一種檢測方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及AOI領(lǐng)域，具體涉及一種檢測方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]圖像匹配是指利用圖像特征判斷兩幅圖像是否相似的技術(shù)，目前已應(yīng)用于各種領(lǐng)域，如可利用圖像匹配技術(shù)進行元件檢測、人臉識別等，但是目前由于用于進行圖像匹配的圖像特征的魯棒性低，容易受光照等環(huán)境的影響而導(dǎo)致匹配出現(xiàn)誤差，匹配準確率低。
[0003]以元件檢測領(lǐng)域的圖像匹配為例:印刷線路板(Printed circuit board，簡稱PCB板)是指為各種電子元器件提供連接的電路板，隨著電子設(shè)備越來越復(fù)雜，需要的零件自然越來越多，PCB上頭的線路與連接也越來越密集，從而在焊接/手插電子元件的時候難免出現(xiàn)漏件現(xiàn)象，那么需要在PCB板焊接完畢后對PCB板是否出現(xiàn)漏件進行檢測。
[0004]目前，對PCB板電子元件的漏件檢測有些是通過人工檢測來進行，此種方案耗時多、成本高以及效率低，所以現(xiàn)在一般采用自動檢測方法來進行，最普遍的自動檢測方法是基于模板匹配的漏件檢測方法，但是該方案容易受光照等環(huán)境的影響而導(dǎo)致檢測失誤，也有些是基于顏色直方圖或一些低層特征的來實現(xiàn)，但是這些方案由于電子元件的顏色信息不可靠或電子元件的低層特征不明顯而導(dǎo)致檢測失誤。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明實施例提供了一種檢測方法及裝置，以期可以提高圖像的相似檢測準確率，可靠性高。
[0006]本發(fā)明實施例第一方面提供一種檢測方法，包括:
[0007]將模板圖像與測試圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)，并分別作前向計算得到所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量；
[0008]計算所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量的相似度；
[0009]根據(jù)所述相似度確定所述測試圖像與所述模板圖像是否匹配。
[0010]本發(fā)明實施例第二方面提供一種檢測裝置，包括:
[0011]圖像輸入模塊，用于將模板圖像與測試圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)，并分別作前向計算得到所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量；
[0012]計算模塊，用于計算所述模塊圖像與所述測試圖像的特征向量的相似度；
[0013]確定模塊，用于根據(jù)所述相似度確定所述測試圖像與所述模板圖像是否匹配。
[0014]可以看出，在本發(fā)明實施例提供的技術(shù)方案中，將模板圖像與測試圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)，并分別作前向計算得到所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量；計算所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量的相似度；根據(jù)所述相似度確定所述測試圖像與所述模板圖像是否匹配。由于Siamese網(wǎng)絡(luò)可以提取到圖像的高級特征，將圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)可以準確地判斷模板圖像與測試圖像是否匹配，判斷準確率高。
【附圖說明】
[0015]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0016]圖Ι-a是本發(fā)明實施例提供的Siamese網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)圖；
[0017]圖Ι-b是本發(fā)明第一實施例提供的一種檢測方法的流程示意圖；
[0018]圖2是本發(fā)明第二實施例提供的一種檢測方法的流程示意圖；
[0019]圖3是本發(fā)明第三實施例提供的一種檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖4是本發(fā)明第四實施例提供的一種檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖5是本發(fā)明第五實施例提供的一種檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0022]本發(fā)明實施例提供了本發(fā)明實施例提供了一種檢測方法及裝置，以期可以提高圖像的相似檢測準確率，可靠性高。
[0023]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分的實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應(yīng)當屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0024]本發(fā)明的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”和“第三”等是用于區(qū)別不同對象，而非用于描述特定順序。此外，術(shù)語“包括”以及它們?nèi)魏巫冃?，意圖在于覆蓋不排他的包含。例如包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備沒有限定于已列出的步驟或單元，而是可選地還包括沒有列出的步驟或單元，或可選地還包括對于這些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。
[0025]本發(fā)明實施例的一種檢測方法，一種檢測方法包括:
[0026]將模板圖像與測試圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)，并分別作前向計算得到所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量；計算所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量的相似度；根據(jù)所述相似度確定所述測試圖像與所述模板圖像是否匹配。
[0027]首先參見圖1，圖Ι-a是本發(fā)明實施例提供的Siamese網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)圖；圖l_b是本發(fā)明第一實施例提供的一種檢測方法的流程示意圖。其中，如圖ι-b所示，本發(fā)明第一實施例提供的一種檢測方法可以包括:
[0028]S101、將所述模板圖像與所述測試圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)，并分別作前向計算得到所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量。其中，參見圖l_a，Siamese網(wǎng)絡(luò)是一種深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，根據(jù)Siamese網(wǎng)絡(luò)的特點，可計算出來圖像各個層次的特征，包括低層特征和高層特征，從而根據(jù)圖像的高層特征對圖像進行分析時將得到更為精確的結(jié)果。為了進行圖像匹配，設(shè)計Siamese網(wǎng)絡(luò)包含兩個結(jié)構(gòu)一樣并共享參數(shù)的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，在利用Siamese網(wǎng)絡(luò)進行圖像匹配時，分別輸入圖像的模板圖像和測試圖像，從而可分別計算出來兩個輸入圖像的特征向量，再計算兩個特征向量的相似度，從而根據(jù)相似度的值判斷兩幅圖像的相似程度即判斷兩幅圖像是否匹配。
[0029]其中，經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)由于經(jīng)過大量的樣本圖像的訓(xùn)練學習，具有了準確地對模板圖像與測試圖像進行圖像匹配的能力。
[0030]其中，模板圖像是用于對照的標準的圖片，測試圖像是通過與模板圖像進行對照從而判斷與模板圖像是否匹配。
[0031]S102、計算所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量的相似度。
[0032]其中，相似度是用于判斷模板圖像與測試圖像相似程序的參數(shù)。
[0033]可選地，在本發(fā)明的一些可能的實施方式中，可在計算模塊圖像與測試圖像的特征向量后，再計算特征向量的歐氏距離得到模板圖像與測試圖像的特征向量的相似度。
[0034]S103、根據(jù)所述相似度確定所述測試圖像與所述模板圖像是否匹配。
[0035]其中，由于相似度是對Siamese網(wǎng)絡(luò)輸入的兩個圖像的特征的相似情況的度量，所以可通過相似度來判斷模板圖像與測試圖像是否相似，也即判斷模板圖像與測試圖像是否匹配。
[0036]可以看出，本實施例的方案中，將模板圖像與測試圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)，并分別作前向計算得到所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量；計算所述模板圖像與所述測試圖像的特征向量的相似度；根據(jù)所述相似度確定所述測試圖像與所述模板圖像是否匹配。由于Siamese網(wǎng)絡(luò)可以提取到圖像的高級特征，將圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)可以準確地判斷模板圖像與測試圖像是否匹配，判斷準確率高。
[0037]可選地，在本發(fā)明的一些可能的實施方式中，所述模板圖像為元件存在且處于標準位置時對應(yīng)的元件圖像，所述測試圖像為需要進行測試的元件圖像，所述根據(jù)所述相似度確定所述測試圖像與所述模板圖像是否匹配，包括:
[0038]根據(jù)所述相似度確定所述測試圖像對應(yīng)的元件是否存在。
[0039]其中，該模板圖像可以為PCB模板圖，從而與其對應(yīng)輸入的元件圖像或測試圖像也為PCB圖像，該模板圖也可以為從PCB圖像上截取到的分別包含各個獨立元件的圖像，從而與其對應(yīng)輸入的測試圖像也為包含各個獨立元件的圖像。
[0040]可選地，在本發(fā)明的一些可能的實施方式中，由于是對每個元件進行漏件檢測，所以一般在Siamese網(wǎng)絡(luò)中輸入的模板圖像為包含一個獨立元件的圖像，那么在訓(xùn)練階段輸入的元件圖像也為從PCB圖像上截取到的該位置的元件圖像，在測試階段輸入的圖像也為不同情況下從PCB圖像上截取到的該位置的元件圖像。
[0041]可選地，在本發(fā)明的一些可能的實施方式中，當模板圖像為元件的模板圖像時，可以理解，模板圖像為元件存在并且元件的位置處于一個正確位置的元件圖像，測試圖像則根據(jù)模板圖像判斷是否漏件。
[0042]可以理解，由于Siamese網(wǎng)絡(luò)可以判斷測試圖像與模板圖像是否匹配，所以當模板圖像與測試圖像為元件圖像時，可以根據(jù)相似度確定元件圖像的測試圖像是否與模板圖像是否匹配，也即確定測試圖像對應(yīng)的元件是否存在。
[0043]可選地，在本發(fā)明的一些可能的實施方式中，所述將所述模板圖像與所述測試圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)之前，所述方法還包括:
[0044]利用模板匹配得到所述模板圖像與所述測試圖像中元件的位置并對所述模板圖像與所述測試圖像進行對齊；
[0045]對所述模板圖像與所述測試圖像進行歸一化，以觸發(fā)執(zhí)行所述將所述模板圖像與所述測試圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)的步驟。
[0046]可以理解，由于元件圖像是從模板圖像上截取下來的一塊圖像，為了使檢測結(jié)果更為準確，需要使截取到的元件圖像中的元件位于圖像的中心位置，并同時對圖像的大小進行歸一化，這樣以保證后續(xù)處理的準確性。該過程稱為預(yù)處理過程。
[0047]可選地，在本發(fā)明的一些可能的實施方式中，也可以不對圖像進行預(yù)處理。
[0048]可選地，在本發(fā)明的一些可能的實施方式中，所述將所述模板圖像與所述測試圖像輸入經(jīng)過訓(xùn)練后的Siamese網(wǎng)絡(luò)之前，所述方法還包括: