專利名稱：光拾取器、光盤設(shè)備以及徑向斜度檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在光盤或光學(xué)信息記錄介質(zhì)記錄信息，或者從光盤或光學(xué)信息記錄介質(zhì)再現(xiàn)信息的光盤設(shè)備，還涉及一種結(jié)合在該光盤設(shè)備中的光拾取器。
背景技術(shù)：
自從能通過使用激光束的非接觸方式來記錄信息或再現(xiàn)已記錄信息的光盤的商業(yè)化以及能在光盤中記錄信息和從光盤中再現(xiàn)信息的光盤設(shè)備(光盤驅(qū)動(dòng)器)的商業(yè)化以來已過去很長時(shí)間。具有多種記錄密度的稱為CD和DVD的光盤已變得普及。
最近，能使用具有短波長的藍(lán)激光束或藍(lán)紫激光束來將HD標(biāo)準(zhǔn)視頻數(shù)據(jù)和高品質(zhì)環(huán)繞音頻數(shù)據(jù)保存在一張盤中的超高密度光盤(高清晰度數(shù)字多功能盤，以下稱為HD DVD)已被投入實(shí)際應(yīng)用。
在DVD或HD DVD光盤中，特別是HD DVD光盤中，據(jù)知因?yàn)樵黾拥挠涗洏?biāo)記串的密度使得記錄標(biāo)記本身很小，用來保護(hù)記錄介質(zhì)的記錄層的一個(gè)層的厚度變化具有影響很大，并且信息再現(xiàn)變得不穩(wěn)定。還據(jù)知在通過能從記錄標(biāo)記串再現(xiàn)信息的透鏡移位控制(以傾斜于光軸一定斜度)來在傾斜于光盤的記錄面給定斜度(徑向斜度)的狀態(tài)下接收從光盤反射的激光束的時(shí)候，從記錄標(biāo)記串到用于再現(xiàn)記錄在光盤中的信息的物鏡的距離針對(duì)每個(gè)記錄標(biāo)記串而變化。
在上面背景中，日本專利申請(qǐng)公開(KOKAI)2000-123390提出斜度控制功能，其通過計(jì)算第一斜度檢測(cè)值和第二斜度檢測(cè)值之間的差來檢測(cè)斜度，并且根據(jù)檢測(cè)信號(hào)使激光束的光軸中心和盤面垂直相交，其中第一斜度檢測(cè)值是通過計(jì)算具有固定間距的凹坑的不同再現(xiàn)信號(hào)的幅度差而得到，該固定間距是通過移動(dòng)預(yù)定量沿垂直于軌道中心的方向而布置的，第二斜度檢測(cè)值是通過根據(jù)尋道誤差信號(hào)計(jì)算以預(yù)定間距形成的凹坑的全部再現(xiàn)信號(hào)而得到的。
然而，在日本專利申請(qǐng)公開(KOKAI)2000-123390中，很難從具有記錄標(biāo)記串的HD DVD盤中以要求透鏡移動(dòng)微小間距的方式來再現(xiàn)記錄的信息。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種光拾取器和光盤設(shè)備，其防止再現(xiàn)信號(hào)由于徑向斜度，即記錄介質(zhì)(光盤)的記錄面的斜度而引起的不穩(wěn)定，并且準(zhǔn)確檢測(cè)徑向斜度成分。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種光拾取器，其包括物鏡，其捕獲記錄介質(zhì)的記錄面上反射的光束；衍射裝置，其將該物鏡所捕獲的光束分割成預(yù)定數(shù)目的光束，并且在預(yù)定方向衍射每一分割的光束；光檢測(cè)器，其針對(duì)每一分割的成分來檢測(cè)由該衍射裝置所衍射的光束；以及運(yùn)算電路，其計(jì)算該光檢測(cè)器的輸出中沿記錄介質(zhì)的徑向上的斜度成分，作為表示從物鏡到記錄介質(zhì)的距離變化的信號(hào)成分與表示記錄在記錄介質(zhì)中的信號(hào)成分串的徑向上的位置的信號(hào)成分之間的差。


現(xiàn)在將參考附圖來描述實(shí)現(xiàn)本發(fā)明各種特點(diǎn)的總體結(jié)構(gòu)。提供附圖及其相關(guān)說明來舉例說明本發(fā)明的實(shí)施例，而并非限制本發(fā)明的范圍。
圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的光盤設(shè)備的示例的示意圖；圖2是說明圖1所示光盤設(shè)備的光拾取器的主要部分的示意圖；圖3是通過結(jié)合從圖2所示的光拾取器中生成的DPD信號(hào)的通道來說明輸出信號(hào)中的差異的示圖；圖4是說明從圖2所示的光拾取器中生成的DPD信號(hào)與偏移成分之間關(guān)系的示圖；以及圖5是示出能消除圖3和圖4所示輸入信號(hào)的差異和偏移成分影響的徑向斜度生成器的示例的示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面將參考附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施例。
圖1示出根據(jù)本發(fā)明的信息記錄/再現(xiàn)設(shè)備(光盤設(shè)備)的結(jié)構(gòu)的示例。
圖1所示的光盤設(shè)備1包括光拾取器(PUH拾取頭)11，其可將信息記錄在記錄介質(zhì)(光盤)D的未示出的記錄層(有機(jī)膜、金屬膜或相變膜)中、從記錄層讀取信息、或擦除記錄在記錄層中的信息。除了光拾取器11以外，光盤單元1具有一些機(jī)械部件，諸如未示出的沿著光盤D的記錄面移動(dòng)光拾取器11的頭部移動(dòng)機(jī)構(gòu)和使光盤D以預(yù)定速度旋轉(zhuǎn)的盤電動(dòng)機(jī)(未示出)。將不詳述這些機(jī)械部件。光盤單元1還包括如后所述的對(duì)結(jié)合在光拾取器11中的光檢測(cè)器的輸出進(jìn)行處理的信號(hào)處理器以及對(duì)光拾取器11的機(jī)械部件進(jìn)行控制的控制器。
光盤D的記錄層具有導(dǎo)向溝槽，軌道或記錄標(biāo)記串(記錄的數(shù)據(jù))以0.34μm-1.6μm間隔同心地或呈螺旋形地形成。在模制盤時(shí)通過壓制凸紋可以把記錄數(shù)據(jù)串(記錄標(biāo)記)模制成一體。
在由準(zhǔn)直透鏡22對(duì)準(zhǔn)之前將來自半導(dǎo)體激光部件(LD激光二極管)21的激光束導(dǎo)向到極化光束分離器(PBS)23，并且將波陣面極化平面朝向特定方向并由準(zhǔn)直透鏡22來對(duì)準(zhǔn)(平行)。
經(jīng)過光分割部件或全息圖板(HOE)24和1/4波長板(極化控制部件)25，把由準(zhǔn)直透鏡22對(duì)準(zhǔn)的激光束導(dǎo)向物鏡(OL)26。
導(dǎo)向到物鏡26的激光束被該物鏡26預(yù)定地會(huì)聚。(從LD 21發(fā)射的激光束被導(dǎo)向OL 26，并且在OL 26的固定焦點(diǎn)位置上提供最小光點(diǎn)。)物鏡26由塑料制成，并具有例如0.65的數(shù)值孔徑NA。
在光盤D的信息記錄面上反射的激光束(以下稱為反射的激光束)被物鏡26捕獲，被轉(zhuǎn)換成具有大體平行的截面的光束，并且被導(dǎo)向準(zhǔn)直透鏡22。此時(shí)，波陣面極化方向相對(duì)于朝向光盤D的激光束的極化方向改變了90°。HOE(光分割部件)24根據(jù)光檢測(cè)器(PD)27的檢測(cè)區(qū)的布置將激光束分割成預(yù)定數(shù)目的光束，并且給予激光束預(yù)定的衍射方向。
返回到準(zhǔn)直透鏡22的反射的激光束被該準(zhǔn)直透鏡22預(yù)定地會(huì)聚，波陣面極化方向被1/4波長板25旋轉(zhuǎn)90°，并且在極化光束分離器23的極化平面上被反射，在光檢測(cè)器(PD)27的受光面上形成圖像。
從光檢測(cè)器27輸出的電流由未示出的I/V放大器轉(zhuǎn)換成電壓，并被施加到信號(hào)處理器2，在該信號(hào)處理器2中信號(hào)被轉(zhuǎn)換成RF(再現(xiàn)信號(hào))、聚焦誤差信號(hào)FE、軌道誤差信號(hào)TE以及徑向斜度信號(hào)TR，該徑向斜度為歪向記錄面的徑向的光盤D相對(duì)于經(jīng)過物鏡26中心的軸線或光軸的斜度。
在來自信號(hào)處理器2的輸出信號(hào)中，RF信號(hào)被控制器3(或未示出的數(shù)據(jù)處理器)轉(zhuǎn)換成預(yù)定信號(hào)格式，并且通過緩沖存儲(chǔ)器4輸出到臨時(shí)存儲(chǔ)器、外部存儲(chǔ)器或信息顯示/再現(xiàn)設(shè)備(個(gè)人計(jì)算機(jī)、監(jiān)視器等)。
在來自信號(hào)處理器2的輸出信號(hào)中，有關(guān)物鏡26的位置的聚焦誤差信號(hào)FE和軌道誤差信號(hào)TE用來產(chǎn)生用于校正物鏡26的位置的聚焦控制信號(hào)FC和尋道控制信號(hào)TC?；贔E和TE設(shè)置的FC和TC通過透鏡驅(qū)動(dòng)電路5供給聚焦線圈和軌道線圈28。
此外，在來自信號(hào)處理器2的輸出信號(hào)中，表示徑向斜度的信號(hào)RT用來產(chǎn)生斜度控制信號(hào)RC以在徑向上將物鏡26的斜度控制在相對(duì)于光盤D記錄面的預(yù)定范圍內(nèi)，并且該信號(hào)RT通過透鏡驅(qū)動(dòng)電路5連同用于透鏡移動(dòng)LS控制的透鏡移動(dòng)信號(hào)LC一起被供給到共享聚焦線圈和軌道線圈。
聚焦誤差信號(hào)FE用來設(shè)置聚焦控制信號(hào)FC的控制量，該聚焦控制信號(hào)FC在與包括光盤D的記錄層的表面垂直的聚焦(光軸)方向上移動(dòng)物鏡26，使得從物鏡26到光盤D的記錄層的距離變得與物鏡26的焦距一致。
軌道誤差信號(hào)TE用來設(shè)置軌道控制信號(hào)TC的控制量，該軌道控制信號(hào)TC在與記錄層的軌道(記錄標(biāo)記串)T的延伸方向(徑向)垂直的方向上移動(dòng)物鏡26。
此外，在來自信號(hào)處理器2的輸出信號(hào)中，根據(jù)從LD(激光二極管)21發(fā)射的光強(qiáng)的相關(guān)信號(hào)而定義的激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)通過激光驅(qū)動(dòng)電路6供給LD 21。根據(jù)該激光驅(qū)動(dòng)信號(hào)，順序疊加了進(jìn)入控制器3(或未示出的數(shù)據(jù)控制器)的記錄數(shù)據(jù)、或?qū)?yīng)于再現(xiàn)或擦除的大驅(qū)動(dòng)電流。
可使用各種已知方法作為聚焦誤差、軌道誤差和徑向斜度的檢測(cè)方法。特別地，假定DPD(差分相位檢測(cè))和PP(推挽式)作為軌道誤差檢測(cè)方法。然而，HD DVD盤中的軌道間距很窄，需要考慮物鏡26的透鏡移動(dòng)的影響。因此，也使用CPP(補(bǔ)償推挽式，補(bǔ)償?shù)能壍勒`差檢測(cè)方法)來檢測(cè)軌道誤差。
圖2示出了由結(jié)合在圖1所示的光盤設(shè)備的光拾取器中的全息圖部件來分割光通量的模式示例，以及光電二極管的受光區(qū)的排列和構(gòu)成(排列模式)。
如圖2所示，光分割部件(HOE)24包括光學(xué)衍射區(qū)24A-24D，該光學(xué)衍射區(qū)在與經(jīng)過物鏡26的光軸中心大體一致的位置上被垂直相交的分割線24R和24T分割成4個(gè)區(qū)域。
每個(gè)光學(xué)衍射區(qū)可在朝向多個(gè)檢測(cè)單元(圖2中的8個(gè)單元，其中4個(gè)單元為用于通過刀口法檢測(cè)聚焦誤差的單體類型)的預(yù)定方向上對(duì)來自光盤D的記錄層的反射激光束進(jìn)行衍射，該檢測(cè)單元形成在光檢測(cè)器27的受光面上。根據(jù)光拾取器11的尺寸和在光分割部件24中制備的衍射區(qū)的衍射圖案來任意設(shè)置每一檢測(cè)單元的尺寸和距離(位置關(guān)系)。
通過與光檢測(cè)器27的受光區(qū)(檢測(cè)單元)的排列相結(jié)合能任意設(shè)置作為光分割部件24所需特征的形狀、面積比、分割數(shù)量和衍射方向，只要這些特征能增加由用于在從光盤D中再現(xiàn)記錄的信息時(shí)檢測(cè)尋道誤差的差分相位檢測(cè)法(DPD)和推挽法所得到的尋道誤差信號(hào)(PP)和補(bǔ)償尋道誤差信號(hào)(CPP)的S/N，那么可以使用它們檢測(cè)聚焦誤差和用于校正盤斜度的信號(hào)，并且它們可以確保對(duì)來自光盤D的記錄層的反射激光束進(jìn)行檢測(cè)。
在圖2所示的光分割部件24中，在切向和徑向上由相交的分割線24T和24R分割成4個(gè)區(qū)域的衍射圖案(衍射區(qū))按逆時(shí)針方向記為A-D。這表示區(qū)域A和C關(guān)于分割線24R和24T的交點(diǎn)中心對(duì)稱，并且區(qū)域C不會(huì)與區(qū)域A毗連。同樣，區(qū)域B不會(huì)與區(qū)域D毗連。
作為光檢測(cè)器27的檢測(cè)單元的排列，當(dāng)調(diào)整聚焦偏移量以具有最大RF幅度(再現(xiàn)輸出)時(shí)，需要在刀口(檢測(cè))單元(即，上述單元對(duì)27A/27B和27C/27D)中能夠獲得一單元輸出的相位差，該單元與一具有散焦圖像的單元相對(duì)。當(dāng)然，可通過未示出的用于信號(hào)處理的布線模式來控制(結(jié)合)每個(gè)檢測(cè)單元串。
將參考圖2來說明一示例。在光分割單元24的區(qū)域24A中衍射的激光束在用于檢測(cè)聚焦誤差的一對(duì)檢測(cè)單元27A和27B中形成圖像，而在區(qū)域24D中衍射的激光束在一對(duì)檢測(cè)單元27C和27D中形成圖像。在區(qū)域24A中衍射的激光束還在用于檢測(cè)相位差的檢測(cè)單元27E中形成圖像。在區(qū)域24D中衍射的激光束還在用于檢測(cè)相位差的檢測(cè)單元27H中形成圖像。在區(qū)域24C中衍射的激光束在檢測(cè)單元27G中形成圖像，而在區(qū)域24B中衍射的激光束在檢測(cè)單元27F中形成圖像。
在此情況下，相位差(DPD)優(yōu)選地是由用于檢測(cè)激光束的檢測(cè)單元的檢測(cè)輸出的兩個(gè)總和之間的差得到的信號(hào)，所述檢測(cè)單元的檢測(cè)輸出的總和一個(gè)是檢測(cè)在檢測(cè)區(qū)域24A中衍射的激光束和在檢測(cè)區(qū)域24C中衍射的激光束的檢測(cè)單元的檢測(cè)輸出的總和，另一個(gè)是檢測(cè)在檢測(cè)區(qū)域24B中衍射的激光束和在檢測(cè)區(qū)域24D中衍射的激光束的檢測(cè)單元的檢測(cè)輸出的總和。
即，通過從檢測(cè)單元的輸出中獲得相位差可以穩(wěn)定地獲得徑向斜度，其中通過采用用于檢測(cè)相位差而使分割線相交的位置作為基準(zhǔn)(即，通過交叉DPD)，該檢測(cè)單元檢測(cè)被圖2所示的光分割部件24的衍射區(qū)24A-24D分割的用于檢測(cè)相位差的四個(gè)激光束，并檢測(cè)用于通過刀口法檢測(cè)聚焦誤差的兩個(gè)激光束，來作為在與徑向的分割線和切向的分割線不平行的區(qū)域中被分割(衍射)的激光束。
假設(shè)光檢測(cè)器27的檢測(cè)單元的輸出為單元27E的輸出→SE單元27F的輸出→SF單元27G的輸出→SG單元27H的輸出→SH如下參考圖3所述，根據(jù)在由交叉DPD的尋道伺服(在物鏡26上)起作用時(shí)通道的相位比較的偏移量變化中的起伏來設(shè)置徑向斜度，即Ph(SE+SG)-Ph(SF+SH)Ph表示用于獲得相位差的操作。
圖3示出了用于獲得相位差的通道的結(jié)合，即，示出作為光檢測(cè)器的輸出，還示出了在從光分割部件的相鄰區(qū)域中衍射的激光束中得到相位差的情況下以及在通過上述交叉DPD(縱軸進(jìn)行歸一化)得到相位差的情況下DC偏移程度和徑向斜度(deg)之間的關(guān)系。曲線A表示Ph(SH)-Ph(SE)，即，通過使用由光分割部件四個(gè)衍射區(qū)的相鄰兩個(gè)區(qū)域所衍射的激光束而得到相位差的情況。曲線B表示Ph(SE+SG)-Ph(SF+SH)，即，交叉DPD。
圖4示出了通過圖2所示光檢測(cè)器的檢測(cè)單元的輸出和圖3所示的偏移量變化而得到徑向斜度的示例。
曲線C表示當(dāng)由交叉DPD(Ph(SE+SG)-Ph(SF+SH))操作尋道伺服時(shí)的相位差Ph(SH)-Ph(SE)。曲線D表示當(dāng)由交叉DPD(Ph(SE+SG)-Ph(SF+SH))操作尋道伺服時(shí)的相位差Ph(SB)-Ph(SC)。
因此，當(dāng)假設(shè)光檢測(cè)器27的檢測(cè)單元27A-27D的輸出為單元27A的輸出→SA單元27B的輸出→SB單元27C的輸出→SC單元27D的輸出→SD時(shí)可通過以下表達(dá)式獲得徑向斜度，即{Ph(SB)-Ph(SC)}-kt·DPD-kf·FES
Ph用于得到相位差的操作DPD是上述交叉DPD輸出，Ph(SE+SG)-Ph(SF+SH)FES是聚焦誤差輸出，并且通過采用假定圖2所示的單獨(dú)刀口法，可通過下式得到徑向斜度，即(SA+SD)-(SB+SC)kt用于尋道控制的系數(shù)kf用于聚焦控制的系數(shù)該算術(shù)表達(dá)式與前面解釋一致，即“當(dāng)調(diào)整聚焦偏移量以具有最大RF幅度(再現(xiàn)輸出)時(shí)，在刀口(檢測(cè))單元(即，上述單元對(duì)27A/27B和27C/27D)中能夠得到一單元輸出的相位差，該單元與一具有散焦圖像的單元相對(duì)?！睂?duì)于與具有散焦圖像的單元相對(duì)的單元，本示例中描述了檢測(cè)器B和C，但是，因?yàn)橹圃熘械淖兓?，可以是檢測(cè)器A和D的結(jié)合。
通過圖5所示的運(yùn)算電路(結(jié)合在圖1所示的信號(hào)處理器2中)可容易地得到徑向斜度。
如前所述，根據(jù)本發(fā)明，可以準(zhǔn)確檢測(cè)針對(duì)記錄介質(zhì)(光盤)的徑向斜度的不同偏移量，因此，可以得到穩(wěn)定的再現(xiàn)信號(hào)。因此，可從具有高密度信息的HD DVD中平穩(wěn)地再現(xiàn)信息。再現(xiàn)信號(hào)是平穩(wěn)的，并且提高了作為光盤設(shè)備的可靠性。
另外，根據(jù)本發(fā)明，可以準(zhǔn)確檢測(cè)針對(duì)記錄介質(zhì)(光盤)的徑向斜度的不同偏移量，可以得到穩(wěn)定的再現(xiàn)信號(hào)。因此，可從具有高密度信息的HD DVD中平穩(wěn)地再現(xiàn)信息。
盡管已經(jīng)描述了本發(fā)明的某些實(shí)施例，但是這些實(shí)施例僅以示例方式給出，并非意在限制本發(fā)明的范圍。實(shí)際上，在此所述的新方法和系統(tǒng)可以能以各種其它形式來實(shí)施，而且，可以在不脫離本發(fā)明的精神的范圍內(nèi)做出在此所述的方法和系統(tǒng)的形式下的各種省略、替代和變化。所附權(quán)利要求及其等同物意在覆蓋將落入本發(fā)明的范圍和精神內(nèi)的這些形式或修改。
權(quán)利要求
1.一種光拾取器(11)，其特征在于包括物鏡(26)，其捕獲在記錄介質(zhì)的記錄面上反射的光束；衍射裝置(24)，其將所述物鏡所捕獲的光束分割成預(yù)定數(shù)目的光束，并且在預(yù)定方向上衍射每個(gè)分割的光束；光檢測(cè)器(27)，其針對(duì)每一分割的成分來檢測(cè)由所述衍射裝置所衍射的光束；以及運(yùn)算電路(2)，其計(jì)算所述光檢測(cè)器的輸出中沿記錄介質(zhì)的徑向上的斜度成分，作為表示從所述物鏡到記錄介質(zhì)的距離變化的信號(hào)成分和表示記錄在記錄介質(zhì)中的信號(hào)成分串的徑向上的位置的信號(hào)成分之間的差。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取器，其特征在于，在設(shè)置從所述物鏡到記錄介質(zhì)的距離從而與記錄在記錄介質(zhì)中的信號(hào)成分串相對(duì)應(yīng)的再現(xiàn)輸出變得最大的狀態(tài)下，所述運(yùn)算電路接收所述光檢測(cè)器的受光單元的輸出組合來作為配置以得到與具有散焦圖像的單元相對(duì)的一個(gè)單元的輸出的相位差，并且進(jìn)行信號(hào)處理，所述光檢測(cè)器用來產(chǎn)生得到從所述物鏡到記錄介質(zhì)的距離位移的信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾取器，其特征在于，在分割所述衍射裝置的衍射區(qū)時(shí)，所述運(yùn)算電路把由所述衍射裝置分割成預(yù)定數(shù)目并被導(dǎo)向每個(gè)方向的衍射光添加到來自不同于相鄰分割區(qū)域的一個(gè)區(qū)域的光束，并且計(jì)算由添加所得到的信號(hào)差。
4.一種光盤設(shè)備，其特征在于包括光拾取器(11)，所述光拾取器(11)具有物鏡(26)，其捕獲在記錄介質(zhì)的記錄面上反射的光束；衍射裝置(24)，其將所述物鏡所捕獲的光束分割成預(yù)定數(shù)目的光束，并且在預(yù)定方向上衍射每個(gè)分割的光束；光檢測(cè)器(27)，其針對(duì)每個(gè)分割成分檢測(cè)所述衍射裝置所衍射的光束；以及運(yùn)算電路(2)，其計(jì)算所述光檢測(cè)器的輸出中沿記錄介質(zhì)的徑向上的斜度成分，作為表示從所述物鏡到記錄介質(zhì)的距離變化的信號(hào)成分和表示記錄在記錄介質(zhì)中的信號(hào)成分串的徑向上的位置的信號(hào)成分之間的差；還包括信號(hào)處理電路(3、4)，其從由所述光檢測(cè)器所檢測(cè)的信號(hào)得到與記錄在記錄介質(zhì)的記錄面上的信息相對(duì)應(yīng)的再現(xiàn)輸出。
5.一種利用光盤設(shè)備的徑向斜度檢測(cè)方法，該光盤設(shè)備包括光拾取器，該光拾取器包括物鏡，其捕獲在記錄介質(zhì)的記錄面上反射的光束；衍射裝置，其將所述物鏡所捕獲的光束分割成預(yù)定數(shù)目的光束，并且在預(yù)定方向上衍射每個(gè)分割的光束；光檢測(cè)器，其針對(duì)每個(gè)分割成分檢測(cè)所述衍射裝置所衍射的光束；以及運(yùn)算電路(2)，其計(jì)算所述光檢測(cè)器的輸出中沿記錄介質(zhì)的徑向上的斜度成分，作為表示從所述物鏡到記錄介質(zhì)的距離變化的信號(hào)成分和表示記錄在記錄介質(zhì)中的信號(hào)成分串的徑向上的位置的信號(hào)成分之間的差，所述方法的特征在于在調(diào)整聚焦偏移量以具有最大RF幅度(再現(xiàn)輸出)的狀態(tài)下，所述運(yùn)算電路將所述物鏡控制在正在聚焦?fàn)顟B(tài)，該物鏡的特征在于能得到與具有散焦圖像的單元相對(duì)的一個(gè)單元的輸出的相位差。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的徑向斜度檢測(cè)方法，其特征在于，在分割所述衍射裝置的衍射區(qū)時(shí)，所述運(yùn)算電路添加來自不同于相鄰分割區(qū)域的一個(gè)區(qū)域的光束，并且計(jì)算由添加所得到的信號(hào)差。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的徑向斜度檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)光檢測(cè)器具有八個(gè)檢測(cè)單元，并且它們中四個(gè)檢測(cè)單元的輸出彼此成對(duì)時(shí)，并且當(dāng)四個(gè)獨(dú)立檢測(cè)單元的輸出為SE、SF、SG和SH，Ph表示用于得到相位差的操作，輸出是DPD，成對(duì)的單元是單元A和B以及單元C和D，并且輸出為SA、SB、SC和SD時(shí)，在假定采用單獨(dú)刀口法時(shí)，所述運(yùn)算電路通過下式來計(jì)算徑向斜度{Ph(SB)-Ph(SC)}-kt·DPD-kf·FESDPD＝Ph(SE+SG)-Ph(SF+SH)kt用于尋道控制的系數(shù)kf用于聚焦控制的系數(shù)FES＝(SA+SD)-(SB+SC)。
全文摘要
一種光拾取器、光盤設(shè)備以及徑向斜度檢測(cè)方法。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的光拾取器設(shè)備具有物鏡(26)，其捕獲在光盤D的記錄面上反射的光束；偏光控制部件(24)，其將該物鏡所捕獲的光束分割成預(yù)定數(shù)目的光束，并且在預(yù)定方向上衍射每個(gè)分割的光束；光檢測(cè)器(27)，其針對(duì)每一分割成分檢測(cè)由該偏光控制部件所分割并衍射的光束；以及信號(hào)處理器(2)，其計(jì)算該光檢測(cè)器的輸出中沿光盤的徑向上的斜度成分(徑向斜度)，作為表示從該物鏡到光盤的距離變化的信號(hào)成分(FES)和表示記錄在光盤中的信號(hào)成分串的徑向上的位置的信號(hào)成分(DPD)之間的差。
文檔編號(hào)G11B7/12GK1992015SQ20061017030
公開日2007年7月4日 申請(qǐng)日期2006年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2005年12月28日
發(fā)明者前田悟, 巖田勝雄, 岡野英明 申請(qǐng)人:株式會(huì)社東芝