本發(fā)明屬于電磁散射理論計(jì)算領(lǐng)域,涉及一種計(jì)算地下導(dǎo)體球電磁散射的解析方法。
背景技術(shù):
研究電磁散射一般有三種主要方法,一、數(shù)值計(jì)算方法,用計(jì)算機(jī)直接進(jìn)行計(jì)算,如矩量法、有限元等。二是實(shí)驗(yàn)方法,分為直接測(cè)試和縮比模型測(cè)試,三是解析方法,如模展開法、分離變量、波函數(shù)法等。其中解析方法一直是科學(xué)家和工程師追求的目標(biāo)。所謂解析研究法是一種封閉形式的數(shù)學(xué)解答的方法,是直接求解由麥克斯韋方程組導(dǎo)出的各種數(shù)學(xué)方程。對(duì)于某些邊界條件規(guī)則的電磁問題非常有效。解析解可以為其他數(shù)值計(jì)算提供比較有效的數(shù)據(jù),對(duì)數(shù)值計(jì)算結(jié)果的正確性進(jìn)行驗(yàn)證,并能給出清晰的物理概念,因而具有非常重要的指導(dǎo)性意義。
各類電磁波在傳播的過程中接觸到障礙物不能繼續(xù)傳播并呈現(xiàn)出散射現(xiàn)象,把這種過程中發(fā)生散射的物質(zhì)叫做散射體。物體的散射場(chǎng)強(qiáng)的大小會(huì)因?yàn)樯⑸潴w處于不同的埋藏深度,外在形狀以及大小的不同而發(fā)生變化。
對(duì)于介質(zhì)球電磁散射解析解的研究現(xiàn)在開展得比較廣泛,分別對(duì)單軸、雙軸、等離子體和鐵氧體介質(zhì)開展了解析解研究。對(duì)雙各向異性介質(zhì)球電磁散射解析解開展了理論研究,如專利號(hào)201310156058.0的發(fā)明專利公開的步驟1.利用無源麥克斯韋方程組和雙各向異性媒介的本征方程推導(dǎo)出關(guān)于磁感應(yīng)強(qiáng)度b的微分方程;步驟2.將微分方程中和b相關(guān)的因子以球矢量波函數(shù)的形式表達(dá)出來,然后利用球矢量波函數(shù)m,n的正交性質(zhì)得出一個(gè)含參數(shù)的矩陣方程,先利用矩陣方程滿足非零解的條件計(jì)算出該矩陣方程的參數(shù),再將參數(shù)代回到含參數(shù)的矩陣方程中得到矩陣方程的非零解;步驟3.構(gòu)造一個(gè)新的函數(shù),用新函數(shù)vl重新表示磁感應(yīng)強(qiáng)度b,進(jìn)而求出介質(zhì)球內(nèi)部的電磁場(chǎng),然后把介質(zhì)球內(nèi)的電磁場(chǎng)和球外的入射電磁場(chǎng)、散射電磁場(chǎng)代入到邊界條件中,得出散射矩陣。對(duì)旋電磁介質(zhì)球、旋電磁涂覆導(dǎo)體球的電磁散射解析解開展了理論研究,尤其對(duì)多層旋電磁各向異性介質(zhì)球電磁散射的解析解開展的理論研究,如專利號(hào)201310405478.8的發(fā)明專利公開的步驟1.利用已建立的旋電磁介質(zhì)球矢量波函數(shù),根據(jù)球矢量波函數(shù)的特性,得出均勻旋電磁各向異性介質(zhì)中的電磁場(chǎng),且該電磁場(chǎng)能用第一和第二類球矢量波函數(shù)疊加所表示;步驟2.利用電磁場(chǎng)在球邊界上切向連續(xù)和球矢量波函數(shù)的切向正交的特性,得出多層旋電磁介質(zhì)球中電磁場(chǎng)用球矢量波函數(shù)展開的展開系數(shù)的迭代公式;求解該迭代方程,得出散射場(chǎng)用球矢量波函數(shù)展開的展開系數(shù),進(jìn)而得出平面波入射情況多層旋電磁介質(zhì)球的電磁散射特性。對(duì)于地下導(dǎo)體球的散射特性的解析解的研究很少,幾乎沒有。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于針對(duì)現(xiàn)有電磁散射解析解理論的不足,提出一種計(jì)算地下導(dǎo)體球電磁散射的解析方法。
本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
一種計(jì)算地下導(dǎo)體球電磁散射的解析方法,其具體步驟包括:
步驟1.利用均勻平面波對(duì)無界均勻媒質(zhì)中的傳播特性得到反射系數(shù)r和透射系數(shù)t,以及在z=-d處的反射電場(chǎng)er(z)和透射電場(chǎng)et(z);
步驟2.將透射波作為導(dǎo)體球的入射波,然后根據(jù)本征矢量和平面波因子乘積的解析,將透射波展開成地下各向同性的球矢量波函數(shù),利用導(dǎo)體球表面的邊界條件得到散射電場(chǎng)展開系數(shù)
步驟3.導(dǎo)體球的散射波作為入射波對(duì)地平面進(jìn)行反射和透射,其反射波又一次作為導(dǎo)體球的入射波,循環(huán)反復(fù);在此循環(huán)過程中根據(jù)分界面的邊界條件得到總體坐標(biāo)系下的透射場(chǎng)的參數(shù)值
進(jìn)一步,由于球矢量波函數(shù)的加法定理中的guant系數(shù)部分是與球面波函數(shù)有關(guān),因此采用遞推算法來計(jì)算矢量波函數(shù)加法定理系數(shù)
進(jìn)一步,步驟1的反射系數(shù)r和透射系數(shù)t,以及在z=-d處的反射電場(chǎng)er(z)和透射電場(chǎng)et(z)的具體計(jì)算如下:
導(dǎo)體球的半徑為a,埋藏深度為d,其中d>a,z<-d的半空間充滿參數(shù)為μ1,ε1的介質(zhì)1,z>-d的半空間充滿參數(shù)為μ2,ε2,σ2的介質(zhì)2,入射的平面波沿z軸正方向入射,電場(chǎng)的幅度為1,其極化方向沿正x方向;入射波,反射波,透射波電場(chǎng)和磁場(chǎng)分別為:
介質(zhì)1為自由空間,無損耗,其參數(shù)ε1=ε0ε1r,μ1=μ0μ1r,其中ε1r,μ1r是在自由空間下的相對(duì)介電常數(shù)和相對(duì)磁導(dǎo)率;介質(zhì)2是導(dǎo)電媒質(zhì)有損耗,其參數(shù)ε2=ε0ε2r,μ2=μ0μ2r,其中ε2r,μ2r是在導(dǎo)電媒質(zhì)下的相對(duì)介電常數(shù)和相對(duì)磁導(dǎo)率,電導(dǎo)率σ2;
根據(jù)邊界條件,在z=-d的分界平面上,應(yīng)有et=ei+er,ht=hi+hr;將式(1a)~式(1c)代入邊界條件,可以求出分界面上的反射系數(shù)r和透射系數(shù)t的表達(dá)式分別為:
將z=-d帶入式(1b),式(1c)可以得到在z=-d處的反射電場(chǎng)和透射電場(chǎng)的具體值。
進(jìn)一步,步驟2散射電場(chǎng)展開系數(shù)
球面的入射波沿著正z方向入射,其電場(chǎng)的極化方向是正x方向,其電場(chǎng)的幅值為透射系數(shù)t,利用本征矢量和平面波因子乘積的解析展開式,入射波的電磁場(chǎng)用各向同性球矢量波函數(shù)展開的具體表達(dá)式為:
經(jīng)導(dǎo)體球面散射后,散射電場(chǎng)與磁場(chǎng)分別為:
其中,
根據(jù)在導(dǎo)體球表面的總場(chǎng)等于入射場(chǎng)與散射場(chǎng)之和,即e=ei+es;根據(jù)理想導(dǎo)體球的邊界條件:r=a,eθ=eφ=0可以求得散射電場(chǎng)的展開系數(shù)
其中jn(kr)為球貝塞爾函數(shù),
進(jìn)一步,步驟3的總體坐標(biāo)系下的透射場(chǎng)的參數(shù)值
總體坐標(biāo)系:球坐標(biāo)系中的三個(gè)坐標(biāo)分量r,θ,φ;
局部坐標(biāo)系:球坐標(biāo)系中的三個(gè)坐標(biāo)分量rimg,θimg,φimg;
在球坐標(biāo)系中,過空間任意一點(diǎn)的三個(gè)相互正交的坐標(biāo)單位矢量
公式(9a-9b)的散射場(chǎng)的電場(chǎng)es和磁場(chǎng)hs是使用總體坐標(biāo)系表示,經(jīng)平面反射后的反射電場(chǎng)er1和磁場(chǎng)hr1使用局部坐標(biāo)系表示,而透射電場(chǎng)et1和磁場(chǎng)ht1使用總體坐標(biāo)系表示,具體的表達(dá)是:
根據(jù)邊界條件,應(yīng)有et1=es+er1,ht1=hs+hr1,分界面p點(diǎn)處存在r=rimg=d,θ=π,θimg=0,φ=φimg=0,則可以寫成以下方程:
電場(chǎng)的θ方向:
電場(chǎng)的φ方向:
磁場(chǎng)的θ方向:
磁場(chǎng)的φ方向:
由式15a-式15d整理得矩陣形式表達(dá)式,可以計(jì)算得到展開系數(shù)
參考球坐標(biāo)系下
利用球矢量波函數(shù)的加法定理將局部坐標(biāo)系表示的反射電場(chǎng)er1轉(zhuǎn)換成總體坐標(biāo)系表示的反射電場(chǎng)er2,由于加法定理中的guant系數(shù)部分是與球面波函數(shù)有關(guān),即與球bessel函數(shù)和連帶lengendre函數(shù),三角函數(shù)有關(guān),因此采用遞推算法來計(jì)算矢量波函數(shù)加法定理;
總體坐標(biāo)系下的反射電場(chǎng)的具體表達(dá)式為:
采用了加法定理將一個(gè)坐標(biāo)系下的波函數(shù)通過另外一個(gè)坐標(biāo)系下的波函數(shù)表示出來,三維矢量波函數(shù)加法定理下的r(r,θ,φ),r′(r′,θ′,φ′),r″(r″,θ″,φ″)之間的關(guān)系可以得到具體的表達(dá)式,
在式子19、20中,
由公式14a,16,18,19,20可得到反射電場(chǎng)的展開系數(shù)
進(jìn)一步,步驟1計(jì)算過程中的介質(zhì)1的相對(duì)介電常數(shù)ε1r=1,相對(duì)磁導(dǎo)率μ1r=1,介質(zhì)2為土壤媒質(zhì),土壤媒質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù)ε2r=30,相對(duì)磁導(dǎo)率μ2r=1,電導(dǎo)率σ2=0.02。
本發(fā)明的有益效果如下:利用球矢量波函數(shù)的加法定理提出了一種計(jì)算地下金屬球散射特性的新方法,根據(jù)均勻平面波對(duì)無界均勻媒質(zhì)中的傳播特性得到反射系數(shù)r以及透射系數(shù)t;根據(jù)導(dǎo)體球表面的邊界條件得到散射電場(chǎng)展開系數(shù)
附圖說明
圖1是本發(fā)明給出地下球目標(biāo)電磁散射的幾何圖。
圖2是本發(fā)明給出總體坐標(biāo)系和局部坐標(biāo)系的示意圖。
圖3是本發(fā)明給出加法定理中r,r′,r″之間關(guān)系的示意圖。
圖4是本發(fā)明給出不同頻率下在x方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
圖5是本發(fā)明給出不同頻率下在y方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
圖6是本發(fā)明給出不同頻率下在z方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
圖7是本發(fā)明給出不同頻率下在x方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
圖8是本發(fā)明給出不同頻率下在y方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
圖9是本發(fā)明給出不同頻率下在z方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
圖10是本發(fā)明給出不同頻率下在x方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
圖11是本發(fā)明給出不同頻率下在y方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
圖12是本發(fā)明給出不同頻率下在z方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合具體實(shí)施例來對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步說明,但并不將本發(fā)明局限于這些具體實(shí)施方式。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該認(rèn)識(shí)到,本發(fā)明涵蓋了權(quán)利要求書范圍內(nèi)所可能包括的所有備選方案、改進(jìn)方案和等效方案。
一種計(jì)算地下導(dǎo)體球電磁散射的解析方法,其具體步驟包括:
步驟1.利用均勻平面波對(duì)無界均勻媒質(zhì)中的傳播特性得到反射系數(shù)r和透射系數(shù)t,以及在z=-d處的反射電場(chǎng)er(z)和透射電場(chǎng)et(z);
步驟2.將透射波作為導(dǎo)體球的入射波,然后根據(jù)本征矢量和平面波因子乘積的解析,將透射波展開成地下各向同性的球矢量波函數(shù),利用導(dǎo)體球表面的邊界條件得到散射電場(chǎng)展開系數(shù)
步驟3.導(dǎo)體球的散射波作為入射波對(duì)地平面進(jìn)行反射和透射,其反射波又一次作為導(dǎo)體球的入射波,循環(huán)反復(fù);在此循環(huán)過程中根據(jù)分界面的邊界條件得到總體坐標(biāo)系下的透射場(chǎng)的參數(shù)值
本實(shí)施例步驟1的反射系數(shù)r和透射系數(shù)t,以及在z=-d處的反射電場(chǎng)er(z)和透射電場(chǎng)et(z)的具體計(jì)算如下:
參見圖1,導(dǎo)體球的半徑為a,埋藏深度為d,其中d>a,z<-d的半空間充滿參數(shù)為μ1,ε1的介質(zhì)1,z>-d的半空間充滿參數(shù)為μ2,ε2,σ2的介質(zhì)2,入射的平面波沿z軸正方向入射,電場(chǎng)的幅度為1,其極化方向沿正x方向;入射波,反射波,透射波電場(chǎng)和磁場(chǎng)分別為:
介質(zhì)1為自由空間,無損耗,其參數(shù)ε1=ε0ε1r,μ1=μ0μ1r,其中ε1r,μ1r是在自由空間下的相對(duì)介電常數(shù)和相對(duì)磁導(dǎo)率;介質(zhì)2是導(dǎo)電媒質(zhì)有損耗,其參數(shù)ε2=ε0ε2r,μ2=μ0μ2r,其中ε2r,μ2r是在導(dǎo)電媒質(zhì)下的相對(duì)介電常數(shù)和相對(duì)磁導(dǎo)率,電導(dǎo)率σ2;
根據(jù)邊界條件,在z=-d的分界平面上,應(yīng)有et=ei+er,ht=hi+hr;將式(1a)~式(1c)代入邊界條件,可以求出分界面上的反射系數(shù)r和透射系數(shù)t的表達(dá)式分別為:
將z=-d帶入式(1b),式(1c)可以得到在z=-d處的反射電場(chǎng)和透射電場(chǎng)的具體值。
本實(shí)施例步驟2散射電場(chǎng)展開系數(shù)
球面的入射波沿著正z方向入射,其電場(chǎng)的極化方向是正x方向,其電場(chǎng)的幅值為透射系數(shù)t,利用本征矢量和平面波因子乘積的解析展開式,入射波的電磁場(chǎng)用各向同性球矢量波函數(shù)展開的具體表達(dá)式為:
經(jīng)導(dǎo)體球面散射后,散射電場(chǎng)與磁場(chǎng)分別為:
其中,
根據(jù)在導(dǎo)體球表面的總場(chǎng)等于入射場(chǎng)與散射場(chǎng)之和,即e=ei+es;根據(jù)理想導(dǎo)體球的邊界條件:r=a,eθ=eφ=0可以求得散射電場(chǎng)的展開系數(shù)
其中jn(kr)為球貝塞爾函數(shù),
本實(shí)施例步驟3的體坐標(biāo)系下的透射場(chǎng)的參數(shù)值
參見圖2,總體坐標(biāo)系:球坐標(biāo)系中的三個(gè)坐標(biāo)分量r,θ,φ;
局部坐標(biāo)系:球坐標(biāo)系中的三個(gè)坐標(biāo)分量rimg,θimg,φimg;
在球坐標(biāo)系中,過空間任意一點(diǎn)的三個(gè)相互正交的坐標(biāo)單位矢量
公式(9a-9b)的散射場(chǎng)的電場(chǎng)es和磁場(chǎng)hs是使用總體坐標(biāo)系表示,經(jīng)平面反射后的反射電場(chǎng)er1和磁場(chǎng)hr1使用局部坐標(biāo)系表示,而透射電場(chǎng)et1和磁場(chǎng)ht1使用總體坐標(biāo)系表示,具體的表達(dá)是:
根據(jù)邊界條件,應(yīng)有et1=es+er1,ht1=hs+hr1,圖1所示的分界面p點(diǎn)處存在r=rimg=d,θ=π,θimg=0,φ=φimg=0,則可以寫成以下方程:
電場(chǎng)的θ方向:
電場(chǎng)的φ方向:
磁場(chǎng)的θ方向:
磁場(chǎng)的φ方向:
由式15a-式15d整理得矩陣形式表達(dá)式,可以計(jì)算得到展開系數(shù)
參考球坐標(biāo)系下
利用球矢量波函數(shù)的加法定理將局部坐標(biāo)系表示的反射電場(chǎng)er1轉(zhuǎn)換成總體坐標(biāo)系表示的反射電場(chǎng)er2,由于加法定理中的guant系數(shù)部分是與球面波函數(shù)有關(guān),即與球bessel函數(shù)和連帶lengendre函數(shù),三角函數(shù)有關(guān),因此采用遞推算法來計(jì)算矢量波函數(shù)加法定理;
總體坐標(biāo)系下的反射電場(chǎng)的具體表達(dá)式為:
采用了加法定理將一個(gè)坐標(biāo)系下的波函數(shù)通過另外一個(gè)坐標(biāo)系下的波函數(shù)表示出來,如圖3是三維矢量波函數(shù)加法定理下的r(r,θ,φ),r′(r′,θ′,φ′),r″(r″,θ″,φ″)之間的關(guān)系可以得到具體的表達(dá)式,
在式子19、20中,
由公式14a,16,18,19,20可得到反射電場(chǎng)的展開系數(shù)
對(duì)不同的媒質(zhì)的介電常數(shù),電導(dǎo)率,磁導(dǎo)率,埋藏深度,導(dǎo)體球半徑以及頻率經(jīng)行賦值:其參數(shù)分別為頻率f=10kz-200khz,
本發(fā)明通過仿真軟件feko,在分界面上設(shè)置近電場(chǎng)得到在x,y,z方向上的電場(chǎng)值即仿真所得到的電場(chǎng)值,然后通過fortran計(jì)算出反射系數(shù)r以及透射系數(shù)t,散射場(chǎng)的參數(shù)值
如圖4所示,圖中為本發(fā)明給出了在導(dǎo)體球半徑a=10m,埋藏深度d=15m時(shí)x方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
如圖5所示,圖中為本發(fā)明在導(dǎo)體球半徑a=10m,埋藏深度d=15m時(shí)y方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
如圖6所示,圖中為本發(fā)明在導(dǎo)體球半徑a=10m,埋藏深度d=15m時(shí)z方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
如圖7所示,圖中為本發(fā)明在導(dǎo)體球半徑a=10m,埋藏深度d=50m時(shí)x方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
如圖8所示,圖中為本發(fā)明在導(dǎo)體球半徑a=10m,埋藏深度d=50m時(shí)y方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
如圖9所示,圖中為本發(fā)明在導(dǎo)體球半徑a=10m,埋藏深度d=50m時(shí)z方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
如圖10所示,圖中為本發(fā)明在導(dǎo)體球半徑a=1m,埋藏深度d=15m時(shí)x方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
如圖11所示,圖中為本發(fā)明在導(dǎo)體球半徑a=1m,埋藏深度d=15m時(shí)y方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
如圖12所示,圖中為本發(fā)明在導(dǎo)體球半徑a=1m,埋藏深度d=15m時(shí)z方向下仿真和程序所得電場(chǎng)值的對(duì)比圖。
結(jié)論:
由圖4-12可以看出頻率在10khz-200khz的情況下仿真所得到的電場(chǎng)值和根據(jù)公式推導(dǎo)所得到的電場(chǎng)值在x方向,y方向,z方向上匹配度良好。
根據(jù)(圖4-6)與(圖7-9)的電場(chǎng)值進(jìn)行對(duì)比,可以得出結(jié)論:當(dāng)埋藏深度d變大,則在x,y,z方向上的電場(chǎng)值變小。
根據(jù)(圖4-6)與(圖10-12)的電場(chǎng)值經(jīng)行對(duì)比,可以得出結(jié)論:當(dāng)導(dǎo)體球半徑a變小,對(duì)x方向上的電場(chǎng)值沒有影響,在y,z方向上的電場(chǎng)值變小。