本發(fā)明涉及光學(xué)數(shù)據(jù)處理，具體涉及一種光學(xué)數(shù)據(jù)批量分析方法和系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、目前分布光度計(jì)配光系統(tǒng)、光學(xué)設(shè)計(jì)軟件只可以實(shí)現(xiàn)單次光學(xué)數(shù)據(jù)的處理，單次配光曲線的生成，難以在分布光度計(jì)配光系統(tǒng)、光學(xué)設(shè)計(jì)軟件對(duì)兩個(gè)或者多個(gè)不同光學(xué)數(shù)據(jù)進(jìn)行量化處理以及比較，而實(shí)際上在批量生產(chǎn)多個(gè)同種類光學(xué)配件之后，需要對(duì)多個(gè)同種類光學(xué)配件進(jìn)行比對(duì)，以確保光學(xué)配件性能的一致性。

2、目前，只能進(jìn)行一次對(duì)一個(gè)光學(xué)配件進(jìn)行測(cè)試，得到其光束角光強(qiáng)分布等基礎(chǔ)光學(xué)參數(shù)，對(duì)多個(gè)光學(xué)配件進(jìn)行參數(shù)比對(duì)，需要額外計(jì)算或者人工比較，無(wú)法直接高效地進(jìn)行比對(duì)并獲取誤差的大小，也很難判斷出誤差的來(lái)源。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、針對(duì)以上的缺陷，通過(guò)綜合應(yīng)用和設(shè)計(jì)，并進(jìn)行特定的轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)了基礎(chǔ)光學(xué)參數(shù)的批量導(dǎo)入，提出了一種光學(xué)深度分析方法和系統(tǒng)，便于設(shè)計(jì)者同時(shí)對(duì)多個(gè)同種類光學(xué)配件的性能參數(shù)進(jìn)行比對(duì)，并能盡快發(fā)現(xiàn)誤差，進(jìn)行修正，因此提出了一種光學(xué)深度分析方法和系統(tǒng)。

2、為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，在第一方面，本發(fā)明提供一種光學(xué)數(shù)據(jù)批量分析方法，包括以下步驟：

3、獲取若干同類光學(xué)器件的ies文件，得到若干同類光學(xué)器件的光學(xué)參數(shù)；

4、按照預(yù)設(shè)的間隔從光學(xué)參數(shù)中提取出部分參數(shù)作為優(yōu)選參數(shù)數(shù)據(jù)，或者對(duì)光學(xué)參數(shù)進(jìn)行擴(kuò)展得到優(yōu)選參數(shù)數(shù)據(jù)；

5、將優(yōu)選參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化處理后生成各個(gè)光學(xué)器件的光學(xué)分析圖；

6、基于光學(xué)分析圖獲取各個(gè)光學(xué)器件之間的差異值，將差異值與預(yù)設(shè)的判定閾值進(jìn)行比較，得到各光學(xué)器件的質(zhì)量等級(jí)。

7、上述處理過(guò)程中，在獲取光學(xué)參數(shù)后，能實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的批量導(dǎo)入，進(jìn)行批量計(jì)算后，可以進(jìn)行多個(gè)同種類光學(xué)配件的性能參數(shù)比對(duì)，進(jìn)一步的，將設(shè)計(jì)的光學(xué)理論數(shù)據(jù)與實(shí)際加工出來(lái)光學(xué)器件的數(shù)據(jù)差異做詳細(xì)的展現(xiàn)，利用此差異在光學(xué)設(shè)計(jì)中對(duì)批量的光學(xué)配件加以修正，提高了光學(xué)設(shè)計(jì)的成功率，避免了反復(fù)的修改，縮短了項(xiàng)目開發(fā)的周期以及降低了開發(fā)成本。

8、優(yōu)選地，獲取若干同類光學(xué)器件的ies文件采用批量讀取的方式，包括以下步驟：

9、依次導(dǎo)入ies文件，

10、獲取其中一個(gè)ies文件時(shí)，只保留數(shù)值型數(shù)據(jù)，刪除ies文件中的其他類型數(shù)據(jù)，數(shù)值型數(shù)據(jù)為二維數(shù)組；

11、從數(shù)值型數(shù)據(jù)的第一行或第二行中找出切面數(shù)以及每個(gè)切面的數(shù)據(jù)量；

12、從數(shù)值型數(shù)據(jù)的第三行起，依次復(fù)制數(shù)據(jù)到本地，并將復(fù)制到本地的數(shù)值型數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為新的二維數(shù)組，新的二維數(shù)組以切面數(shù)作為行數(shù)，以每個(gè)切面的數(shù)據(jù)量為列數(shù)。

13、通過(guò)對(duì)ies文件的解析給出了一種具體的提取ies文件中光學(xué)性能參數(shù)的方法，將原ies文件中的二維數(shù)組轉(zhuǎn)換為統(tǒng)一的格式，可以將不同測(cè)試儀器獲取的ies文件中的數(shù)據(jù)統(tǒng)一為一個(gè)格式，便于后續(xù)的計(jì)算和比對(duì)。

14、優(yōu)選地，按照預(yù)設(shè)的間隔從光學(xué)參數(shù)中提取出部分參數(shù)作為優(yōu)選參數(shù)數(shù)據(jù)包括，在新的二維數(shù)組的行方向上，間隔n個(gè)數(shù)提取數(shù)據(jù)，和/或，在新的二維數(shù)組的列方向上，間隔m個(gè)數(shù)提取數(shù)據(jù)，n和m都是自然數(shù)，提取得到的二維數(shù)組為優(yōu)選參數(shù)數(shù)據(jù)。考慮到ies文件中光學(xué)性能參數(shù)多，計(jì)算量大，而是在實(shí)際中并不需要對(duì)所有的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，提取部分?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，得到的光學(xué)分析圖就足以體現(xiàn)光學(xué)配件的性能，因此，給出了提取部分光學(xué)參數(shù)的方法。

15、優(yōu)選地，n的取值范圍是1～8，其中，

16、對(duì)于0°～24°光束角的光學(xué)配件，n=1；

17、對(duì)于24°～36°光束角的光學(xué)配件，n=2；

18、對(duì)于36°～45°光束角的光學(xué)配件，n=3；

19、對(duì)于45°～60°光束角的光學(xué)配件，n=4；

20、對(duì)于60°～90°光束角的光學(xué)配件，n=5；

21、對(duì)于90°～120°光束角的光學(xué)配件，n=6；

22、對(duì)于120°～150°光束角的光學(xué)配件，n=7；

23、對(duì)于大于150°光束角的光學(xué)配件，n=8。

24、考慮到雖然提取部分參數(shù)有利于節(jié)約算力，提高分析效率，但是針對(duì)不同的光學(xué)配件，間隔多少數(shù)據(jù)進(jìn)行提取是不能用一個(gè)尺度的，因此根據(jù)光學(xué)配件光束角的不同，提供了行方向上提取分布參數(shù)的間隔數(shù)設(shè)置，在節(jié)約算力和提高分析準(zhǔn)確性上取得了平衡，給出了參考范圍。

25、優(yōu)選地，對(duì)光學(xué)參數(shù)進(jìn)行擴(kuò)展包括，在二維數(shù)組行方向和/或列方向上，復(fù)制前一數(shù)據(jù)，將復(fù)制得到的新的數(shù)據(jù)插入到前一數(shù)據(jù)和其后一數(shù)據(jù)之間，將光學(xué)參數(shù)數(shù)量增加到預(yù)設(shè)的行數(shù)和列數(shù)。在實(shí)際批量導(dǎo)入ies文件數(shù)據(jù)中，不僅存在提取部分?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算的情況，還存在需要插值增加數(shù)據(jù)使得批量導(dǎo)入的ies光學(xué)數(shù)據(jù)具有相同的行列數(shù)，當(dāng)二維數(shù)據(jù)的行數(shù)列數(shù)不夠的情況下，通過(guò)復(fù)制數(shù)據(jù)插入行和列，進(jìn)行擴(kuò)展，該方法使得插入的數(shù)值符合實(shí)際檢測(cè)情況，同時(shí)數(shù)據(jù)量也得到了增加。

26、優(yōu)選地，歸一化處理包括：將優(yōu)選參數(shù)數(shù)據(jù)中實(shí)際光通量換算到1000lm光通量條件下得出預(yù)處理后的光強(qiáng)值，根據(jù)預(yù)處理后的光強(qiáng)值生成各個(gè)光學(xué)器件的光學(xué)分析圖。即便是同類光學(xué)器件，在進(jìn)行配光設(shè)計(jì)時(shí)，沒(méi)有統(tǒng)一的光通量，就沒(méi)有客觀的參考量，無(wú)法進(jìn)行比較。因此，需要將光學(xué)參數(shù)經(jīng)過(guò)1000lm光通量轉(zhuǎn)換，進(jìn)行歸一化處理，在1000lm光通量的前提下進(jìn)行比較，才能得到相對(duì)準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

27、優(yōu)選地，光學(xué)分析圖包括坎德拉圖、光斑圖、照度分布圖和光強(qiáng)分布數(shù)據(jù)圖。

28、優(yōu)選地，生成各個(gè)光學(xué)器件的光學(xué)分析圖進(jìn)行的計(jì)算包括：光束角計(jì)算，初始分析基準(zhǔn)面計(jì)算以及ugr距高比計(jì)算，計(jì)算得到的光學(xué)參數(shù)包括光學(xué)器件的光強(qiáng)、照度、光斑、光束角、光效、亮度、光通量、k值和ugr。

29、優(yōu)選地，各光學(xué)器件的質(zhì)量等級(jí)以光強(qiáng)差異率作為判斷依據(jù)，

30、光強(qiáng)差異率為0%～1%，質(zhì)量等級(jí)為最優(yōu)等級(jí)；

31、光強(qiáng)差異率為1%～3%，質(zhì)量等級(jí)為較優(yōu)等級(jí)；

32、光強(qiáng)差異率為3%～10%，質(zhì)量等級(jí)為合格等級(jí)；

33、光強(qiáng)差異率為10%～20%，質(zhì)量等級(jí)為不合格等級(jí)。

34、在第二方面，本發(fā)明提供一種光學(xué)數(shù)據(jù)批量分析系統(tǒng)，包括光學(xué)數(shù)據(jù)采集模塊、分析模塊和數(shù)據(jù)輸出模塊，

35、光學(xué)數(shù)據(jù)采集模塊用于獲取若干同類光學(xué)器件的ies文件；

36、分析模塊用于采用上述任一的一種光學(xué)數(shù)據(jù)批量分析方法得到各光學(xué)器件的質(zhì)量等級(jí)；

37、數(shù)據(jù)輸出模塊用于輸出光學(xué)器件的質(zhì)量等級(jí)。

38、在第三方面，本發(fā)明提供一種光學(xué)數(shù)據(jù)批量分析軟件，包括數(shù)據(jù)獲取模塊、數(shù)據(jù)處理模塊和圖像展示模塊，

39、數(shù)據(jù)獲取模塊獲取若干同類光學(xué)器件的ies文件，得到若干同類光學(xué)器件的光學(xué)數(shù)據(jù)；

40、數(shù)據(jù)處理模塊用于按照預(yù)設(shè)的間隔從光學(xué)參數(shù)中提取出部分參數(shù)作為優(yōu)選參數(shù)數(shù)據(jù)，或者對(duì)光學(xué)參數(shù)進(jìn)行擴(kuò)展得到優(yōu)選參數(shù)數(shù)據(jù)；

41、圖像展示模塊用于根據(jù)優(yōu)選的參數(shù)數(shù)據(jù)在同一界面生成若干同類光學(xué)器件的光強(qiáng)分析圖。

42、優(yōu)選地，數(shù)據(jù)處理模塊還用于生成配光數(shù)據(jù)總表、計(jì)算坎德拉圖對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)、計(jì)算光斑圖對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)、照度分析、光強(qiáng)數(shù)據(jù)分析、亮度數(shù)據(jù)分析、模具加工與設(shè)計(jì)差異分析和生成ugr表格。

43、優(yōu)選地，軟件采取了歸一化的計(jì)算對(duì)若干ies文件進(jìn)行光強(qiáng)值的換算，計(jì)算出每個(gè)燈具1000lm時(shí)各個(gè)方向的光強(qiáng)數(shù)據(jù)，并取1000mm遠(yuǎn)作為光斑的接受面，

44、光強(qiáng)值的換算公式為：

45、

46、其中，是轉(zhuǎn)換后的光強(qiáng)值，是環(huán)帶光通量之和，是原始光強(qiáng)值，i是每個(gè)切面測(cè)得數(shù)據(jù)的方向值，取值范圍是0～180。

47、優(yōu)選地，數(shù)據(jù)處理模塊進(jìn)行的計(jì)算包括光束角計(jì)算，初始分析基準(zhǔn)面計(jì)算以及ugr距高比計(jì)算，計(jì)算得到的光學(xué)參數(shù)包括光學(xué)器件的光強(qiáng)、照度、光斑、光束角、光效、亮度、光通量、k值和ugr。

48、優(yōu)選地，數(shù)據(jù)處理模塊還用于重新設(shè)置垂直角間隔、最大垂直角，重新選擇分析基準(zhǔn)，得出新的光強(qiáng)分布數(shù)據(jù)以及差異率。

49、相比現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的有益效果在于：本發(fā)明的方法在獲取光學(xué)參數(shù)后，能實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的批量導(dǎo)入，進(jìn)行批量計(jì)算后，可以進(jìn)行多個(gè)同種類光學(xué)配件的性能參數(shù)比對(duì)，將設(shè)計(jì)的光學(xué)理論數(shù)據(jù)與實(shí)際加工出來(lái)光學(xué)器件的數(shù)據(jù)差異做詳細(xì)的展現(xiàn)，利用此差異在光學(xué)設(shè)計(jì)中對(duì)批量的光學(xué)配件加以修正，提高了光學(xué)設(shè)計(jì)的成功率，避免了反復(fù)的修改，縮短了項(xiàng)目開發(fā)的周期以及降低了開發(fā)成本。