專利名稱：：光盤驅(qū)動裝置以及使用光盤驅(qū)動裝置的岸臺預(yù)制凹坑檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及光盤驅(qū)動裝置，更具體地，涉及用于限定對岸臺預(yù)制凹坑(landpre-fit)信號檢測效率有影響的決定因素的光盤驅(qū)動裝置以及使用光盤驅(qū)動裝置的岸臺預(yù)制凹坑檢測方法。
背景技術(shù)：
：一般而言，在制造例如數(shù)字多用盤(DVD)-R和DVD-RW等光盤時，岸臺預(yù)制凹坑(LPP)形成在岸臺上，以代表光盤的位置信息。岸臺預(yù)制凹坑包含用于識別未記錄的盤上的任何位置的地址信息。接著，采用通用光盤驅(qū)動裝置檢測在光盤上形成的岸臺預(yù)制凹坑，以獲取地址信息，并且根據(jù)岸臺預(yù)制凹坑信息執(zhí)行與光盤的記錄或再現(xiàn)有關(guān)的眾多控制操作。圖1示出其中混合波動(wobble)信號、岸臺預(yù)制凹坑信號、和噪聲信號的典型推挽信號。為了獲取岸臺預(yù)制凹坑信號，通過光盤驅(qū)動裝置從光盤獲得對應(yīng)于通過光盤的反射光信息的推挽信號。參看圖1，根據(jù)波動信號、岸臺預(yù)制凹坑信號、和噪聲信號的合成形成推挽信號。典型地，推挽信號的平衡電平(B)(balancelevel)和限制電平(S)(slicelevel)用作岸臺預(yù)制凹坑信號的決定因素。在將檢測岸臺預(yù)制凹坑信息時，考慮到取決于光盤制造商的岸臺預(yù)制凹坑的位置和形狀，應(yīng)用固定平衡電平和限制電平。然而，岸臺預(yù)制凹坑誤差可能發(fā)生。岸臺預(yù)制凹坑誤差是噪聲分量可被錯誤地判斷為在光盤上實際凹下(pit)的岸臺預(yù)制凹坑，特別是在檢測岸臺預(yù)制凹坑期間產(chǎn)生噪聲分量時更是如此。另外，當預(yù)制凹坑標記在靠近其中凹下預(yù)制凹坑的岸臺的溝槽軌道上形成時，為了為用于形成預(yù)制凹坑標記的電源電壓超過適當?shù)碾娫措妷旱那樾位蝾A(yù)記錄操作的數(shù)量超過預(yù)定限度的情形準備，考慮到光盤的物理情況，需要自適應(yīng)地限定平衡電平和限制電平。根據(jù)傳統(tǒng)的誤差測試技術(shù)，為了確定充分的平衡電平和限制電平，需要對光盤的所有平衡電平和限制電平分別進行測試。圖2是用于分別限定光盤的平衡電平和限制電平的傳統(tǒng)誤差測試方法的流程圖。參看圖2，在框#1將平衡電平(B)和限制電平(S)設(shè)定為相應(yīng)的初始值(Bi，Si)。接著，通過在框#2將岸臺預(yù)制凹坑解碼地址與基準值進行比較，確定岸臺預(yù)制凹坑誤差是否發(fā)生。因此，在岸臺預(yù)制凹坑沒有被充分檢測到的情形下，即，岸臺預(yù)制凹坑誤差發(fā)生的情形下，首先在框#3以預(yù)定順序重新安排平衡電平(B)，接著在框#4根據(jù)重新安排的平衡電平重新安排限制電平(S)。在應(yīng)用重新安排的平衡電平和限制電平后，在框#5確定與岸臺預(yù)制凹坑信號有關(guān)的誤差是否發(fā)生。如果誤差發(fā)生，則在框#6確定限制電平(S)是否低于預(yù)定順序中的最后的值(n)。如果限制電平(S)低于最后的值(n)，則為了測試誤差，在最后的值(n)的范圍內(nèi)連續(xù)地重新安排基于重新安排的平衡電平(B)的限制電平(S)。如果在此測試期間連續(xù)發(fā)生誤差，則在框#7確定上述安排的平衡電平(B)低于最后的值(m)。如果平衡電平(B)低于最后的值(m)，則在框#3以預(yù)定順序第二次(secondly)重新安排平衡電平(B)。隨后，為了測試誤差，連續(xù)地重新安排基于第二次重新安排的平衡電平(B)的限制電平(S)。所述誤差測試在平衡電平(B)的最后的值(m)的范圍內(nèi)連續(xù)執(zhí)行。另一方面，如果即使在最后的值(n，m)的范圍內(nèi)分別重新安排平衡電平(B)和限制電平(S)時也連續(xù)發(fā)生誤差，則在框#8確認由于光盤的物理損壞等造成的誤差發(fā)生。然而，就所有應(yīng)用的平衡電平和限制電平而言，將上述誤差測試方法應(yīng)用于光盤。結(jié)果，隨著平衡電平和限制電平的范圍的增大，誤差測試要求相當多的時間來完成所述測試。因此，難以應(yīng)用傳統(tǒng)誤差測試方法于實時工作的光盤驅(qū)動裝置。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的多個方面和實例實施例提供了一種光盤驅(qū)動裝置以及岸臺預(yù)制凹坑方法，其中通過根據(jù)平衡電平和限制電平的大小限定每個區(qū)的代表值，可快速確定最優(yōu)平衡電平和限制電平，并且可將所述最優(yōu)平衡電平和限制電平實時應(yīng)用于光盤驅(qū)動裝置。另外，為了提高檢測岸臺預(yù)制凹坑的能力，也在實時測試期間使用根據(jù)平衡電平、限制電平、和波動信號的增益的每個區(qū)的代表值。本發(fā)明的另外的方面和/或優(yōu)點將在下面的描述中部分地得以闡述，并且將根據(jù)所述描述顯而易見，或可通過本發(fā)明的實施獲知。根據(jù)本發(fā)明的一方面，光盤驅(qū)動裝置設(shè)置有RF處理單元，被布置為從通過光盤獲得的電信號形成推挽信號；以及控制單元，被配置為安排用于形成所述推挽信號的決定因素的代表值，并且測試關(guān)于從所述推挽信號檢測到的岸臺預(yù)制凹坑(LPP)信號的誤差。如果誤差測試結(jié)果滿足預(yù)定誤差條件，則所述控制單元可重新安排用于形成所述推挽信號的決定因素的代表值?？刂茊卧筛鶕?jù)所述誤差測試獲得的在預(yù)定范圍內(nèi)的誤差概率確定是否滿足所述預(yù)定誤差條件。RF處理單元可根據(jù)被重新安排的決定因素的代表值形成推挽信號。區(qū)表(zonetable)可被包括在內(nèi)，以儲存對應(yīng)于根據(jù)決定因素的大小分別被劃分的多個區(qū)的多個代表值?？刂茊卧蓮膮^(qū)表獲得決定因素的代表值。其中多個區(qū)可被均勻形成的區(qū)表具有相同大小的決定因素。所述區(qū)表包括至少兩個所述決定因素，且其中形成多個區(qū)的所述區(qū)表包括具有各自不同大小的所述決定因素和其它決定因素中的至少一個。其中形成多個區(qū)的區(qū)表在整個區(qū)范圍內(nèi)具有部分不同的區(qū)密度。決定因素可包括平衡電平和限制電平。決定因素可進一步包括波動信號的增益。根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種岸臺預(yù)制凹坑(LPP)檢測方法，包括根據(jù)通過光盤獲得的電信號形成推挽信號；根據(jù)推挽信號檢測岸臺預(yù)制凹坑信號；檢測關(guān)于岸臺預(yù)制凹坑信號的誤差；在誤差測試結(jié)果不滿足預(yù)定誤差條件時限定用于形成推挽信號的決定因素的代表值；以及測試與從所述推挽信號檢測到的岸臺預(yù)制凹坑信號有關(guān)的誤差，其中所述推挽信號根據(jù)決定因素的限定的代表值形成。為了滿足誤差條件，可將決定因素的代表值的限定重復(fù)預(yù)定次數(shù)。可從其中儲存多個區(qū)的區(qū)表以預(yù)定順序獲得決定因素的代表值的限定?？筛鶕?jù)平衡電平和限制電平的至少之一執(zhí)行決定因素的代表值的限定?？筛鶕?jù)平衡電平、限制電平、和波動信號的增益的至少之一執(zhí)行決定因素的代表值的限定。除了上述實例實施例和方面外，通過參考附圖和研究以下描述，進一步的方面和實施例將是顯然的。在結(jié)合附圖閱讀以下對實例實施例和權(quán)利要求書的詳細描述后，將能更好地理解本發(fā)明。盡管以下書面和例示的披露集中于披露本發(fā)明的實例實施例，但應(yīng)清楚地理解，這僅為例示和實例，本發(fā)明不限于此。本發(fā)明的原理和范圍僅由所附權(quán)利要求書的范圍所限定。下述代表附圖的簡要說明，其中圖1示出波動信號、岸臺預(yù)制凹坑信號、和噪聲信號混合成的推挽信號的圖示；圖2示出用于分別安排光盤的平衡電平和限制電平的典型誤差測試方法的流程圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的實例光盤驅(qū)動裝置的框圖；圖4示出根據(jù)本發(fā)明一個實施例的同等地形成區(qū)的實例區(qū)表；圖5示出區(qū)的代表值對應(yīng)于分別分類成圖4中所示的區(qū)的區(qū)號的實例表；圖6示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的代表其中岸臺預(yù)制凹坑誤差概率滿足預(yù)定條件的平衡電平和限制電平的范圍的實例；圖7示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的其中每個區(qū)都具有不同的平衡電平大小和限制電平大小的實例區(qū)表；圖8示出根據(jù)本發(fā)明的又一實施例的其中具有不同密度的區(qū)混合的實例區(qū)表；圖9示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的代表與用于測試岸臺預(yù)制凹坑的誤差條件的光盤的記錄區(qū)有關(guān)的測試范圍的實例；圖10是根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的其中使用區(qū)的代表值的誤差測試方法的流程圖；圖11A-11B分別示出低增益波動信號、和高增益波動信號；圖12示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的其中根據(jù)平衡電平、限制電平、和波動信號的增益形成區(qū)的實例區(qū)表；圖13示出其中典型區(qū)值對應(yīng)于分別分類成圖12中所示的區(qū)的區(qū)號的實例表；以及圖14是根據(jù)本發(fā)明的再一實施例的其中安排平衡電平、限制電平、和波動信號的增益的誤差測試方法的流程圖。具體實施例方式現(xiàn)在詳細參看本發(fā)明的實施例，其中實施例的實例在附圖中示出，在附圖中相同附圖標記始終是指相同元件。為了參考本發(fā)明，下面描述實施例。圖3示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的光盤驅(qū)動裝置的配置的框圖。如圖3中所示，根據(jù)本發(fā)明的光盤驅(qū)動裝置包括光學(xué)拾取器10、RF處理單元20、波動信號檢測單元30、時鐘發(fā)生器40、岸臺預(yù)制凹坑(LPP)檢測單元50、LPP解碼器60、重放信號檢測單元70、數(shù)據(jù)解碼器71、數(shù)據(jù)編碼器80、激光功率控制單元90、控制單元100、區(qū)表110、設(shè)置為與主機120接口連接的接口(I/F)130、和設(shè)置在數(shù)據(jù)編碼器80和控制單元100之間的緩沖器140。光學(xué)拾取器10再現(xiàn)凹坑標記數(shù)據(jù)、軌道的波動信息、和光盤200的岸臺預(yù)制凹坑信息，其中所述凹坑標記數(shù)據(jù)被記錄在例如DVD-R和DVD-RW等光盤上的溝槽軌道中。光學(xué)拾取器10包括用作激光源的激光二極管、用于檢測反射光的光學(xué)檢測器、和輻射激光到光盤的記錄表面上并且引導(dǎo)反射光到光學(xué)檢測器的光學(xué)系統(tǒng)。光學(xué)拾取器10的激光二極管根據(jù)激光功率控制單元90的輸出信號激活。從光盤200反射的反射光由包含在光學(xué)拾取器10中的光學(xué)檢測器檢測到，并且根據(jù)反射光的量轉(zhuǎn)變成電信號。所形成的電信號被提供給RF處理單元20的矩陣電路。RF處理單元20通過其矩陣電路輸出運算放大信號。輸出的運算放大信號包括對應(yīng)于通過光盤200再現(xiàn)的數(shù)據(jù)的RF信號、岸臺預(yù)制凹坑信號、和與溝槽的波動有關(guān)的推挽信號。所述推挽信號根據(jù)設(shè)置在RF處理單元20中的第一至第三寄存器R1、R2、和R3的初始值，即作為相應(yīng)決定因素的平衡電平、限制電平、和波動信號的增益形成。波動信號檢測單元30從RF處理單元20的推挽信號檢測波動信號，并且提供波動信號給時鐘發(fā)生器40。時鐘發(fā)生器40在記錄操作期間供應(yīng)記錄時鐘給數(shù)據(jù)編碼器80，供應(yīng)工作時鐘給LPP檢測單元50和LPP解碼器60。LPP檢測單元50根據(jù)工作時鐘從推挽信號中檢測岸臺預(yù)制凹坑信號，并且將其供給LPP解碼器60。LPP解碼器60基于來自LPP檢測單元50的岸臺預(yù)制凹坑信號對地址解碼，并且將其供給控制單元100。重放信號檢測單元70將RF信號轉(zhuǎn)變成二進制形式的2電平信號，并且將所述轉(zhuǎn)變的信號供給數(shù)據(jù)解碼器71，所述數(shù)據(jù)解碼器71反過來又對所供給的信號解碼，并且將解碼的結(jié)果供給控制單元100?？刂茊卧?00經(jīng)由接口(I/F)130通過主機120接收用于記錄和再現(xiàn)操作的命令。在執(zhí)行記錄操作時，從主機120輸入的記錄數(shù)據(jù)經(jīng)由接口(I/F)130被儲存在緩沖器140中。數(shù)據(jù)編碼器80根據(jù)記錄時鐘對儲存在緩沖器140中的記錄數(shù)據(jù)編碼，并且輸出編碼的記錄數(shù)據(jù)給激光功率控制單元90。激光功率控制單元90將編碼的記錄數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成記錄脈沖，并且提供所述記錄脈沖給光學(xué)拾取器10。因此，對應(yīng)于所述記錄脈沖的激光束通過包含在光學(xué)拾取器10中的激光二極管輻射，并且在光盤200上執(zhí)行記錄操作?？刂茊卧?00根據(jù)由LPP解碼器60解碼的地址確認岸臺預(yù)制凹坑信號是否是適當?shù)模绻霭杜_預(yù)制凹坑信號不適當，則確定岸臺預(yù)制凹坑信號的誤差。在測試岸臺預(yù)制凹坑信號的誤差時，控制單元100輸出第一和第二安排信號101、102給RF處理單元20的第一和第二寄存器(R1，R2)，以重新安排作為岸臺預(yù)制凹坑信號的決定因素的平衡電平和限制電平。這里，控制單元100根據(jù)區(qū)表110中預(yù)儲存的信息控制平衡電平和限制電平的重新安排操作。下面將描述用于控制重新安排操作的方法。圖4示出根據(jù)本發(fā)明一個實施例的同等地形成的區(qū)的實例區(qū)表110的圖示。如圖4中所示，區(qū)表110被分成在整個平衡電平和限制電平區(qū)域中具有均勻大小的多個區(qū)(Zi)。區(qū)(Zi)連續(xù)標號，并且在構(gòu)成標號的區(qū)(區(qū)1-區(qū)25)的值中安排代表值。圖5示出區(qū)的代表值對應(yīng)于分別分類成圖4中所示的區(qū)的區(qū)號的實例表的圖示。如圖5中所示，對應(yīng)于區(qū)號(Zi)的區(qū)代表值(B，S)由平衡電平和限制電平構(gòu)成，并且組成一對。圖6示出代表其中岸臺預(yù)制凹坑誤差概率滿足預(yù)定條件的平衡電平和限制電平的范圍的實例。存在根據(jù)平衡電平和限制電平的大小誤差概率發(fā)生較低的范圍。例如，可要求滿足在如圖6中所示的預(yù)定范圍(A)內(nèi)的特定條件(5～10％)的誤差概率。圖7示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的其中每個區(qū)都具有不同的平衡電平大小和限制電平大小的實例區(qū)表110的圖示。在如圖4中所示區(qū)表110中的所有區(qū)(Zi)均勻排列的情形下，如圖7中所示，區(qū)(Zi)的平衡電平大小(B1，B2，B3，B4)相對較小，且區(qū)(Zi)的限制電平大小(S1，S2，S3)相對較大。圖8示出根據(jù)本發(fā)明的又一實施例的其中具有不同密度的區(qū)混合的實例區(qū)表110的圖示。如圖8中所示，區(qū)表110中具有不同密度的區(qū)被混合。例如，區(qū)表110中構(gòu)成整個平衡電平(0～B21)中的低平衡電平(0～B11)和整個限制電平(0～S21)中的低限制電平(0～S11)的區(qū)域中的區(qū)密度較高，而其它區(qū)域中的區(qū)密度較低。區(qū)表110可以多種方式構(gòu)成。具體而言，可關(guān)于光學(xué)拾取器10的特征安排區(qū)大小，并且可考慮試驗所要求的誤差概率。同時，當通過關(guān)于構(gòu)成區(qū)表110的多個區(qū)分別應(yīng)用區(qū)的代表值執(zhí)行誤差測試時，為了確保測試的可靠性，需要充分安排用于光盤的記錄數(shù)據(jù)區(qū)的測試范圍。圖9示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的代表與用于測試岸臺預(yù)制凹坑的誤差條件的光盤的記錄區(qū)有關(guān)的測試范圍的實例。如圖9中所示，對于每個單元在整個100個ECC框中執(zhí)行誤差測試。限定所述誤差測試，使得在所形成的誤差概率在指定范圍(5～10％)內(nèi)時檢測誤差條件。另一方面，下面將描述根據(jù)本發(fā)明多個實施例的代表值的誤差測試方法。圖10示出根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的其中使用區(qū)的代表值的誤差測試方法的流程圖。參看圖10，在框310將平衡電平(B)和限制電平(S)設(shè)定為相應(yīng)的初始值(Bi，Si)。接著，通過在框302將岸臺預(yù)制凹坑解碼地址與基準值進行比較，確定岸臺預(yù)制凹坑誤差是否發(fā)生。因此，在岸臺預(yù)制凹坑沒有被充分檢測到的情形下，即，岸臺預(yù)制凹坑誤差發(fā)生的情形下，在框301將區(qū)號(Zn)安排為1，且在框304將相應(yīng)于第一區(qū)(Z1)的代表值(B，S)即一對平衡電平和限制電平重新安排為(1，1)。通過應(yīng)用根據(jù)第一區(qū)的代表值重新安排的平衡電平和限制電平(1，1)執(zhí)行誤差測試，并且在框305確定測試結(jié)果是否滿足誤差條件。這里，例如如圖9中所示的，將所述測試范圍設(shè)定為所有100個ECC框，并且相應(yīng)于在每個框中產(chǎn)生的誤差之和計算誤差概率。如果所計算的誤差概率在指定范圍(5～10％)內(nèi)，則認為所計算的誤差概率滿足所述誤差條件。如果所形成的計算的誤差概率滿足所述誤差條件，則在框306區(qū)號(Zn)增加1。接著，在框307確定增加的區(qū)號(Z2)是否低于最后的區(qū)號(Zmax)。如果區(qū)號(Z2)低于最后的區(qū)號(Zmax)，則該過程返回框304，并且根據(jù)相應(yīng)于第二區(qū)(Z2)的代表值重新安排平衡電平和限制電平(1，3)。隨后，通過應(yīng)用重新安排的平衡電平和限制電平執(zhí)行誤差測試，并且在框305確定測試結(jié)果是否滿足誤差條件。在此誤差測試中，根據(jù)任何區(qū)(例如第十三區(qū)(Z13))的代表值的平衡電平和限制電平可以被設(shè)定為(5，5)。如果所形成的誤差概率滿足指定條件(5～10％)，則可應(yīng)用第十三區(qū)(Z13)的代表值。因此，可穩(wěn)定地檢測岸臺預(yù)制凹坑信號，接著可精確執(zhí)行光盤的記錄或再現(xiàn)操作。另外，如果即使在關(guān)于根據(jù)所有區(qū)的代表值重新安排的平衡電平和限制電平執(zhí)行誤差測試時所述誤差概率也不滿足誤差條件，則在框308確定由于光盤的物理損壞等已經(jīng)發(fā)生誤差。同時，在檢測岸臺預(yù)制凹坑信號中，波動信號的增益以及上述平衡電平和限制電平對岸臺預(yù)制凹坑信號有影響。圖11A示出低增益波動信號的圖示，圖11B示出高增益波動信號的圖示。即，如果分別關(guān)于具有如圖11A中所示的小增益(S1)的推挽信號和具有如圖11B中所示的大增益(S2)的推挽信號執(zhí)行誤差測試，則結(jié)果不同。因此，當根據(jù)波動信號以及平衡電平和限制電平對區(qū)進行劃分時，關(guān)于區(qū)的代表值執(zhí)行誤差測試。結(jié)果，可能精確地檢測岸臺預(yù)制凹坑信號。圖12示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的其中根據(jù)平衡電平、限制電平、和波動信號的增益形成區(qū)的實例區(qū)表的圖示。如圖12中所示，根據(jù)三(3)個決定因素即平衡電平、限制電平、和波動信號的增益劃分多個區(qū)。將這些區(qū)連續(xù)標號，并且關(guān)于所述標號的區(qū)重新安排代表值。圖13示出其中區(qū)的代表值對應(yīng)于分別分類成圖12中所示的區(qū)的區(qū)號的實例表的圖示。如圖13中所示，對應(yīng)于區(qū)號(Zj)的代表值(B，S，G)由平衡電平、限制電平、和波動信號的增益構(gòu)成。這里，可參考如圖3中所示的光盤驅(qū)動裝置的配置。另外，控制單元100根據(jù)由LPP解碼器60解碼的地址確定岸臺預(yù)制凹坑信號是否適合，并且執(zhí)行與岸臺預(yù)制凹坑信號有關(guān)的誤差測試。然而，在關(guān)于岸臺預(yù)制凹坑信號的誤差測試中，控制單元100輸出第一、第二、和第三信號(101，102，103)給RF處理單元(20)的第一、第二、和第三寄存器(R1，R2，R3)，以重新安排作為岸臺預(yù)制凹坑的決定因素的平衡電平、限制電平、和波動信號的增益。圖14是根據(jù)本發(fā)明的再一實施例的其中安排平衡電平、限制電平、和波動信號的增益的誤差測試方法的流程圖。參看圖14，開始，在框401將平衡電平(B)、限制電平(S)、和波動信號的增益(G)設(shè)定為各自的初始值(Bi，Si，Gi)。接著，在框402，通過將岸臺預(yù)制凹坑解碼地址與基準值進行比較，確定岸臺預(yù)制凹坑誤差是否發(fā)生。因此，在岸臺預(yù)制凹坑沒有被充分檢測到的情形下，即，岸臺預(yù)制凹坑誤差發(fā)生的情形下，在框403將區(qū)號(Zn)安排為1，且在框404將相應(yīng)于第一區(qū)(Z1)的代表值(B，S，G)即一對平衡電平、限制電平、和波動信號的增益重新安排為(1，1，0)。通過應(yīng)用根據(jù)第一區(qū)的代表值重新安排的平衡電平、限制電平、和波動信號的增益(1，1，0)執(zhí)行誤差測試。接著，在框405確定測試結(jié)果是否滿足誤差條件。這里，將所述測試范圍設(shè)定為所有100個ECC框，并且相應(yīng)于在每個框中產(chǎn)生的誤差之和計算誤差概率。如果所計算的誤差概率在指定范圍(5～10％)內(nèi)，則認為所計算的誤差概率滿足所述誤差條件。如果所形成的計算的誤差概率滿足所述誤差條件，則在框406區(qū)號(Zn)增加1。接著，在框407確定增加的區(qū)號(Z2)是否低于最后的區(qū)號(Zmax)。如果區(qū)號(Z2)低于最后的區(qū)號(Zmax)，則該過程返回框404，并且根據(jù)相應(yīng)于第二區(qū)(Z2)的代表值重新安排平衡電平、限制電平、和波動信號的增益(1，3，0)。隨后，通過應(yīng)用重新安排的平衡電平和限制電平執(zhí)行誤差測試，并且在框405確定測試結(jié)果是否滿足誤差條件。在此誤差測試中，可安排根據(jù)任何區(qū)的代表值的平衡電平和限制電平。如果所形成的誤差概率滿足指定條件(5～10％)，則可從現(xiàn)在起穩(wěn)定地檢測岸臺預(yù)制凹坑信號。另外，如果即使在關(guān)于根據(jù)所有區(qū)的代表值重新安排的平衡電平和限制電平執(zhí)行誤差測試時所述誤差概率也不滿足誤差條件，則在框408確定由于光盤的物理損壞等發(fā)生誤差。根據(jù)上面的描述顯然的是，本發(fā)明提供了一種光盤驅(qū)動裝置，其中，通過根據(jù)平衡電平和限制電平的大小限定每個區(qū)的代表值，可能減少確定最優(yōu)平衡電平和限制電平的時間，并且實時地應(yīng)用最優(yōu)平衡電平和限制電平到光盤驅(qū)動裝置，還提供了一種使用光盤驅(qū)動裝置的岸臺預(yù)制凹坑檢測方法。另外，本發(fā)明提供了一種光盤驅(qū)動裝置，其中，通過根據(jù)平衡電平、限制電平、和波動信號的增益限定每個區(qū)的代表值，在實時測試時使用每個區(qū)的代表值，可能提高檢測岸臺預(yù)制凹坑的能力，還提供了一種使用光盤驅(qū)動裝置的岸臺預(yù)制凹坑檢測方法。盡管已經(jīng)例示和描述了本發(fā)明的實例實施例，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解，可作出多種改變和修改，并且可對其元件進行替換，而不偏離本發(fā)明的真實范圍?？勺鞒鲈S多修改、置換、和次組合，使本發(fā)明的講授適合具體情況，而不偏離其范圍。例如，光盤可以是任何記錄介質(zhì)，包括DVD、DVD-R、DVD-RW、DVD+RW、DVD-RAM、DVD-ROM、CD、CD-R、CD-RW、和CD-ROM，或可選地，任何高密度介質(zhì)，例如藍光盤(BD)和高級光盤(AOD)。類似地，控制單元可作為具有固件的芯片組實現(xiàn)，或可選地，作為被編程以執(zhí)行例如參看圖10和14描述的方法的通用或?qū)Ｓ糜嬎銠C實現(xiàn)。因此，本發(fā)明的目的是，本發(fā)明不限于所披露的各個實例實施例，而是，本發(fā)明包括落在所附權(quán)利要求書的范圍內(nèi)的所有實施例。權(quán)利要求1.一種光盤驅(qū)動裝置，包括RF處理單元，被設(shè)置為從通過光盤獲得的電信號形成推挽信號；以及控制單元，被配置為安排用于形成所述推挽信號的決定因素的代表值，并且測試關(guān)于從所述推挽信號檢測到的岸臺預(yù)制凹坑(LPP)信號的誤差。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動裝置，其中在誤差測試結(jié)果滿足預(yù)定誤差條件時，所述控制單元重新安排用于形成所述推挽信號的決定因素的代表值。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述控制單元根據(jù)所述誤差測試獲得的在預(yù)定范圍內(nèi)的誤差概率以確定是否滿足所述預(yù)定誤差條件。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述RF處理單元根據(jù)被重新安排的決定因素的代表值形成所述推挽信號。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動裝置，進一步包括區(qū)表，所述區(qū)表用于儲存分別對應(yīng)于根據(jù)所述決定因素的大小而被劃分的多個區(qū)的多個代表值。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述控制單元從所述區(qū)表獲得所述決定因素的代表值。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤驅(qū)動裝置，其中多個區(qū)被均勻形成的所述區(qū)表具有相同大小的決定因素。8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述區(qū)表包括至少兩個所述決定因素，且其中形成多個區(qū)的所述區(qū)表包括具有各自不同大小的所述決定因素和其它決定因素中的至少一個。9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤驅(qū)動裝置，其中形成多個區(qū)的所述區(qū)表在整個區(qū)范圍內(nèi)具有部分不同的區(qū)密度。10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述決定因素包括平衡電平和限制電平。11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述決定因素進一步包括波動信號的增益。12.一種岸臺預(yù)制凹坑(LPP)檢測方法，包括從通過光盤獲得的電信號形成推挽信號；從推挽信號檢測岸臺預(yù)制凹坑信號；檢測關(guān)于岸臺預(yù)制凹坑信號的誤差；當誤差測試結(jié)果不滿足預(yù)定誤差條件時，限定用于形成所述推挽信號的決定因素的代表值；以及測試關(guān)于從所述推挽信號檢測到的岸臺預(yù)制凹坑信號的誤差，其中所述推挽信號根據(jù)所述決定因素的限定的代表值而形成。13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中為了滿足所述預(yù)定誤差條件，將所述決定因素的代表值的限定重復(fù)預(yù)定次數(shù)。14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中從其中儲存多個區(qū)的區(qū)表以預(yù)定順序獲得所述決定因素的代表值的限定。15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中根據(jù)平衡電平和限制電平的至少之一執(zhí)行所述決定因素的代表值的限定。16.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中根據(jù)平衡電平、限制電平、和波動信號的增益中的至少之一執(zhí)行所述決定因素的代表值的限定。17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述控制單元通過下述執(zhí)行誤差測試將平衡電平和限制電平設(shè)定為各自的初始值；通過將岸臺預(yù)制凹坑解碼地址與基準地址進行比較，確定岸臺預(yù)制凹坑誤差是否發(fā)生；在所述岸臺預(yù)制凹坑誤差發(fā)生時，在第一區(qū)安排一個區(qū)號，并且重新安排表示響應(yīng)于所述第一區(qū)的平衡電平和限制電平的代表值；以及應(yīng)用根據(jù)所述第一區(qū)的代表值重新安排的平衡電平和限制電平，并且重復(fù)根據(jù)所有區(qū)的代表值重新安排的所述平衡電平和限制電平的應(yīng)用，直到誤差測試結(jié)果滿足誤差條件。18.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述控制單元通過下述執(zhí)行誤差測試將平衡電平、限制電平、和波動信號的增益沒定為各自的初始值；通過將岸臺預(yù)制凹坑解碼地址與基準地址進行比較，確定岸臺預(yù)制凹坑誤差是否發(fā)生；在所述岸臺預(yù)制凹坑誤差發(fā)生時，在第一區(qū)安排一個區(qū)號，并且重新安排表示響應(yīng)于所述第一區(qū)的平衡電平、限制電平、和波動信號的增益的代表值；以及應(yīng)用根據(jù)所述第一區(qū)的代表值重新安排平衡電平、限制電平、和波動信號的增益，并且重復(fù)根據(jù)所有區(qū)的代表值而重新安排的所述平衡電平、限制電平、和波動信號的增益的應(yīng)用，直到誤差測試結(jié)果滿足誤差條件。19.一種光盤驅(qū)動裝置，包括光學(xué)拾取器，設(shè)置為照射激光束到光盤表面上和接收來自所述光盤的所述表面的反射的激光束；RF處理單元，設(shè)置為基于從所述反射的光束獲得的電信號而形成推挽信號；以及控制單元，設(shè)置有包括多個區(qū)的區(qū)表，并且被配置為安排用于形成所述推挽信號的不同區(qū)中的決定因素的代表值，以及執(zhí)行關(guān)于從其中使用不同區(qū)的代表值的推挽信號中檢測到的岸臺預(yù)制凹坑(LPP)信號的誤差測試，直到誤差測試結(jié)果滿足預(yù)定誤差條件。20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述控制單元根據(jù)所述誤差測試獲得的在預(yù)定范圍內(nèi)的誤差概率以確定是否滿足所述預(yù)定誤差條件。21.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述RF處理單元根據(jù)被重新安排的決定因素的代表值而形成所述推挽信號。22.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述區(qū)表儲存對應(yīng)于根據(jù)所述決定因素的大小分別被劃分的多個區(qū)的多個代表值。23.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述控制單元從所述區(qū)表中獲得所述決定因素的代表值。24.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中多個區(qū)被均勻形成的所述區(qū)表具有相同大小的決定因素。25.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述區(qū)表包括至少兩個所述決定因素，且其中形成多個區(qū)的所述區(qū)表包括具有各自不同大小的所述決定因素和其它決定因素中的至少一個。26.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中形成多個區(qū)的所述區(qū)表在整個區(qū)范圍內(nèi)具有部分不同的區(qū)密度。27.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述決定因素包括平衡電平和限制電平。28.根據(jù)權(quán)利要求27所述的光盤驅(qū)動裝置，其中所述決定因素進一步包括波動信號的增益。29.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中從其中儲存多個區(qū)的區(qū)表以預(yù)定順序獲得所述決定因素的代表值。30.根據(jù)權(quán)利要求19所述的光盤驅(qū)動裝置，其中根據(jù)平衡電平、限制電平、和波動信號的增益中的至少之一限定所述決定因素的代表值。全文摘要本發(fā)明提供了一種用于限定對岸臺預(yù)制凹坑信號檢測效率有影響的決定因素的光盤驅(qū)動裝置和岸臺預(yù)制凹坑檢測方法。所述光盤驅(qū)動裝置包括RF處理單元，用于從通過光盤獲得的電信號形成推挽信號；以及控制單元，用于安排用于形成所述推挽信號的決定因素的代表值，并且測試關(guān)于從所述推挽信號檢測到的岸臺預(yù)制凹坑(LPP)信號的誤差。結(jié)果，通過根據(jù)平衡電平和限制電平的大小限定每個區(qū)的代表值，所述光盤驅(qū)動裝置能減少確定最優(yōu)平衡電平和限制電平的時間，并且應(yīng)用最優(yōu)平衡電平和限制電平到實時操作的光盤驅(qū)動裝置。所述光盤驅(qū)動裝置也能通過根據(jù)平衡電平、限制電平、和波動信號的增益限定每個區(qū)的代表值，在實時測試時使用每個區(qū)的代表值，提高檢測岸臺預(yù)制凹坑的能力。文檔編號G11B27/19GK1920998SQ200610075509公開日2007年2月28日申請日期2006年4月20日優(yōu)先權(quán)日2005年8月22日發(fā)明者金秉贊,禹在炫申請人:三星電子株式會社