專利名稱：信息記錄方法、信息記錄裝置以及記錄程序的記錄介質的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及對于CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD-RAM、DVD+RW等各種記錄介質的信息記錄方法、信息記錄裝置以及記錄程序的記錄介質。
背景技術：
近年來，例如，CD-R驅動裝置這樣的可記錄的光盤驅動裝置被實用化，正在進行以更加大容量化、高速記錄化為目標的研究。作為可記錄的光盤介質，舉出使用色素類介質等的追記型光盤，或使用光磁介質或相變介質等的可改寫的盤等。
在一般的光盤記錄裝置中，以半導體激光器作為光源，將根據(jù)記錄信息脈沖調(diào)制的該激光照射到記錄介質上，形成記錄標記。此時，由于通過記錄的激光的功率變化記錄標記的形成狀態(tài)，因此以往，使用以下方法為了求出適于記錄介質的特性的記錄功率，而作為記錄開始的準備，預先對規(guī)定的區(qū)域(PCAPower CalibrationArea＝試寫區(qū)域)變換記錄功率同時進行試寫，在試寫之后，作為最佳記錄功率求出記錄了該區(qū)域的重放信號的質量最好的區(qū)域的功率的所謂OPC(Optimum Power Control，最佳功率控制)的方法。在實際的數(shù)據(jù)記錄時，保持這樣求出的最佳記錄功率而進行記錄。
另一方面，在CD和DVD等多數(shù)光盤的記錄方法中，采用適于高密度化的標記的長度承載信息的標記邊緣記錄方法，為了正確地重放數(shù)據(jù)，需要標記的形狀和邊緣位置的正確的控制。進而，即使標記長度不同也將標記形狀調(diào)整為一樣，因此廣泛使用以分割為多個記錄脈沖的脈沖串形成記錄標記的多脈沖記錄方法。即，通過反復進行加熱、冷卻的循環(huán)而連續(xù)形成標記從而形成一樣長度標記。該方法也應用于色素類追記型的介質中。
此外，伴隨近年的高速記錄化的要求提出各種記錄方法，作為其中之一舉出記錄波形的低頻化。例如，伴隨記錄速度的高速化，記錄數(shù)據(jù)的基準時鐘頻率提高時，多脈沖記錄中的加熱、冷卻時間變得非常短，由于LD的發(fā)光波形的上升時間和下降時間的制約，發(fā)光脈沖變鈍，因此無法確保充分的加熱時間和冷卻時間，成為記錄不良。因此，以下方案被提出并實用化不是對應于各個數(shù)據(jù)長度在時鐘周期內(nèi)增加多脈沖數(shù)，而是一組加熱脈沖和冷卻脈沖以二時鐘周期增加的所謂2T方案(strategy)方式，更一般地說，是一組加熱脈沖和冷卻脈沖以n時鐘周期(n為大于等于2的整數(shù))增加的所謂nT方案方式。
這樣的nT方案方式和記錄脈沖波形的關系中，與對于記錄功率Pw的記錄標記長度的理想值的偏差Δ的關系對于每個通過以數(shù)據(jù)長度除以整數(shù)n的余數(shù)分類的數(shù)據(jù)長度組變化，因此對于各個數(shù)據(jù)長度組的每個設定脈沖寬度和脈沖邊緣位置，事先根據(jù)使用檢測器(tester)的評價結果計算推薦值。
圖11(a)例示良好的重放信號的標記數(shù)據(jù)長度的每個的柱狀圖。記錄脈沖的結構基于所述2T方案，以n＝2進行了除法的余數(shù)1，即奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組(3、5、7、9、11T)的各個的平均值，和以n＝2進行了除法的余數(shù)0，即偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組(4、6、8、10、14T)的各個的平均值的分布必需形成為均等的長度。在DVD類盤的情況下，標記長度為3T～14T(這里，T為數(shù)據(jù)的基準時鐘周期)，在圖11中省略14T。這里，偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組的各個的平均值在使用了最佳記錄功率時有時產(chǎn)生與理想值的偏差±Δ。即，記錄波形的規(guī)則在奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組和偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組中不同的情況下，根據(jù)各個脈沖寬度和脈沖邊緣位置是否與記錄功率一致，對與奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組不同。因此，僅在通過試寫計算出的最佳記錄功率，與偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組和奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組的各個脈沖寬度或脈沖邊緣位置被最佳地組合時，標記長度為圖11(a)所示的理想長度。
在圖11(b)所示的例子中，是記錄功率小的情況，或變化脈沖寬度和脈沖邊緣位置以便偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組的平均長度比理想長度短的情況，在圖11(c)所示的例子中，是記錄功率大的情況，或變化脈沖寬度和脈沖邊緣位置以便偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組的平均長度比理想長度長的情況。
這樣，在使用通過現(xiàn)有的高速記錄時的2T方案、更一般地，通過nT方案的記錄脈沖串的記錄方法中，在進行所述最佳記錄功率計算的試寫(OPC)時，與記錄功率無關，原樣保持一定的脈沖寬度以及脈沖邊緣位置的狀態(tài)下，變化記錄功率的同時進行試寫，求出其中最佳的記錄功率。
但是，在這樣的OPC方法中，從記錄功率和與數(shù)據(jù)長度的每個的理想值的偏差的關系由通過加熱脈沖和冷卻脈沖的排列的急冷(rapid cooling)條件決定，因此根據(jù)偶數(shù)長度和計數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組而不同，所以在從盤的低級格式化(pre-format)信息中預先設定的脈沖寬度和脈沖邊緣位置與預先設定的記錄功率的組合計算出不同的最佳記錄功率的情況下，標記長度和所述理想值的偏差增大。更具體地說，在有記錄介質和記錄裝置的偏移(即，LD驅動部的偏移引起的記錄脈沖波形的偏移)的情況下，最佳記錄功率Po(optimum)與記錄脈沖的脈沖寬度和脈沖邊緣位置的最佳值的關系也偏移，因此標記形狀和標記位置的精度破壞、跳動(jitter)特性惡化，結果產(chǎn)生成為數(shù)據(jù)錯誤的原因的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于通過如下操作可以進行精度更高的記錄關于在構成記錄脈沖串的多脈沖數(shù)和數(shù)據(jù)長度的關聯(lián)不同的數(shù)據(jù)長度組中，各個數(shù)據(jù)長度組根據(jù)使用不同的脈沖寬度和脈沖邊緣位置的記錄波形的規(guī)則進行記錄的方法，求各個脈沖寬度和脈沖邊緣位置的最佳值。
此外，如前所述的nT方案方式和記錄脈沖波形的關系中，記錄標記長度的理想值與記錄功率Pw的偏差Δ的關系對于以數(shù)據(jù)長度除以整數(shù)n的余數(shù)分類的數(shù)據(jù)長度組的每個變化，因此需要個別地設定各個數(shù)據(jù)長度組的脈沖寬度和脈沖邊緣位置。
本發(fā)明的其它目的在于可以進行適當?shù)挠涗?，以便使用通過試寫計算出的最佳記錄功率使偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組和奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組的各個標記長度成為理想長度。
技術方案1記載的發(fā)明的信息記錄方法，使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其中包括第一試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，逐級改變照射的記錄功率同時試寫第一測試圖形(pattern)，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率；以及第二試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形逐級改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳記錄功率試寫，根據(jù)記錄的各個第二測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在所述第一試寫步驟中計算出的所述最佳記錄功率和在所述第二試寫步驟中計算出的所述最佳脈沖寬度或所述最佳脈沖邊緣位置進行信息的記錄。
技術方案2記載的發(fā)明在技術方案1記載的信息記錄方法中，所述第一試寫步驟包含第一測試圖形生成步驟，生成用于對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫的第一測試圖形；以及最佳記錄功率計算步驟，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率，所述第二試寫步驟包含第二測試圖形生成步驟，生成與用于試寫的所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形；試寫處理步驟，使用所述最佳記錄功率以及所述第二測試圖形，特定數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度以及脈沖邊緣位置固定，而逐級地改變其它的數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫；以及最佳記錄波形計算步驟，使用與記錄的所述特定的數(shù)據(jù)長度組所對應的第二測試圖形的試寫數(shù)據(jù)的重放信號的不對稱(asymmetry)的基準值，根據(jù)與其它的數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形的重放信號計算與該數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置。
技術方案3記載的發(fā)明在技術方案1或2記載的信息記錄方法中，所述第一測試圖形是包含全部數(shù)據(jù)長度的數(shù)據(jù)串，所述第二測試圖形是由規(guī)定的數(shù)據(jù)長度構成，是構成所述n種類的數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)串。
技術方案4記載的發(fā)明在技術方案1或3記載的信息記錄方法中，所述第一試寫步驟中的最佳記錄功率根據(jù)在該步驟中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的調(diào)制度或調(diào)制度的變化率來計算，所述第二試寫步驟中的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置根據(jù)對于在該步驟中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的平均值電平的作為正側峰值和負側峰值的比例的不對稱來計算。
技術方案5記載的發(fā)明在技術方案2或3記載的信息記錄方法中，計算所述第一試寫步驟中的最佳記錄功率，以便在該步驟中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的調(diào)制度或調(diào)制度的變化率成為要求的值，并計算所述第二試寫步驟中的其它的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或者最佳脈沖邊緣位置，以便在該步驟中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的不對稱與所述特定的數(shù)據(jù)長度組對應的不對稱的值大致一致。
技術方案6記載的發(fā)明在技術方案5記載的信息記錄方法中，所述第二試寫步驟中的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置在該步驟中根據(jù)進行了試寫的區(qū)域內(nèi)的n種類的數(shù)據(jù)長度組的各個的重放信號的平均值來計算。
技術方案7記載的發(fā)明的信息記錄方法，使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其中，對所述各數(shù)據(jù)長度組的每個包括試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用對應于所述各數(shù)據(jù)長度組的測試圖形逐級地改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳功率進行試寫，根據(jù)記錄的各個測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在各試寫步驟中計算出的所述最佳脈沖寬度或者所述最佳脈沖邊緣位置進行信息的記錄。
技術方案8記載的發(fā)明在技術方案1至7的任何一項記載的信息記錄方法中，所述數(shù)據(jù)長度組通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度除以所述整數(shù)n的余數(shù)分類，所述數(shù)據(jù)長度組作為對于記錄信息的時鐘周期T的數(shù)據(jù)長度，具有對于構成第n組數(shù)據(jù)長度組的記錄波形的多脈沖的個數(shù)為nT的每個一組加熱脈沖和冷卻脈沖增加的規(guī)則。
技術方案9記載的發(fā)明在技術方案2或5記載的信息記錄方法中，所述整數(shù)n為n＝2，具有構成各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形的多脈沖的個數(shù)為2T的每個增加一組加熱脈沖和冷卻脈沖的規(guī)則，將對于記錄信息的時鐘周期T的數(shù)據(jù)長度為奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組設為特定的數(shù)據(jù)長度組。
技術方案10記載的發(fā)明的信息記錄裝置，使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其中包括第一試寫部件，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，逐級改變照射的記錄功率同時試寫規(guī)定的第一測試圖形，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率；以及第二試寫部件，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形逐級改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳記錄功率試寫，根據(jù)記錄的各個第二測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在所述第一試寫部件中計算出的所述最佳記錄功率和在所述第二試寫部件中計算出的所述最佳脈沖寬度或所述最佳脈沖邊緣位置進行信息的記錄。
技術方案11記載的發(fā)明在技術方案1記載的信息記錄裝置中，所述第一試寫部件包含第一測試圖形生成部件，生成用于對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫的第一測試圖形；以及最佳記錄功率計算部件，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率，所述第二試寫部件包含第二測試圖形生成部件，生成與用于試寫的所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形；試寫處理部件，使用所述最佳記錄功率以及所述第二測試圖形，特定數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度以及脈沖邊緣位置固定，而逐級地改變其它的數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫；以及最佳記錄波形計算部件，使用與記錄的所述特定的數(shù)據(jù)長度組所對應的第二測試圖形的試寫數(shù)據(jù)的重放信號的不對稱的基準值，根據(jù)與其它的數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形的重放信號計算與該數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置。
技術方案12記載的發(fā)明在技術方案10或11記載的信息記錄裝置中，所述第一測試圖形是包含全部數(shù)據(jù)長度的數(shù)據(jù)串，所述第二測試圖形是由規(guī)定的數(shù)據(jù)長度構成，是構成所述n種類的數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)串。
技術方案13記載的發(fā)明在技術方案10或12記載的信息記錄裝置中，所述第一試寫部件中的最佳記錄功率根據(jù)在該部件中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的調(diào)制度或調(diào)制度的變化率來計算，所述第二試寫部件中的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置在該部件中根據(jù)對于進行了試寫的區(qū)域的重放信號的平均值電平的作為正側峰值和負側峰值的比例的不對稱來計算。
技術方案14記載的發(fā)明在技術方案11或12記載的信息記錄裝置中，計算所述第一試寫部件中的最佳記錄功率，以便在該部件中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的調(diào)制度或調(diào)制度的變化率成為要求的值，并計算所述第二試寫部件中的其它的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或者最佳脈沖邊緣位置，以便在該部件中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的不對稱與所述特定的數(shù)據(jù)長度組對應的不對稱的值大致一致。
技術方案15記載的發(fā)明在技術方案14記載的信息記錄裝置中，所述第二試寫部件中的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置根據(jù)在該部件中進行了試寫的區(qū)域內(nèi)的n種類的數(shù)據(jù)長度組的各個的重放信號的平均值來計算。
技術方案16記載的發(fā)明的信息記錄裝置，使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其中，對所述各數(shù)據(jù)長度組的每個包括試寫部件，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用對應于所述各數(shù)據(jù)長度組的測試圖形逐級地改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳功率進行試寫，根據(jù)記錄的各個測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在各試寫部件中計算出的所述最佳脈沖寬度或者所述最佳脈沖邊緣位置進行信息的記錄。
技術方案17記載的發(fā)明在技術方案10至16的任何一項記載的信息記錄裝置中，所述數(shù)據(jù)長度組通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度除以所述整數(shù)n的余數(shù)分類，所述數(shù)據(jù)長度組作為對于記錄信息的時鐘周期T的數(shù)據(jù)長度，具有對于構成第n組數(shù)據(jù)長度組的記錄波形的多脈沖的個數(shù)為nT的每個一組加熱脈沖和冷卻脈沖增加的規(guī)則。
技術方案18記載的發(fā)明在技術方案11或14記載的信息記錄裝置中，所述整數(shù)n為n＝2，具有構成各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形的多脈沖的個數(shù)為2T的每個增加一組加熱脈沖和冷卻脈沖的規(guī)則，將對于記錄信息的時鐘周期T的數(shù)據(jù)長度為奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組設為特定的數(shù)據(jù)長度組。
技術方案19的發(fā)明的記錄介質記錄了一種信息記錄程序，該信息記錄程序使控制器使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其中該信息記錄程序使控制器執(zhí)行第一試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，逐級改變照射的記錄功率同時試寫第一測試圖形，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率；以及第二試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形逐級改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳記錄功率試寫，根據(jù)記錄的各個第二測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在所述第一試寫步驟中計算出的所述最佳記錄功率和在所述第二試寫步驟中計算出的所述最佳脈沖寬度或所述最佳脈沖邊緣位置使控制器執(zhí)行信息的記錄。
技術方案20記載的發(fā)明在技術方案19記載的記錄了信息記錄程序的記錄介質中，其特征在于，該信息記錄程序的所述第一試寫步驟使控制器執(zhí)行第一測試圖形生成步驟，生成用于對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫的第一測試圖形；以及最佳記錄功率計算步驟，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率，信息記錄程序的所述第二試寫步驟使控制器執(zhí)行第二測試圖形生成步驟，生成與用于試寫的所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形；試寫處理步驟，使用所述最佳記錄功率以及所述第二測試圖形，特定數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度以及脈沖邊緣位置固定，而逐級地改變其它的數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫；以及最佳記錄波形計算步驟，使用與記錄的所述特定的數(shù)據(jù)長度組所對應的第二測試圖形的試寫數(shù)據(jù)的重放信號的不對稱的基準值，根據(jù)與其它的數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形的重放信號計算與該數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置。
根據(jù)技術方案1、2、10、11、19、20記載的發(fā)明，即使是對應于n種類的數(shù)據(jù)長度組對記錄波形具有規(guī)則的數(shù)據(jù)，也計算測試圖形的最佳記錄功率，并通過使用該最佳記錄功率的試寫對各個數(shù)據(jù)長度組的每個計算最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，因此通過基于這些功率和記錄波形的最佳值進行記錄動作，可以高精度地形成所有的數(shù)據(jù)長度，并可以得到良好的重放信號。
根據(jù)技術方案3、12記載的發(fā)明，由于第二測試圖形是構成多個數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)串，因此可以進行與對應于各個數(shù)據(jù)長度組的記錄波形一致的試寫，并且重放信號的檢測值中不含有誤差，所以可以高精度地計算最佳脈沖寬度或脈沖邊緣位置。
根據(jù)技術方案4、13記載的發(fā)明，通過第一試寫處理可以簡單地且高精度地計算最佳記錄功率，同時可以容易地且高精度地檢測各個數(shù)據(jù)長度組的每個的數(shù)據(jù)長度的長短的差異，所以可以進行記錄功率與脈沖寬度和脈沖邊緣位置的匹配好的良好的記錄。
根據(jù)技術方案5至7、14至16記載的發(fā)明，對應于n種類的數(shù)據(jù)長度組以及各個測試圖形，通過數(shù)據(jù)長度組的每個的個別的試寫步驟來計算各個最佳記錄波形的脈沖或脈沖邊緣位置，以便得到個別的重放信號的檢測值，因此可以進行記錄功率與脈沖寬度和脈沖邊緣位置的匹配好的良好的記錄。
根據(jù)技術方案8、9、17、18記載的發(fā)明，使用減少了稱為相變型盤的高速記錄所使用的所謂nT方案的多脈沖數(shù)的記錄波形的方法，和可應用于CD或DVD記錄的高速記錄化的所謂2T方案中，在奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組和偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組中，最佳記錄功率與記錄脈沖寬度和脈沖邊緣位置不會產(chǎn)生偏差，對于這樣的記錄介質可以進行良好的記錄。
根據(jù)本發(fā)明，關于在構成記錄脈沖串的多脈沖數(shù)和數(shù)據(jù)長度的關聯(lián)不同的數(shù)據(jù)長度組中，各個數(shù)據(jù)長度組根據(jù)具有不同的脈沖寬度和脈沖邊緣位置的記錄波形的規(guī)則進行記錄的記錄方法，求各個脈沖寬度和脈沖邊緣位置的最佳值，并可以由此進行高精度的記錄。
此外，根據(jù)本發(fā)明，使用通過試寫計算出的最佳記錄功率可以進行記錄，以使偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組和奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組的各個標記長度成為理想長度。


圖1A是表示本發(fā)明的一實施方式的光信息記錄裝置的概略結構例的方框圖。
圖1B是記錄介質中存儲的信息記錄程序的概略功能結構圖。
圖2是關于PCA區(qū)域以及試寫方式的說明圖。
圖3是重放信號的I圖表(I diagram)的特性圖。
圖4是表示對應于各記錄信息的2T方案的發(fā)光記錄波形例的波形圖。
圖5是提取其一部分放大表示的波形圖。
圖6是表示數(shù)據(jù)長度組中重放信號的平均值特性不同的情況的特性圖。
圖7是表示試寫處理控制例的概略流程圖。
圖8是更詳細地表示的流程圖。
圖9A是關于脈沖邊緣位置和脈沖寬度的各種設定例的說明圖。
圖9B是關于脈沖邊緣位置和脈沖寬度的各種設定例的說明圖。
圖9C是關于脈沖邊緣位置和脈沖寬度的各種設定例的說明圖。
圖9D是關于脈沖邊緣位置和脈沖寬度的各種設定例的說明圖。
圖10是表示其它實施方式的試寫處理控制例的概略流程圖。
圖11是表示重放信號的每個標記數(shù)據(jù)長度的柱狀圖的特性圖。
標號說明1記錄介質 21試寫區(qū)域具體實施方式
基于

本發(fā)明的一實施方式。本實施方式的信息記錄裝置是對光信息記錄裝置的應用例，圖1A是表示該光信息記錄裝置的概略結構例的方框圖。
在該光信息記錄裝置中使用的記錄介質1是可記錄的記錄介質(例如，CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD+R、DVD+RW、DVD-RAM、MD、MO等光盤等)。轉動驅動這樣的記錄介質1的主軸電機2根據(jù)從伺服控制器3供給的信號被控制，以使線速度一定(CLV)或者角速度一定(CAV)。光拾取器(PU)4用于將來自作為光源的半導體激光器(LD)的出射光照射到記錄介質1上并進行信息的記錄，或接收來自記錄介質1的反射光并變換為接收光信號，包括光源、接收反射光并變換為接收光信號的接收光元件、光學系統(tǒng)、致動器等。此外，光拾取器4中也配置監(jiān)視光源的出射光的一部分的監(jiān)視光接收部，通過作為其輸出的監(jiān)視信號控制出射光量變動。此外，有時也配置用于探測對于記錄介質1的照射光的斜率(tilt)的斜率探測光接收部等。
接收光信號處理部5被輸入來自光拾取器4中配置的各種光接收部的接收光信號，并進行各種信號處理。從接收光信號生成重放信號Srf。與伺服控制器3同時，致動器被驅動控制(聚焦伺服控制以及跟蹤伺服控制)，以便在對于伴隨記錄介質1的轉動的面振動或軌道的半徑方向的振動等變動總是以規(guī)定的誤差內(nèi)照射光。因此，從接收光信號中生成伺服錯誤信號Ssv，并供給到伺服控制器3。此外，光拾取器4可沿記錄介質1的半徑方向移動，并進行搜索(seek)動作，以使光點照射到要求的位置上。伺服控制器3根據(jù)預先記錄在記錄介質1中的地址信息等承擔該搜索控制和記錄介質1的轉動控制、斜率控制等功能。
記錄介質1上預先形成有記錄軌道以規(guī)定的頻率彎曲的擺動，在接收光信號處理部5中生成提取出該擺動分量的擺動信號Swbl。擺動信號處理部6基于該擺動信號Swbl進行轉動控制、地址信息的檢測、成為記錄時的基準時鐘的記錄時鐘WCK的生成。
重放信號處理部7根據(jù)從重放信號Srf重放的記錄介質1的規(guī)定的調(diào)制方式規(guī)則進行解調(diào)。此外，通過內(nèi)置的PLL電路提取重放時鐘。解調(diào)的數(shù)據(jù)供給到控制器8。
編碼器9根據(jù)規(guī)定的調(diào)制方式規(guī)則對從控制器8供給的記錄信息進行調(diào)制，并供給記錄數(shù)據(jù)Wdata。此時，以記錄時鐘WCK為基準生成。例如，在DVD記錄裝置中，使用EFM+調(diào)制方式，記錄數(shù)據(jù)Wdata的脈沖長度為3T～11T、14T(T是記錄時鐘WCK的周期)。
LD驅動部10根據(jù)記錄數(shù)據(jù)Wdata以及記錄時鐘WCK以規(guī)定的光波形對光源LD進行調(diào)制。照射功率和光波形信息等由控制器8設定。此外，從接收光信號處理部5輸入監(jiān)視光接收信號，并基于該監(jiān)視光接收信號進行控制以便光源LD的出射光量成為要求的值(進行所謂APC(Automatic PowerControl)控制)。
此外，控制器8通過執(zhí)行存儲在閃速ROM13中的固件(firmware)程序(F/W程序)從而實施本發(fā)明的信息記錄重放方法，并執(zhí)行本發(fā)明的光信息記錄裝置的各部件的功能。
閃速ROM13是控制器8可擦除、改寫的非易失性存儲器，閃速ROM13中存儲由該光信息記錄裝置的整體的控制程序以及用于執(zhí)行本發(fā)明相關的信息記錄重放的步驟的信息記錄程序15構成的固件程序。
如圖1B所示，信息記錄程序15的構成為使控制器8執(zhí)行第一試寫部件和第二試寫部件。第一試寫部件具有第一測試圖形生成部件、最優(yōu)記錄功率計算部件，此外第二試寫部件具有第二測試圖形生成部件、試寫處理部件、最佳記錄波形計算部件。
信息記錄程序15可以通過存儲在記錄介質16中來散布。記錄介質16是將信息通過光、電或磁記錄的記錄介質，例如，是CD或DVD等光盤、閃速存儲器構成的存儲卡、軟盤、光磁盤(MO)、IC存儲器等。記錄介質16只要可以記錄信息，任何介質都可以。
記錄介質16安裝在該光信息記錄裝置中，或配置了該光信息記錄裝置的主計算機(所謂個人計算機或DVD播放機)的存儲卡讀取器等中，信息記錄程序15安裝在閃速存儲器13中。信息記錄程序15也可以經(jīng)由因特網(wǎng)下載之后安裝。
這里，如圖2(a)所示，記錄介質1中，在規(guī)定區(qū)域(例如，最內(nèi)周部)設有PCA(Power CalibrationArea＝試寫區(qū)域)21，在開始本來的記錄之前，在該區(qū)域中進行試寫并求最佳的記錄功率，在實際記錄時執(zhí)行通過該求出的記錄功率進行記錄的OPC(Optimum Power Control)控制。此外，如圖2(b)所示，一次的試寫例如使用作為記錄信息單位的1ECC塊進行(該1ECC塊由16扇區(qū)構成)，變化每一扇區(qū)的記錄功率同時進行試寫。
于是，進行了該試寫的區(qū)域的重放信號Srf如圖2(c)所示，所以OPC檢測部11檢測重放信號Srf的各扇區(qū)的最大值Ipk、最小值Ibt、平均值(DC值)Idc。圖3是重放信號Srf的I圖表的一例。在控制器8中，執(zhí)行進行了試寫的區(qū)域的重放并檢測這些值，根據(jù)這些值進行規(guī)定的運算并計算最佳的記錄功率。后面詳細敘述該計算動作。
測試信號生成部12在進行試寫時生成試寫數(shù)據(jù)(測試圖形)。該試寫數(shù)據(jù)被供給到編碼器9，在試寫時將其選擇輸出從而供給到LD驅動部10。
控制器8除了所述功能、后述的處理控制之外，還進行與主計算機(未圖示)的記錄重放信息的交換和命令通信并進行裝置整體的控制。
這里，作為記錄介質1，例如圖4中例示假設了DVD-RW等相變型記錄介質(改寫型記錄介質)的情況的光源LD的發(fā)光波形例。圖4(a)表示記錄時鐘WCK，圖4(b)表示記錄數(shù)據(jù)Wdata，圖4(c)表示記錄數(shù)據(jù)Wdata的數(shù)據(jù)長度為3T(1)～14T(10)時的光記錄波形。照射功率被分別設定為底部(bottom)功率Pb、擦除功率Pe、寫功率Pw。
這里，如果為如CD-RW的大于等于24倍速或DVD-RW的大于等于5倍速這樣的記錄時鐘頻率超過100MHz的速度，則光源LD的上升時間和下降時間為1.5ns左右，因此發(fā)光波形變鈍而不成為矩形波，可以確保充分的加熱時間和冷卻時間。從而，通過使用4T和5T、6T和7T、8T和9T、10T和11T分別為同一脈沖數(shù)的如前所述的2T方案實現(xiàn)高速記錄。
更具體地說，如圖5(b)所示的奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組(3、5、7、9、11T)和如圖5(c)所示的偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組(4、6、8、10、14T)關于其記錄波形，脈沖寬度或脈沖邊緣位置的規(guī)則不同，這里表示9T、10T的例子，最先加熱脈沖的前邊緣位置Tsfpo、Tsfpe、多脈沖部分的最先加熱多脈沖的前邊緣位置Tsmpo、Tsmpe、以及最后加熱脈沖的前邊緣位置Tslpo、Tslpe被設定為在奇數(shù)長度、偶數(shù)長度的各數(shù)據(jù)長度組中不同(最后的e表示奇數(shù)，o表示偶數(shù))。
此時，各個加熱脈沖寬度Tfp、Tmp、Tlp以及最后冷卻脈沖寬度Tecp在奇數(shù)長度、偶數(shù)長度的各數(shù)據(jù)長度組中大致一致。但是，為了后述的試寫，最后加熱脈沖的脈沖寬度Tlpo、Tlpe、最后冷卻脈沖的脈沖寬度Tecpom、Tecpe也可以被設定為不同。
下面表示設定例。
Tsfpo＝1.1T，Tsfpe＝1.0T Tsmpo＝1.6T，Tsmpe＝1.0T Tslpo＝2.1T，Tslpe＝1.0T Tecpo＝Tecpe＝0.2T Tfpo＝Tfpe＝Tmpo＝Tmpe＝Tlpo＝Tlpe＝0.8T通常各數(shù)據(jù)長度組的每個的寫功率是相等的記錄功率Pw(＝Pwo＝Pwe)，預先設定的脈沖寬度和脈沖邊緣位置的設定通過盤制造時的檢查基于與最佳記錄功率Po的組合來決定。
這里，光信息記錄裝置中，對應于光學系統(tǒng)的偏移或驅動電路10的偏移，點直徑和發(fā)光時間不同，因此產(chǎn)生與通過光信息記錄裝置的試寫計算出的最佳記錄功率的偏差，所以原樣使用奇數(shù)長度和偶數(shù)長度的各個數(shù)據(jù)長度組的脈沖寬度和脈沖邊緣位置的初始設定時，產(chǎn)生與對于計算出的最佳記錄功率的數(shù)據(jù)長度組的理想長度的偏差(邊緣移動)，因此在本實施方式中，作為特征性的處理，附加校正任何的數(shù)據(jù)長度組的設定的步驟。
即，根據(jù)本實施方式的如后述的特征性的試寫處理，為了校正記錄介質1和信息記錄裝置的組合的、如圖11(b)所示的偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度形成得短而平均值變小的柱狀圖，或如圖11(b)所示的偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度形成得長而平均值變大的柱狀圖那樣的偏差，如前所述，通過校正用于形成偶數(shù)長度的標記的記錄波形的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度，如圖11(a)所示，對于以記錄時鐘周期T為基準的理想長度，可以進行奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度和偶數(shù)長度的各個數(shù)據(jù)長度高精度地一致的標記的形成。
因此，參照圖7以及圖8所示的流程圖說明適于由微型計算機構成的控制器8執(zhí)行的記錄介質1的信息記錄方法的處理控制例。圖8是比圖7更詳細表示處理例的流程圖，并行進行說明。
圖7是表示計算最佳記錄功率Pw(opt)以及各數(shù)據(jù)長度組中的脈沖寬度或者脈沖邊緣位置的算法的流程圖。該最佳記錄功率的計算作為信息的記錄開始的準備被進行，概略地通過計算最佳記錄功率Pw(opt)的第一試寫步驟、第一試寫部件，和基于計算出的最佳記錄功率Pw(opt)計算脈沖寬度或者脈沖邊緣位置的校正值的第二試寫步驟、第二試寫部件而成立。
首先，在步驟S1(S11)中，生成第一試寫步驟所使用的第一方案(第一測試圖形生成步驟、第一測試圖形生成部件)。第一測試圖形全部由數(shù)據(jù)圖形(pattern)構成，滿足規(guī)定的調(diào)制規(guī)則。在該第一試寫步驟中，該第一測試圖形作為記錄數(shù)據(jù)Wdata由編碼器9供給。
在步驟S2(S12)中，對于每個扇區(qū)以規(guī)定的梯級變化記錄功率Pw(Pw1、Pw2、Pw3、Pw、...)，同時將該第一測試圖形記錄在記錄介質1的規(guī)定的試寫區(qū)域。
在步驟S3(S13)中，在步驟S2中重放試寫了的區(qū)域，將記錄了得到最好的重放信號Srf的扇區(qū)的功率作為最佳記錄功率Pw(opt)計算。步驟S2、S3(S12、S13)作為第一測試圖形生成步驟、第一測試圖形生成部件來執(zhí)行。
評價該重放信號質量可以應用如下的例子。
第一，檢測各扇區(qū)的重放信號Srf的最大值Ipk、最小值Ibt、平均值(DC值)Idc。然后，對各扇區(qū)的每個進行β＝[(Ipk-Idc)-(Idc-Ibt)]/(Ipk-Ibt)......(1)的運算，計算不對稱β。
通常，得到最良好的重放信號的是β＝0時，只要將記錄了最接近0的扇區(qū)的功率作為最佳記錄功率Pw(opt)計算就可以?；蛘?，計算記錄功率Pw和不對稱β的近似算式，并計算β＝0的記錄功率也可以。該計算適于色素型光盤。
第二，是將對于重放信號的調(diào)制度的記錄功率的變化度作為指標的方法。與所述同樣，檢測各扇區(qū)的重放信號Srf的最大值Ipk、最小值Ibt。然后，根據(jù)m＝(Ipk-Ibt)/Ipk......(2)計算調(diào)制度m。
接著，從計算出的調(diào)制度m和此時的記錄功率Pw，根據(jù)γ＝(dm/dPw)·(Pw/m)......(3)計算對于調(diào)制度m的記錄功率的變化率γ。然后，求變化率γ成為規(guī)定值γt的記錄功率Pt，將其與規(guī)定系數(shù)k的乘積決定為最佳記錄功率Pw。這些規(guī)定值γt以及系數(shù)k使用記錄介質1的種類或信息信息記錄裝置的每個中預定的值。
以下說明更詳細的計算方法。首先，重放試寫區(qū)域，并根據(jù)檢測出的調(diào)制度m和記錄功率Pw的多個數(shù)據(jù)計算m＝a·Pw2+b·Pw+c(a、b、c是常數(shù))......(4)的二次近似算式。作為近似方法，只要使用多項式近似等一般的近似方法就可以，二次以上的近似算式與測定值非常一致。
而且，通過所述算式(3)，由于dm/dPw＝2a·Pw+b，所以得到Pw＝{-b(γ-1)±SQRT[b2(γ-1)2-4a(γ-2)cγ]}/2a(γ-2)......(5)的算式(5)。進行這些計算，通過計算算式(5)的正的解Pw+從而計算最佳記錄功率Pw(opt)。該計算適于相變型光盤。
此外，可以是這些方法的組合，還可以設置跳動檢測部，并計算最小的跳動的記錄功率。
此時，數(shù)據(jù)長度包含全部數(shù)據(jù)長度，在偏離最佳記錄功率的記錄功率時，形成在各個數(shù)據(jù)長度組中不同的標記長度。但是，在基于調(diào)制度的變化率γ的計算中，通過各個數(shù)據(jù)長度組的比較長的數(shù)據(jù)長度檢測調(diào)制度，因此邊緣移動或數(shù)據(jù)長度的偏差自身不反映在計算結果中。即，即使通過最佳記錄功率通過信息記錄裝置的偏移計算出偏差值，第一試寫步驟所使用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置的設定也無法檢測出是否為在奇數(shù)長度和偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組間沒有偏差的條件。
因此，在本實施方式中，在使用最佳記錄功率的記錄中，對于以不同的規(guī)則生成了記錄脈沖串的數(shù)據(jù)長度組，檢測各個數(shù)據(jù)長度組的標記邊緣移動或平均的數(shù)據(jù)長度的偏差，通過調(diào)整脈沖寬度或脈沖邊緣位置進行校正。
此外，以包含奇數(shù)長度和偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度全部的數(shù)據(jù)圖形進行試寫時，對于包含奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度的重放信號和包含后述長度的數(shù)據(jù)長度的重放信號，如果最佳記錄功率使用預先設定的記錄波形的脈沖寬度和脈沖邊緣位置則表示不同的值的概率高，重放信號的不對稱產(chǎn)生偏差。通過與其它標記不同，以其它的標記的最佳記錄功率記錄的區(qū)域的重放信號Srf例如圖6所示。即，由于包含奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度的平均值Idco與包含偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度的平均值Idce不同，因此檢測的平均值Idco與包含偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度的平均值Idce產(chǎn)生誤差，其結果不對稱β也計算出錯誤的值，因此計算出錯誤的最佳記錄功率。在這樣的狀態(tài)下，決定記錄功率和記錄波形時，如所述圖11(b)、圖11(c)的每個數(shù)據(jù)長度的柱狀圖那樣，奇數(shù)長度和偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組成為產(chǎn)生邊緣移動的重放信號，因此跳動特性惡化，并成為重放錯誤。
這一點，在本實施方式中，如以下的第二試寫步驟所示，由于使用用于使脈沖寬度或者脈沖邊緣位置對與記錄波形的規(guī)則對應的每個數(shù)據(jù)長度組最適合的試寫用的第二數(shù)據(jù)圖形，所以不產(chǎn)生這樣的問題，可以正確地計算最佳記錄功率和脈沖寬度或者脈沖邊緣位置。
本方法也可以作為個別的數(shù)據(jù)長度組增加容易產(chǎn)生邊緣移動的最短數(shù)據(jù)長度，為了最佳值計算而設置跳動檢測部，并計算成為最小的跳動的脈沖寬度或邊緣位置也可以。
接著計算最佳記錄功率的第一試寫步驟，進行這樣的特征性的第二試寫步驟。在步驟S4(S14)中，生成第二試寫步驟所使用的第二測試圖形(第二測試圖形生成步驟、第二測試圖形生成部件)。第二測試圖形基于所述2T方案，是構成除以整數(shù)n＝2的余數(shù)1、即奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組(3、5、7、9、11T)和除以n＝2的余數(shù)0、即偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組(4、6、8、10、14T)的數(shù)據(jù)串。
通常，由編碼器9調(diào)制的EFM+(plus)等記錄數(shù)據(jù)中各個數(shù)據(jù)長度的生成個數(shù)比率不同。一般，在如CD和DVD這樣RLL(Run Length LimitedCode)碼中，隨機的調(diào)制后的n種的數(shù)據(jù)圖形的生成比率從最短數(shù)據(jù)長度開始依次為2n-1個的比率。實際上，由于將調(diào)制前的數(shù)據(jù)與規(guī)定的數(shù)據(jù)圖形表進行對應，所以在EFM+的情況下，大概為3T＝32％、4T＝25％、5T＝17％、6T＝12％、7T＝7％、8T＝4％、9T＝2％、10T＝1％、11T＜1％、14T＜1％。因此，如果這樣的比率不同，則基于重放信號的平均值和數(shù)據(jù)長度的長短的不對稱產(chǎn)生誤差。從而，第二試寫步驟所使用的奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組和偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組的測試圖形最好是數(shù)據(jù)生成個數(shù)比率分別設定為奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組(3T＝55％、5T＝30％、7T＝10％、9T＝5％、11T＜1％)、偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組(4T＝58％、6T＝28％、8T＝10％、10T＝3％、14T＜1％)的測試圖形，將不對稱檢測誤差被適當調(diào)整為可以忽略的程度的圖形作為固定數(shù)據(jù)從控制器供給。
在步驟S5(S15)中，記錄功率Pw被設定為在步驟S3中計算出的記錄功率Pw(opt)，記錄僅由在最初的扇區(qū)中包含最短標記長度的奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組構成的第二測試圖形。將來自該扇區(qū)的重放信號的平均值和不對稱值設為基準值(S16)。
接著，對于每個扇區(qū)使用僅由偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組構成的第二測試圖形(S17)，通過較大變化所述的最先加熱脈沖的脈沖寬度Tfpe或者較小變化前脈沖邊緣位置Tsfpo，同時較大變化最后加熱脈沖的脈沖寬度Tlpe或較大變化前脈沖邊緣位置Tslpe，以規(guī)定的間隔適當變化，以便偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度相對地增長，同時在試寫區(qū)域記錄第二測試圖形(S18)(試寫處理步驟、試寫處理部件)。即，在由通常的AgInSbTe類的記錄材料構成的相變型盤的情況下，通過將最先加熱脈沖的前邊緣位置對于記錄時鐘移動到前方，可以形成記錄標記的前邊緣(開始位置)，以便標記長度變長。同時，通過將最后加熱脈沖的前邊緣位置對于記錄時鐘移動到后方，可以形成記錄標記的后邊緣(終端位置)，以便標記長度變長。
在相變型盤中，該試寫區(qū)域可以覆蓋在步驟S2的第一試寫區(qū)域上，或者也可以在一次擦除后進行第二試寫。此外，也可以在可以一次使用的試寫區(qū)域(例如1ECC塊)的前半部分進行第一試寫，在后半部分進行第二試寫。進而，在由僅可以一次記錄或追記的由色素或無機材料構成的追記型盤的情況下，用于控制標記長度的記錄波形的脈沖邊緣位置，只要將開始位置移動到前方或將結束位置移動到后方就可以，與相變型同樣。
接著，在步驟S6(S19)中，在步驟S5中重放試寫的區(qū)域，作為第二最佳記錄脈沖條件設定Tsfpe(opt)、Tfpe(opt)、Tslpe(opt)、Tlpe(opt)、Tecpe(opt)，計算記錄了偶數(shù)長度的重放信號Srf的不對稱β與作為基準值的奇數(shù)長度的重放信號的不對稱值一致的扇區(qū)的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度(最佳記錄波形計算步驟、最佳記錄波形計算部件)。
評價重放信號的質量，與步驟S3的第一方法的情況同樣，檢測各扇區(qū)中的重放信號Srf的最大值Ipk、最小值Ibt、平均值(DC值)Idc，通過算式(1)計算不對稱β。然后，只要將記錄了接近于奇數(shù)長度的基準不對稱值的扇區(qū)的記錄脈沖設定值作為最佳脈沖設定(opt)計算不對稱β就可以。或者，也可以計算脈沖邊緣位置Tsfpe或者脈沖寬度Tfpe和不對稱β的近似算式，并計算β＝基準不對稱值的記錄功率。在第二試寫中，奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度通過第一試寫中得到的記錄功率匹配，奇數(shù)長度的平均值Idco為β＝0的值。在步驟S5(S18)中，由于一邊變化偶數(shù)長度的記錄脈沖的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度一邊記錄，因此偶數(shù)長度的平均值Idce變化。從而，Idc3為Ipk-Idc3＝Idc3-Ibt的值的扇區(qū)為不對稱β＝0，可以計算在該扇區(qū)記錄的記錄脈沖的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度Tsfpe(opt)、Tfpe(opt)、Tslpe(opt)、Tlpe(opt)作為最佳值(S19)。
不對稱β不一定以β＝0為目標值，在對跳動特性和記錄邊緣有利的-0.05＜β＜0.15的范圍內(nèi)選擇。
接著，表示實際的第二試寫步驟所使用的記錄波形的脈沖邊緣和脈沖寬度的設定例。
在圖9A中，對于偶數(shù)長的數(shù)據(jù)長度組，將最后冷卻脈沖的脈沖寬度Tecpe從0T開始到0.6T為止以0.1T梯級增加并進行試寫，計算從重放信號檢測出的各個不對稱值與通過奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組得到的基準不對稱值(＝0)一致的不對稱值。這里，作為最佳值計算最后冷卻脈沖寬度Tecpe(opt)＝0.15T。
圖9B中，對于偶數(shù)長的數(shù)據(jù)長度組，將最后加熱脈沖的前脈沖位置Tslpe從0.6T開始到1.2T為止以0.1T梯級增加并進行試寫，計算從重放信號檢測出的各個不對稱值與通過奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組得到的基準不對稱值(＝0)一致的不對稱值。這里，作為最佳值計算最后加熱脈沖的前邊緣位置Tslpe(opt)＝0.9T。
在圖9C中，對于偶數(shù)長的數(shù)據(jù)長度組，將最后加熱脈沖的脈沖寬度Tlpe從0.4T開始到1.0T為止以0.1T梯級增加并進行試寫，計算從重放信號檢測出的各個不對稱值與通過奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組得到的基準不對稱值(＝0)一致的不對稱值。這里，作為最佳值計算最后加熱脈沖寬度Tlpe(opt)＝0.7T。
圖9D中，對于偶數(shù)長的數(shù)據(jù)長度組，將最先加熱脈沖的前脈沖位置Tsfpe從1.20T開始到0.95T為止以0.05T梯級減少并進行試寫，同時將最后加熱脈沖的前邊緣位置Tslpe從0.5T開始到1.4T為止以0.15T梯級進行試寫，計算從重放信號檢測出的各個不對稱值與通過奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組得到的基準不對稱值(＝0)一致的不對稱值。這里，作為最佳值計算最先加熱脈沖的前邊緣位置Tsfpe(opt)＝1.05T，且最后加熱脈沖的前邊緣位置Tslpe(opt)＝0.95。
這樣，對于記錄波形具有不同的規(guī)則的數(shù)據(jù)長度組，配合盤的特性和標記形成的狀態(tài)，以特定的數(shù)據(jù)長度組作為重放信號的基準值，有效地選擇其它的數(shù)據(jù)長度組的記錄波形的脈沖邊緣位置和脈沖寬度，并可以通過第二試寫計算最佳脈沖邊緣位置和脈沖寬度。
如上所述，通過第一試寫步驟計算最佳記錄功率Pw(opt)，通過第二試寫步驟計算最佳脈沖條件設定Tsfp(opt)、Tfp(opt)、Tslp(opt)、Tlp(opt)、Tecp(opt)等，從而結束試寫步驟。
在通常的信息記錄時，根據(jù)這樣求出的最佳記錄功率和最佳脈沖條件設定進行記錄時，所有的數(shù)據(jù)長度可以高精度地形成，并可以進行高精度的記錄。
在步驟S3中，在從調(diào)制度m的變化率γ計算最佳記錄功率時，即使比較短的標記以與最佳功率不同的值記錄，對調(diào)制度m以及其變化率γ幾乎沒影響，因此第一測試圖形可以使用設為包含全部的數(shù)據(jù)長度的數(shù)據(jù)圖形(通常的數(shù)據(jù))，或者使用包含比較長的標記(例如，大于等于6T)的特定的數(shù)據(jù)圖形，只要對于包含成為規(guī)定的基準的數(shù)據(jù)長度組(例如，奇數(shù)長度)的測試圖形變化記錄功率Pw，同時進行試寫就可以。
此外，在上述說明中，記錄介質1是假設相變型記錄介質而進行的說明，但即使是色素型或無機材料型等其它的記錄介質，所述OPC方法也可以在根據(jù)記錄波形具有不同的規(guī)則的數(shù)據(jù)長度組進行記錄的記錄方法中合適地應用。
此外，以連續(xù)的數(shù)據(jù)圖形構成第一、第二的各個測試圖形，并連續(xù)進行奇數(shù)長度的試寫和偶數(shù)長度的試寫，之后，將這兩個試寫區(qū)域一次重放，然后計算奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度的不對稱的基準值，和偶數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度中的記錄波形的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度的最優(yōu)值也可以。即，也可以以步驟S11、S12、S13、S14、S15、S16、S17、S18、S16、S19的順序進行處理。這樣，由于可以省略記錄和重放處理的切換步驟(對目的的試寫區(qū)域的存取時間等)，所以可以縮短試寫步驟時間。
接著，基于圖10說明信息記錄方法的其它實施方式。在本實施方式中，是n＝3的例子，敘述通過數(shù)據(jù)長度分類為三個數(shù)據(jù)長度組，并計算各個數(shù)據(jù)長度組的記錄功率的最佳值以及最佳記錄波形的方法。更具體地說，使用如通過數(shù)據(jù)長度除以n＝3的余數(shù)0、1、2分類的所謂3T方案。該信息記錄方法使用在每次數(shù)據(jù)長度增加3T時加熱脈沖和冷卻脈沖增加1組的記錄波形。從而，第一數(shù)據(jù)長度組設為余數(shù)0的數(shù)據(jù)長度(3、6、9T)，第二數(shù)據(jù)長度組設為余數(shù)1的數(shù)據(jù)長度(4、7、10T)，第三數(shù)據(jù)長度組設為余數(shù)2的數(shù)據(jù)長度(5、8、11、14T)。進而，如Tsfp0、Tsfp1、Tsfp2那樣，記錄波形的脈沖邊緣位置和脈沖寬度使用附加了后綴0、1、2的不同的規(guī)則。作為這些記錄脈沖邊緣位置或者脈沖寬度，如前所述，通過最先加熱脈沖的脈沖邊緣位置Tsfp(0、1、2)、或最后加熱脈沖的邊緣位置Tslp(0、1、2)、或最后加熱脈沖寬度Tlp(0、1、2)、或最后冷卻脈沖寬度Tecp(0、1、2)等的組合，分別變化同時進行各個數(shù)據(jù)長度組的每個的試寫，并計算各個最佳值。
在步驟S21中，生成第一測試圖形。該第一測試圖形由全部數(shù)據(jù)長度構成的隨機的數(shù)據(jù)圖形構成。
在步驟S22中，對于每個扇區(qū)變化記錄功率Pw并將該第一測試圖形記錄在試寫區(qū)域中。
在步驟S23中，重放在步驟S22中試寫了的區(qū)域，作為最佳記錄功率Pw(opt)計算記錄了得到最好的重放信號Srf的扇區(qū)的功率。評價該重放信號的質量可以應用使用如上述例子的調(diào)制度的變化率γ的方式。
在步驟S24中，生成第二測試圖形。該第二測試圖形由第一數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)長度構成的測試圖形構成。此時，最好是數(shù)據(jù)長度的生成比率基于數(shù)據(jù)調(diào)制的比率的圖形。
在步驟S25中，使用在步驟S23中計算出的最佳記錄功率Pw(opt)記錄在試寫區(qū)域的下一個扇區(qū)中包含最短標記長度的第一數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)長度所構成的測試圖形。此時，最好是數(shù)據(jù)長度的生成比率基于數(shù)據(jù)調(diào)制的比率的圖形。
在步驟S26中，重放在步驟S25中試寫了的區(qū)域，以來自該扇區(qū)的重放信號的平均值和不對稱值為基準值。對該重放信號的質量的評價可以應用上述例子。
在步驟S27中，對試寫區(qū)域的下一個扇區(qū)的每個變化記錄波形的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度(例如，Tsfp1、Tslp1、Tslp1、Tecp1的其中一個，或者它們的組合)，同時使用在步驟S23計算出的最佳記錄功率Pw(opt)記錄第二數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)長度構成的測試圖形。此時，最好是數(shù)據(jù)長度的生成比率基于數(shù)據(jù)調(diào)制的比率的圖形。
在步驟S28中，重放在步驟S27中試寫了的區(qū)域，作為最佳記錄脈沖設定值Tsfp1(opt)、Tfp1(opt)、Tslp1(opt)、Tlp1(opt)、Tecp1(opt)，計算記錄了第二數(shù)據(jù)長度的數(shù)據(jù)長度的重放信號Srf的不對稱β與作為基準值的第一數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)長度的不對稱值一致的扇區(qū)的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度?；蛘撸部梢杂嬎忝}沖邊緣位置或者脈沖寬度和不對稱β的近似算式，并計算β＝基準不對稱值的記錄功率。在該情況下，對再生信號的質量的評價也可以應用上述例子。
在步驟S29中，對試寫區(qū)域的下一個扇區(qū)的每個變化記錄波形的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度(例如，Tsfp2、Tslp2、Tslp2、Tecp2的其中一個，或者它們的組合)，同時使用在步驟S23計算出的最佳記錄功率Pw(opt)記錄第三數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)長度構成的測試圖形。此時，最好是數(shù)據(jù)長度的生成比率基于數(shù)據(jù)調(diào)制的比率的圖形。
在步驟S30中，重放在步驟S29中試寫了的區(qū)域，作為最佳記錄脈沖設定值Tsfp2(opt)、Tfp2(opt)、Tslp2(opt)、Tlp2(opt)、Tecp2(opt)，計算記錄了第三數(shù)據(jù)長度的數(shù)據(jù)長度的重放信號Srf的不對稱β與作為基準值的第一數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)長度的不對稱值一致的扇區(qū)的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度?；蛘?，也可以計算脈沖邊緣位置或者脈沖寬度和不對稱β的近似算式，并計算β＝基準不對稱值的記錄功率。在該情況下，對再生信號的質量的評價也可以應用上述例子。
這樣，通過計算最佳記錄功率Pw(opt)以及第二、第三數(shù)據(jù)長度組各個的脈沖邊緣位置或者脈沖寬度的最佳值，從而結束試寫步驟。
在通常的信息記錄時，使用這樣求出的最佳記錄功率和最佳記錄波形記錄時，可以高精度地形成全部的數(shù)據(jù)長度，并可以進行高精度的記錄。
在上述例子中，作為各個數(shù)據(jù)長度組中的測試圖形，記錄功率不同的特定圖形的數(shù)據(jù)長度的生成比率為基于數(shù)據(jù)調(diào)制的比率的圖形，但也可以從控制器作為固定數(shù)據(jù)供給不對稱檢測誤差被適當調(diào)整為可以忽略的程度的圖形。
權利要求
1.一種信息記錄方法，使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使其記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其特征在于，該信息記錄方法包括第一試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，逐級改變照射的記錄功率同時試寫第一測試圖形，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率；以及第二試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形逐級改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳記錄功率試寫，根據(jù)記錄的各個第二測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在所述第一試寫步驟中計算出的所述最佳記錄功率和在所述第二試寫步驟中計算出的所述最佳脈沖寬度或所述最佳脈沖邊緣位置進行信息的記錄。
2.如權利要求1所述的信息記錄方法，其特征在于，所述第一試寫步驟包含第一測試圖形生成步驟，生成用于對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫的第一測試圖形；以及最佳記錄功率計算步驟，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率，所述第二試寫步驟包含第二測試圖形生成步驟，生成與用于試寫的所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形；試寫處理步驟，使用所述最佳記錄功率以及所述第二測試圖形，使特定數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度以及脈沖邊緣位置固定，而逐級地改變其它的數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫；以及最佳記錄波形計算步驟，使用與記錄的所述特定的數(shù)據(jù)長度組所對應的第二測試圖形的試寫數(shù)據(jù)的重放信號的不對稱的基準值，根據(jù)與其它的數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形的重放信號計算與該數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置。
3.如權利要求1或2所述的信息記錄方法，其特征在于，所述第一測試圖形是包含全部數(shù)據(jù)長度的數(shù)據(jù)串，所述第二測試圖形是由規(guī)定的數(shù)據(jù)長度構成，是構成所述n種類的數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)串。
4.如權利要求1所述的信息記錄方法，其特征在于，所述第一試寫步驟中的最佳記錄功率根據(jù)在該步驟中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的調(diào)制度或調(diào)制度的變化率來計算，所述第二試寫步驟中的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置根據(jù)對于在該步驟中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的平均值電平的作為正側峰值和負側峰值的比例的不對稱來計算。
5.如權利要求2所述的信息記錄方法，其特征在于，計算所述第一試寫步驟中的最佳記錄功率，以便在該步驟中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的調(diào)制度或調(diào)制度的變化率成為要求的值，并計算所述第二試寫步驟中的其它的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或者最佳脈沖邊緣位置，以便在該步驟中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的不對稱與所述特定的數(shù)據(jù)長度組對應的不對稱的值大致一致。
6.如權利要求5所述的信息記錄方法，其特征在于，所述第二試寫步驟中的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置根據(jù)在該步驟中進行了試寫的區(qū)域內(nèi)的n種類的數(shù)據(jù)長度組的各個的重放信號的平均值來計算。
7.一種信息記錄方法，使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使其記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其特征在于，對所述各數(shù)據(jù)長度組的每個包括試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用對應于所述各數(shù)據(jù)長度組的測試圖形逐級地改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳功率進行試寫，根據(jù)記錄的各個測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在各試寫步驟中計算出的所述最佳脈沖寬度或者所述最佳脈沖邊緣位置進行信息的記錄。
8.如權利要求1或7所述的信息記錄方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)長度組通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度除以所述整數(shù)n的余數(shù)分類，所述數(shù)據(jù)長度組作為對于記錄信息的時鐘周期T的數(shù)據(jù)長度，具有對于構成第n組數(shù)據(jù)長度組的記錄波形的多脈沖的個數(shù)為nT的每個一組加熱脈沖和冷卻脈沖增加的規(guī)則。
9.如權利要求2或5所述的信息記錄方法，其特征在于，所述整數(shù)n為n＝2，具有構成各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形的多脈沖的個數(shù)為2T的每個增加一組加熱脈沖和冷卻脈沖的規(guī)則，將對于記錄信息的時鐘周期T的數(shù)據(jù)長度為奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組設為特定的數(shù)據(jù)長度組。
10.一種信息記錄裝置，使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使其記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其特征在于，該信息記錄裝置包括第一試寫部件，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，逐級改變照射的記錄功率同時試寫規(guī)定的第一測試圖形，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率；以及第二試寫部件，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形逐級改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳記錄功率試寫，根據(jù)記錄的各個第二測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在所述第一試寫部件中計算出的所述最佳記錄功率和在所述第二試寫部件中計算出的所述最佳脈沖寬度或所述最佳脈沖邊緣位置進行信息的記錄。
11.如權利要求10所述的信息記錄裝置，其特征在于，所述第一試寫部件包含第一測試圖形生成部件，生成用于對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫的第一測試圖形；以及最佳記錄功率計算部件，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率，所述第二試寫部件包含第二測試圖形生成部件，生成與用于試寫的所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形；試寫處理部件，使用所述最佳記錄功率以及所述第二測試圖形，使特定數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度以及脈沖邊緣位置固定，而逐級地改變其它的數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫；以及最佳記錄波形計算部件，使用與記錄的所述特定的數(shù)據(jù)長度組所對應的第二測試圖形的試寫數(shù)據(jù)的重放信號的不對稱的基準值，根據(jù)與其它的數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形的重放信號計算與該數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置。
12.如權利要求10或11所述的信息記錄裝置，其特征在于，所述第一測試圖形是包含全部數(shù)據(jù)長度的數(shù)據(jù)串，所述第二測試圖形是由規(guī)定的數(shù)據(jù)長度構成，是構成所述n種類的數(shù)據(jù)長度組的數(shù)據(jù)串。
13.如權利要求10所述的信息記錄裝置，其特征在于，所述第一試寫部件中的最佳記錄功率根據(jù)在該部件中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的調(diào)制度或調(diào)制度的變化率來計算，所述第二試寫部件中的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置根據(jù)對于在該部件中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的平均值電平的作為正側峰值和負側峰值的比例的不對稱來計算。
14.如權利要求11所述的信息記錄裝置，其特征在于，計算所述第一試寫部件中的最佳記錄功率，以便在該部件中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的調(diào)制度或調(diào)制度的變化率成為要求的值，并計算所述第二試寫部件中的其它的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或者最佳脈沖邊緣位置，以便在該部件中進行了試寫的區(qū)域的重放信號的不對稱與所述特定的數(shù)據(jù)長度組對應的不對稱的值大致一致。
15.如權利要求14所述的信息記錄裝置，其特征在于，所述第二試寫部件中的所述數(shù)據(jù)長度組的每個的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置根據(jù)在該部件中進行了試寫的區(qū)域內(nèi)的n種類的數(shù)據(jù)長度組的各個的重放信號的平均值來計算。
16.一種信息記錄裝置，使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使其記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其特征在于，對所述各數(shù)據(jù)長度組的每個包括試寫部件，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用對應于所述各數(shù)據(jù)長度組的測試圖形逐級地改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳功率進行試寫，根據(jù)記錄的各個測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在各試寫部件中計算出的所述最佳脈沖寬度或者所述最佳脈沖邊緣位置進行信息的記錄。
17.如權利要求10或16所述的信息記錄裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)長度組通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度除以所述整數(shù)n的余數(shù)分類，所述數(shù)據(jù)長度組作為對于記錄信息的時鐘周期T的數(shù)據(jù)長度，具有對于構成第n組數(shù)據(jù)長度組的記錄波形的多脈沖的個數(shù)為nT的每個一組加熱脈沖和冷卻脈沖增加的規(guī)則。
18.如權利要求11或14所述的信息記錄裝置，其特征在于，所述整數(shù)n為n＝2，具有構成各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形的多脈沖的個數(shù)為2T的每個增加一組加熱脈沖和冷卻脈沖的規(guī)則，將對于記錄信息的時鐘周期T的數(shù)據(jù)長度為奇數(shù)長度的數(shù)據(jù)長度組設為特定的數(shù)據(jù)長度組。
19.一種記錄介質，記錄了信息記錄程序，該信息記錄程序使控制器使用通過記錄信息的數(shù)據(jù)長度分類以使其記錄波形的規(guī)則不同的n(n是大于等于2的整數(shù))種類的數(shù)據(jù)長度組，從光源對記錄介質照射基于記錄信息以及所述規(guī)則調(diào)制的光來形成記錄標記，從而進行信息的記錄，其特征在于，該信息記錄程序使控制器執(zhí)行第一試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，逐級改變照射的記錄功率同時試寫第一測試圖形，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率；以及第二試寫步驟，對于所述記錄介質的試寫區(qū)域，使用與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形逐級改變所述各數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時以所述最佳記錄功率試寫，根據(jù)記錄的各個第二測試圖形的重放信號計算與所述各數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置，基于在所述第一試寫步驟中計算出的所述最佳記錄功率和在所述第二試寫步驟中計算出的所述最佳脈沖寬度或所述最佳脈沖邊緣位置使控制器執(zhí)行信息的記錄。
20.如權利要求19所述的記錄了信息記錄程序的記錄介質，其特征在于，所述信息記錄程序的所述第一試寫步驟使控制器執(zhí)行第一測試圖形生成步驟，生成用于對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫的第一測試圖形；以及最佳記錄功率計算步驟，根據(jù)記錄的試寫數(shù)據(jù)的重放信號計算最佳記錄功率，所述信息記錄程序的所述第二試寫步驟使控制器執(zhí)行第二測試圖形生成步驟，生成與用于試寫的所述各數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形；試寫處理步驟，使用所述最佳記錄功率以及所述第二測試圖形，使特定數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度以及脈沖邊緣位置固定，而逐級地改變其它的數(shù)據(jù)長度組的記錄波形用的脈沖寬度或脈沖邊緣位置，同時對所述記錄介質的試寫區(qū)域進行試寫；以及最佳記錄波形計算步驟，使用與記錄的所述特定的數(shù)據(jù)長度組所對應的第二測試圖形的試寫數(shù)據(jù)的重放信號的不對稱的基準值，根據(jù)與其它的數(shù)據(jù)長度組對應的第二測試圖形的重放信號計算與該數(shù)據(jù)長度組對應的記錄波形用的最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置。
全文摘要
關于脈沖數(shù)和數(shù)據(jù)長度的關聯(lián)不同的數(shù)據(jù)長度組中，各個數(shù)據(jù)長度組根據(jù)不同的脈沖寬度和脈沖邊緣位置的記錄波形的規(guī)則進行記錄的記錄方法，求各個脈沖寬度和脈沖邊緣位置的最佳值，并可以由此進行高精度的記錄。即使是對應于n種類的數(shù)據(jù)長度組，記錄波形具有不同的規(guī)則的數(shù)據(jù)，也通過第一試寫處理計算測試數(shù)據(jù)的最佳記錄功率(S1～S3)，并根據(jù)使用該最佳記錄功率的第二試寫處理對各個數(shù)據(jù)長度組的每個計算最佳脈沖寬度或最佳脈沖邊緣位置(S4～S6)，基于通過這些試寫處理計算出的最佳記錄功率或最佳記錄波形進行記錄動作，從而可以高精度地形成全部數(shù)據(jù)長度，并可以得到良好的重放信號。
文檔編號G11B7/125GK1745414SQ20048000323
公開日2006年3月8日 申請日期2004年10月15日 優(yōu)先權日2003年11月14日
發(fā)明者橫井研哉, 增井成博 申請人:株式會社理光