技術(shù)特征：

1.一種原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法，其特征在于，所述對(duì)樣本特征信息進(jìn)行聚類，得到第一聚類信息的具體步驟包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法，其特征在于，所述對(duì)樣本特征信息進(jìn)行聚類，得到第一聚類信息的具體步驟還包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法，其特征在于，還包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法，其特征在于，所述對(duì)聚類一致性損失函數(shù)進(jìn)行優(yōu)化的具體步驟為：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法，其特征在于，還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法，其特征在于，所述獲取樣本特征信息的具體步驟為：

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法，其特征在于，所述根據(jù)第一聚類信息和第二聚類信息構(gòu)建加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)損失函數(shù)的具體步驟為：

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法，其特征在于，還包括：

10.一種原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，包括：

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，所述第一獲取模塊用于對(duì)樣本特征信息進(jìn)行聚類，得到第一聚類信息的具體步驟包括：

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，所述第一獲取模塊用于對(duì)樣本特征信息進(jìn)行聚類，得到第一聚類信息的具體步驟還包括：

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，還包括：

14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，所述第二獲取模塊用于對(duì)聚類一致性損失函數(shù)進(jìn)行優(yōu)化的具體步驟為：

15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，還包括：

16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，所述第一獲取模塊用于獲取樣本特征信息的具體步驟為：

17.根據(jù)權(quán)利要求14所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，所述對(duì)比模塊用于根據(jù)第一聚類信息和第二聚類信息構(gòu)建加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)損失函數(shù)的具體步驟為：

18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，還包括：

19.一種原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別設(shè)備，其特征在于，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序，所述處理器被設(shè)置為運(yùn)行所述計(jì)算機(jī)程序以執(zhí)行權(quán)利要求1-9中任一項(xiàng)所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法。

20.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其中，所述計(jì)算機(jī)程序被設(shè)置為運(yùn)行時(shí)執(zhí)行權(quán)利要求1-9中任一所述的原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及機(jī)器學(xué)習(xí)領(lǐng)域，尤其是涉及一種原型加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)的圖像識(shí)別方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)，包括：獲取樣本特征信息，對(duì)樣本特征信息進(jìn)行聚類，得到第一聚類信息；根據(jù)兩個(gè)樣本特征信息的第一聚類信息構(gòu)建聚類一致性損失函數(shù)，得到聚類結(jié)果；對(duì)聚類一致性損失函數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，在聚類結(jié)果判斷變?yōu)榭尚诺那闆r下，獲取負(fù)樣本特征信息，對(duì)負(fù)樣本特征信息進(jìn)行聚類，得到第二聚類信息；根據(jù)第一聚類信息和第二聚類信息構(gòu)建加權(quán)對(duì)比學(xué)習(xí)損失函數(shù)，得到對(duì)比結(jié)果；根據(jù)聚類結(jié)果和對(duì)比結(jié)果構(gòu)建總損失函數(shù)，得到用于梯度反向傳播進(jìn)行更新模型參數(shù)的總損失信息，準(zhǔn)確區(qū)分相似樣本，減少學(xué)習(xí)時(shí)資源和時(shí)間的使用，提升圖像識(shí)別的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：荊曉遠(yuǎn),鄧晉玨,莊瑾,賈曉棟
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東石油化工學(xué)院
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19