ight-Emitting D1de,LED)顯不器、場(chǎng)發(fā)射顯不器(Field Emiss1n Display,FE D)或其他種類的顯示器。顯示單元110用以顯示操作畫面，以供使用者利用手指等觸控對(duì)象對(duì)著所顯示的操作畫面進(jìn)行操作?？刂茊卧?40可通過有線或無線通信方式來耦接至顯示單元110的處理器或控制器，以將轉(zhuǎn)換后的坐標(biāo)位置反應(yīng)至顯示單元110上。在其他實(shí)施例中，顯示單元110亦可是投影機(jī)的布幕，而控制單元140可通過有線或無線通信方式來耦接至投影機(jī)。
[0058]取像單元120及取像單元130例如為具有電荷耦合裝置(charge coupleddevice, CCD)、互補(bǔ)金屬氧化半導(dǎo)體(complementary metal oxide semiconductor, CMOS)等感光組件的光學(xué)鏡頭。取像單元120及取像單元130配置于顯示單元110的同一側(cè)(如圖1所示配置于顯示單元110上側(cè)的左右兩個(gè)角落)，且朝向顯示單元110的另一側(cè)(如圖1所示朝向下側(cè)的兩個(gè)對(duì)角)，而用以獲得在顯示單元110前方操作的觸控對(duì)象(例如為手指或觸控筆等)的影像。
[0059]控制單兀140例如是中央處理單兀(Central Processing Unit, CPU)、微處理器(Microprocessor)、數(shù)字信號(hào)處理器(Digital Signal Processor, DSP)、特殊應(yīng)用集成電路(Applicat1n Specific Integrated Circuits, ASIC)或其他類似裝置?？刂茊呜?140分別耦接至取像單元120及取像單元130，而可接收并分析取像單元120及取像單元130所獲得的影像，進(jìn)而計(jì)算出觸控對(duì)象在顯示單元110中進(jìn)行觸碰的觸碰位置所對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)坐標(biāo)位置。但是，由于取像單元120、130設(shè)置位置的偏差，會(huì)導(dǎo)致觸碰位置與系統(tǒng)坐標(biāo)位置產(chǎn)生誤差。
[0060]舉例來說，圖2是依照本發(fā)明一實(shí)施例的觸碰位置與系統(tǒng)坐標(biāo)位置的示意圖。如圖2所示，使用者以手指(或其他觸控對(duì)象)對(duì)顯示單元110上的顯示位置LI進(jìn)行觸碰，而提供了一觸碰位置L2。控制單元140通過三角定位法進(jìn)一步計(jì)算出觸碰位置L2對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)坐標(biāo)位置L3。理想上，觸碰位置L2應(yīng)該與系統(tǒng)坐標(biāo)位置L3重合。因此，在開始使用觸控裝置100之前，先進(jìn)行一校正程序借以獲得校正參數(shù)組，進(jìn)而通過校正參數(shù)組來校正之后所計(jì)算出的系統(tǒng)坐標(biāo)位置L3。
[0061]圖3是依照本發(fā)明一實(shí)施例的控制單元的方塊圖。在本實(shí)施例中，進(jìn)一步將圖1中的控制單元140依功能區(qū)分為位置檢測(cè)模塊310、校正計(jì)算模塊320及位置校正模塊330。
[0062]位置檢測(cè)模塊310用以分析取像單元120及取像單元130所獲得的影像，借此來獲得觸控對(duì)象所觸碰的位置。在校正程序中，位置檢測(cè)模塊310通過取像單元120及取像單元130所檢測(cè)到用戶在校正區(qū)塊中的多個(gè)校正觸碰，而獲得多個(gè)校正坐標(biāo)位置。而在操作程序中，位置檢測(cè)模塊310通過取像單元120及取像單元130所檢測(cè)到用戶的觸碰行為，獲得觸碰行為的系統(tǒng)坐標(biāo)位置。
[0063]校正計(jì)算模塊320在校正程序中，會(huì)依據(jù)用戶在校正區(qū)塊中的校正觸碰，計(jì)算校正區(qū)塊的變形誤差量，并且判斷變形誤差量是否大于預(yù)設(shè)閾值，若變形誤差量大于預(yù)設(shè)閾值，將校正區(qū)塊切割為多個(gè)，并且重新通過檢測(cè)使用者在多個(gè)切割后校正區(qū)塊各自的校正觸碰，來計(jì)算每一個(gè)切割后校正區(qū)塊的變形誤差量。若變形誤差量小于或等于預(yù)設(shè)閾值，取得校正區(qū)塊的校正參數(shù)組正。
[0064]也就是說，在變形誤差量大于預(yù)設(shè)閾值的情況下，校正計(jì)算模塊320會(huì)繼續(xù)將校正區(qū)塊切割為多個(gè)，之后重新計(jì)算切割后每一個(gè)校正區(qū)塊的變形誤差量，直到切割后的每一個(gè)校正區(qū)塊的變形誤差量皆小于或等于預(yù)設(shè)閾值。并且，校正計(jì)算模塊320會(huì)取得變形誤差量小于或等于預(yù)設(shè)閾值的校正區(qū)塊的校正參數(shù)組。
[0065]位置校正模塊330則是在操作程序中，基于校正參數(shù)組來對(duì)用戶通過觸控對(duì)象的觸碰行為進(jìn)行校正。以下即搭配上述圖式中的各組件來說明本實(shí)施例坐標(biāo)校正方法的各步驟。
[0066]圖4是依照本發(fā)明一實(shí)施例的坐標(biāo)校正方法的流程圖。請(qǐng)參照?qǐng)D1、圖3及圖4，在步驟S405中，通過取像單元120與取像單元130檢測(cè)用戶在校正區(qū)塊中的多個(gè)校正觸碰，而由控制單元140驅(qū)動(dòng)位置檢測(cè)模塊310來計(jì)算校正區(qū)塊的變形誤差量。
[0067]具體而言，控制單元140預(yù)先決定校正區(qū)塊中的多個(gè)校正點(diǎn)，以供使用者對(duì)這些校正點(diǎn)進(jìn)行校正觸碰。并且，控制單元140基于用戶在校正區(qū)塊中的多個(gè)校正觸碰，而獲得多個(gè)校正坐標(biāo)位置。舉例來說，圖5是依照本發(fā)明一實(shí)施例的校正區(qū)塊與校正點(diǎn)的示意圖。在本實(shí)施例中，以顯示單元110的整個(gè)顯示畫面作為校正區(qū)塊Al。另外，在其他實(shí)施例中，亦可以一開始便將整個(gè)顯示畫面切割為多個(gè)個(gè)校正區(qū)塊Al，再逐一對(duì)各個(gè)校正區(qū)塊Al計(jì)算其變形誤差量。
[0068]在圖5中，校正區(qū)塊Al為矩形，控制單元140事先將校正區(qū)塊Al的四個(gè)角設(shè)定為校正點(diǎn)，而以這些校正點(diǎn)的位置來作為默認(rèn)坐標(biāo)位置Pl?P4。即，校正區(qū)塊Al是由上述默認(rèn)坐標(biāo)位置Pl?P4所圍成的區(qū)塊。而在校正程序中，用戶先以手指(或其他觸控對(duì)象)分別觸碰校正區(qū)塊Al中的四個(gè)校正點(diǎn)。在此，控制單元140可以提示用戶在顯示單元110的4個(gè)角落進(jìn)行校正觸碰。
[0069]在用戶碰觸4個(gè)校正點(diǎn)之后，位置檢測(cè)模塊310便可計(jì)算出4個(gè)校正坐標(biāo)位置SI?S4。而校正計(jì)算模塊320通過分別比對(duì)這些校正坐標(biāo)位置SI?S4與默認(rèn)坐標(biāo)位置Pl?P4，來計(jì)算校正區(qū)塊Al的變形誤差量。
[0070]接著，在步驟S410中，校正計(jì)算模塊320判斷變形誤差量是否大于預(yù)設(shè)閾值。倘若變形誤差量大于預(yù)設(shè)閾值，在步驟S415中，將校正區(qū)塊切割為多個(gè)，并且重新執(zhí)行步驟S405。即，重新通過取像單元120、130檢測(cè)用戶在每一個(gè)切割后校正區(qū)塊的校正觸碰，由校正計(jì)算模塊320來計(jì)算每一個(gè)切割后校正區(qū)塊的變形誤差量。并且，校正計(jì)算模塊320持續(xù)將變形誤差量仍大于預(yù)設(shè)閾值的切割后校正區(qū)塊再次切割為多個(gè)，直到每一個(gè)切割后校正區(qū)塊的變形誤差量小于或等于預(yù)設(shè)閾值。
[0071]以圖5的校正區(qū)塊Al而言，倘若校正區(qū)塊Al的變形誤差量大于預(yù)設(shè)閾值，表示校正區(qū)塊Al的誤差過大，因此，校正計(jì)算模塊320進(jìn)一步將校正區(qū)塊Al切割為多個(gè)。例如，將校正區(qū)塊Al切割為MXN個(gè)校正區(qū)塊，其中M與N為大于或等于I的正整數(shù)。舉例來說，圖6是依照本發(fā)明一實(shí)施例的校正區(qū)塊切割為多個(gè)的示意圖。在本實(shí)施例中，將校正區(qū)塊Al切割為2X2個(gè)，即校正區(qū)塊A1-1、校正區(qū)塊A1-2、校正區(qū)塊A1-3、校正區(qū)塊A1-4。然，在其他實(shí)施例中，M可以不等于N，可視情況切割為3X2、2X3、1X2、2X1等，在此并不限制。
[0072]請(qǐng)參照?qǐng)D6，校正計(jì)算模塊320將校正區(qū)塊Al切割為校正區(qū)塊Al_l、校正區(qū)塊A1-2、校正區(qū)塊A1-3、校正區(qū)塊A1-4后，可提示使用者在各校正區(qū)塊A1-1、校正區(qū)塊A1-2、校正區(qū)塊A1-3、校正區(qū)塊A1-4的角落進(jìn)行觸碰。如圖6所示，由于相鄰兩個(gè)校正區(qū)塊共享兩個(gè)角，因此使用者最少可以只觸碰9個(gè)點(diǎn)(P1-1?P1-9)即可。
[0073]返回圖4，倘若各校正區(qū)塊的變形誤差量小于或等于預(yù)設(shè)閾值，在步驟S420中，校正計(jì)算模塊320取得各校正區(qū)塊的校正參數(shù)組。例如,校正參數(shù)組包括:上述多個(gè)校正坐標(biāo)位置與上述多個(gè)默認(rèn)坐標(biāo)位置在第一方向上的多個(gè)第一偏差值，以及上述多個(gè)校正坐標(biāo)位置與上述多個(gè)默認(rèn)坐標(biāo)位置在第二方向上的多個(gè)第二偏差值。在此，第一方向例如為X軸方向，第二方向例如為Y軸方向。
[0074]底下再舉例來說明變形誤差量的計(jì)算方法。圖7是依照本發(fā)明一實(shí)施例的計(jì)算變形誤差量的方法流程圖。圖8是依照本發(fā)明另一實(shí)施例的計(jì)算變形誤差量的方法流程圖。
[0075]圖7的實(shí)施例為步驟S405的一種實(shí)施方式，分別以X軸方向與Y軸方向上的誤差程度來作為變形誤差量，即，變形誤差量包括第一誤差程度值與第二誤差程度值。在此搭配圖5來進(jìn)行說明。
[0076]請(qǐng)參照?qǐng)D5及圖7，在步驟S705中，通過取像單元120、130檢測(cè)用戶在校正區(qū)塊Al中的多個(gè)校正觸碰，位置檢測(cè)模塊310獲得多個(gè)校正坐標(biāo)位置SI?S4。
[0077]接著，在步驟S710中，校正計(jì)算模塊320分別計(jì)算校正坐標(biāo)位置SI?S4與默認(rèn)坐標(biāo)位置Pl?P4在第一方向上的多個(gè)第一偏差值Λ Xl?ΛΧ4。并且，在步驟S720中，校正計(jì)算模塊320分別計(jì)算校正坐標(biāo)位置SI?S4與默認(rèn)坐標(biāo)位置Pl?Ρ4在第二方向上的多個(gè)第二偏差值Λ Yl?ΛΥ4。
[0078]Λ Xl與Λ Yl為默認(rèn)坐標(biāo)位置Pl與校正坐標(biāo)位置SI在X軸方向與Y軸方向上的偏差值，其他亦以此類推。在此以向右與向下的偏差為正值，向左與向上的偏差為負(fù)值。即，ΛΧ3、ΛΧ4、ΛΥ2、ΔΥ4 為正值，ΛΧ1、ΛΧ2、ΛΥ1、ΛΥ3 為負(fù)值。
[0079]接著，在步驟S715中,校正計(jì)算模塊320基于第一偏差值獲得第一誤差程度。在步驟S725中，校正計(jì)算模塊320基于第二偏差值獲得第二誤差程度。
[0080]第一誤差程度值Diff_X的計(jì)算式為:
[0081]Diff_X = I Λ Xl-Λ X2 H ΔΧ1-ΔΧ3|+ Λ Xl-Λ Χ4 H Δ Χ2- Δ Χ3 | + Δ Χ2- Δ Χ4 | +ΔΧ3-ΔΧ4I。
[0082]第二誤差程度值Diff_Y的計(jì)算式為:
[0083]Diff_Y = I Δ Yl-Δ Υ2 | +1 Δ Yl-Δ Υ3 | +1 Δ Yl-Δ Υ4 | +1 Δ Υ2_ Δ Υ3 | +1 Δ Υ2_ Δ Υ4 | +ΔΥ3-ΔΥ4I。
[0084]上述公式的物理意義，主要是由四個(gè)角落的偏差量，計(jì)算每兩個(gè)角落的相對(duì)變形程度，作為變形是否太嚴(yán)重的判斷依據(jù)。詳細(xì)地說，每個(gè)偏差值ΛΧ與Λ Y，有數(shù)值與方向兩參數(shù)，故實(shí)質(zhì)上皆為向