 一 電阻的第 一端，該第 一 電阻的第二端與該電容耦接于該可變低通濾波器的 輸出端，該可變低通濾波器的輸入端更經(jīng)由該第三開關(guān)耦接所述 第二電阻的第 一端，所述第二電阻的第二端分別經(jīng)由對應(yīng)的第二 開關(guān)耦接該電容，該控制電路控制上述第一開關(guān)、第二開關(guān)、以 及第三開關(guān)，以調(diào)整該可變低通濾波器的截止頻率。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其 特征在于，在盤片正常的狀態(tài)下，該控制電路是控制該第一開關(guān)為導(dǎo)通、并且控制該第三開關(guān)為不導(dǎo)通。特征在于，在該光盤機(jī)偵測到盤片上有指紋時(shí)，該控制電路是控 制該第一開關(guān)為不導(dǎo)通、該第三開關(guān)為導(dǎo)通、并且根據(jù)指紋對盤 片信號(hào)的損害程度決定所述第二開關(guān)的導(dǎo)通狀況，以設(shè)定該可變 低通濾波器的該截止頻率。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示器，其特征是，所述象素電極 的至少一部分區(qū)域高于象素電極的平均高度。
7. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其 特征在于，該可變低通濾波器更包括一第四開關(guān)，耦接于所述電 阻與該電容之間，該第四開關(guān)的原始狀態(tài)為導(dǎo)通，在該光盤機(jī)偵 測到盤片上有刮傷時(shí)，該控制電路將該第四開關(guān)切換成不導(dǎo)通， 以停止對該電容充放電，使該平均準(zhǔn)位維持在定值。
8. —種光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其特征在于，該光盤 機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路包括一電阻-電容低通濾波器，用以接收一光盤機(jī)所產(chǎn)生的一射 頻漣波，產(chǎn)生該射頻漣波的一平均準(zhǔn)位；一比較器，耦接于該電阻-電容低通濾波器，用以比較該射 頻漣波以及該平均準(zhǔn)位，以產(chǎn)生一射頻零越信號(hào)；一控制電路，耦接于該電阻-電容低通濾波器；其中，該電阻-電容低通濾波器更包括一開關(guān)，耦接于該電 阻-電容低通濾波器的電阻與電容之間，該開關(guān)的原始狀態(tài)為導(dǎo) 通，在該光盤機(jī)偵測到盤片上有刮傷時(shí)，該控制電路將該開關(guān)切 換成不導(dǎo)通，以停止對該電阻-電容低通濾波器的電容充放電， 使該平均準(zhǔn)位維持在定值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，其中包括一可變低通濾波器、一比較器以及一控制電路。根據(jù)光盤機(jī)所產(chǎn)生的一射頻漣波，該可變低通濾波器產(chǎn)生該射頻漣波的一平均準(zhǔn)位。該比較器用于比較該射頻漣波以及該平均準(zhǔn)位，以產(chǎn)生一射頻零越信號(hào)。在該光盤機(jī)偵測到盤片上有指紋時(shí)，該控制電路會(huì)調(diào)整該可變低通濾波器的一截止頻率，以調(diào)整該可變低通濾波器產(chǎn)生該平均準(zhǔn)位的速度。本發(fā)明所述的光盤機(jī)射頻零越信號(hào)產(chǎn)生電路，價(jià)格低廉，但卻同樣可以提供準(zhǔn)確平均準(zhǔn)位。
文檔編號(hào)G11B7/004GK101206874SQ200610170779
公開日2008年6月25日 申請日期2006年12月22日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月22日
發(fā)明者王德如 申請人:普誠科技股份有限公司