專利名稱：光學讀寫頭的溫度檢測保護方法
技術領域：
本發(fā)明涉及光盤驅(qū)動器的光學讀寫頭保護，特別涉及光學讀寫頭的溫度檢測保護方法。
背景技術：
光學讀寫頭(Optical Pick Up，OPU)上的發(fā)光二級管是作為讀寫光盤片的光源。當光盤驅(qū)動器在工作時，會有控制電流流經(jīng)光學讀寫頭上的致動器(Actuator)，使致動器上的線圈(Coil)產(chǎn)生磁力，因而可控制透鏡移動以實現(xiàn)聚焦以及循軌的功能。
一般來說，光盤驅(qū)動器在操作時，流經(jīng)致動器(Actuator)的控制電流的功率驅(qū)動電路(Power Driver)是導致光盤驅(qū)動器溫度升高的主要原因。當光盤驅(qū)動器主軸馬達(Spindle Motor)在高速運轉(zhuǎn)時，功率驅(qū)動電路必須提供較大的電流來驅(qū)動主軸馬達，另一方面也必須提高伺服增益(Server Gain)以使流經(jīng)致動器的控制電流增加。
即，當光盤驅(qū)動器主軸馬達以高速轉(zhuǎn)動時，流經(jīng)功率驅(qū)動電路和致動器的電流都會增加。因此，致動器上的線圈以及功率驅(qū)動電路都會產(chǎn)生大量的熱，這會導致光盤驅(qū)動器內(nèi)部的溫度不斷升高。當光盤驅(qū)動器長時間讀/寫數(shù)據(jù)后，由于光盤驅(qū)動器內(nèi)部的溫度升高，可能導致發(fā)光二級管燒毀、或者光學讀寫頭中透鏡的鍍膜破裂(Crack)、透鏡熔化、或者致動器燒毀(Burn Out)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提出一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，用以防止光學讀寫頭的溫度持續(xù)增加導致的光學讀寫頭及其機構(gòu)的燒毀。
本發(fā)明提出一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，該方法包括下列步驟當主軸馬達以第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動時，持續(xù)監(jiān)視光學讀寫頭的溫度；以及，當光學讀寫頭的溫度高于第一設定溫度時，控制主軸馬達以第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動；其中，第二轉(zhuǎn)速小于第一轉(zhuǎn)速。
再者，本發(fā)明提出一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，該方法包括下列步驟當光盤驅(qū)動器的主軸馬達轉(zhuǎn)動時，監(jiān)視光學讀寫頭的溫度；以及，當光學讀寫頭的溫度升高到第一設定溫度時，降低主軸馬達的轉(zhuǎn)速。
再者，本發(fā)明提出一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，該方法包括下列步驟當光盤驅(qū)動器的主軸馬達轉(zhuǎn)動時，監(jiān)視光學讀寫頭的溫度；以及，當光學讀寫頭的溫度低于第三設定溫度時，降低主軸馬達之轉(zhuǎn)速。
參閱以下有關本發(fā)明的詳細說明與附圖，可對本發(fā)明的特征和技術內(nèi)容有進一步的了解。然而附圖僅供參考與說明，并非用來對本發(fā)明加以限制。


圖1所示為本發(fā)明的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法的第一實施例。
圖2所示為本發(fā)明的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法的第二實施例。
以下為附圖中所使用的符號說明10主軸馬達高速轉(zhuǎn)動 20主軸馬達低速轉(zhuǎn)動30關閉光盤驅(qū)動器并返回失敗信息具體實施方式
通常，光盤驅(qū)動器中的光學讀寫頭中會嵌入一個熱敏電阻(Thermistor)。因此，本發(fā)明即利用此熱敏電阻所檢測的溫度來作為對光學讀寫頭的過熱保護。參考圖1，該圖所示為本發(fā)明的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法的狀態(tài)圖(State Diagram)的第一實施例。
首先，先設定光盤驅(qū)動器至少有三種狀態(tài)主軸馬達第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)10、主軸馬達第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)20、以及關閉光盤驅(qū)動器并返回失敗信息狀態(tài)30。其中，第一轉(zhuǎn)速大于第二轉(zhuǎn)速，且第一轉(zhuǎn)速為光盤驅(qū)動器正常讀寫時的轉(zhuǎn)速。
當光盤驅(qū)動器處于主軸馬達第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)10時，表示主軸馬達正以高倍速(例如48或52倍速)轉(zhuǎn)動，此時，檢測光學讀寫頭的溫度(T)。當光學讀寫頭的溫度(T)高于第一設定溫度(Ts1)時，進入主軸馬達第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)20，使得主軸馬達以較低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(例如24或32倍速)。當光學讀寫頭的溫度(T)高于光學讀寫頭的額定工作溫度(Trated)時，直接進行關閉光盤驅(qū)動器的操作并返回失敗信息狀態(tài)30。
當光盤驅(qū)動器處于主軸馬達第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)20時，表示主軸馬達正以低倍速(例如24或32倍速)轉(zhuǎn)動，此時，檢測光學讀寫頭的溫度(T)。當光學讀寫頭的溫度(T)低于第二設定溫度(Ts2)時，進入主軸馬達第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)10，使得主軸馬達以較高轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(例如48或52倍速)。當光學讀寫頭的溫度(T)高于光學讀寫頭的額定工作溫度(Trated)時，直接進行關閉光盤驅(qū)動器的操作并返回失敗信息狀態(tài)30。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，光學讀寫頭的額定工作溫度(Trated)為60℃，第一設定溫度為55℃，而第二設定溫度為50℃。由于本發(fā)明持續(xù)監(jiān)視光學讀寫頭的溫度，并且在光學讀寫頭的溫度達到額定操作溫度前的第一設定溫度時，就先行降低光盤驅(qū)動器主軸馬達的轉(zhuǎn)速。因此，致動器的伺服增益可以降低，流經(jīng)線圈的控制電流減小，使得線圈產(chǎn)生的熱量減少。相應地，功率驅(qū)動電路輸出的電流必然也會減少，所以熱量的產(chǎn)生也可以有效地降低。
當主軸馬達以低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動時，持續(xù)監(jiān)測光學讀寫頭的溫度。當光學讀寫頭的溫度介于第一設定溫度和額定操作溫度之間時，仍以低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(例如24或32倍速)。當光學讀寫頭的溫度低于第二設定溫度時，即可把光盤驅(qū)動器的轉(zhuǎn)速提高到高倍速轉(zhuǎn)動(例如48或52倍速)。當光學讀寫頭的溫度持續(xù)升高到達額定操作溫度時，關閉光盤驅(qū)動器并返回失敗信息。這樣，可以有效地防止光學讀寫頭溫度升高，并保護光學讀寫頭。
參考圖2，該圖所示為本發(fā)明的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法的狀態(tài)圖(State Diagram)的第二實施例。通常，光學讀寫頭的額定工作溫度也有一個下限溫度(Trated’)，因此，本發(fā)明也可適用于低溫的情況。
首先，先設定光盤驅(qū)動器至少有三種狀態(tài)主軸馬達第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)10、主軸馬達第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)20、以及關閉光盤驅(qū)動器并返回失敗信息狀態(tài)30。
當光盤驅(qū)動器處于主軸馬達第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)10時，表示主軸馬達正以高倍速(例如48或52倍速)轉(zhuǎn)動，此時，檢測光學讀寫頭的溫度(T)。當光學讀寫頭的溫度(T)低于第三設定溫度(Ts3)時，進入主軸馬達第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)20，使得主軸馬達以較低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(例如24或32倍速)。當光學讀寫頭的溫度(T)低于光學讀寫頭額定工作溫度的下限溫度(Trated’)時，直接進行關閉光盤驅(qū)動器的操作并返回失敗信息狀態(tài)30。
當光盤驅(qū)動器處于主軸馬達第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)20時，表示主軸馬達正以低倍速(例如24或32倍速)轉(zhuǎn)動，此時，檢測光學讀寫頭的溫度(T)。當光學讀寫頭的溫度(T)高于第四設定溫度(Ts4)時，進入主軸馬達第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動狀態(tài)10，使得主軸馬達以較高轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動(例如48或52倍速)。當光學讀寫頭的溫度(T)低于光學讀寫頭的額定工作溫度的下限溫度(Trated’)時，直接進行關閉光盤驅(qū)動器的操作并返回失敗信息狀態(tài)30。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，光學讀寫頭的額定工作溫度的下限溫度(Trated’)為5℃，第三設定溫度為10℃，而第四設定溫度為15℃。
再者，本發(fā)明的第一設定溫度(55℃)、第二設定溫度(50℃)、第三設定溫度(10℃)、與第四設定溫度(15℃)都是本發(fā)明的實施例。使用者可根據(jù)實際的狀況來設定溫度，本發(fā)明并未限定第一設定溫度、第二設定溫度、第三設定溫度與第四設定溫度。
因此，本發(fā)明的優(yōu)點是提出了一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，該方法利用熱敏電阻持續(xù)監(jiān)視光學讀寫頭的溫度，并在光學讀寫頭的溫度高于第一設定溫度時，降低功率驅(qū)動電路的輸出電流并且降低控制致動器的伺服增益，以使光盤驅(qū)動器主軸馬達的轉(zhuǎn)速降低。再者，由于光盤驅(qū)動器主軸馬達轉(zhuǎn)速已經(jīng)降低，因此可有效地降低光學讀寫頭的溫度。再者，當光學讀寫頭的溫度低于第三設定溫度時，降低功率驅(qū)動電路的輸出電流并且降低控制致動器的伺服增益，用以防止光學讀寫頭刻錄的品質(zhì)不佳。
本發(fā)明的另一優(yōu)點是提出了一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其可有效地防止光學讀寫頭的溫度持續(xù)增加或者持續(xù)降低而導致的光盤驅(qū)動器無法順利操作。
綜上所述，以上所述僅為本發(fā)明的最優(yōu)實施例，本領域的技術人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下可對本發(fā)明做出各種更動和修飾。本發(fā)明的保護范圍由所附權利有求書確定。
權利要求
1.一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，該方法包括下列步驟當主軸馬達以第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動時，持續(xù)監(jiān)視光學讀寫頭的溫度；以及當該光學讀寫頭的溫度高于第一設定溫度時，控制該主軸馬達以第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動；其中該第二轉(zhuǎn)速小于該第一轉(zhuǎn)速。
2.如權利要求1所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中一個熱敏電阻用來監(jiān)視該光學讀寫頭的溫度。
3.如權利要求1所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中當該光學讀寫頭的溫度到達一個額定操作溫度時，關閉該主軸馬達。
4.如權利要求1所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中還包括該主軸馬達以該第二轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動時，當該光學讀寫頭的溫度低于第二設定溫度時，控制該主軸馬達以該第一轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動。
5.如權利要求4所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中該第一設定溫度高于該第二設定溫度。
6.一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，包括下列步驟當光盤驅(qū)動器的主軸馬達轉(zhuǎn)動時，監(jiān)視光學讀寫頭的溫度；以及當該光學讀寫頭的溫度升高到第一設定溫度時，降低該主軸馬達的轉(zhuǎn)速。
7.如權利要求6所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中一個熱敏電阻用來監(jiān)視該光學讀寫頭的溫度。
8.如權利要求6所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中當該光學讀寫頭的溫度到達額定操作溫度時，關閉該光盤驅(qū)動器。
9.如權利要求6所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中還包括在該主軸馬達以低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動時，當該光學讀寫頭的溫度低于第二設定溫度時，提高該主軸馬達的轉(zhuǎn)速。
10.如權利要求9所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中該第一設定溫度高于該第二設定溫度。
11.一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，包括下列步驟當光盤驅(qū)動器的主軸馬達轉(zhuǎn)動時，監(jiān)視光學讀寫頭的溫度；以及當該光學讀寫頭的溫度低于第三設定溫度時，降低該主軸馬達之轉(zhuǎn)速。
12.如權利要求11所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中一個熱敏電阻用來監(jiān)視該光學讀寫頭的溫度。
13.如權利要求11所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中當該光學讀寫頭的溫度降低到額定操作溫度的下限溫度時，關閉該光盤驅(qū)動器。
14.如權利要求11所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中還包括在該主軸馬達以低轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)動時，當該光學讀寫頭的溫度高于第四設定溫度時，提高該主軸馬達的轉(zhuǎn)速。
15.如權利要求14所述的光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，其中該第三設定溫度低于該第四設定溫度。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種光學讀寫頭的溫度檢測保護方法，該方法利用熱敏電阻持續(xù)監(jiān)視光學讀寫頭的溫度(T)，并在光學讀寫頭的溫度(T)大于一個第一設定溫度時，通過降低光盤驅(qū)動器主軸馬達的轉(zhuǎn)速，來降低光盤驅(qū)動器的讀寫或存取速度，因此，功率驅(qū)動電路(Power Driver)的輸出電流與致動器(Actuator)的伺服增益(Server Gain)都會降低，并有效地降低光學讀寫頭的溫度(T)的目的。
文檔編號G11B33/14GK1584994SQ0315457
公開日2005年2月23日 申請日期2003年8月19日 優(yōu)先權日2003年8月19日
發(fā)明者洪建豊, 張世宏, 魏道炎 申請人:建興電子科技股份有限公司