觸控基板、顯示裝置和觸控電極圖案的檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例涉及一種觸控基板、顯示裝置和觸控電極圖案的檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著顯示技術(shù)的飛速發(fā)展，觸控顯示屏已經(jīng)逐漸遍及人們的生活。
[0003]HIC(Hybrid in cell)觸控顯示屏是一種主流的觸控顯示屏，其包括陣列基板和對(duì)置基板(例如彩膜基板)。例如，在陣列基板上設(shè)置有多條觸控驅(qū)動(dòng)電極，在對(duì)置基板的遠(yuǎn)離陣列基板的一側(cè)表面上設(shè)置有多條觸控感應(yīng)電極，觸控感應(yīng)電極的延伸方向與觸控驅(qū)動(dòng)電極的延伸方向交叉。在觸控驅(qū)動(dòng)電極上施加激勵(lì)信號(hào)，由于觸控驅(qū)動(dòng)電極和觸控感應(yīng)電極之間存在互電容，在觸控感應(yīng)電極上可以接收到這個(gè)激勵(lì)信號(hào)。當(dāng)觸摸物(例如人的手指)靠近或接近觸控感應(yīng)電極時(shí)，觸控驅(qū)動(dòng)電極和觸控感應(yīng)電極之間的互電容會(huì)發(fā)生變化，根據(jù)該互電容的變化量可以判斷出觸摸位置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例提供一種觸控基板、顯示裝置和觸控電極圖案的檢測(cè)方法，以實(shí)現(xiàn)在顯示模組制程之前檢測(cè)出觸控驅(qū)動(dòng)電極或觸控感應(yīng)電極線路的品質(zhì)，從而避免模組材料的浪費(fèi)。
[0005]本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例提供了一種觸控基板，其包括多個(gè)沿第一方向依次排列的觸控電極，每個(gè)所述觸控電極沿第二方向延伸，所述第二方向與所述第一方向相交；每個(gè)所述觸控電極具有中端、首端和尾端，所述首端、中端和尾端依次電連接，所述首端和所述中端之間為第一觸控電極部分，所述中端和所述尾端之間為第二觸控電極部分；沿所述第二方向，所述中端靠近所述觸控基板的第一邊，所述首端和所述尾端靠近所述觸控基板的第二邊；并且所述首端和所述尾端各自連接一接觸墊，且同一所述觸控電極的首端和尾端連接的接觸墊不同。
[0006]例如，所述觸控基板還可以包括:沿所述第一方向依次排列的多個(gè)檢測(cè)電極，每個(gè)所述檢測(cè)電極沿所述第二方向延伸；每個(gè)所述檢測(cè)電極的在所述觸控基板的所述第二邊的端部有接觸墊，并且在所述觸控基板的所述第一邊的另一端被懸空設(shè)置；每個(gè)所述檢測(cè)電極與至少一個(gè)所述觸控電極相鄰并且彼此間隔設(shè)置。
[0007]例如，所述多個(gè)檢測(cè)電極與所述多個(gè)觸控電極同層設(shè)置。
[0008]例如，每個(gè)所述觸控電極的所述第一觸控電極部分和所述第二觸控電極部分之間設(shè)置有一個(gè)所述檢測(cè)電極，并且所述檢測(cè)電極平行于所述第一觸控電極部分和所述第二觸控電極部分。
[0009]例如，所述觸控電極的所述第一觸控電極部分與所述第二觸控電極部分相對(duì)于所述檢測(cè)電極的中心線軸對(duì)稱。
[0010]例如，每相鄰的兩個(gè)所述觸控電極之間設(shè)置有一個(gè)所述檢測(cè)電極。
[0011]例如，每個(gè)所述觸控電極的所述第一觸控電極部分和所述第二觸控電極部分之間設(shè)置有一個(gè)所述檢測(cè)電極，所述檢測(cè)電極平行于所述第一觸控電極部分和所述第二觸控電極部分；并且每相鄰的兩個(gè)所述觸控電極之間設(shè)置有一個(gè)所述檢測(cè)電極。
[0012]例如，所述多個(gè)觸控電極為觸控驅(qū)動(dòng)電極或觸控感應(yīng)電極。
[0013]例如，所述觸控基板還可以包括多條導(dǎo)線，每個(gè)所述觸控電極的所述首端和所述尾端分別通過(guò)所述接觸墊與同一條所述導(dǎo)線連接；或者每個(gè)所述觸控電極的所述首端連接的接觸墊和所述尾端連接的接觸墊中的一個(gè)與一條所述導(dǎo)線連接，另一個(gè)懸空設(shè)置。
[0014]例如，所述觸控基板為彩膜基板，所述彩膜基板包括設(shè)置于其第一表面的彩色濾光層，所述多個(gè)觸控電極設(shè)置于所述彩膜基板的所述第一表面或第二表面，所述第二表面與所述第一表面相對(duì)。
[0015]本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例還提供了一種顯示裝置，其包括上述任一項(xiàng)所述的觸控基板。
[0016]例如，所述顯示裝置還包括:陣列基板和與所述陣列基板相對(duì)設(shè)置的對(duì)置基板，所述對(duì)置基板作為所述觸控基板，所述觸控基板上的所述多個(gè)觸控電極設(shè)置于所述對(duì)置基板的遠(yuǎn)離所述陣列基板的一側(cè)。
[0017]本發(fā)明的至少一個(gè)實(shí)施例還提供了一種觸控電極圖案的檢測(cè)方法，所述觸控電極圖案包括多個(gè)沿第一方向排列的觸控電極，每個(gè)所述觸控電極沿第二方向延伸，所述第二方向與所述第一方向相交；每個(gè)所述觸控電極具有中端、首端和尾端，所述首端、中端和尾端依次電連接，所述首端和所述中端之間為第一觸控電極部分，所述中端和所述尾端之間為第二觸控電極部分；沿所述第二方向，所述中端靠近所述觸控基板的第一邊，所述首端和所述尾端靠近所述觸控基板的第二邊，并且所述首端和所述尾端各自連接一接觸墊，且同一所述觸控電極的首端和尾端連接的接觸墊不同。所述檢測(cè)方法包括:通過(guò)每個(gè)所述觸控電極的所述首端和所述尾端各自連接的所述接觸墊檢測(cè)所述觸控電極的所述第一觸控電極部分和所述第二觸控電極部分之間的電阻值和電容值中的至少一個(gè)。在該檢測(cè)方法中，若所述電阻值在第一參考電阻范圍內(nèi)或者所述電容值為0，則所述觸控電極未發(fā)生斷路；若所述電阻值在所述第一參考電阻范圍之外或者所述電容值大于0，則所述觸控電極發(fā)生斷路。
[0018]例如，所述檢測(cè)方法還可以包括:在每個(gè)所述觸控電極都未發(fā)生斷路的情況下，檢測(cè)相鄰的所述觸控電極之間的電容值和電阻值中的至少一個(gè)。在該方法中，若相鄰的所述觸控電極之間的所述電阻值在第二參考電阻范圍內(nèi)或者所述電容值為0，則相鄰的所述觸控電極之間發(fā)生短路。
[0019]例如，所述觸控電極圖案還可以包括:沿所述第一方向依次排列多個(gè)檢測(cè)電極，每個(gè)所述檢測(cè)電極沿所述第二方向延伸；每個(gè)所述檢測(cè)電極的在所述觸控基板的所述第二邊的端部有接觸墊，并且在所述觸控基板的所述第一邊的另一端被懸空設(shè)置；每個(gè)所述檢測(cè)電極與至少一個(gè)所述觸控電極相鄰并且彼此間隔設(shè)置。
[0020]例如，每個(gè)所述觸控電極的所述第一觸控電極部分和所述第二觸控電極部分之間設(shè)置有一個(gè)所述檢測(cè)電極，所述觸控電極的所述第一觸控電極部分和所述第二觸控電極部分與所述檢測(cè)電極平行并且相對(duì)于所述檢測(cè)電極的中心線軸對(duì)稱。在這種情況下，所述檢測(cè)方法還包括:在所述觸控電極發(fā)生斷路的情況下，檢測(cè)所述檢測(cè)電極與所述觸控電極的所述第一觸控電極部分之間的第一電容值，以及檢測(cè)所述檢測(cè)電極與所述觸控電極的所述第二觸控電極部分之間的第二電容值。在該方法中，若所述第一電容值小于所述第二電容值，則所述觸控電極的所述第一觸控電極部分發(fā)生斷路；若所述第一電容值大于所述第二電容值，則所述觸控電極的所述第二觸控電極部分發(fā)生斷路；所述第一電容值和所述第二電容值都大于O。
[0021]例如，每相鄰的兩個(gè)所述觸控電極之間設(shè)置有一個(gè)所述檢測(cè)電極；所述檢測(cè)方法還包括:在所述兩個(gè)觸控電極中的每個(gè)都未發(fā)生斷路的情況下，檢測(cè)位于所述兩個(gè)觸控電極之間的所述檢測(cè)電極與所述兩個(gè)觸控電極中的每個(gè)之間的電容值和電阻值中的至少一個(gè)。在該方法中，若所述檢測(cè)電極與所述兩個(gè)觸控電極中的每個(gè)之間的所述電容值為O或所述電阻值在第三參考電阻范圍內(nèi)，則所述兩個(gè)觸控電極之間發(fā)生短路。
[0022]例如，每相鄰的兩個(gè)所述觸控電極之間設(shè)置有一個(gè)所述檢測(cè)電極；所述檢測(cè)方法還包括:在所述兩個(gè)觸控電極中的每個(gè)都未發(fā)生斷路的情況下，檢測(cè)位于所述兩個(gè)觸控電極之間的所述檢測(cè)電極與所述兩個(gè)觸控電極中的每個(gè)之間的電容值。在該檢測(cè)方法中，若所述檢測(cè)電極和與兩個(gè)觸控電極中的每個(gè)之間的所述電容值大于O并且在參考電容范圍之外，則所述觸控電極圖案的膜厚被檢測(cè)為異常。
【附圖說(shuō)明】
[0023]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅涉及本發(fā)明的一些實(shí)施例，而非對(duì)本發(fā)明的限制。
[0024]圖1a為本發(fā)明實(shí)施例一提供的觸控基板的剖視示意圖；
[0025]圖1b為圖1a中區(qū)域A的放大示意圖；
[0026]圖1c和圖1d為圖1a所示的觸控基板中每個(gè)觸控電極與其對(duì)應(yīng)的導(dǎo)線的連接示意圖；
[0027]圖1e為本發(fā)明實(shí)施例一提供的觸控基板為彩膜基板時(shí)的剖視示意圖；
[0028]圖1f為本發(fā)明實(shí)施例一提供的觸控電極圖案的檢測(cè)方法的流程圖；
[0029]圖2a為本發(fā)明實(shí)施例二提供的觸控基板的剖視示意圖；
[0030]圖2b為圖2a中區(qū)域A的放大示意圖；
[0031]圖2c為圖